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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > sample positionに関連した英語例文

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sample positionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1237



例文

When a specified piece of music is specified among the plurality of pieces of music, a server 200 sends sectioning position data relating to the indicated music and MP3 frame to a client 300, which decodes the MP3 frame and selects sample data belonging to the specified music in an obtained sample data stream to output the sample data as audio.例文帳に追加

サーバ200は、複数曲における特定曲が要求された場合には、指示された曲に関連した区切り位置データとMP3フレームをクライアント300に送り、クライアント300ではMP3フレームを復号し、得られるサンプルデータ列のうち、指定された曲に属するサンプルデータを区切り位置データに基づいて選択して音声として出力する。 - 特許庁

To provide a wafer holding mechanism of a sample stage which eliminates the need to install a special driving source in a sample chamber for loading and unloading a sample, solves the problem that it is difficult to position a driving part because of outside arrangement and is free of restrictions resulting from environmental problems, secure, and stable.例文帳に追加

本発明の課題は、試料ステージにおけるウエハ保持機構において、ウエハの着脱動作を実行するために特別の駆動源を試料室内に設置する必要がなく、また、外部に配置することによる駆動部分の位置合わせが難しいという問題もない上に、環境上の問題からくる制約もない確実で安定した機構を提供することにある。 - 特許庁

The slide cover 5 is moved to a position at which the hand hole 43a is deviated from the translucent hole 14a for observation, and the observation sample is processed by moving the slide cover 5 to a position at which the hand hole 43a faces the Schale.例文帳に追加

スライドカバー5を作業口43aが透光孔14aから外れた位置へと移動して観察を行い、観察試料に対する処置は、スライドカバー5を作業孔43aがシャーレ61に臨む位置へと移動させて行う。 - 特許庁

An observation device 45 is moved to a determined target position in X and Y directions, a load device 55 is moved two-dimensionally when not on a crystal grain boundary for observing the sample by the observation device 45, and an indentation is formed at the measuring target position by a penetrator.例文帳に追加

決定された目標位置へ観察装置45をXY移動し、観察装置45で供試体を観察する、結晶粒界上でなければ負荷装置55を2次元移動し、測定目標位置に圧子55aで圧痕を形成する。 - 特許庁

例文

The first microscope is used in specifying the observation position of the sample and the moving stage is set at a second angle of rotation so that the observation position specified with the first microscope can be used by the second microscope.例文帳に追加

本発明によれば、第1の顕微鏡により試料の観察位置を特定し、移動ステージを第2の回転角度にすることにより、第1の顕微鏡で特定した観察位置を第2の顕微鏡で観察することができる。 - 特許庁


例文

To improve workability and ease of operation, and to miniaturize an element analyzer, by lowering the position of a lower electrode to the utmost, and by lowering each height position of an upper electrode 3 provided upward and a sample input part 4.例文帳に追加

下部電極の位置を可及的に低くして、その上方に設けられる上部電極3及び試料投入部4の高さ位置を低くし、作業性及び操作性を向上するとともに、元素分析装置の小型化を可能にする。 - 特許庁

To provide a sample analyzer which enables confirmation of the position of a pipette of dispensing section not depend on instruction directed a start of a position confirmation operation from the operator, and to prevent the pipette from being damaged or the credibility of analysis results from declining.例文帳に追加

使用者による位置確認動作の開始の指示によることなく分注部のピペットの位置確認を行うことができ、ピペットの破損や測定結果の信頼性低下を防止することができる検体分析装置を提供する。 - 特許庁

This device comprises a free flow electrophoretic element 10, a sample cup 49 arranged in the lower part of the outflow port of a separated liquid from the free flow electrophoretic element, and a mechanism for moving the position for retaining the sample cup in such a manner as to be approachable to and separable from the free flow electrophoretic element.例文帳に追加

フリーフロー電気泳動素子(10)を有し、該フリーフロー電気泳動素子からの分離液の流出口の下部にサンプルカップ(49)が配置され、該サンプルカップを保持する部位を該フリーフロー電気泳動素子に対して進退可能に移動させる機構を有する。 - 特許庁

This device includes subtracters 12, 15 different in gain for subtracting a reflected light signal of laser light from the scanning position on the sample surface and a reflected light signal from the sample surface, and adders 13, 16 different in gain for adding two reflected light signals.例文帳に追加

レーザ光の試料面上の走査位置からの反射光信号と試料面からの反射光信号とを減算する、異なる増幅率の減算器12,15と、同二つの反射光信号とを加算する、異なる増幅率の加算器13,16とを有する。 - 特許庁

例文

The user recognizes presence/absence of a cut display part 41 or a band display part 42, its position and the shape of a distortion display part 43 in the image sample 31 before switching and in the image sample 32 after switching, thereby visually comprehending the image difference before and after switching.例文帳に追加

