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sample positionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1237件
SAMPLE DISH POSITION CORRECTING DEVICE例文帳に追加
試料皿位置矯正装置 - 特許庁
SAMPLE SCANNER DEVICE, AND SAMPLE POSITION DETECTING METHOD USING DEVICE例文帳に追加
標本スキャナ装置、該装置による標本位置検出方法 - 特許庁
The driving mechanism moves the position of the sample.例文帳に追加
駆動機構は、試料の位置を動かす。 - 特許庁
SAMPLE POSITION DETECTING DEVICE FOR ULTRASONIC MICROSCOPE例文帳に追加
超音波顕微鏡の試料位置検出装置 - 特許庁
To remove displacement between a sample observation position and a sample measuring position for actually measuring by an ATR method.例文帳に追加
試料観測位置とATR法で実際に測定する試料測定位置とのずれをなくす。 - 特許庁
SAMPLE POSITION DETECTION DEVICE OF ACOUSTIC MICROSCOPE例文帳に追加
超音波顕微鏡の試料位置検出装置 - 特許庁
An unnecessary component analogous sample is used as an elution position confirming sample to determine an elution position.例文帳に追加
不要成分類似試料を溶出位置確認試料として用いて溶出位置を決定する。 - 特許庁
The position where the sample value first becomes a peak (position of sample value (j)) after the detected leading position is detected as a leading wave position.例文帳に追加
検出した先頭位置以後において、サンプル値が最初にピークとなる位置(サンプル値(j)の位置)を先頭波位置として検出する。 - 特許庁
SAMPLE POSITION CORRECTION METHOD IN ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
電子顕微鏡における試料位置補正方式 - 特許庁
To provide a sample table for a microscope in which sample table aligns the shaft of a sample with the rotating shaft of the sample table to adjust the position of the sample while saving space.例文帳に追加
試料の軸を試料台の回転軸に合わせ、省スペースにおいて試料の位置調整を行う顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁
When an operating member 13 is moved from an operating position to a separated position in a state mounted with the wafer sample W in a sample mounting face, a wafer sample pressing moving member 6 for supporting a wafer sample pressing member 8 is moved from a sample free position toward a sample fixing position.例文帳に追加
試料載置面にウエハ試料Wを載置した状態で、作動部材13を作動位置から離隔位置に移動すると、ウエハ試料押圧部材8を支持するウエハ試料押圧用移動部材6は試料自由位置から前記試料固定位置に向けて移動する。 - 特許庁
SAMPLE LIQUID ANALYZING SYSTEM CONTAINING POSITION CONTROL UNIT例文帳に追加
位置制御ユニットを含む試料液体分析システム - 特許庁
The adjustment rotation is an operation for arranging a desired sample position at a specific position, in order to introduce a sample to the disc or to discard the sample.例文帳に追加
調節回転とは、円盤ディスクへのサンプル導入や廃棄のために、所望のサンプルポジションを特定位置に配置する動作である。 - 特許庁
The upper surface of the housing 1 is equipped with the sample suction position 7, a sample dispensing position 19, the sample dispensing mechanism 11 for moving the sample probe between the sample chucking position 7 and the sample dispensing position 19 and the protective cover 27 for covering the upper and lateral parts of the moving range of the sample-dispensing mechanism 11.例文帳に追加
筐体1の上面に、試料吸引位置7と、試料分注位置19と、試料プローブを試料吸引位置7と試料分注位置19の間で移動させるための試料分注機構11と、試料分注機構11の移動範囲の上方及び側方を覆う保護カバー27を備えている。 - 特許庁
A sample position where the maximum value is detected is employed as the symbol boundary position.例文帳に追加
その最大値が検出されたサンプル位置を、シンボル境界位置とする。 - 特許庁
SAMPLE POSITION DETECTION END EFFECTOR AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加
試料位置検知端部エフェクタおよびその使用方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM DRAWER AND CORRECTING METHOD FOR SAMPLE POSITION例文帳に追加
電子線描画装置および試料位置の補正方法 - 特許庁
SAMPLE OBSERVATION APPARATUS, EDGE POSITION CALCULATION DEVICE, AND PROGRAM例文帳に追加
試料観察装置、エッジ位置算出装置、及びプログラム - 特許庁
