dutsとは 意味・読み方・使い方

Assigned identifiers (DUT number/ID number) are each previously allotted to the DUTs 101-104.例文帳に追加

ＤＵＴ１０１〜１０４の各々に予め付与識別子（ＤＵＴ番号／ＩＤ番号）を割り振る。 - 特許庁

The burn-in board is inserted/pulled out when the thermal array is elevated, so as to replace the measured devices (DUTs).例文帳に追加

サーマルアレイの上昇時に、バーンインボードは抜き差しされ、被測定デバイスＤＵＴを交換する。 - 特許庁

For example, the pattern generator PG schedules the order of the test patterns for each of the plurality of DUTs 1 so as to reduce a total variation in operating currents I_OP that flow through the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

たとえばパターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１に流れる動作電流Ｉ_ＯＰの合計の変動が小さくなるように、複数のＤＵＴ１ごとのテストパターンの順序をスケジューリングする。 - 特許庁

Thermal (cooling) heads are arrayed with a matrix same to that of the measured devices (DUTs) in a burn-in board, to form a thermal array, an elevation function is imparted, and the DUTs are cooled/heated and temperature-controlled individually while closely contacting when going down.例文帳に追加

サーマル（冷却）ヘッドをバーンインボードの被測定デバイス（ＤＵＴ）と同じマトリックスで並べ、サーマルアレイとし、昇降機能を持ち、下降時には密着して個別にＤＵＴを冷却／加熱、温度コントロールする。 - 特許庁

To provide an LSI test system in which a plurality of DUTs can be tested without lowering the use efficiency of the test system when the DUTs are tested while being mounted on frames and the throughput of test process can be enhanced.例文帳に追加

複数のＤＵＴをフレームに搭載してテストする場合にテストシステムの使用効率を悪化させることなくテストを行うことができ、テスト工程のスループットも向上させることが可能になるを提供する - 特許庁

The pattern generator PG schedules the order of the test patterns S_PTN independently for each of the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１ごとに、テストパターンＳ_ＰＴＮの順序を独立にスケジューリングする。 - 特許庁

A data impressed to pins of the DUTs 28, 38 as stimulus is prepared in every trigger cycle of an inspection device 17.例文帳に追加

検査装置（１７）のトリガ・サイクル毎に、ＤＵＴ（２８，３８）のピンに刺激として印加されるデータが用意される。 - 特許庁

Each of the DUTs in the first array is connected to the gate pad in the first pad set.例文帳に追加

第１のアレイにおけるそれらＤＵＴの各々は、その第１のパッド・セットのゲート・パッドに接続されている。 - 特許庁