logic probeとは 意味・読み方・使い方

To provide a probe apparatus constituting a wafer probe for measuring electrical characteristics of a multi-electrode semiconductor device and a high-frequency circuit, especially a high-frequency probe including a hollow wiring structure, capable of high-frequency measurement of a logic circuit or an analog circuit.例文帳に追加

多電極半導体デバイスおよび高周波回路の電気的特性を測定するウエハプローバを構成するプローブであって、特に、ロジック回路やアナログ回路の高周波測定を可能とする中空配線構造を備えた高周波プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for realizing an all-optical logic operation of a signal transmitted from an arbitrary point, to be more specific, like an optical computer using a pumping signal and a probe part signal, relating to the device and method for realizing the all-optical NOR logic element.例文帳に追加

全光NOR論理素子具現装置およびその方法に関するものであり、詳しくは光コンピューティングのような任意の地点から伝送される信号をポンプ信号とプローブ部信号を用いて全光(all-optical)論理動作を具現する装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To allow construction of debug environment in an early stage of development of an electronic device even without using a costly logic analyzer, and to eliminate bad influence of stray capacitance, stray inductance or the like of a probe.例文帳に追加

電子機器の開発初期段階でのデバッグ環境を高価なロジックアナライザを使用しなくても構築でき、しかも、プローブの浮遊容量や浮遊インダクタンス等による悪影響を排除できるようにする。 - 特許庁

The semiconductor optical amplifying element 38 gives such a phase shift to the probe light that the OOK signal light and logic-inverted data light have a relative phase difference π.例文帳に追加

半導体光増幅素子３８は、ＯＯＫ信号光と論理反転データ光とでは相対的にπの位相差がある位相シフトをプローブ光に与える。 - 特許庁

The OOK signal light and logic-inverted data light are made incident on a semiconductor optical amplifying element 38 in mutually opposite directions and probe light from a light source 34 is made incident on the semiconductor optical amplifying element 38.例文帳に追加

ＯＯＫ信号光と論理反転データ光を互いに逆方向で半導体光増幅素子３８に入射し、且つ、光源３４からのプローブ光を半導体光増幅素子３８に入射する。 - 特許庁

Further, there is provided a laser irradiator 23 for irradiating a laser to the semiconductor chip 3a for taking a step of repairing by transmitting a laser irradiation hole 22c provided in the memory/ logic inspecting probe card 22.例文帳に追加

また、このメモリ・ロジック検査用プローブカード２２に設けられたレーザ照射口２２ｃを透過してリペア処置のためのレーザを半導体チップ３ａに照射するレーザ照射装置２３が設けられる。 - 特許庁

Many embodiments comprise MAC sublayer logic to generate and transmit management frames such as beacon frames, association response frames, reassociation response frames, and probe response frames.例文帳に追加

多くの実施形態は、ビーコンフレーム、アソシエーション応答フレーム、再アソシエーション応答フレーム、および、プローブ応答フレーム等の管理フレームを生成および送信するＭＡＣ副層ロジックを含む。 - 特許庁

To provide a probe device which enables high speed test of the electric characteristics of a system LSI in which logic circuits and analog circuits are mixed loaded, at a signal transmission speed of 4 Gbps or above by a low speed tester without investing a high speed tester.例文帳に追加

ロジック回路とアナログ回路を混載したシステムＬＳＩのそれぞれの電気的特性を高速テスタを投資することなく低速テスタで、信号伝送速度４Ｇｂｐｓ以上の高速テストが可能なプローブ装置を提供する。 - 特許庁