parallel probeとは 意味・読み方・使い方

In the probe, a machining pattern is formed such that, on the upper side of the probe, stirring is performed in the probe circumferential direction parallel to the shoulder face and that, on the lower side of the probe, convection is produced downward.例文帳に追加

プローブには、プローブ上側でショルダー面と平行なプローブ円周方向に撹拌を行い、プローブ下側で下側に向けて対流を生じさせる加工パターンを形成する。 - 特許庁

Each probe is arranged so that the left side face in the figure of each probe becomes approximately parallel to the tilting shaft A1.例文帳に追加

各プローブは、各プローブの図内の左側面が、傾斜軸Ａ１に対して略平行になるように配置されている。 - 特許庁

Further, in the probe, a working pattern which generates convection toward the lower side at the lower side of the probe by performing the stirring to the circular direction of the probe in parallel with the shoulder face at the upper side of the probe, can be formed.例文帳に追加

また、プローブには、プローブ上側でショルダー面と平行なプローブ円周方向に撹拌を行い、プローブ下側で下側に向けて対流を生じさせる加工パターンを形成するようにしてもよい。 - 特許庁

Hereby, since the current application probe pin 5a and the voltage measuring probe pin 6a are not faced each other in the parallel state, a parasitic capacity is not generated between both probe pins.例文帳に追加

これにより、電流印加プローブピン５ａと電圧測定プローブピン６ａとが平行に並んで対向することが無くなるので、両者の間に寄生容量が発生しない。 - 特許庁

Guard conductor are parallel to the conductor probes and disposed with each conductor probe between them.例文帳に追加

各ガード導体は、導体プローブに平行でかつ導体プローブを挟む位置に配置されている。 - 特許庁

The probe card includes: a probe board 14 on whose one surface a contact probe 11 is formed; an ST board 21 disposed parallel to the probe board 14; and a plurality of adhesive films 300 fixing a second surface of the probe board 14 to the ST board 21.例文帳に追加

第１面にコンタクトプローブ１１が形成されたプローブ基板１４と、プローブ基板１４と平行に配置されたＳＴ基板２１と、プローブ基板１４の第２面をＳＴ基板２１に固着させる複数の接着膜３００により構成される。 - 特許庁

And outer circumference surface is provided with a groove line 15 along the full length of the probe 12 extending parallel with the axis line of the probe.例文帳に追加

そして、プローブ12の外周面には、該プローブ軸線方向と平行に延びた凹条15がプローブ12の全長に亘って設けられている。 - 特許庁

To provide a floating probe head structure probe card, including a probe head having a function of self-controlling the degree of parallel like a wafer; and preventing the periphery of the probe head from being contacted with the wafer.例文帳に追加

プローブヘッドがウエハに倣って自律的に並行度を調整する機能を有するとともにプローブヘッドの周辺がウエハに接触することを防止するフローティングプローブヘッド構造プローブカードを提供することを目的とする。 - 特許庁