「direct current test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The temperature and stress current of wiring for test on a wafer 10 are individually controlled, by causing the wiring to generate Joule heat by making an electric current generated by superposing an alternating current and a direct current upon another to flow to the wiring, and individually changing the alternating and direct currents.例文帳に追加

ウェハ１０上の試験用配線に、交流電流と直流電流とが重畳された電流を流してジュール発熱させ、交流電流及び直流電流を個別に変化させて、配線の温度及びストレス電流を個別に制御する。 - 特許庁

To provide a direct current test apparatus for high voltage which can be configured at low cost without the use of a high withstand voltage switch.例文帳に追加

高耐圧のスイッチを用いることなく、安価に構成することができる高電圧用の直流試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus for performing a highly accurate direct current test, without causing significant increase in cost.例文帳に追加

コストの大幅な上昇を招かずに高精度の直流試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The dielectric loss tangent tanδ' from which an influence of a leakage current component I2 is removed by a CPU 25 is calculated based on the output current from the current adder 16 when the direct-current component in the output current is adjusted to be zero by the variable resistor 14 and on the test current by the test power supply 2.例文帳に追加

そして、可変抵抗器１４によって出力電流のうちの直流成分が零になるようにされたときの電流加算器１６の出力電流と、試験電源２による試験電圧とに基づき、ＣＰＵ２５により漏れ電流成分Ｉ２の影響を除いた誘電正接ｔａｎδ’が算出される。 - 特許庁

To facilitate discrimination between a noise and a partial discharge signal and identification of a cause in a partial discharge test for a direct current electric power equipment.例文帳に追加

直流電力機器の部分放電試験において、ノイズと部分放電信号の判別や発生原因の特定を容易にする。 - 特許庁

Consequently, even if a width of change of an output signal of the DA converter and direct current level and a width of change of the AD converter and direct current level differ from each other and resolutions of the DA converter and AD converter differ from each other, they are matched to conduct a test, and an expensive test device for analog test is not necessary at all.例文帳に追加

したがって、ＤＡコンバータの出力信号の変化幅および直流レベルとＡＤコンバータの変化幅および直流レベルとが異なっていても、また、ＤＡコンバータおよびＡＤコンバータの分解能が異なっていても、それらを一致させて試験を行うことができ、アナログ試験用の高価な試験装置はいっさい不要である。 - 特許庁

Each signal input terminal of a plurality of direct current indicators 3, etc., mounted on the monitoring board is provided respectively with each test switch 4, etc.例文帳に追加

監視盤に取付けられた複数の直流電流指示計３、…、３の各々の信号入力端子には、それぞれ試験スイッチ４、…、４が設けられている。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor which enables easy grasp of a test result of a direct current test without imposing troublesome work upon a user, and thus enables enhancement of testing efficiency.例文帳に追加

ユーザに対して煩雑な作業を強いることなしに直流試験の試験結果を容易に把握することができ、これにより試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A conductor with an insulator formed on the surface is used as a probe for sampling a thin-piece test piece, and a potential difference is given between a conductive part as an electrode and the test piece by a direct current power source to form an electric field between the probe and the test piece.例文帳に追加

薄片試料採取用プローブとして、表面に絶縁体を形成した導電体を用い、導電部を電極として直流電源によって試料との間に電位差を付与することで、プローブと試料の間に電界を形成する。 - 特許庁

The device 1 is also provided with a current adder 16 for adding together as an input current a current ix flowing in the measuring object 10 and an antiphase current I1 having an opposite phase to the test voltage, and is equipped with a variable resistor 14 capable of adjusting the input current from the current adder 16 so that a direct-current component in an output current becomes zero.例文帳に追加

さらに、被測定対象物１０に流れる電流ｉｘと、試験電圧とは逆相の逆相電流Ｉ１とを入力電流として、これらを加算する電流加算器１６が設けられ、この出力電流の直流成分が零になるように電流加算器１６の入力電流を調整可能な可変抵抗器１４が備えられている。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device facilitating a direct current test by being suited to miniaturization and realizing high speed operation of a circuit, low power consumption and high reliability.例文帳に追加

素子の微細化に適合し、回路の高速動作化と低消費電力と高信頼性を実現し、直流試験を容易にした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

To provide a method for predicting deterioration of a semiconductor device in a short period of time and and a method for predicting deterioration of a semiconductor device with high accuracy by finding a correlation between deterioration prediction of an actual semiconductor device and a DC (Direct Current) stress test method for a simple body TEG (Test Element Group).例文帳に追加

本発明により、実際の半導体装置の劣化予測と単体ＴＥＧのＤＣストレス試験法との相関を求めることにより、短時間で半導体装置における劣化予測を行う方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a dielectric breakdown occurring at a low voltage during a cooling period of a heat cycle in a long-term direct-current loading test of a 300 kV-500 kV-class solid cable.例文帳に追加

３００ｋＶ〜５００ｋＶクラスのソリッドケーブルにおける直流長期課通電試験のヒートサイクルの冷却期間中に発生する低電圧での絶縁破壊を防止するようにする。 - 特許庁

To provide an equalizer provided with excellent reproducibility of transmission signals, which can control decrease of S/N ratio of receiving signals and easily perform a disconnection test using direct current signals, and a semiconductor apparatus.例文帳に追加

