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electron clusterとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 電子クラスタ
「electron cluster」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 22件
METHOD FOR CALCULATING AND ANALYZING ELECTRON EFFECTIVE MASS OF CLUSTER例文帳に追加
クラスタの電子有効質量の計算方法および解析方法 - 特許庁
An ionization chamber 3 keeps a potential to accelerate the cluster, and electrons from the RF plasma electron source 5 are irradiated to the cluster in the ionization chamber 3 from some of holes 3a (electron introducing openings) provided in the wall of the ionization chamber 3 to ionize the cluster.例文帳に追加
イオン化室3がクラスターを加速するための電位を保ち、イオン化室3の壁に設けられた穴3aの一部(電子導入用開口)から、イオン化室3内のクラスターにRFプラズマ電子源5からの電子が照射され、クラスターをイオン化する。 - 特許庁
A gas cluster ion beam 18 is generated by ionizing the cluster of neutral particles by a RF plasma electron source 5 which generates electrons by ionizing a gas.例文帳に追加
ガスを電離して電子を生成するRFプラズマ電子源5によって中性粒子のクラスターをイオン化してガスクラスターイオンビーム18を発生させる。 - 特許庁
The gas cluster flow 8 is irradiated with electrons from an electron gun 12, which ionizes the gas clusters in the gas cluster flow 8.例文帳に追加
ガスクラスター流8に対しては電子銃12から電子が照射されるように構成されており、これによりガスクラスター流内のガスクラスターがイオン化される。 - 特許庁
The molecular beam apparatus ionizes the gasified metal cluster complex with electron impact.例文帳に追加
また、本発明の分子ビーム装置は、気化させた金属クラスター錯体を電子衝撃によりイオン化することを特徴とする。 - 特許庁
In the method and the apparatus for ionizing cluster, a cluster ion beam source 5 is included, the cluster ion beam source has a wavelength control mechanism (diffraction grating, aperture slit) capable of controlling the wavelength of the light irradiated on the cluster in a wavelength range having the energy to cause ionization by inner shell electron, and the cluster is ionized in multivalent manner by utilizing Auger process.例文帳に追加
クラスターのイオン化方法または装置において、クラスターイオンビーム源5を備え、該クラスターイオンビーム源を、クラスターに照射される光の波長を内殻電子による電離が起きるエネルギー持つ波長範囲に制御可能とした波長制御機構(回折格子,アパチャースリット)を有する構成とし、オージェ過程を利用してクラスターを多価にイオン化するように構成する。 - 特許庁
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「electron cluster」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 22件
An emitter cluster 152 for the data storage device includes a plurality of electron sources 154, 156, the electron sources generate electron beams 158, 160, and a collection spot 162 is formed on a storage medium 106.例文帳に追加
データ記憶装置のための放出器クラスタ(152)は、複数の電子源(154、156)を含み、該電子源はそれぞれ電子ビーム(158、160)を発生し、記憶媒体(106)上に集合スポット(162)を形成する。 - 特許庁
Evaporated particles 20a from an electron beam evaporation source 20 and cluster ions 30a from a cluster ion generator 30 are made incident on the substrate W to be treated held to a holder 2; thus the deposition of a fluoride film by a cluster ion assist is performed.例文帳に追加
ホルダー2に保持された被処理基板Wに、電子ビーム蒸発源20からの蒸発粒子20aとクラスターイオン生成装置30からのクラスターイオン30aを入射させることで、クラスターイオンアシストによるフッ化物膜の成膜を行う。 - 特許庁
Sublimed materials (molecule, atom, ion, cluster, electron or the like) are accumulated on a base material 9 while being collided with a reaction gas in a chamber.例文帳に追加
昇華した物質(分子,原子,イオン,クラスタ,電子等)は、チャンバ中の反応ガスと衝突しながら基材9上に堆積する。 - 特許庁
The chamber 120 is used for a cluster supply material and is used in a non-arc discharge mode such as a direct electron collision mode.例文帳に追加
チャンバ120はクラスター供給材料に用い、直接電子衝突モードのような非アーク放電モードで使用するように構成される。 - 特許庁
If the dopant profile measurement is implemented by using an electron beam holography, the thin piece 2 is thinned down by sputtering the gas cluster ion beam 1 after an removal of the residual gallium layer 3 until an electron beam of 100-200 kV passes through it.例文帳に追加
電子線ホログラフィーを用いてドーパントプロファイル測定を行う場合は、残留ガリウム層3除去後の薄片2を100〜200kVの電子線が透過する厚さまでガスクラスターイオンビーム1のスパッタで薄くする。 - 特許庁
At the irradiation step, an irradiation condition for ions of light elements or electron beams is so set that the content of a silicon cluster may exceed 0.06 times the content of carbon-oxygen composite defects in the region to be irradiated with ions of light elements or electron beams.例文帳に追加
この照射工程では、前記照射対象領域においてシリコンクラスタの含有量が炭素−酸素複合欠陥の含有量の0.06倍を超えるように、軽元素イオン又は電子線の照射条件を設定する。 - 特許庁
When a charged particle is detected, a cluster ion exciting electron multiplier is employed and operated as a high-pass filter thus performing effective counting at a density of small number of particles.例文帳に追加
また、荷電パーティクルの検出に、クラスタイオン励起の電子増倍管を用い、さらにハイパスフィルタとして動作させることで、少ないパーティクル数密度でも有効なカウンを行う。 - 特許庁
Although it is difficult to balance prevention of the fragmentation of the cluster with a practical beam current by ionization by a conventional electron impact method, the practical beam current can be provided while preventing the fragmentation of the cluster by this application.例文帳に追加
従来の電子衝撃法によるイオン化ではクラスターのフラグメント化防止と実用的なビーム電流を両立することは困難であるが、本発明を用いることによって、クラスターのフラグメント化を防止しながら、実用的なビーム電流を得ることができる。 - 特許庁
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