integrated testsとは 意味・読み方・使い方

To achieve tests with few terminals on LSI chips, concerning an external terminal test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の外部端子の試験において、より少ない端子で、ＬＳＩチップのテストを実現させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit that includes a power controllable region and tests power control operation.例文帳に追加

電源制御可能領域を有する半導体集積回路において、電源制御動作のテストをできる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit which can supply another fed voltage in test mode at low cost and a test device provided with an automatic test device which tests an integrated circuit like this.例文帳に追加

テストモードにおける別の給電電圧を低いコストで供給することのできる集積回路、およびこのような集積回路をテストするための自動テスト装置を備えたテスト装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a high-frequency integrated circuit test apparatus capable of conducting tests such as measuring filter characteristics and interference characteristics of a high frequency integrated circuit, based on the level of an IF signal in its actual working condition.例文帳に追加

高周波集積回路のフィルタ特性、妨害特性の測定において、実使用状態でのＩＦ信号のレベルに基づいたテストができる高周波集積回路テスト装置が求められる。 - 特許庁

If a required number of test pins for tests increases according to test items, specified one is selected from among a plurality of integrated circuits and they are tested with cooperating the selected one semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

試験項目によって試験に必要なテストピン数が増えた場合には、複数の半導体集積回路のうち特定の１つを選択し、複数の試験装置が選択された１つの半導体集積回路を協調動作しながら試験する。 - 特許庁

The scan test circuit tests a semiconductor integrated circuit by inputting an input value into a scan chain formed in the semiconductor integrated circuit and comparing the output value of the scan chain output from an output terminal of the semiconductor integrated circuit with the input value.例文帳に追加

半導体集積回路に形成されたスキャンチェーンに入力値を入力し、半導体集積回路の出力端子から出力されるスキャンチェーンの出力値を入力値と比較することで、半導体集積回路の検査を行うスキャンテスト回路である。 - 特許庁

If a semiconductor integrated circuit 3 under test has a less required number of terminals for tests, a plurality of testers corresponding to the semiconductor integrated circuit 3 under test one to one are used for testing a plurality of semiconductor integrated circuits 3 at once.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路の、試験で必要とされる端子が少なかった場合に、半導体集積回路と一対一に対応づけられた複数の試験装置を用いて、複数の半導体集積回路を同時に試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which correctly tests a capability which absorbs a difference of a phase of an input signal and a phase of an internal clock signal in a predetermined range.例文帳に追加

入力された信号の位相と内部クロック信号の位相との差を所定の範囲内で吸収する能力を正確に試験することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