sample positionとは 意味・読み方・使い方

The pallet (2) includes a sample holding member (4) movable between a sample holding position and a sample releasing position, urging means (9) for urging the sample holding member (4), and a sample release engaging part (7) provided in the sample holding member (4).例文帳に追加

パレット（２）は、試料保持位置と試料解除位置との間を移動可能な試料保持部材（４）と、試料保持部材（４）を付勢する付勢手段（９）と、試料保持部材（４）に設けられている試料開放用係合部（７）とを具備している。 - 特許庁

The contact position is between the detection rod 2 and the sample S, between the sample S and a sample stand 9 or between two portions formed by halving the sample S.例文帳に追加

接触位置は、検出棒２と試料Ｓの間、試料Ｓと試料台９の間、もしくは、試料Ｓを二分割した間である。 - 特許庁

The adjustment rotation is an operation for arranging a desired sample position at a specific position, in order to introduce a sample to the disc or to discard the sample.例文帳に追加

調節回転とは、円盤ディスクへのサンプル導入や廃棄のために、所望のサンプルポジションを特定位置に配置する動作である。 - 特許庁

When an operating member 13 is moved from an operating position to a separated position in a state mounted with the wafer sample W in a sample mounting face, a wafer sample pressing moving member 6 for supporting a wafer sample pressing member 8 is moved from a sample free position toward a sample fixing position.例文帳に追加

試料載置面にウエハ試料Ｗを載置した状態で、作動部材１３を作動位置から離隔位置に移動すると、ウエハ試料押圧部材８を支持するウエハ試料押圧用移動部材６は試料自由位置から前記試料固定位置に向けて移動する。 - 特許庁

The position where the sample value first becomes a peak (position of sample value (j)) after the detected leading position is detected as a leading wave position.例文帳に追加

検出した先頭位置以後において、サンプル値が最初にピークとなる位置（サンプル値(j)の位置）を先頭波位置として検出する。 - 特許庁

SAMPLE POSITION CORRECTION METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子顕微鏡における試料位置補正方式 - 特許庁

SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁

SAMPLE LIQUID ANALYZING SYSTEM CONTAINING POSITION CONTROL UNIT例文帳に追加

位置制御ユニットを含む試料液体分析システム - 特許庁