To provide a sample stage which stabilizes a sample position during sample observation and can smoothly move a sample and a microscope or measuring instrument using this sample stage.例文帳に追加
試料観察時には試料位置が安定し、かつ試料をスムーズに移動できる試料ステージ及びその試料ステージを用いた顕微鏡又は測定器を提供すること。 - 特許庁
A display screen image 100 includes a sample volume cursor 110 indicating the position of a sample volume.例文帳に追加
表示画像100は、サンプルボリュームの位置を示すサンプルボリュームカーソル110を含んでいる。 - 特許庁
The magnetic disk device estimates the head position for the next sample and calculates the control command value of the next sample.例文帳に追加
次サンプルのヘッドの位置を推定し、次サンプルの制御指令値を算出する。 - 特許庁
TRANSPORT APPARATUS OF SAMPLE RACK, AND POSITION DETECTION MEANS OF SAMPLE RACK USED FOR THE TRANSPORT APPARATUS例文帳に追加
サンプルラックの搬送装置および、その装置に使用するサンプルラックの位置検出手段 - 特許庁
The contact position is between the detection rod 2 and the sample S, between the sample S and a sample stand 9 or between two portions formed by halving the sample S.例文帳に追加
接触位置は、検出棒2と試料Sの間、試料Sと試料台9の間、もしくは、試料Sを二分割した間である。 - 特許庁
SAMPLE POSITION DETECTING METHOD AND DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加
透過電子顕微鏡試料位置検出方法及び装置 - 特許庁
The position signal P of the light beam is detected on the sample 10.例文帳に追加
標本10の上で光ビームの位置信号Pも検知される。 - 特許庁
To provide a sample holder for differential thermal analysis for detecting thermal equilibrium departure between a sample position (5) and a reference position (6).例文帳に追加
サンプル位置(5)と基準位置(6)との間の熱平衡偏差を検出可能な示差熱分析用サンプルホルダーを提供する。 - 特許庁
To calibrate a sample delay time between a position request time from a host computer and a position encoder sample time.例文帳に追加
ホスト・コンピュータからの位置要求タイミングと、位置エンコーダのサンプリング・タイミングの間におけるサンプリング遅延時間を補正する。 - 特許庁
To quickly search the position of a sample when the desired observation position on the sample is not in the field of observation.例文帳に追加
試料上の所望の観察位置が観察野内に入っていない場合にそのいち早い探索を可能にする。 - 特許庁
The sample reservoirs are successively positioned at the sample dispensing position 9 by the table 3 and the dispensation of the specimens in the sample reservoirs is successively performed by the sample dispensing mechanism.例文帳に追加
テーブル3によりサンプルリザーバをサンプル分注位置9に順次位置決めし、サンプル分注機構によりサンプルリザーバへのサンプルの分注を順次行なう。 - 特許庁
The pallet (2) includes a sample holding member (4) movable between a sample holding position and a sample releasing position, urging means (9) for urging the sample holding member (4), and a sample release engaging part (7) provided in the sample holding member (4).例文帳に追加
パレット(2)は、試料保持位置と試料解除位置との間を移動可能な試料保持部材(4)と、試料保持部材(4)を付勢する付勢手段(9)と、試料保持部材(4)に設けられている試料開放用係合部(7)とを具備している。 - 特許庁
A sample position shift is carried out by a lever 32, by moving the sample-table holding member 31.例文帳に追加
試料位置移動はレバー32により試料台支持部材31を動かすことにより行なう。 - 特許庁
To position and fix a wafer sample in a sample holder, in a state of not causing warpages or deflection.例文帳に追加
反りや撓みを生じていない状態でウエハ試料を試料ホルダに位置決め固定すること。 - 特許庁
A sample is fixed onto the tissue handling apparatus, in particular in a sample holding position, by means of negative pressure.例文帳に追加
サンプルは、負圧の手段によって、特にサンプル保持位置で、組織処理装置に固定される。 - 特許庁
Eight sample reservoirs of a migration chip 1 for dispensing a sample at first are positioned at a sample dispensing position 9 by a table 3.例文帳に追加
テーブル3により、最初にサンプルを分注する泳動チップ1の8つのサンプルリザーバをサンプル分注位置9に位置決めする。 - 特許庁
