「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an observation method of an FIB-processed sample by an electron microscope, which enables the identification of a processed part of the sample that is processed into a thin film for a short time by FIB (focused ion beam) and enables the reduction of the time duration from setting of the processed sample to observation of the processed position.例文帳に追加

短時間にＦＩＢで薄膜状に加工された試料の加工部分を見出し、電子顕微鏡への加工済み試料のセットから加工位置の観察までの時間を短縮することができるＦＩＢによる加工試料の電子顕微鏡による観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a DLP type slit optical scanning microscope capable of attaining slit light illumination by irradiating a sample with slit light under the control of a DMD, and capable of easily adjusting the position and the extent of the illuminating light on the sample and the thickness (size) of the slit through which the sample is irradiated.例文帳に追加

ＤＭＤの制御の下にスリット光を照射して、スリット光照明を実現し、標本上の照明光の位置及び範囲並びに標本を照射するスリットの厚さ（太さ）を容易に調整することができるＤＬＰ式スリット光走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

For set conditions of an electron lens, a deflector and a restriction disposed above the sample, data obtained by calibrating electron beam density on the sample of the electron beam radiated on the sample, the diameter of the electron beam and a shift amount from the center position of the electron beam are stored in a storage device 27 in advance.例文帳に追加

試料より上方に配置されている電子レンズと偏向器と絞りの設定状態に対して、試料に照射される電子線の試料上の電子線密度と電子線径と電子線の中心位置からのシフト量をキャリブレーションしたデータを記憶装置27に記憶しておく。 - 特許庁

This perpendicular tension type adhesion strength test machine for perpendicularly fixing the stud to the surface of the sample and performing a perpendicular tensile test has a cylindrical collet that receives the stud 1 that is arranged perpendicularly to a sample fixing position of a sample fixing plate 11 and perpendicularly fixed to the surface of the sample 10, clamps it with a constant load, and applies stress perpendicular to the sample 10 to the stud 1.例文帳に追加

試料の表面に垂直にスタッドを固定して垂直引張試験を行う垂直引張型密着強度試験機に於いて、試料固定板１１の試料固定位置に垂直に配置されて試料１０の表面に垂直に固定したスタッド１を受容すると共に一定加重でクランプし且つスタッド１に対し試料１０と垂直な方向の応力を加える筒状のコレットを備える。 - 特許庁

An edge neighborhood focus determination part 353 determines a focused sample image at the pixel based on changes with changes of the focus position of a lightness value for every neighboring pixel of edge parts in each sample image.例文帳に追加

エッジ近傍合焦判定部３５３は、エッジ部分の近傍画素の各標本画像それぞれにおける輝度値の焦点位置の変位に伴う変化をもとに、この画素における合焦位置の標本画像を判定する。 - 特許庁

To make an automatic analysis apparatus free from such a restriction that a type of a sample is fixed for each position in a rack where the sample is placed, so that the automatic analysis apparatus can flexibly cope with various situations.例文帳に追加

本発明の目的は、自動分析装置において、様々な状況に柔軟に対処できるようにラックごと且つラック内の設置位置ごとに試料の種類が固定されているという制限を取り外すことにある。 - 特許庁

To highly accurately prevent a table of a sample stage used for an optical microscope and an electron microscope from inclining when the table of the sample stage is moved to a predetermined position in micron order.例文帳に追加

光学顕微鏡や電子顕微鏡に使用される試料ステージのテーブルを所定位置にミクロン単位で移動させた際、テーブルが傾斜してしまうことを精度高く抑制することができるようにすることにある。 - 特許庁

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field.例文帳に追加

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

A plane mirror 9 is movable, and light dispersed spectrally from mirror 5 reaches a sample cell 11 when the mirror 9 is located in a position indicated by a doted line, and an absorbance by a sample is measured over the wide wavelength range.例文帳に追加

平面ミラー９は可動式であり、点線で示される位置にあるときはミラー５からの分光された光が試料セル１１に達し、広い波長範囲で試料による吸光度を測定することができる。 - 特許庁

A photomultiplier 14 photoelectrically converts light coming from the sample 9 irradiated with the laser beam and passing through a confocal pinhole 11 arranged at a conjugate position to a surface irradiated with the laser beam on the sample 9.例文帳に追加

フォトマルチプライヤ１４は、レーザ光の照射された標本９から到来し、標本９におけるレーザ光の照射面と共役な位置に配置される共焦点ピンホール１１を通過した光を光電変換する。 - 特許庁

