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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > fast testの意味・解説 > fast testに関連した英語例文

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fast testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 37



例文

Mycobacterium was found on an acid-fast stain test. 例文帳に追加

抗酸性染色検査で結核菌が見つかった。 - Weblio英語基本例文集

He could swim fast enough to pass the test.例文帳に追加

彼はテストに合格するほど速く泳ぐことができた。 - Tatoeba例文

He could swim fast enough to pass the test. 例文帳に追加

彼はテストに合格するほど速く泳ぐことができた。 - Tanaka Corpus

FAST TEST DEVICE FOR BARE CHIP LSI MOUNTING BOARD例文帳に追加

ベアチップLSI搭載基板の高速テスト装置 - 特許庁

例文

To enhance efficiency in an evaluation test of a fast operation LSI.例文帳に追加

高速動作LSIの評価試験での効率を向上させる。 - 特許庁


例文

To test operation corresponding to a fast clock only by input of a slow clock.例文帳に追加

低速クロックの入力のみで高速クロック相当の動作のテストを行うこと。 - 特許庁

A fast clock generating circuit, which generates fast clock signal of half a cycle of clock signal during normal operation and a fast data generation circuit, which generates fast scan data of half a cycle of scan data used for a scan path test are provided, and a scan path test is carried out by fast clock signal generated by a fast clock generation circuit and fast scan data generated in the fast data generation circuit.例文帳に追加

通常動作時のクロック信号の半分の周期の高速クロック信号を生成する高速クロック生成回路と、スキャンパステストに使用するスキャンデータの半分の周期の高速スキャンデータを生成する高速データ生成回路とを設け、高速クロック生成回路で生成した高速クロック信号および高速データ生成回路で生成した高速スキャンデータによってスキャンパステストを行うように構成したものである。 - 特許庁

To feed back data and a data timing signal of a memory controller to perform a fast test of the memory controller.例文帳に追加

メモリコントローラのデータ及びデータタイミング信号をフィードバックして短時間内にメモリコントローラをテストする。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device which achieves a fast memory test while making a circuit scale smaller.例文帳に追加

回路規模の小型化を図りつつメモリテストを高速に実現可能とする固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

例文

In a fast character display mode for displaying a test, the part 34 is controlled by 20 frames/sec as the display speed.例文帳に追加

また、テキストを表示する高速文字表示モードでは、表示速度として20フレーム/秒で液晶表示部34が制御される。 - 特許庁

例文

To make fast a system which uses an LSI by providing a test circuit which adds no delay time.例文帳に追加

遅延時間を付加させることのないテスト回路を提供し、LSIを使用するシステムの高速化を図る。 - 特許庁

Furthermore, the commissioning test of the fast breeder prototype reactor Monju, which had been suspended since the sodium leak accident in 1995, was recently resumed.例文帳に追加

さらに、高速増殖原型炉もんじゅは、1995年のナトリウム漏えい事故以来中断していた試運転が再開されている。 - 経済産業省

To provide a loading test method excellent in the rapidity or economical efficiency of a test and capable of easily grasping the capacity of a ground anchor by employing a fast loading test method as a loading test for the ground anchor, and a testing apparatus therefor.例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験として急速載荷試験方法を採用することによって、試験の迅速性や経済性に優れ、かつ容易にアンカーの性能を把握することができる載荷試験方法及びその装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an inexpensive semiconductor testing device which saves a test pattern storage memory by generating a fast clock while generating a test pattern in slow test cycles and is further slow and small in the storage capacity of a test pattern storage circuit, and a semiconductor testing method using the device.例文帳に追加

低速なテスト周期でテストパターンを作成しながら高速なクロックを発生させることでテストパターン格納メモリの節約を実現し、さらに低速かつテストパターン記憶回路の記憶容量が少ない安価な半導体試験装置及びその装置を用いた半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image output device capable of storing relatively mass image data for test inside without needing a new storage device and without increasing the storage capacity and relatively fast reading out the image data for test.例文帳に追加

新たな記憶装置を必要とせずまた記憶容量を増やさずに比較的大容量のテスト用画像データを内部に保存可能であり、テスト用画像データを比較的高速で読み出すことのできる画像出力装置を提供する。 - 特許庁

To provide an output characteristic test method at a low cost for a D/A converter capable of executing the test without the need for using an expensive fast analyzer and without the need for the D/A converter to use a special addition circuit.例文帳に追加

D/Aコンバータ側に特別な付加回路を必要とせず、高価な高速アナライザを用いずに実施できる低コストな、D/Aコンバータの出力特性試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit verifying device which speedily verifies the function of a device to be tested and a test pattern used for its test fast without using the actual device and a tester.例文帳に追加

