「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

By allowing the middle position between each pixel of the real low resolution image Fa forming a remarkable frame to be a reference position, the real low resolution image of the frame close to a sample point (pixel position) is selected as a real low resolution image so that super-resolution processing is carried out.例文帳に追加

注目フレームとなる低解像度実画像Ｆａの各画素間の中間位置を基準位置とし、この基準位置に対して、そのサンプル点（画素位置）が近いフレームの低解像度実画像を、超解像処理を行うための低解像度実画像として選択する。 - 特許庁

The apparatus detects sample data whose difference with the last data of a former transmission symbol adjoining on a time base is the minimum one by a difference minimum position detection unit 3-1 for each block of symbols of a predetermined length size after inverse fast Fourier transformation (IFFT), and specifies a position of the sample data in the symbol.例文帳に追加

逆高速フーリエ変換（ＩＦＦＴ）後の所定長サイズの各ひとかたまりのシンボルに対して、差分最小位置検出部３−１により、時間軸上で隣接する前送信シンボルの最終データとの差分が最小のサンプルデータを検出し、当該シンボルにおける該サンプルデータの位置を特定する。 - 特許庁

To provide an optical measuring device and an optical measuring method capable of acquiring an excellent position signal adjusting signal even if a measuring object is a fine particle, detecting accurately the position of a measuring object sample (fine particle), and measuring efficiently fluorescence, scattered light or the like emitted from the sample.例文帳に追加

測定対象が微小粒子であっても良好な位置信号調整信号を得ることができ、測定対象の試料（微小粒子）の位置を精度良く検出し、試料から発せられる蛍光や散乱光などを効率よく測定ことが可能な光学的測定装置及び光学的測定方法を提供する。 - 特許庁

In the finger fixing device for fixing a finger to sample a fingerprint when sampling the fingerprint, an inlet port 1 for presenting strong suction power until the end of the insertion of the finger at a prescribed position and maintaining weak suction power after the end of the insertion is provided at a position facing the inserting direction of the finger to sample the fingerprint.例文帳に追加

指紋を採取するに際して指紋採取指を固定する指固定装置であって、指紋採取指の挿入方向と相対する位置に、所定位置への指の挿入が終了するまでは強い吸引力を発揮し、挿入終了後は弱い吸引力を維持する吸気口１を設ける。 - 特許庁

The central processing control unit 38 controls the action of the arm 58, starts the vacuum source when the pipette 68 is located in a first position, starts the pressure source when the pipette 68 is located in a second position, and is connected to the arm 58 for sequentially moving a sample from a sample vessel 22 to each gel tube 106.例文帳に追加

中央処理演算装置３８は、アーム５８の動作を制御し、かつピペット６８が第１位置にあるときに真空源を起動させ、ピペット６８が第２位置にあるときに圧力源を起動させて、サンプルをサンプル容器２２から各ゲル管１０６に逐次移動させるための、アーム５８に接続されたものである。 - 特許庁

Further, the X-ray lenses are arranged so that X-rays diffused from the smple pass through a plurality of the X-ray lenses to be condensed by the detector and the focuses of the X-ray lenses on the side of the detector are aligned with the position of the detector so that the focuses of the X-ray lenses on the side of the sample are aligned with the position of the sample.例文帳に追加

また、試料から発散されたＸ線が前記複数のＸ線用レンズを通過して検出器に集光されるように、試料側のＸ線用レンズの焦点が試料位置に合うように、かつ検出器側のＸ線用レンズの焦点が検出器位置に合うように配置する。 - 特許庁

To provide an autofocus microscope capable of visualizing a focusing position on the sample surface with a simple constitution without adding a new light source for illuminating a mark indicating the focusing position on the sample surface and without changing the conventional optical system disposed in the microscope in the least.例文帳に追加

標本の表面上の合焦点位置を示す指標を照明するための新たな光源を追加することなく、また、顕微鏡が備える既存の光学系を何ら変更することなく、標本の表面上の合焦点位置を簡単な構成で視認することができる自動焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Output of assay on the substance sorbed by individual sorption element (14) can strictly be assigned to any clearly-defined position of the analysis sample (position from which the substance is sorbed), allowing a strict chemical output image of microdistribution for the substance in analysis sample to be provided.例文帳に追加