Similarly, the intensity of the reflected light from the surface of the sample near the recessed part is detected while moving the sample in the optical axis direction, so as to detect a position in the optical axis direction, where the intensity of the reflected light becomes the largest.例文帳に追加

そして、凹部近傍の試料表面についても同様に、試料を光軸方向に移動させながら反射光強度を検出し、反射光強度が最大となる光軸方向の位置を検出する。 - 特許庁

The electron beam drawing device includes an electron gun which emits an electron beam, a holder which holds a sample to be drawn where a pattern is drawn with the electron beam, and a control section which corrects a drawing position according to the height of the sample.例文帳に追加

電子線描画装置は、電子線を放出する電子銃と、電子線によりパターンが描画される被描画試料を保持するホルダーと、試料の高さに応じて描画位置を補正する制御部とを有する。 - 特許庁

To provide an elemental distribution analytical method having excellent depth direction resolution intersecting an analytical object plane, when the analytical object plane is on the deep position from the sample surface or is inclined with respect to the sample surface.例文帳に追加

分析対象面が試料表面から深い位置にある場合、又は試料表面に対して傾斜している場合に、分析対象面に交差する深さ方向分解能の良い元素分布分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical analyzer capable of precisely analyzing a sample while accurately controlling a laser irradiation position by accurately tracing a track of a region on an analysis disc where the sample is arranged.例文帳に追加

分析ディスク上のサンプルが配置された領域のトラックを正確にトレースしてレーザの照射位置を正確に制御しながら、精度の高いサンプルの分析を行うことができる光学分析装置を提供する。 - 特許庁

The scanning type laser microscope is equipped with a 1st scanning optical system A for obtaining the scanning image of the sample 19 and a 2nd scanning optical system B for causing the singular phenomenon at the specific position of the sample 19.例文帳に追加

走査型レーザ顕微鏡は標本１９の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本１９の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂとを備える。 - 特許庁

To provide a laser microscope capable of executing optimum pulse width adjustment for shortening the pulse width of a laser beam on the position of a sample, preferably making it to the shortest width and observing the sample under an optimum condition.例文帳に追加

標本位置でのレーザビームのパルス幅を短く、望ましくは最短にする最適なパルス幅調整を行うことができ、最適な条件下での観察を行うことができるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When the sample is injected into an analyzing apparatus, a sampling needle 5 is moved to a position above a sample container 3 (see (A)), and then the sampling needle 5 is moved down so that the tip of the sampling needle 5 penetrates the septum 26 (see (B)).例文帳に追加

試料を分析装置に注入する際は、サンプリングニードル５を試料容器３上まで移動させた後（（Ａ）を参照。）、サンプリングニードル５を先端部がセプタム２６を貫通するまで降下させる（（Ｂ）を参照。）。 - 特許庁

In a normal temperature state (for example, at 25°C), a position d0m (m=1-M) of a movable mirror 43 where the optical fiber F2 for the sample (the first to M-th optical fibers F21-F2m for the sample) generates interference is recorded.例文帳に追加

常温状態（例えば、摂氏２５度）において試料用光ファイバＦ２（第１〜第Ｍの試料用光ファイバＦ２１〜Ｆ２ｍ）が干渉を発生させる可動鏡４３の位置ｄ０ｍ（ｍ＝１〜Ｍ）を記録する。 - 特許庁

Inspection conditions of an inspection apparatus are made proper by creating a sample where a nonconductive contact hole 2 on a wafer through defect position and size thereof, and the thickness of a defect layer are clear, and by evaluating the sample.例文帳に追加

ウエハ上における非導通コンタクト孔２や突抜け欠陥位置と大きさ及び欠陥層の厚さが明確なサンプルを作成し、これを評価することによって、検査装置の検査条件を適正化する。 - 特許庁

A target board is arranged inside the channel so as to support the exposure of at least one sample to concentrated solar radiation when the operation part is present in the first operation position and support the immersion of the sample in fluid when the operation part is present in the second operation position.例文帳に追加

ターゲットボードは、動作部が第一動作位置にある場合には、少なくとも一つの試料が太陽放射の集中に曝されるのを支持するために、さらに、第二動作位置にある場合には、試料が流体に浸漬されるのを支持するため、チャンネル内に配置されている。 - 特許庁

A flow channel 16 for allowing a sample to flow is formed on a glass substrate 11, and reservoirs 14 and 15 for injecting the electrode liquid for producing a pH gradient and holes 12 and 13 for introducing or discharging the sample are formed to a substrate 10 at a position separate from the position of the reservoirs 14 and 15.例文帳に追加

