「parallel probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The probe holder (22) includes carriages (24, 26) for parallel movement the probe (20) along first and second axes.例文帳に追加

プローブホルダー（２２）は、プローブ（２０）を第１及び第２の軸に沿って並進移動させるためのキャリッジ（２４、２６）を含む。 - 特許庁

A rapid parallel movement stage for a scanning type probe microscope is provided.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用の迅速平行移動ステージが提供される。 - 特許庁

In the probe, a machining pattern is formed such that, on the upper side of the probe, stirring is performed in the probe circumferential direction parallel to the shoulder face and that, on the lower side of the probe, convection is produced downward.例文帳に追加

プローブには、プローブ上側でショルダー面と平行なプローブ円周方向に撹拌を行い、プローブ下側で下側に向けて対流を生じさせる加工パターンを形成する。 - 特許庁

Each probe is arranged so that the left side face in the figure of each probe becomes approximately parallel to the tilting shaft A1.例文帳に追加

各プローブは、各プローブの図内の左側面が、傾斜軸Ａ１に対して略平行になるように配置されている。 - 特許庁

Further, in the probe, a working pattern which generates convection toward the lower side at the lower side of the probe by performing the stirring to the circular direction of the probe in parallel with the shoulder face at the upper side of the probe, can be formed.例文帳に追加

また、プローブには、プローブ上側でショルダー面と平行なプローブ円周方向に撹拌を行い、プローブ下側で下側に向けて対流を生じさせる加工パターンを形成するようにしてもよい。 - 特許庁

Hereby, since the current application probe pin 5a and the voltage measuring probe pin 6a are not faced each other in the parallel state, a parasitic capacity is not generated between both probe pins.例文帳に追加

これにより、電流印加プローブピン５ａと電圧測定プローブピン６ａとが平行に並んで対向することが無くなるので、両者の間に寄生容量が発生しない。 - 特許庁

Guard conductor are parallel to the conductor probes and disposed with each conductor probe between them.例文帳に追加

各ガード導体は、導体プローブに平行でかつ導体プローブを挟む位置に配置されている。 - 特許庁

The probe card includes: a probe board 14 on whose one surface a contact probe 11 is formed; an ST board 21 disposed parallel to the probe board 14; and a plurality of adhesive films 300 fixing a second surface of the probe board 14 to the ST board 21.例文帳に追加

第１面にコンタクトプローブ１１が形成されたプローブ基板１４と、プローブ基板１４と平行に配置されたＳＴ基板２１と、プローブ基板１４の第２面をＳＴ基板２１に固着させる複数の接着膜３００により構成される。 - 特許庁

And outer circumference surface is provided with a groove line 15 along the full length of the probe 12 extending parallel with the axis line of the probe.例文帳に追加

そして、プローブ12の外周面には、該プローブ軸線方向と平行に延びた凹条15がプローブ12の全長に亘って設けられている。 - 特許庁

To provide a floating probe head structure probe card, including a probe head having a function of self-controlling the degree of parallel like a wafer; and preventing the periphery of the probe head from being contacted with the wafer.例文帳に追加

プローブヘッドがウエハに倣って自律的に並行度を調整する機能を有するとともにプローブヘッドの周辺がウエハに接触することを防止するフローティングプローブヘッド構造プローブカードを提供することを目的とする。 - 特許庁

An optical path for the probe light 107 has a direction in parallel with an incident surface of the pumping light 106 and in parallel with a mirror surface of the mirror 104.例文帳に追加

プローブ光１０７の光路は、ポンプ光１０６の入射面に平行、かつミラー１０４の鏡面に平行な方向である。 - 特許庁

Two or more columns each having the probe section and the alignment section alternately arranged are disposed in parallel to each other.例文帳に追加

前記プローブ部及び前記アライメント部を交互に並べた列を平行に２以上配設した。 - 特許庁

Also, the surface of a probe 3 of a plate form is positioned in parallel with the transverse plane X of the waveguide 1.例文帳に追加

