direct current testとは 意味・読み方・使い方

To provide a semiconductor testing apparatus for performing a highly accurate direct current test, without causing significant increase in cost.例文帳に追加

コストの大幅な上昇を招かずに高精度の直流試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The dielectric loss tangent tanδ' from which an influence of a leakage current component I2 is removed by a CPU 25 is calculated based on the output current from the current adder 16 when the direct-current component in the output current is adjusted to be zero by the variable resistor 14 and on the test current by the test power supply 2.例文帳に追加

そして、可変抵抗器１４によって出力電流のうちの直流成分が零になるようにされたときの電流加算器１６の出力電流と、試験電源２による試験電圧とに基づき、ＣＰＵ２５により漏れ電流成分Ｉ２の影響を除いた誘電正接ｔａｎδ’が算出される。 - 特許庁

To facilitate discrimination between a noise and a partial discharge signal and identification of a cause in a partial discharge test for a direct current electric power equipment.例文帳に追加

直流電力機器の部分放電試験において、ノイズと部分放電信号の判別や発生原因の特定を容易にする。 - 特許庁

Consequently, even if a width of change of an output signal of the DA converter and direct current level and a width of change of the AD converter and direct current level differ from each other and resolutions of the DA converter and AD converter differ from each other, they are matched to conduct a test, and an expensive test device for analog test is not necessary at all.例文帳に追加

したがって、ＤＡコンバータの出力信号の変化幅および直流レベルとＡＤコンバータの変化幅および直流レベルとが異なっていても、また、ＤＡコンバータおよびＡＤコンバータの分解能が異なっていても、それらを一致させて試験を行うことができ、アナログ試験用の高価な試験装置はいっさい不要である。 - 特許庁

Each signal input terminal of a plurality of direct current indicators 3, etc., mounted on the monitoring board is provided respectively with each test switch 4, etc.例文帳に追加

監視盤に取付けられた複数の直流電流指示計３、…、３の各々の信号入力端子には、それぞれ試験スイッチ４、…、４が設けられている。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor which enables easy grasp of a test result of a direct current test without imposing troublesome work upon a user, and thus enables enhancement of testing efficiency.例文帳に追加

ユーザに対して煩雑な作業を強いることなしに直流試験の試験結果を容易に把握することができ、これにより試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A conductor with an insulator formed on the surface is used as a probe for sampling a thin-piece test piece, and a potential difference is given between a conductive part as an electrode and the test piece by a direct current power source to form an electric field between the probe and the test piece.例文帳に追加

薄片試料採取用プローブとして、表面に絶縁体を形成した導電体を用い、導電部を電極として直流電源によって試料との間に電位差を付与することで、プローブと試料の間に電界を形成する。 - 特許庁

The device 1 is also provided with a current adder 16 for adding together as an input current a current ix flowing in the measuring object 10 and an antiphase current I1 having an opposite phase to the test voltage, and is equipped with a variable resistor 14 capable of adjusting the input current from the current adder 16 so that a direct-current component in an output current becomes zero.例文帳に追加

さらに、被測定対象物１０に流れる電流ｉｘと、試験電圧とは逆相の逆相電流Ｉ１とを入力電流として、これらを加算する電流加算器１６が設けられ、この出力電流の直流成分が零になるように電流加算器１６の入力電流を調整可能な可変抵抗器１４が備えられている。 - 特許庁