ガラス基板１１には試料を流す流路１６が形成され、基板１０にはｐＨ勾配を生じさせるための電極液を注入するリザーバ１４，１５と試料を導入又は排出するための穴１２，１３がリザーバとは別の位置に形成されている。 - 特許庁

The small distance between the sample position and aperture also results in less scattering of electrons than occurs in the ESEM(R) where a mirror is placed between the aperture and sample position since the electrons have to travel through only a limited length in a high pressure area.例文帳に追加

試料位置とアパーチャとの距離が短くなることで、当該装置での電子の散乱は、電子が高圧領域ではわずかに限られた長さしか進行できないという理由でアパーチャと試料位置との間にミラーが設けられているESEM（登録商標）での電子の散乱よりも少なくなる。 - 特許庁

The microscope 1 is configured to take an upright position in which the lens barrel part 30 is positioned above the sample stage 40 and an inverted position in which the lens barrel part 30 is positioned under the sample stage 40 by rotating the turntable 20 with respect to the base 10.例文帳に追加

この顕微鏡１は、回転台２０を土台部１０に対し回転させることで、鏡筒部３０が試料台４０に対して上方に位置する正立位置と、鏡筒部３０が試料台４０に対して下方に位置する倒立位置とに配置することができるように構成されている。 - 特許庁

A position relation between an external shape and the crystal orientation of a specimen is clarified by comparative measurement using a reference sample having a clear position relation between the external shape and the crystal orientation on the same sample coordinate, by using a back-scattered electron beam diffraction pattern method (EBSP method).例文帳に追加

後方散乱電子線回折パターン法（ＥＢＳＰ法）を用いて、同じ試料座標上で外形形状と結晶方位の位置関係が明確な基準試料を用いて比較測定する事で、被検体の外形形状と結晶方位の位置関係を明確にする。 - 特許庁

The apparatus comprises a rotating cap 204 and a moving plate 206 for setting a selected one of a plurality of samples placed on a sample stage at an analysis position, and a rotating stage having a central axis coincident with the analysis position and for rotating the selected sample.例文帳に追加

前記装置はサンプルステージに置かれた複数個のサンプルのうち、選択されたサンプルの位置を分析地点に一致させるための回転キャップ２０４と移動プレート２０６、分析地点と一致する中心軸を有し、選択されたサンプルを回転させるための回転ステージを含む。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer capable of analyzing a sample incapable of specifying an analytical position, by imaging clearly an analytical object position from the outside of an analytical chamber, in regard to the sample inside the analytical chamber provided with an imaging window having a thick window material.例文帳に追加

本発明は厚い窓材を有する撮像窓を備える分析室内の試料に対して、分析室外から分析対象位置を鮮明に撮像できるようにして、分析位置の特定ができなかった試料の分析を可能にするＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

The water collection device is equipped with a water quality detection means for detecting water quality data relative to a collected water sample, a positional information acquisition means for acquiring position information at the water collection time, a means for storing the water quality data and the position information as collected water sample related information, and a means for transmitting them to a server.例文帳に追加

この採水装置は、採水サンプルに対して水質データを検出する水質検出手段と、採水時の位置情報を取得する位置情報取得手段と、水質データと位置情報を採水サンプル関連情報として記憶する手段と、サーバに送信する手段とを備える。 - 特許庁

Thereafter, when it is decided that the predicted position information of the next sample is larger than the predicted position slice of the next sample, a disk controller 1 controls a disk unit 2 to suspend write processing after performing write processing until the end of the sector on which write processing is presently being performed.例文帳に追加

その後、ディスク制御装置１は、次サンプルの予測位置情報が次サンプルの予測位置スライスより大きいと判定された場合には、現在ライト処理が行われているセクタの終了までライト処理を行った後に、ライト処理を停止するようにディスク装置２を制御する。 - 特許庁

To provide a technology of the information recording and reproducing device that can bring a position corresponding to a still picture by static image sample information to a reproduction start point.例文帳に追加

情報記録再生装置において、静止画サンプル情報による静止画に対応した位置を再生開始点にできる技術の提供。 - 特許庁

This commodity sample lighting system 10 is mounted in an optional position of the transparent panel 8 of a main door 3 on the front surface of the vending machine 1.例文帳に追加

この商品見本照明装置１０は、自動販売機１の前面の主扉３の透明パネル８の任意の位置に取り付けられる。 - 特許庁

The weighing device includes a sample receiving device (60) arranged inside the measuring device at a measurement position of the device.例文帳に追加