また、プレート状のプローブ３の表面は、導波管１の横断面Ｘに平行である。 - 特許庁

The closer a contact terminal is located to the center of the probe substrate, the greater is the distance between an imaginary surface parallel to the probe substrate and the needlepoint of that contact terminal.例文帳に追加

プローブ基板と平行の仮想面から針先までの距離寸法は、プローブ基板の中心の側に位置する接触子ほど大きい。 - 特許庁

Each probe pin assembly member is mounted so that a leading end of a probe pin 1 can freely oscillate independently in a direction parallel to the board face.例文帳に追加

各プローブピン組立部材１８は、プローブピン１の先端が基板面に平行な方向へ独立して揺動自在となるよう取り付けられる。 - 特許庁

The probe microscope 1 includes: a cantilever 2 having a probe 21; a displacement detecting optical system 3; an observation optical system 4; an objective lens 6; and a parallel glass 7.例文帳に追加

プローブ顕微鏡１は、探針２１を有するカンチレバー２と、変位検出光学系３と、観察光学系４と、対物レンズ６と、平行ガラス７とを備える。 - 特許庁

To improve a detecting sensitivity, in an eddy current probe for flaw detection, of a longitudinal flaw developing in the direction parallel to the scanning direction of the eddy current probe for flaw detection.例文帳に追加

渦電流探傷プローブにおいて、渦電流探傷プローブの走査方向と平行する方向に進展する長手キズの検出感度を高くすること。 - 特許庁

A probe 46 is arranged in the probe unit 38 in parallel to the fitting direction so that one end is elastically contacted to the contact electrode 36, and the other end of the probe 46 is electrically connected to the measuring instrument.例文帳に追加

プローブユニット３８に当接電極３６に一端が弾接するようにプローブ４６を嵌合方向と平行に配設し、プローブ４６の他端を測定器へ電気的接続するように構成する。 - 特許庁

Thereby, the parallel data formed by the digital beamformer 108 of the ultrasound probe 100 is restored.例文帳に追加

これにより、超音波プローブ１００のデジタルビームフォーマ１０８で形成されたパラレルデータが復元される。 - 特許庁

In one embodiment, the probe oriented, such as 45 degrees with respect to a sample stage has a probe tip, in which flat regions are oriented in parallel with each other at an angle of 45° to the axis of the probe; in other words, the flat regions are in parallel to the sample stage.例文帳に追加

一実施形態では、サンプル・ステージに対して４５度などのある角度に配向されたプローブは、平坦領域がプローブの軸に対して４５度で平行に配向された、すなわち、平坦領域がサンプル・ステージに平行であるプローブの先端を有する。 - 特許庁

The preamplifier 401 is provided with spring probe pawls of two columns parallel to each other, contact pegs of two columns parallel to each other and two grooves or one groove and one rotation type cam.例文帳に追加

プリアンプ４０１は、平行な２列のバネ式プローブ爪、平行な２列の接触ペグ、２つの溝、又は１つの溝及び１つの回転式カムを備えている。 - 特許庁

The magnetism measuring device 1 detects magnetism included in the plurality of cells from 31 through 33 by irradiating parallel light of pump light to the first surface of the each cell with a pump light irradiating unit 10, irradiating parallel light of probe light to the second surface such that parallel light of probe light crosses path with pump light in the each cell with a probe light detecting unit 20 and detecting probe light reflected by the reflecting mirror 5.例文帳に追加

磁気計測装置１は、ポンプ光照射部１０により各セルの第１の面にポンプ光の平行光を照射し、プローブ光検出部２０によってセル内でポンプ光と交差するようにプローブ光の平行光を第２の面に照射し、反射鏡５で反射されたプローブ光を検出することでセル３１〜３３における磁気を検出する。 - 特許庁

Moreover, the probe has a probe strut 121 provided on the substrate, a probe beam 122 provided on the probe strut using the junction of the beam with the probe strut as a support while stretching in a direction parallel to the surface of the substrate, and an electrode contact portion 123 which is provided on the probe beam and brought into contact with an electrode of a measuring object.例文帳に追加

