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optical micrometerとは 意味・読み方・使い方
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「optical micrometer」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
To provide an optical material which is provided with a structure having periodicity of a micrometer scale and includes polymeric compounds and optical parts using the same, and a method for manufacturing the optical material.例文帳に追加
マイクロメートルスケールの周期性を有する構造を備え、高分子化合物を含んでなる光学材料及びそれを用いた光学部品、並びに光学材料の製造方法を提供する。 - 特許庁
AMORPHOUS MATERIAL FOR 2.5-3 MICROMETER BAND LIGHT EMISSION SOURCE, FOR LASER OSCILLATION OR FOR LIGHT AMPLIFICATION AND OPTICAL DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
2.5〜3μm帯の発光光源用、レーザー発振用または光増幅用の非晶質材料及びそれを用いた光学用装置 - 特許庁
To form irregularities or recesses ranging from micrometer order to sub-micrometer order on the surface of a sapphire substrate with good productivity by using porous anodically oxidized alumina without using expensive equipment having a complicated optical system, such as the conventional stepper.例文帳に追加
従来のステッパーのような複雑な光学系を持つ高価な設備を使うことなく、多孔性陽極酸化アルミナを用いて、サファイア基板の表面にミクロンからサブミクロンオーダーの凹凸または窪みを量産性良く形成する。 - 特許庁
A movable driving unit (a micrometer) to shift in the X direction or the Y direction is directly brought into contact with an objective optical element to be adjusted.例文帳に追加
「X方向」、「Y方向」それぞれにシフト移動させるための移動する駆動部(マイクロメータ)を、直接調整対象の光学素子に対して当接させる。 - 特許庁
To provide a molding process of an optical element allowing transfer of a very high accuracy mold shape, of the scale of micrometer or lower, to a molded article in high accuracy.例文帳に追加
ミクロンオーダー以下の極めて精度の高い金型形状を高い精度で成形品に転写できる光学素子の成形方法を提供する。 - 特許庁
To provide an optical pickup device that eliminates the need of adjusting the segment position of a sensor in a micrometer unit in accordance with a reflected light position from an information recording medium, and that enables work skill to be mitigated and the number of processes to be reduced.例文帳に追加
情報記録媒体からの反射光位置に対応させるようにセンサのセグメント位置をマイクロメートル単位で調整する必要をなくし、作業スキルの軽減と工数削減とが図れる光ピックアップ装置を提供する。 - 特許庁
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「optical micrometer」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 9件
An end surface of the optical fiber modules 1 is pushed in by extending a shaft part 20a of a micrometer 20, so as to adjust an interval between a reference part 2a and the positioning reference part 6b of the polishing tool 2 to the predetermined length L, by using reference lines 21a and 21b of an imaging picture screen.例文帳に追加
撮像画面の基準線21a,21bを用いて、研磨治具2の基準部2aと位置決め基準部6bの間隔を所定の長さLに合わせるように、マイクロメータ20の軸部20aを伸ばして光ファイバモジュール1の端面を押し込む。 - 特許庁
To provide a high precision angle measuring device for planes of several tens of micrometer (corresponding to a domain of micro Vickers test) by measuring angles of minute plane of samples using optical system installing two beam splitters in the middle of an ocular lens and an objective lens of an optical microscope.例文帳に追加
本発明は、試料の微小平面の角度を光学顕微鏡の接眼レンズ及び対物レンズの中間に2個のビームスプリッタを設置した光学系を用いて測定することにより、数十μm程度 (マイクロビッカース試験の領域に対応) の測定面に対し、高い精度で角度測定が行える装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
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