The height position of a sample is determined by an automatic focus function after sample exchange and a difference between this determined height position, and a true eucentric height position is determined.例文帳に追加
試料交換後オートフォーカス機能により試料の高さ位置が求められ、この求められた高さ位置と真のユーセントリックの高さ位置との差が求められる。 - 特許庁
The Δx is measured by an optical sensor for measuring a sample position.例文帳に追加
このΔxを、試料位置計測用光センサーで計測する。 - 特許庁
To measure the bonding reaction of a sample at a proper detecting position.例文帳に追加
適切な検出位置で試料の結合反応を測定する。 - 特許庁
The position of the sample value (sample value (h)) immediately after the maximum time interval (τ8) among the measured time intervals is detected as a leading position.例文帳に追加
測定した時間間隔のうち、最大の時間間隔(τ_8)直後のサンプル値(サンプル値(h))の位置を先頭位置として検出する。 - 特許庁
RIDGE LINE POSITION DETECTOR AND RIDGE LINE POSITION DETECTION METHOD FOR SURFACE SHAPE OF SAMPLE例文帳に追加
試料の表面形状の稜線位置検出装置及び稜線位置検出方法 - 特許庁
To provide a sample container moving method in a sample preparation part of a particle size distribution measuring device capable of moving the sample container from the liquid sample collection position to the position of a mixing part in a short time without spilling the liquid sample.例文帳に追加
液体試料をこぼすことなく短時間で試料容器を液体試料採取位置から混合部の位置まで移動できる粒径分布測定装置の試料調整部における試料容器移動方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a positioning device that does not rub off a sample not to scatter a dust even the sample is flattened and sucked with the circumference surface of the sample pressed and with the sample held to the predetermined position in order to keep the plate-like sample sucked to the predetermined position of the sample support.例文帳に追加
板状の試料を試料台の所定の位置に吸着させるために、試料の外周面を押さえて試料を所定の位置に保持したまま、試料を平坦化や吸着しても、試料を擦らずに発塵しない位置決め装置を提供する。 - 特許庁
The sample 20 is started to be measured after a position of the beam is confirmed and after the sample 20 is moved to a prescribed position with respect to the beam by the rotary sample table 12 and a stage 13.例文帳に追加
光束の位置を確認し、回転試料台12およびステージ13により試料20を光束に対して所定の位置に移動した後、測定を開始する。 - 特許庁
A sample point correction part 14 corrects a two-dimensional coordinate of the sample point set on the projector 3 so that a position of the sample point agrees with a position of the target point on the screen.例文帳に追加
サンプル点補正部14は、サンプル点の位置がスクリーン上のターゲット点の位置と一致するように、プロジェクタ3に設定するサンプル点の2次元座標を補正する。 - 特許庁
To provide a charged particle beam apparatus, a sample transport apparatus, a mask position adjustment mechanism, a sample position adjustment method and a mask position adjustment method, which enable more flexible adjustment of a sample or a mask position without restrictions by wiring in sample or mask movable range.例文帳に追加
配線で可動範囲が制限されたりすることなく試料又はマスクの位置をより柔軟に調整することができる荷電粒子線装置、試料移動装置、マスク位置調整機構、試料位置調整方法及びマスク位置調整方法を提供する。 - 特許庁
A cuvette-supplying section 8 arranges a new cuvette to a cuvette-supplying position A, and a sample probe 20 dispenses a sample at a sample sucking position D into the cuvette at the position A.例文帳に追加
キュベット供給部8により新しいキュベットをキュベット供給位置Aに配置し、検体プローブ20により、検体吸引位置Dにある検体をキュベット供給位置Aでキュベットに分注する。 - 特許庁
A sample gate controller 8 controls the position of a sample gate, based on the distance error calculated.例文帳に追加
サンプルゲート制御器8は、上記算出された距離誤差に基づいてサンプルゲートの位置を制御する。 - 特許庁
To provide a microscope system for measuring a three-dimensional position of a sample and a fluorescence spectrum of the sample.例文帳に追加
試料の三次元位置と該試料の蛍光スペクトルとの計測を行うための顕微鏡システムの提供。 - 特許庁
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