個々の収着要素（１４）によって収着された物質の分析の出力は、分析試料の明確に定められた位置（物質がそこから収着された位置）に対して、厳密に割り当てることができ、分析試料の物質のマイクロ分布の厳密な化学的出力イメージを提供することができる。 - 特許庁

An ultrasonic wave is transmitted into the structure of a subject, and for at least one sample volume position 150 within an image plane 121 of the structure, a set of received beams 151 to 155 are formed in response to the ultrasonic wave backscattered from the structure, with the set of received beams crossing one another at the sample volume position 150.例文帳に追加

被検体の構造内へ超音波を送出し、該構造の画像平面（１２１）内の少なくとも１つのサンプル・ボリューム位置（１５０）について、該構造から後方散乱された超音波に応答して一組の受信ビーム（１５１〜１５５）を形成し、該一組の受信ビームがサンプル・ボリューム位置（１５０）で交差するようにする。 - 特許庁

In this method, based on position coordinate of the defect detected by defect detecting means, marking through ion beam, etc. is provided around the position coordinate, sample is observed with a transmission electron microscope to identify the defective area from relative positional relationship between the marking and the defect, reliably preparing sample which contains the target defective area.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

Hereby, position detection is not performed indirectly through the transmitted light in an adjacent control optical path, but the position detection can be performed directly by the transmitted light in the sample holding chamber itself, to thereby reduce an error.例文帳に追加

隣接する制御光路の透過光を介して間接的に位置検知するのではなく、試料保持室自体の透過光により直接的に位置検知することが可能となり誤差を少なくすることができる。 - 特許庁

A photodetector 5 detects the intensity of light coming from a sample 16 passing through an objective 15 and a pinhole plate 18 arranged at a position conjugate to a light condensing position of the objective 15.例文帳に追加

光検出器５は、対物レンズ１５と対物レンズ１５の集光位置に対し共役な位置に配置されているピンホール板１８とを通過して試料１６から到来する光の強度の検出を行う。 - 特許庁

When the inside is proper as a measurement position, the observation device 45 is separated from the recess, an indentation tool 55a is brought close to the sample base 90 by a second separation and contact mechanism 50, to be brought into contact with the measuring position inside the recess, and an indentation is formed.例文帳に追加

測定位置として適切であれば、観察装置４５を凹部から離し、第２の離接機構５０により圧子５５ａを試料台９０に近接させ、凹部内の測定位置に接触させて圧痕を形成する。 - 特許庁

To enable detection for diffraction X rays as well appearing in a higher angle region as in the measurement of the stress of a sample in the X-ray diffraction apparatus using a curved PSPC(Position Sensitive Proportional Counter).例文帳に追加

湾曲ＰＳＰＣ（Position Sensitive Proportional Counter：位置感応型Ｘ線検出器）を用いたＸ線回折装置において、試料の応力測定のごとく高角度領域にあらわれる回折Ｘ線についても検出できるようにする。 - 特許庁

The metal ion emitter 21 emitting metal ions is arranged in the upstream position of a region controlled in the pressure reducing atmosphere where gas flow becomes viscouse flow, a sample gas inflow part 2 introducing the sample gas is arranged in the downstream position where the metal ions are carried, and the ionized sample gas attached with the metal ions is carried to the mass spectrometry part through an opening 17a of an aperture plate 17.例文帳に追加

さらにガス流が粘性流となる減圧雰囲気に制御された領域の上流側に金属イオンを放出する金属イオン放出体２１を配置し、金属イオンが移送される下流側に試料ガスを導入する試料ガス流入部２２を配置し、金属イオンが付着されイオン化された試料ガスをアパーチャ板１７の開口１７ａを通して質量分析部へ移送するように構成される。 - 特許庁

A part of a sample 101 arranged on a measurement position A is irradiated with light from a light source 12 through a first light guide body 13, and scattering reflected light or transmitted light is collected and detected by a second light guide body 14 in a sample measuring part 1.例文帳に追加

試料測定部１では、光源１２からの光を第１の導光体１３によって測定位置Ａに配置された試料１０１の一部に照射し、散乱反射又は透過光を集光して第２の導光体１４で検出する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which eliminates a need of correcting the position of a measurement point at each time when changing a measurement sample and allows a plurality of kinds of characteristics at one point on a measurement sample to be measured using the same inspection apparatus.例文帳に追加