また、当該プローブは、基板上に設けられたプローブ支柱部１２１と、プローブ支柱部上に設けられ、プローブ支柱部との接合部を支点として、基板の表面に沿う方向に伸びているプローブビーム部１２２と、プローブビーム部上に設けられ、測定対象物の電極と接触させる電極接触部１２３とを有する。 - 特許庁

Further, the surface profile data of the sample is detected while scanning the probe in parallel to the surface of the sample.例文帳に追加

さらに、探針を試料表面と平行な方向に走査しながら試料表面の形状データを検出する。 - 特許庁

The outer conductor 1 is formed freely movable, relative to the probe body 40 in a direction approximately parallel to the direction along which the contact pin 6 protrudes from the probe body 40.例文帳に追加

プローブ本体４０からのコンタクトピン６の突出方向と略平行な方向において、外側導体１をプローブ本体４０に対して移動自在に形成する。 - 特許庁

Then a probe 3 is fitted to a flat face including one long side of the waveguide 2 and this probe 3 is installed in parallel with a polarized wave face of an incident radio wave.例文帳に追加

そして、導波管２の１つの長辺を含む平坦面にプローブ３を取り付け、このプローブ３を入射電波の偏波面と平行になるように設置する。 - 特許庁

Disclosed are a plurality of probe pads 14 disposed on one side of a semiconductor chip apart from one another in one direction; and probe pads 14a of a center portion are disposed in parallel to one another, and probe pads 14b and 14c on both sides of the probe pads 14a of the center portion are disposed obliquely to the probe pads 14a of the center portion.例文帳に追加

一方向に離間して半導体チップ上の一辺に配置された複数のプローブパッド１４であって、中央部のプローブパッド１４ａは、互いに平行に配置され、中央部のプローブパッド１４ａの両側のプローブパッド１４ｂ、１４ｃは、中央部のプローブパッド１４ａに対して斜めに配置されている。 - 特許庁

To provide a probe capable of efficiently inspecting continuity characteristics of a highly integrated electronic component, preventing the damage of wiring or a terminal in inspection, preventing the coming-off of a projection of the probe in manufacturing or inspection, suitably inspecting parallel wiring, and coping with slight displacement of the probe, and to provide the manufacturing method of the probe.例文帳に追加

高集積化電子部品の導通特性を効率的に検査でき、検査時に配線や端子を傷めることなく、プローブの突起が製作時や検査時に脱落せず、平行な配線の検査に適し、若干のプローブの位置ずれにも対応可能なプローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The probe block 1a incorporates a resistive element 12 which is connected to between the two probes 11 in parallel.例文帳に追加

更に、プローブブロック１ａの内部には、２本の探針１１間に並列に接続された抵抗素子１２が含まれている。 - 特許庁

The apparatus further includes a second probe having a longitudinal axis and a nozzle in a tip end and the nozzles are arranged in parallel to the longitudinal axis.例文帳に追加

装置はさらに、長手軸と、先端部内のノズルとを有しており、このノズルは縦軸に並行に配置されている。 - 特許庁

A probe 10 or an atom 50 on a surface of a sample is vibrated in two directions parallel to the surface of the sample, and a frequency variation amount of the probe 10 based on interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

The ultrasonic probe includes the ultrasonic vibrator 7 for transmitting and receiving ultrasonic waves and an extension mechanism 12 for moving the ultrasonic probe 7 in the direction parallel to the transmitting and receiving direction of ultrasonic waves of the ultrasonic probe 7.例文帳に追加

超音波を送受信させるための超音波振動子７と、前記超音波振動子７を前記超音波振動子７の超音波を送受信する方向と平行な方向に可動できる伸縮機構１２を有する。 - 特許庁

In the case that the guide 7 is not used, a mechanism capable of detaching the probe 4 from the aluminum plate 1 in parallel is used.例文帳に追加

