dutsとは 意味・読み方・使い方

Thermal (cooling) heads are arrayed with a matrix same to that of the measured devices (DUTs) in a burn-in board, to form a thermal array, an elevation function is imparted, and the DUTs are cooled/heated and temperature-controlled individually while closely contacting when going down.例文帳に追加

サーマル（冷却）ヘッドをバーンインボードの被測定デバイス（ＤＵＴ）と同じマトリックスで並べ、サーマルアレイとし、昇降機能を持ち、下降時には密着して個別にＤＵＴを冷却／加熱、温度コントロールする。 - 特許庁

For example, the pattern generator PG schedules the order of the test patterns for each of the plurality of DUTs 1 so as to reduce a total variation in operating currents I_OP that flow through the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

たとえばパターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１に流れる動作電流Ｉ_ＯＰの合計の変動が小さくなるように、複数のＤＵＴ１ごとのテストパターンの順序をスケジューリングする。 - 特許庁

To improve the number of simultaneous measurements of devices to be measured (DUTs) and to improve the efficiency of tests even if the number of signal pins of the DUTs exceeds the number of tester pins of DUT blocks.例文帳に追加

被測定デバイス（ＤＵＴ）の信号ピン数がＤＵＴブロックのテスタピン数を上回っている場合でも、ＤＵＴの同時測定数を向上させ、試験の効率化を図る。 - 特許庁

To provide an LSI test system in which a plurality of DUTs can be tested without lowering the use efficiency of the test system when the DUTs are tested while being mounted on frames and the throughput of test process can be enhanced.例文帳に追加

複数のＤＵＴをフレームに搭載してテストする場合にテストシステムの使用効率を悪化させることなくテストを行うことができ、テスト工程のスループットも向上させることが可能になるを提供する - 特許庁

The interface circuit transmits the data value (received from the tester via the single channel) to the plurality of DUTs.例文帳に追加

インターフェース回路は、（テスターから単一チャンネルを介して受け取った）データ値を複数のＤＵＴに同時に送る。 - 特許庁

The each of the DUTs in the first array is connected to the drain pad in the first pad set.例文帳に追加

第１のアレイにおけるそれらＤＵＴの各々は、その第１のパッド・セットのドレイン・パッドに接続されている。 - 特許庁

A testing apparatus 2a simultaneously tests a plurality of DUTs 1 each of which has a power supply terminal P1 and an input/output terminal P3.例文帳に追加

試験装置２ａは、それぞれが電源端子Ｐ１および入出力端子Ｐ３を有する複数のＤＵＴ１を同時に試験する。 - 特許庁

To achieve a semiconductor-testing device capable of grasping fail information of each DUT when connecting one pin to a plurality of DUTs for testing.例文帳に追加

１つのピンを複数のＤＵＴに接続して試験を行う際に各ＤＵＴのフェイル情報を把握可能な半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