測定試料を変えるたびごとに測定点の位置補正を行う必要がなく、更に、測定試料上の同一点についての複数種類の特性の測定を、同一検査装置を用いて行なうことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

The diffracted X rays from the sample 14 and the diffracted X rays from the sample 16 are discriminatively detected at least in the Z-direction by a position responsive type X-ray detector 34 after the diffusion in the Z-direction is restricted by the solar slit 32 on a light detecting side.例文帳に追加

試料１４からの回折Ｘ線と，試料１６からの回折Ｘ線を，受光側のソーラースリット３２でＺ方向の発散を制限してから，少なくともＺ方向に位置感応型のＸ線検出器３４で，区別して検出する。 - 特許庁

A water-pouring height H when measuring the mass is regulated to the height that is nearly the same as the position of an upper surface 4a of the sample container 4 and to the height where water can flow into the sample container 4 by a water drain port 8.例文帳に追加

このとき、質量測定時における上記注水高さＨを、水排水口８によって、上記試料容器４の上面４ａの位置と略同じ高さで、且つ当該試料容器４内に水が流入可能な高さに規制する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 guides the exciting light emitted from a light source part 2 to an objective optical system 6 by a light separation means 3 and irradiates a sample 12 arranged in the focal position on the side of the sample 12 of the objective optical system 6.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、光源部２から射出された励起光を光分離手段３により対物光学系６へ導き、対物光学系６の試料１２側の焦点位置に配置された試料１２に照射する。 - 特許庁

A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.例文帳に追加

試料Ｓ裏面に加える電位を複数設定し、試料Ｓの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のＶｔｈ分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁

An opening/closing cover 27a, constituting a part of the protective cover 27, is also arranged at the upper and lateral parts of the sample chucking position 25 outside the housing 1 so as to cover the moving range of the sample-dispensing mechanism 11, in a state where the opening/closing cover 27a is closed.例文帳に追加

保護カバー２７の一部分を構成する開閉カバー２７ａは、開閉カバー２７ａが閉じた状態で、試料分注機構１１の移動範囲を覆うように筐体外試料吸引位置２５の上方及び側方にも配置される。 - 特許庁

To surely and easily introduce a required amount at a prescribed position, when a sample of a liquid or a sample containing a liquid component is introduced into a glass capillary.例文帳に追加

ガラスキャピラリーへ液体あるいは液体成分を含む試料を導入する際に、必要量を所定位置に簡単かつ確実に導入するための試料導入方法およびこれを用いたＤＳＣ用測定試料調製方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a sample transfer method for a transmission electron microscope with operability improved by transferring a sample smoothly to a next mesh position when it approaches a grid part.例文帳に追加

本発明は透過電子顕微鏡の試料移動方法に関し、グリッド部分にさしかかった時にスムーズに次のメッシュ位置まで移動することで、操作性を向上させることができる透過電子顕微鏡の試料移動方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

The positioning device is equipped with a movable section 7 which can move in an XY plane, the sample base 8 which can move to and away from the movable section, and the interferometer 20 which measures the position information of the sample base 8 in a Z-axial direction by using beams 21 and 22.例文帳に追加

位置決め装置は、ＸＹ平面内を移動可能な可動部７と、可動部に対して移動可能な試料台８と、ビーム２１，２２を用いてＺ軸方向における試料台８の位置情報を計測する干渉計２０とを備える。 - 特許庁

To provide a sample for observing a semiconductor wafer surface crystal defect, with which accurate position of the crystal defect in the semiconductor wafer surface is decided, when a surface defect is observed with laser beam, etc., and to provide a method for manufacturing the sample.例文帳に追加

表層欠陥をレーザ光等で観察する際、半導体ウェーハ表層にある結晶欠陥の正確な位置を決定できる半導体ウェーハ表層結晶欠陥観察用試料とこの試料の作製方法を提供するものである。 - 特許庁

An imaging device composed of the imaging element images a standard sample which illuminates nearly uniformly to obtain a 1st image and detects a pixel defect position of the imaging element from video data of the 1st image of the standard sample.例文帳に追加

