fast testとは 意味・読み方・使い方

To feed back data and a data timing signal of a memory controller to perform a fast test of the memory controller.例文帳に追加

メモリコントローラのデータ及びデータタイミング信号をフィードバックして短時間内にメモリコントローラをテストする。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device which achieves a fast memory test while making a circuit scale smaller.例文帳に追加

回路規模の小型化を図りつつメモリテストを高速に実現可能とする固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

In a fast character display mode for displaying a test, the part 34 is controlled by 20 frames/sec as the display speed.例文帳に追加

また、テキストを表示する高速文字表示モードでは、表示速度として２０フレーム／秒で液晶表示部３４が制御される。 - 特許庁

To make fast a system which uses an LSI by providing a test circuit which adds no delay time.例文帳に追加

遅延時間を付加させることのないテスト回路を提供し、ＬＳＩを使用するシステムの高速化を図る。 - 特許庁

Furthermore, the commissioning test of the fast breeder prototype reactor Monju, which had been suspended since the sodium leak accident in 1995, was recently resumed.例文帳に追加

さらに、高速増殖原型炉もんじゅは、1995年のナトリウム漏えい事故以来中断していた試運転が再開されている。 - 経済産業省

To provide a loading test method excellent in the rapidity or economical efficiency of a test and capable of easily grasping the capacity of a ground anchor by employing a fast loading test method as a loading test for the ground anchor, and a testing apparatus therefor.例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験として急速載荷試験方法を採用することによって、試験の迅速性や経済性に優れ、かつ容易にアンカーの性能を把握することができる載荷試験方法及びその装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image output device capable of storing relatively mass image data for test inside without needing a new storage device and without increasing the storage capacity and relatively fast reading out the image data for test.例文帳に追加

新たな記憶装置を必要とせずまた記憶容量を増やさずに比較的大容量のテスト用画像データを内部に保存可能であり、テスト用画像データを比較的高速で読み出すことのできる画像出力装置を提供する。 - 特許庁