被試験デバイスの機能やその試験に用いるためのテストパターンを実際のデバイスやテスタを用いずに高速に検証する半導体集積回路検証装置の提供。 - 特許庁

A test block 28 includes textures 25 which are contained in an original image and its corresponding test image, and FFT(fast-Fourier transformation) is applied to every pixel included in the block 28.例文帳に追加

オリジナル画像及び試験画像内のテキスチャー25を含むように試験ブロック28を設定し、この試験ブロック内の各ピクセルをFFTする。 - 特許庁

Out of nuclear installations under construction, fast breeder prototype reactor Monju, which was shutdown due to sodium leakage from the secondary cooling system during test run in December 1995, resumed test run in May 2010.例文帳に追加

建設中の発電用原子炉のうち、高速増殖原型炉もんじゅは、試運転中の1995年12月に発生した二次冷却系ナトリウムの漏えい事故以来停止していたが、2010年5月に試運転を再開した。 - 経済産業省

Completion of safety assessment of Fast Breeder Prototype Reactor Monju Monju had suspended its commissioning test operation for 14 years due to a sodium leak accident from the secondary system during commissioning test in 1995.In the meantime, various measures were taken and the unit has resumed commissioning test operation.例文帳に追加

高速増殖原型炉もんじゅの安全性評価の完了 高速増殖原型炉もんじゅは、試運転中の1995年に発生した二次系ナトリウム漏えい事故によって試運転を中断して以降、14年間にわたって停止していたが、その間に様々な対策を実施し、試運転が再開されている。 - 経済産業省

There is provided a screening method of candidate compounds of acid-fast bacterium growth inhibitors, screening from the test compound group consisting of one or plural test compounds, the test compounds having selectively inhibiting activity to the reaction synthesizing in the cell of the acid-fast bacterium, phosphatidylinositol phosphate (PIP) from CDP-diacylglycerol and inositol monophosphate, and selecting as the candidate compounds of the acid-fast bacterium growth inhibitors.例文帳に追加

1または複数の被検化合物からなる被検化合物群の中から、抗酸菌の菌体内においてCDP−ジアシルグリセロールとイノシトール1−リン酸とからホスファチジルイノシトールリン酸(PIP)を合成する反応に対する選択的阻害活性を有する被検化合物をスクリーニングし、抗酸菌生育阻害剤の候補化合物として選定する抗酸菌生育阻害剤の候補化合物のスクリーニング方法。 - 特許庁

The apparatus for handling a vessel has a Peltier element 12 for generating heat to react a solution in each of test tubes 9 of the PCR plate 8 and the metal block 11 to be stuck fast to the PCR plate 8 so as to transfer heat generated from the Peltier element 12 to the test tubes 9.例文帳に追加

PCRプレート8の各試料管9内の溶液を反応させるための熱を発するペルチェ素子12と、ペルチェ素子12から発生した熱を試料管9に伝えるべくPCRプレート8に密着する金属ブロック11を有する。 - 特許庁

To provide a method for using automated testing by idealistically creating a test case in a design phase as fast as possible in a life cycle of a software product.例文帳に追加

ソフトウェア製品のライフサイクルにおいてできるだけ早く、理想的には設計フェーズにテストケースを作成し、自動テストを使用するやり方を提供すること。 - 特許庁

To continuously control the intensity of the laser in pulse emission state during data recording with no test emission nor using a fast sample hold circuit.例文帳に追加

データ記録中にパルス発光状態にあるレーザを、テスト発光、または、高速サンプルホールド回路を用いることなく、常時連続的に強度を制御する。 - 特許庁

To provide a system which verifies fast whether an LSI designed by electronic design automating technology and a test pattern of the LSI generated on the basis of CAD data at the time of development designing are proper.例文帳に追加

電子設計自動化手法で設計したLSIと、開発設計時におけるCADデータを基に作成されたそのLSIのテストパターンの適否を高速に検証するシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a fast speed test pattern verifying apparatus for verifying without using an actual LSI tester or a device to be tested based on logic simulation data formed by a CAD.例文帳に追加

CADで作成された論理シミュレーションデータを基にして、実際のLSIテスタや被試験デバイスを用いずに検証する高速テストパターン検証装置を提供する。 - 特許庁

The sealed lead-acid battery is formed by assembling a bunch of electrode plates using a retainer mat in the range a/b=4-5 determined through a load test described below, and storing the bunch in a battery jar with a certain bunch pressure, setting fast a lid, and pouring in a specified quantity of electrolytic solution.例文帳に追加

下記の荷重試験により求めたa/b=4〜5の範囲のリテーナマットを用いて極板群を組み立て、これを電槽内に所定の群圧で収容し、施蓋、所定量の電解液を注入して成る密閉鉛蓄電池。 - 特許庁