撮像素子からなる撮像装置で、ほぼ均一に発光する標準試料を撮像し、第１の画像を撮像し、上記撮像された標準試料の第１の画像の映像データから上記撮像素子の画素欠陥位置を検出する。 - 特許庁

Light transmitted through a sample S is allowed to pass a wideband wave plate 14 and a polarized light separation part 15, and thereby a righthanded circularly-polarized component and a lefthanded polarized component are separated spatially on the sample position, and the difference thereof is measured.例文帳に追加

試料Ｓを透過した光を広帯域波長板１４と偏光分離部１５に通すことで、試料位置において右回り円偏光だった成分と左回り偏光だった成分とを空間的に分離し、その差分を測定する。 - 特許庁

The processing is repeated while changing the specified position in the sample 3, to find a brightness distribution ranging over the whole of the sample 3, and the brightness distribution provided as a result thereof is observed to detect a weld line and a flow mark.例文帳に追加

そして、サンプル３の特定位置を変えて、この処理を繰り返す事によって、サンプル３全体にわたっての輝度分布を求めることができ、その結果得られた輝度の分布を見ることによってウェルドラインやフローマークの検出を行なうことができる。 - 特許庁

When the sample 10 is observed, the main control system 34 reads out the voltage map stored in the storage 43, and controls a voltage applied to an objective lens 8 or a voltage applied to the sample 10 to correct the focal position of the multi-beam B1.例文帳に追加

主制御系３４は、試料１０の観察を行う際に記憶装置４３に記憶された電圧マップを読み出し、対物レンズ８に印加する電圧又は試料１０に印加する電圧を制御してマルチビームＢ１の焦点位置を補正する。 - 特許庁

To provide an electron beam device in which high precision evaluation of the sample can be made taking into consideration the intensity reduction of the primary electron beam separated from the optical axis and the reduced detection ratio of the secondary electrons emitted from the position of the sample separated from the optical axis.例文帳に追加

光軸から離れる一次電子線の強度減少および光軸から離れた試料の位置から放出された二次電子の検出率低下を考慮し、精度の高い試料評価を行うことのできる電子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for analyzing precisely an element contained in a metal sample in a short time, by moving the metal sample and a counter electrode respectively to the optimum position the element by the element, when determining quantitatively the element by an emission spectrophotometric technique.例文帳に追加

金属試料に含まれる元素を発光分光分析技術によって定量するにあたり、元素ごとに金属試料と対電極をそれぞれ最適の位置に移動させて高精度かつ短時間で分析する方法および装置を提供する。 - 特許庁

This device for setting fast Fourier transform starting position includes: a starting position determination section which moves the fast Fourier transform starting position on the basis of the result of synchronization acquisition in the cyclic prefix direction by the amount of predefined sample offset; and a fast Fourier transform section which receives the fast Fourier transform starting position moved by the starting position determination section to perform fast Fourier transform.例文帳に追加

高速フーリエ変換開始位置設定装置は、同期獲得の結果による高速フーリエ変換開始位置をサイクリックプレフィックス方向に既に定義されたサンプルオフセットの大きさだけ移動させる開始位置決定部；及び前記開始位置決定部が移動させた高速フーリエ変換開始位置を受信して、高速フーリエ変換を行う高速フーリエ変換部；を含む。 - 特許庁

The pipette 3 is supplied from a stock mechanism 40 for holding a plurality of pipettes 3 at every sample liquid and fed to a supply position S, the collecting position C corresponding to the suction head 4 and the disposal position D of the used pipette by a feed mechanism 20.例文帳に追加

ピペット３は、試料液毎に複数個のピペット３が保持されるストック機構４０から供給され、ピペットは供給位置Ｓと、吸引ヘッド４に対応した捕集位置Ｃと、使用済みのピペットを廃棄する廃棄位置Ｄとの各位置とを搬送機構２０によって搬送される。 - 特許庁

In the invention, as an optimum delay amount calculation step, the difference of the time position in which correlation of the sample value sequence of the master channel which gives the difference of the time position and the frame signal of the channel to be coded, is the largest, within a range of difference of a predetermined time position, is calculated as an optimum delay amount.例文帳に追加

