local testとは 意味・読み方・使い方

On July 2, local children and people in the media and travel business were invited for a test ride.例文帳に追加

７月２日，地元の子どもたちと報道や旅行業の人々が試乗会に招待された。 - 浜島書店 Catch a Wave

f) The national and local governments shall request that medical institutions provide appropriately detailed explanations of possible hepatitis test results to examinees before operation. The national government shall conduct surveys and research into explanations of hepatitis test results before operation by medical institutions in order to characterize test conditions.例文帳に追加

カ 国は、就労を維持しながら適切な肝炎医療を受けることができる環境の整備等について、各事業主団体に対し、協力を要請する。 - 厚生労働省

It is best to physically md5 the client-box files at least once a day, and to test control files such as those found in /etc and /usr/local/etc even more often.発音を聞く 例文帳に追加

少なくとも 1 日 1回、クライアントのファイルを直接 md5 にかけ、さらにもっと頻繁 に /etc および /usr/local/etcにあるようなコントロール用 ファイルを試験するのが一番です。 - FreeBSD

A local Pearson mutual correlation coefficient module 46 forms a local Pearson mutual correlation coefficient image based on the representative test line and the representative reference line.例文帳に追加

ローカル・ピアソン相互相関係数モジュール46は代表試験ライン及び代表基準ラインに基づいてローカル・ピアソン相互相関係数画像を生成する。 - 特許庁

The test system includes a tester for testing a set of components and generating test data, and a local outlier identifying system for selecting data sub-set from the test data and identifying the local outlier in the data sub-set automatically.例文帳に追加

試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 - 特許庁

When receiving a test result inputted from a connection determination unit 224, a local updating unit 228 adds discrimination information for discriminating the test result to be a newly generated one, and outputs the result to a local DB 230.例文帳に追加

ローカル更新部２２８は、接続判定部２２４から入力された試験結果を受け入れると、新たに生成された試験結果であることを識別するための識別情報を付加して、ローカルＤＢ２３０に対して出力する。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that executes burn-in test, and facilitates specifying the time of execution of burn-in test, information indicating the quality of a local host.例文帳に追加

バーンイン試験が実施される半導体装置であって、自装置の品質を表す情報であるバーンイン試験の実施時間を特定することが容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