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repair testとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 修復検定; 修復試験; 修復テスト
「repair test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 54件
TEST AND REPAIR METHOD AND TEST AND REPAIR SYSTEM OF REACTOR JET PUMP例文帳に追加
原子炉ジェットポンプの検査補修方法および検査補修装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING PRE-REPAIR TEST MODE例文帳に追加
プリ・リペアテストモ—ドを有する半導体装置 - 特許庁
TEST AND REPAIR SYSTEM, PRODUCT FABRICATION SYSTEM, COMPONENT TEST SYSTEM, DATA PROCESSING SYSTEM, COMPONENT REPAIR SYSTEM, AND INFORMATION STORAGE MEDIUM例文帳に追加
検査補修システム、製品製造システム、部材検査装置、データ処理装置、部材補修装置、情報記憶媒体 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM WITH SELF-INSPECTION FUNCTION OF MEMORY REPAIR ANALYSIS例文帳に追加
メモリ補修分析自己検査機能を具えた半導体検査システム - 特許庁
To provide a data driver of display device capable of performing a test equal to the test of output delay of an amplifier by means of output of a repair amplifier too.例文帳に追加
アンプの出力遅延のテストと同等のテストをリペアアンプの出力でも行うこと。 - 特許庁
TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE DEPENDING ON TEMPERATURE AND CIRCUIT DEVICE HAVING REPAIR LOGIC例文帳に追加
温度に依存した半導体素子のテストおよび修復ロジックを有する回路装置 - 特許庁
REPAIR DEVICE AND ITS REPAIR METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE SELECTIVELY PROGRAMMED IN TEST OF WAFER LEVEL OR POST PACKAGE例文帳に追加
ウェーハレベルのテストまたはポストパッケージのテストで選択的にプログラムされる半導体メモリ装置のリペア装置及びそのリペア方法 - 特許庁
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「repair test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 54件
Then the access server 6 receives a test result from the test device 7, instructs a support department to make fault repair and informs the personal computer 2b of the customer about the end of repair after receiving the fault repair end notice from the support department.例文帳に追加
次に、試験装置7からの試験結果を受け、サポート部門へ故障修理の指示を行い、サポート部門からの故障修理終了通知を受けて顧客のパーソナルコンピュータ2bへ修理終了を通知する。 - 特許庁
To provide a concrete test body allowed to be suitably used for a water permeability test, an air permeability test, a repair material evaluation test, etc. and having almost uniform perforated crack width having no dispersion, and to provide a method for manufacturing the concrete test body.例文帳に追加
透水試験、透気試験、補修材の評価試験などに好適に用いることのできる、バラツキがなくほぼ均一な貫通ひび割れ幅を有するコンクリート試験体及びその作製方法を提供する。 - 特許庁
The wafer test host 101 is provided with a repair device 103 for determing the treatment of the memory device based on the synthetic test result.例文帳に追加
ウェハテストホスト101は、合成試験結果に基づいて、前記メモリデバイスの処理の判断を行うリペア装置103を備える。 - 特許庁
In the semiconductor memory device and its repair analyzing method, address data generated by the present test is stored in other one temporary buffer by storing selectively address data by a test using two temporary buffer 4 while one temporary buffer transmits address data generated by the previous test to a data buffer 5 and performs repair analysis, and a test and repair analysis can be performed simultaneously.例文帳に追加
半導体メモリ装置及びそのリペア解析方法では、テストにより発生したアドレスデータを二つの臨時バッファ4を用いて選択的に貯蔵することにより、一つの臨時バッファが以前のテストにより発生したアドレスデータをデータバッファ5に伝送しリペア解析(repair analysis)を行う間、他の一つの臨時バッファには現在のテストにより発生したアドレスデータを貯蔵し、テストとリペア解析を同時に行うことができる。 - 特許庁
In test production, repair and maintenance, etc. of a product, the selection part (1105) selects the bit stream of the signal pair of the test signal and the collection signal.例文帳に追加
製品試作時や修理・メンテナンス時などには選択部(1105)はテスト信号及び集音信号の信号対のビットストリームを選択する。 - 特許庁
9) There are a number of in vitro genotoxicity tests (comet test using mammalian cultured cells, UDS test using mammalian cultured cells, DNA repair test (Rec-assay) using grass bacillus, umu test using Salmonella typhimurium, SOS test using colon bacillus, chromosome aberration including aneuploidy test using yeast/gene conversion, etc.) and the host-mediated test (host-mediated assay), but these test results are not used for classification.例文帳に追加
9) 数多くの in vitro 遺伝毒性試験(ほ乳類培養細胞を用いるコメット試験、ほ乳類培養細胞を用いる UDS 試験、枯草菌を用いるDNA修復試験(Rec-assay)、ネズミチフス菌を用いる umu 試験、大腸菌を用いる SOS 試験、酵母を用いる異数性を含む染色体異常試験/遺伝子変換試験など)や宿主経由試験(Host-mediated assay)があるが、これらの試験結果は分類に用いない。 - 経済産業省
A hardener is filled in the hole formed by extracting the test piece, and hardened to some degree, and a concrete piece is then pressed thereto to repair the hole.例文帳に追加
このテストピースを抜いた穴を、硬化剤を充填しある程度硬化した後、コンクリートピースを圧入して補修する。 - 特許庁
Switches 60-1, 60-2 supply driving signals to the inputs of the repair amplifiers 40-1, 40-2 when a test mode for testing the repair amplifiers 40-1, 40-2 is executed.例文帳に追加
スイッチ60−1、60−2は、リペアアンプ40−1、40−2をテストするテストモードが実行されるときに、リペアアンプ40−1、40−2の入力に駆動信号を供給する。 - 特許庁
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