To allow differentiation diagnosis between tuberculous and non- tuberculous acid-fast bacteriosises, and to easily test a large number of specimens in a short time by a single operation at the substantially same time.例文帳に追加

結核と非結核性抗酸菌症との鑑別診断ができ、短時間で容易に一回の操作で多数の検体をほぼ同時に検査することができる抗酸菌症鑑別用試薬および鑑別方法を提供する。 - 特許庁

An evaluation method for warming up effect from inside of a body includes medicating a nonhuman animal that has been made to fast with a test drug sample, soaking with water for cooling, and then measuring body temperature change of the animal.例文帳に追加

絶食した後の非ヒト動物に被験薬試料を投与し、水浸冷却負荷を与えた後、該動物の体温変化を測定することを特徴とする温裏作用評価方法を提供する。 - 特許庁

A stereoscopic three-dimensional optical measurement system (100) and a method accurately measure the location of physical features (129) on a test article (120) in a manner that is fast and robust relating to surface contour discontinuities.例文帳に追加

立体視3次元光学式測定システム(100)および方法は、表面形状の不連続性に関して高速かつロバストな態様で被検物(120)上の物理的フィーチャ(129)の位置を正確に測定する。 - 特許庁

To shorten a verification period of time by automating test bench generation for verifying a DUT by a device which automatically generates a test bench having a library in which verifying devices including models and monitors are registered, and then eliminating misgeneration of the test bench and shortening a generation time to start up the verification fast.例文帳に追加

モデル・モニタを含む検証装置を登録したライブラリを有するテストベンチを自動生成する装置において、DUTを検証するためのテストベンチ作成を自動化することで、テストベンチの作成ミスの排除と作成時間の短縮がはかれ、検証の立上げが早くなることで検証時間の短縮を行う事を目的とする。 - 特許庁

Prior to actual data communication, a test data block whose transmission speed is stepwise changed is transmitted and by evaluating an error rate of received data, a data transmission speed as fast as possible with less communication error is decided and actual data communication is conducted at a decided data transmission speed.例文帳に追加

実際のデータ通信に先立って、伝送速度を段階的に変化させるテストデータブロックを送信し、その受信データのエラー率を評価することにより、できるだけ高速で、かつ、通信エラーが少ないデータ伝送速度を決定し、決定したデータ伝送速度で実際のデータ通信を行う。 - 特許庁

To provide a fast test device for a bare chip LSI mounting board capable of detecting, in its early stages, continuity defectives or functional defectives and reducing the loss in production in the stage of mounting a bare chip LSI on a board before mounting SMT components such as a RAM, a capacitor, and resistance.例文帳に追加

RAM、コンデンサ、抵抗などのSMT部品を搭載する前に、基板上にベアチップLSIが搭載された段階で、導通不良や機能不良を早期に発見し、生産上の損失を低減する、ベアチップLSI搭載基板の高速テスト装置を提供する。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のA/D変換器の機能テストでは、A/D変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速A/D変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁

As for a contactor used for test of LSI with minute terminals and its manufacturing method, to provide a conductor wherein a lot of probes become possible to be formed at a low cost, that has good heat resistance and a mechanical life of several hundred times and also that is capable of conducting a fast turn-around test and its manufacturing method.例文帳に追加

本発明は、微細な端子を有するLSIの試験に使用されるコンタクタ及びその製造方法に関し、低コストで多数のプローブが形成可能であり、良好な耐熱性と数百回の機械的寿命を有し、且つ、高速動作試験を行うことができるコンタクタ及びその製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

First and second measurement signals output from a measurement board 2 via first and second signal transmission paths 21a, 22 are fast Fourier transformed, and the magnitude of the fundamental wave spectrum component of the measurement signal is compared with a theoretical value of the magnitude of the fundamental wave spectrum component of a first test wave to detect the presence of abnormality in a connection means 3.例文帳に追加

第1及び第2の信号伝送経路21a、22を介して測定ボード2から出力された第1及び第2の測定信号を高速フーリエ変換し、測定信号の基本波スペクトル成分の大きさと第1の試験波の基本波スペクトル成分の大きさの理論値とを比較して接続手段3の異常の有無を検出する。 - 特許庁

例文

A test signal is imparted to each of the analog circuits 12-14 when testing, the alternating current signal output from the terminal 19 of the integrated circuit 11 is converted into a digital signal in an ADC 24, and the digital data is fast-Fourier-transformation-processed to detect a frequency component included in the alternating current signal, in a DSP 26.例文帳に追加

テスト時には、アナログ回路12〜14へ試験信号を加え、集積回路11の端子19から出力される交流信号をADC24においてディジタルデータに変換し、DSP26において、上記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って交流信号に含まれる周波数成分を検出する。 - 特許庁

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