optical microscopesとは 意味・読み方・使い方

An optical system 15 for microscopes for detecting an index previously applied to the measuring surface d1 of the object to be inspected by the telecentric object lens 7 and performing projection to the light-receiving part 11 by the object lens 10 is formed.例文帳に追加

また被検体測定面ｄ１に予め施した指標をテレセントリック対物レンズ７で検出して対物レンズ１０で受光部１１に投影する顕微鏡用光学系１５を形成する。 - 特許庁

In an investigation conducted in 1934 over the area from China to Japan, the sand grain sizes were concentrated in the range of 0.001 mm to 0.5 mm (note that optical microscopes used could not measure minute grain sizes).発音を聞く 例文帳に追加

1934年に中国から日本にかけて行われた調査では、粒の大きさは0.001mm-0.5mmのものが多かったという（光学顕微鏡による調査のため微小な粒子は観測できない点に注意）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide an optical material having a high refractive index by which optical instruments such as microscopes, cameras and telescopes and display material such as Fresnel lens, lenticular lens, prism sheets, optical waveguides and diffusion sheets and lens systems can be small-sized and lightened, and chromatic aberration due to spherical lens can be minimized.例文帳に追加

高屈折率を有する光学材料により顕微鏡、写真機、および望遠鏡等の光学機器や、フレネルレンズ、レンチキュラーレンズ、プリズムシート、導光板および拡散シート等の表示用材料、並びに眼鏡レンズにおいて重要な位置を占めるレンズ系をコンパクトにすることができ、軽量化を図ることができる。 - 特許庁

The optoelectronic image magnifying system allows for small objects or features of small objects to be observed in which historically compound microscopes or specialized optical viewing systems have been required to observe the small objects.例文帳に追加

この光電子工学的像拡大システムは、観測するのに歴史的な複式顕微鏡または特殊な光学的観察システムを必要としたような小さい物体または物体の小さい特徴を観測することができる。 - 特許庁

To provide a high-luminance electron source, using transition metal carbide and having superior mass productivity and being easy to obtain which is used in electron-beam apparatuses, vacuum tubes, and especially, in electron-optical apparatuses, such as, electron microscopes and electron lithographic apparatuses.例文帳に追加

電子線及び電子ビーム機器や真空管、特に、電子顕微鏡や電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される、量産性に優れ入手の容易な遷移金属炭化物を用いた高輝度電子源を提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 integrated with the shafts by each of the optical microscopes has the existing scanning probe microscope 110 for optically observing a sample and a scanning probe microscope unit 140 for observing the sample by using a probe.例文帳に追加

光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡１００は、試料を光学的に観察するための既知の光学顕微鏡１１０と、プローブ（探針）を用いて試料を観察するための走査型プローブ顕微鏡ユニット１４０とを有している。 - 特許庁

When the pattern of a reticle R is exposed to light via a projection optical system PL, the position of the reference marks 34A and 34B is detected by TTL-system reticle alignment microscopes 5A and 5B, and a wafer stage 23A is driven based on the detection result and the relative position being obtained before.例文帳に追加

レチクルＲ１のパターンを投影光学系ＰＬを介して露光する際には、ＴＴＬ方式のレチクルアライメント顕微鏡５Ａ，５Ｂによって基準マーク３４Ａ，３４Ｂの位置を検出し、この検出結果と先に求めた相対位置とに基づいてウエハステージ２３Ａを駆動する。 - 特許庁

To provide an image luminance adjustment method in a transmission electron microscope that enables the acquisition of image data at the optimum luminance with the same optical conditions as those of transmission electron microscopes, regarding an image luminance adjustment method and system in a transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法及びシステムに関し、透過電子顕微鏡の光学条件は同一のまま、最適な輝度で画像データを取得することができる透過電子顕微鏡における画像の輝度調整方法を提供することを目的としている。 - 特許庁