受信信号のＳ／Ｎ比低下を抑制可能であって、直流信号による断線テストが容易であり、送信信号の再現性に優れたイコライザおよび半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a parallel resistance measuring method and a device therefor capable of determining a value of an equivalent parallel resistance by applying a direct current into a capacitive test device, and reducing cost by reducing a device scale.例文帳に追加

容量性被試験デバイスに直流を印加して等価並列抵抗の値を求めることができ、装置の規模を小さくしてコストダウンを図る並列抵抗計測方法及びその装置に提供する。 - 特許庁

The high voltage test device 10 consists of a transformer 10a for test, a direct current generator 10b, an impulse generator 10c, a change-over device unit 10e, a drive device 10g, and a universal potential divider 10j, and a bushing unit 10k which have sealed tank structures, respectively.例文帳に追加

高電圧試験装置１０を、それぞれ密閉タンク構造の試験用変圧器１０ａ、直流発生器１０ｂ、インパルス発生器１０ｃ、切り替え装置ユニット１０ｅ、駆動装置１０ｇ、万能分圧器１０ｊ及びブッシングユニット１０ｋによって構成する。 - 特許庁

The switch is connected between the first and second resistance elements, and the first resistance element and the third signal line are connected, at a direct current and a low-speed test or timing calibration.例文帳に追加

上記スイッチは、ループテストのときに上記第１と第２抵抗素子との間を接続するようにされ、直流、低速テスト又はタイミングキャブレーションのときには上記第１抵抗素子と上記第３信号線とを接続する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for estimating residual magnetic flux of a transformer for estimating residual magnetic flux after testing or inspection, when an onsite test and inspection accompanying the application of a direct-current voltage to a transformer coil are executed.例文帳に追加

変圧器巻線への直流電圧印加を伴う現地試験や点検を実施した場合において、試験や点検後の残留磁束を推定する変圧器の残留磁束推定方法及び残留磁束推定装置を提供する。 - 特許庁

A test signal set so as to give a specific and individual change predetermined in accordance with the direct current voltage state of the communication path corresponding to the control instruction is transmitted to the communication path from the communication controller.例文帳に追加

通信制御装置から、当該制御命令に対応して被試験通信路の直流電圧状態に予め定められた特定個別の変化を与えるように設定されている試験信号を、当該被試験通信路に送出する。 - 特許庁

By making a thickness of the inside craft paper layer 6 at 1/3 to 2/3 of that of the total paper layer constituting the oil-immersed insulation layer 3, the manufacturing time needed of the cable 1 can be shortened without deteriorating direct-current breakdown voltage during the cooling period of the heat cycle test.例文帳に追加

内側クラフト紙層６の厚さを、油浸絶縁層３を構成する全紙層の厚さの１／３〜２／３としたことにより、ヒートサイクル試験の冷却期間中における直流破壊電圧を低下させることなくケーブル１の製造所要時間を短縮することができる。 - 特許庁

To conduct accurate measurement by correcting a measuring error caused by a value of fine parasitic resistance such as a cable between a measuring instrument and a measured object, a probe and a wire on a test pattern, in a measuring system by a direct current for an electric sample having three or more of terminals.例文帳に追加

３つ以上の端子を持つ電気的試料の直流での測定系において、測定器と被測定物の間のケーブル、プローブ、テストパターン上の配線等の微小な寄生抵抗の値による測定誤算を補正することで、より高精度な測定を行うことを目的とする。 - 特許庁

Each of the direct current test parts 11a-11n is provided with a gain regulation DAC 24 for converting a control signal S3 of the digital signal, indicating a gain regulation value that regulates the gain of the signal S1 output from DAC 10 into a control signal S3 of the analog signal.例文帳に追加

直流試験部１１ａ〜１１ｎの各々には、ＤＡＣ１０から出力される信号Ｓ１のゲインを調整するゲイン調整値を示すディジタル信号の制御信号Ｓ３をアナログ信号の制御信号Ｓ３に変換するゲイン調整用ＤＡＣ２４が設けられている。 - 特許庁

The difference voltage between the output voltage of a battery voltage memory circuit 41 for storing the voltage of a secondary battery 12 and the output voltage of a direct current voltage source 42 is added to the voltage between an anode input/output terminal 16 and a cathode input/output terminal 17, which is input to a control circuit 13 as a test voltage.例文帳に追加

二次電池１２の電圧を記憶する電池電圧記憶回路４１の出力電圧と直流電圧源４２の出力電圧との差電圧を正極入出力端子１６と負極入出力端子１７との間の電圧に加算して制御回路１３に検査電圧として入力する。 - 特許庁

When dial tone is returned from the VoIP subscriber circuit 203 to the direct current loop, a telephone number transmitting part 246 transmits a portion of a tone signal constituting a telephone number as a portion for a test, and when the VoIP subscriber circuit 203 stops transmitting the dial tone in response to the transmission of the portion of the tone signal, the VoIP subscriber circuit 203 is determined to be normal.例文帳に追加

これに対してダイヤルトーンがＶｏＩＰ加入者回路２０３から返送されてきたら電話番号送出部２４６から電話番号を構成するトーン信号の一部を試験用として送出し、これに対応する形でＶｏＩＰ加入者回路２０３がダイヤルトーンの送出を停止したらＶｏＩＰ加入者回路２０３が正常であると判別する。 - 特許庁