open-circuit testとは 意味・読み方・使い方

At least one among a plurality of the wiring traces is constituted to test open circuit, and at least a pair of a plurality of the wiring traces are constituted to test short-circuiting therebetween.例文帳に追加

複数の配線トレースの少なくとも１つは、それの開路試験のために構成され、そして複数の配線トレースの少なくとも一対は、その間の短絡試験のために構成されている。 - 特許庁

As shown in Fig. (b), within a prescribed time in which the temperature of the semiconductor device 11 is within a prescribed temperature range, a test for detecting whether or not an ordinary open circuit/short circuit with reference to a bonding part of a bonding wire 13 exists is executed.例文帳に追加

その後、図１（ｂ）に示すように、半導体デバイス１１の温度が所定温度範囲内にある所定時間内に、ボンディングワイヤ１３の接合部に対する通常のオープン／ショートの有無を検出するテストを実行する。 - 特許庁

The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area.例文帳に追加

本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。 - 特許庁

To provide a novel nonvolatile memory array structure capable of facilitating a test process of the nonvolatile memory array by forming an open circuit between an abnormally functioning bit line and a sense amplifier.例文帳に追加

機能異常のビット線とセンス増幅器の間を開路にして、不揮発性メモリアレイのテスト工程を簡便化し得る新規の不揮発性メモリアレイ構造を提供する。 - 特許庁

This method contains the estimation of a load test voltage of a battery as a function of a dynamic parameter of the measured battery, open circuit voltage, a load resistance value of a load tester, and the temperature of the battery.例文帳に追加

この方法は、測定したバッテリの動的パラメータ、開放電圧、負荷テスタの負荷抵抗値、およびバッテリの温度の関数として、バッテリの負荷テスト電圧を推定することを含む。 - 特許庁

To provide a coil component having a structure capable of rapidly switching from the open state of an external electrode to a short circuit state for making an evaluation test work easy and rapid, and also to provide an evaluation method of the coil component.例文帳に追加

外部電極のオープン状態からショート状態への切換を迅速に行うことができる構造にして、評価試験作業の容易化と迅速化とを図ったコイル部品及びコイル部品の評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit that detects a poor contact system when an element exists around a contact and can specify a contact with an open failure, and to provide a method of detecting and evaluating a contact failure using the same.例文帳に追加

コンタクト周辺に素子が存在する場合のコンタクト系不良が検出できるとともに、オープン不良となっているコンタクトを特定できるテスト回路およびそれを用いたコンタクト不良の検出評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which an open check test can be carried out on input/output pins, each of which is shared by a plurality of device chips by suppressing leakage currents in the input/output pins.例文帳に追加

入出力ピンにおけるリーク電流を抑制し、複数のデバイスに共有される入出力ピンのオープンチェックテストの実行が可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