operational testとは 意味・読み方・使い方

Thus, the operational system and the test system can be easily and smoothly switched by adopting the data configurations of the operational system and the data configurations of the test system.例文帳に追加

このような運用系システムのデータ構成とテスト系システムのデータ構成を採用することによって、運用系システムとテスト系システムの切替が容易且つスムーズに行われるようになる。 - 特許庁

To increase the speed of a scan test by mitigating the restrictions on the operational frequency during the test, in a semiconductor integrated circuit device having a failure detection test circuit of a scan system.例文帳に追加

スキャン方式の故障検出テスト回路を備えた半導体集積回路装置において、テスト時の動作周波数の制限を緩和してスキャンテストを高速化する。 - 特許庁

To reduce an NW load and operational load of an OAM test by grouping logical networks and selecting a test target from each group.例文帳に追加

論理ネットワークをグルーピングし、グループ毎に試験対象を選択し、ＯＡＭ試験に関わるＮＷ負荷、および運用負荷を低減する。 - 特許庁

For important facilities and equipment, perform not only visual check, but also detailed check through testing such as operational test, leakage test and overhaul.例文帳に追加

重要な設備・機器については、目視点検だけでなく、作動試験、漏えい試験、分解点検等による詳細な点検を行う。 - 経済産業省

A system is provided that includes a test strip, a reference voltage circuit, an operational amplifier, and a processing circuit.例文帳に追加

テストストリップ、参照電圧回路、オペレーショナルアンプおよび処理回路を有するシステムが提供される。 - 特許庁

Detecting the defective sector is performed by read/write test at a high operational temperature of 40-65°C.例文帳に追加

欠陥セクタの検出は、４０℃〜６５℃といった高い動作環境温度でリード／ライト試験により行う。 - 特許庁

To provide a test circuit and a circuit testing method, which can perform the test for all clock cycles without omission, without decreasing the operational clock frequency.例文帳に追加

動作クロック周波数を落とさずに全てのクロックサイクルについてのテストを漏らさずに行うことが可能なテスト回路及び回路テスト方法を提供すること。 - 特許庁

The system is provided with a clock generating unit which has a test circuit corresponding to a device to be tested having a test circuit responding to a test signal and which supplies first clocks corresponding to operational frequencies of a test device being normal and the device to be tested to the test device and the device to be tested.例文帳に追加

テスト信号に応答するテスト回路を有する被テストデバイスに対応したテスト回路を持ち、正常とされたテストデバイス、被テストデバイスの動作周波数に対応した第１クロックをテストデバイス及び被テストデバイスに供給するクロック生成装置を設ける。 - 特許庁