ガイド７を用いない場合は、測定子４をアルミニウム板１と平行に引き離すことができるような機構をもちいた。 - 特許庁

A mark set 48 is provided on two side surfaces 42A and 42B which have a parallel relationship with a scanning surface of the probe head.例文帳に追加

プローブヘッドにおける走査面と平行な関係にある２つの側面４２Ａ，４２Ｂにはマークセット４８が設けられている。 - 特許庁

The probe needle 34 is arranged in parallel to an undrface 56 of the pedestal 52 to keep a clearance 58 between the both.例文帳に追加

第１種のプローブ針３４は台座５２の下面５６に対して平行に配置されていて、両者の間には隙間５８がある。 - 特許庁

The upper end and the lower end of each the probe are relatively displaced to one direction inside a plane parallel to the upper plate and the lower plate.例文帳に追加

各プローブの上端及び下端は、上板及び下板と平行の面内において一方向に相対的にずれている。 - 特許庁

The section parallel to the substrate essential surface 12a of each probe pin 13 is anisotropic, for example, rectangular or elliptic.例文帳に追加

各プローブピン１３の基板主要面１２ａに平行な断面は、非等方的であり、たとえば長方形または楕円形である。 - 特許庁

The coordinates at the time of the contacts are memorized by making the probe move along the second line parallel to two lines (S12-S21).例文帳に追加

前記２つの線と平行な第２の線に沿って、同様にプローブを移動させて接触時の座標を記憶する（Ｓ１２〜Ｓ２１）。 - 特許庁

The probe 50 is equipped with an optical fiber 103 for guiding the excitation light and the probe light, a condensing lens 40 for condensing the guided excitation light and probe light, and a mirror 41 arranged in parallel so as to be faced to the bottom surface of the condensing lens 40.例文帳に追加

プローブ５０は、励起光及びプローブ光を導く光ファイバー１０３と、導かれた励起光及びプローブ光をを集光レンズ４０と、集光レンズ４０の底面と対面するように平行に配置されたミラー４１とを備える。 - 特許庁

Alternatively, the change amount of the frequency of the probe 10 based on the atomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected by rotating the probe 10 or the atom 50 on the surface of the specimen on the plane parallel to the surface of the specimen.例文帳に追加

または、探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な平面で回転させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

The atom position fixing device detects a change amount of a frequency of the probe 10 based on an inter-atomic force acting between the probe 10 and the atom 50 by vibrating the probe 10 or the atom 50 on the surface of the specimen in two directions parallel to the surface of the specimen.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

Alternatively, the probe 10 or the atom 50 on the surface of the sample is rotated on a plane parallel to the surface of the sample, and the frequency variation amount of the probe 10 based on the interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

または、探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な平面で回転させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

The plural probe needles are provided to contact with one electrode pad of a probe card, the plural probe needles are connected in parallel to be brought into the same potential so as to make a current flowing in the probe needles half or less, and heating by Joule heat is reduced thereby to prevent fusion of aluminium which is a constitutive material for the electrode pad.例文帳に追加

プローブカードの１つの電極パッドに接触させるプローブ針を複数本とし、前記複数本のプローブ針を並列に接続して同電位とし、プローブ針を流れる電流が半分以下となるように構成し、ジュール熱による発熱を低減させ、電極パッドの構成材であるアルミニウムの溶融を防止するようにした。 - 特許庁

Each of the distal ends 13 of the comb-like probe has an angle with a probe supporting part 12, and is operated in parallel with a sample 6 to accurately extract the specific portion of the wide region.例文帳に追加

櫛形状プローブの先端部１３がプローブ支持部１２と角度を有し、先端部１３が試料６に平行に操作され、精度よく広い領域の特定部位を抽出することができる。 - 特許庁

To prevent a damage of a measuring probe needle when performing a large-numbered parallel test, and to heighten inspection efficiency, concerning a probe card, a semiconductor integrated circuit testing device and a semiconductor integrated circuit test method.例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置及び半導体集積回路試験方法に関し、多数個並列テストを行う際の測定プローブ針の損傷を防止するとともに、検査効率を高める。 - 特許庁