前記秤量装置は、当該装置の測定位置において当該測定装置の内部に配置されている試料受け取り装置（６０）を含んでいる。 - 特許庁

To provide a transporting apparatus capable of detecting that a rack (specimen sample) is certainly transported to a specimen supplying position of a specimen processing apparatus.例文帳に追加

検体処理装置の検体供給位置に、ラック（検体試料）が確実に搬送されたことを検知可能な搬送装置を提供する。 - 特許庁

In order to switch the method of illuminating a sample 7, a change means for changing the incident position of an illumination luminous flux onto an objective lens 4 is provided.例文帳に追加

試料７の照明方法を切り替えるために、対物レンズ４への照明光束の入射位置を変更する変更手段を有する。 - 特許庁

It is preferable to use the apparatus with different beam energy, but it is not preferable to shift with respect to the sample 8 of the focus position 9 of the beam.例文帳に追加

異なるビームエネルギーでかかる装置を使用できることが望ましいがビームの集束位置９のサンプル８に関するシフトは望ましくない。 - 特許庁

If XY surface is deviated from the sample surface 1a, the position of an X-ray beam is deviated with respect to the X-axis by the rotation around the Z-axis.例文帳に追加

ＸＹ面と試料表面１ａがずれていると、Ｚ軸廻りの回転によりＸ線ビームの位置がＸ軸に対してずれる。 - 特許庁

To provide a hardness tester capable of detecting a focal point matching position, even when a build-up is formed on the dent of a sample formed by a penetrator.例文帳に追加

圧子によって形成される試料のくぼみに盛り上がりが生じる場合でも、合焦位置を検出できる硬さ試験機を提供する。 - 特許庁

A lid opening device 50 is arranged in the position, in which the sample vessel 32 previously reaches the analysis module 16 along the predetermined track.例文帳に追加

蓋開放装置５０は、所定のトラックに沿って試料容器３２の方が先に分析モジュール１６に到達するような箇所に配置されている。 - 特許庁

A lower-end height position which is detected by a line sensor 27 is written into a fetch memory 38, and it is stored simultaneously in a sample storage memory 40.例文帳に追加

ラインセンサ２７で検出された下端高さ位置が取り込みメモリ３８に読み込まれると同時にサンプル記憶メモリ４０に記憶される。 - 特許庁

Restriction pins 10 and 11 change the mounting position of the sample 7 mounted on the electrically-driven stage 5 by moving the electrically-driven stage 5.例文帳に追加

規制ピン１０及び１１は、電動ステージ５を移動させることによって電動ステージ５に載置されている標本７の載置位置を変化させる。 - 特許庁

The control computer 150 finds and records a Y-axial shift in imaging position of the line sensor when imaging the sample 1 at respective imaging positions.例文帳に追加

制御コンピュータ１５０は、各撮像位置で試料１を撮像する際に、ラインセンサ４の撮像位置のＹ軸方向のずれを求めて記録する。 - 特許庁

To exactly position a test element, in a system and a method for examining a liquid sample, in particular, for measuring a glucose in blood.例文帳に追加

液体試料の検査、とくに血中グルコース測定を行うためのシステムおよび方法において、テストエレメントの位置決めを的確に行うこと。 - 特許庁

A light beam emitted from a light source 2 is allowed to enter a desired position on a measuring sample 7 having a non-planar shape via a polarizer 3.例文帳に追加

光源２から発せられた光ビームを偏光子３を経由させて非平面形状の測定試料７の所望の位置に入射させる。 - 特許庁

Analog magnetic sensors provide continuous signal measurements related to the rotor angular position at a sample rate independent of rotor angular speed.例文帳に追加

アナログ磁気センサから、ロータ角度位置に関係づけられる連続的な信号測定値が、ロータ角速度とは無関係なサンプリング・レートで得られる。 - 特許庁

The first and second signals are combined so as to determine an X-ray scattering profile of the sample as a function of the position along the axis.例文帳に追加

この第１および第２の信号は、前記軸に沿った位置の関数として、試料のＸ線散乱プロファイルを決定すべく合成される。 - 特許庁

The kinetic energy of ion particles is controlled by controlling a full-range ion accelerator is controlled in a manner that the Bragg peak is conformed with an aimed heating position of the sample.例文帳に追加

ブラッグピークが試料の目的の加熱位置に合致するように、全種イオン加速器を操作してイオン粒子の運動エネルギーを制御する。 - 特許庁