本発明では、最適遅延量計算ステップとして、あらかじめ定めた時間位置の差の範囲内で、時間位置の差を与えたマスターチャネルのサンプル値列と符号化対象チャネルのフレーム信号との相関が最も大きい時間位置の差を最適遅延量として求める。 - 特許庁

A conversion table for converting the brightness of an object point to a sub-pixel position is formed based on the time variation of the brightness at a sample point (step S100), and the brightness at the object point is converted to the sub-pixel position based on the conversion table so that the sub-pixel position is calculated (step S200).例文帳に追加

サンプル点における輝度の時間変化に基づいて、対象点の輝度をサブピクセル位置に変換するための変換テーブルを作成し（ステップＳ１００）、その変換テーブルに基づいて対象点における輝度をサブピクセル位置に変換することにより、サブピクセル位置を算出する（ステップＳ２００）。 - 特許庁

In a pixel data calibration part 30, the image data and the black flaw position data of the sample wafer are read out from the first storing part 20, and the averaging processing is conducted for the image data of a plurality of pixels adjacent to the pixel of the black flaw position, thereby calibrating the gradation of the pixel of the black flaw position.例文帳に追加

そして、画素データ較正部３０において、第１記憶部２０から試料ウエハの画像データ及び黒きず位置データを読み出し、黒きず位置の画素に隣接する複数の画素の画像データの加算平均処理を行うことによって、黒きず位置の画素の階調を較正する。 - 特許庁

The irradiation position of the heating light E for the sample 7 and the irradiation position of the detection light D are measured, so that the direction of a dichroic mirror 19 is displaced from the measurement result to adjust the irradiation position of heating light E so that both the irradiation positions satisfy the previously determined relative positional relation.例文帳に追加

試料７における加熱光Ｅの照射位置、検出光Ｄの照射位置を測定し、その測定結果に基づいてダイクロイックミラー１９の向きを変位させ、両者の照射位置が予め定められた目標相対位置関係となるように加熱光Ｅの照射位置を調節する。 - 特許庁

To highly precisely measure changes of optical density corresponding to sample composition irrespective of a point fixation liquid amount and a point fixation position to a dry analysis element for biochemical analysis.例文帳に追加

生化学分析用の乾式分析素子への点着液量および点着位置に関係なく検体組成に対応した光学濃度変化を高精度に測定できるようする。 - 特許庁

A change with the lapse of time in the state of laser beam projection to the position detecting sample S is analyzed by a controller 60 to control galvano mirrors 13X, 13Y.例文帳に追加

位置検出試料Ｓへのレーザ光の投影状態の時間の経過に基づく変化を制御部６０で解析してガルバノミラー１３Ｘ，１３Ｙを制御する。 - 特許庁

The beam position is aligned using a fiducial that is sufficiently near the working area so that the fiducial is imaged and the sample processed without a stage moving.例文帳に追加

フィデューシャルを撮像し、ステージを移動させなくてもサンプルを加工できるように作動領域に十分近い位置にあるフィデューシャルを用いてビーム位置が整列される。 - 特許庁

A stage control part 51 controls the two-dimensional moving stage 12, so as to move the sample S to a predetermined photographing position along a moving path extended to a plurality of observation ranges.例文帳に追加

ステージ制御部５１は、二次元移動ステージ１２を制御して複数の観察範囲に及ぶ移動経路に沿って試料Ｓを所定の撮影位置へ移動させる。 - 特許庁

To provide a focus detecting device which securely detects a focus position based upon reflected light on a surface of a transparent sample and an autofocus device using the same.例文帳に追加

透明な試料の表面による反射光に基づいて確実に焦点位置を検出する焦点検出装置およびこれを用いたオートフォーカス装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for working and observing a sample capable of efficiently working and observing a large cross section while securing cross section position accuracy; and a method of working and observing a cross section.例文帳に追加

大断面を、断面位置精度を確保しつつ効率良く加工して観察することが可能な試料加工・観察装置及び断面加工・観察方法を提供する。 - 特許庁

Ultra-short pulse light beams emitted by the respective compact laser units 31 are put together into the same optical path to irradiate the sample 12 and also to enter a position detection unit 40.例文帳に追加

各小型レーザユニット３１から射出された極短パルス光は同一光路に合成され、標本１２に照射されるとともに、位置検出ユニット４０に入射する。 - 特許庁