ユーザは、切換前の画像サンプル31及び切換後の画像サンプル32において、カット表示部41、帯表示部42の有無及び位置、歪み表示部43の形状を確認することにより、切り換え前後における画像の違いを視覚的に理解できる。 - 特許庁

例文

A characteristic X-ray emitted from the micro area 3 on the sample 2 in response to irradiation with an electron beam 1 is efficiently collected by the X-ray lens 10 to be guided to a position distant from the sample 2, and is emitted to be converged in the focal point F4.例文帳に追加

電子線1の照射に応じて試料2上の微小領域3から放出された固有X線はX線レンズ10で効率良く収集されて試料2から離れた位置まで案内され、焦点F4に収束するように出射される。 - 特許庁

The electron beam lithographic system comprises a forming controller for controlling the relative position between an electron beam and a forming throttle, in response to individual patterns, when the beam emitted from an electron gun is formed into a desired shape by the throttle, and emitted to a sample to draw the pattern on the sample.例文帳に追加

電子銃で放射された電子線を成形絞りで所望の形状に成形し試料へ照射して該試料にパターンを描画する場合に、個々のパターンに応じて電子線と成形絞りとの相対位置を制御する成形制御装置を備える。 - 特許庁

Also, the determination value calculation part 28 accumulates a value based on the likelihood of the sample when the browsing inhibition polyhedron is projected into the image in the position attitude of each sample in relation to the pixel in which the browsing inhibition polyhedron is projected, and the accumulative value becomes a mask determination value of each pixel.例文帳に追加

また、判定値算出部28が、各サンプルの位置姿勢において、閲覧禁止多面体を画像に投影したときのサンプルの尤度に基づく値を、閲覧禁止多面体が投影された画素に対して累積して、その累積値を各画素のマスク判定値とする。 - 特許庁

To provide a liquid sample placement mechanism for preventing a liquid sample from being vaporized during a measurement, and eliminating detachment, attachment and cleaning of a V-shaped block prism disposed at a predetermined position within a refractive index measurement apparatus once.例文帳に追加

測定中に液体試料が蒸発していくことを防止するとともに、屈折率測定装置内の所定の位置に一度配置したVブロックプリズムを取り外したり取り付けたり洗浄したりすることをなくすことができる液体試料配置機構の提供。 - 特許庁

The method is the method of determining resistance to the development of bovine leukemia by infection of bovine leukemia virus in the sample bovine comprising determination whether the amino acid on the 75th position of α-chain in a bovine major histocompatible antigen of a sample bovine, is valine or not.例文帳に追加

被験ウシにおいて、ウシ主要組織適合抗原DQ分子α鎖の75番目のアミノ酸がバリンであるか否かを判定することを含む、被験ウシにおけるウシ白血病ウイルス感染によるウシ白血病発症に対する抵抗性を判定する方法。 - 特許庁

An upper face position Y of the blood serum 3 is detected from an opening upper face of a sample container 1, a boundary surface Z of a blood cell 4 is detected from a bottom face of the sample container 1, and a boundary surface X of the blood serum 3 is detected by calculating these values.例文帳に追加

試料容器1の開口上面から血清3の上面位置Yを検出するとともに、試料容器1の底面から血球4の境界面Zを検出し、これらの値を演算することで血清3の境界面Xを検出する。 - 特許庁

To suppress the dynamic behavior of a sample in an observation area by bringing a transparent plate member into contact therewith, prevent breakage by the contact between the transparent plate member and an objective lens, and highly accurately accord a focal position of the objective lens with the surface of the sample.例文帳に追加

透明板部材を接触させて試料の観察範囲における動的挙動を抑制するとともに、透明板部材と対物レンズとの接触による破損を防止することができ、対物レンズの焦点位置を試料の表面に精度よく一致させる。 - 特許庁

The main control system 34 reads out the voltage map stored in the memory device 43 when observing the sample 4, and controls the voltage to be applied to a secondary optical system 20 or the voltage to be applied to the sample 4 so as to correct the focal point position of the secondary beam B2.例文帳に追加

主制御系34は、試料4の観察を行う際に記憶装置43に記憶された電圧マップを読み出し、二次光学系20に印加する電圧又は試料4に印加する電圧を制御して二次ビームB2の焦点位置を補正する。 - 特許庁

A pigment amount correcting part 156 distribution-shape-transforming a distribution shape of the partial pigment amount distribution in the each stained sample class, based on a distribution shape feature of a partial pigment amount distribution in the corresponding standard sample class, and corrects an estimated pigment amount in each image position.例文帳に追加

色素量補正部156は、各染色標本クラスの部分色素量分布の分布形状を、対応する標準標本クラスの部分色素量分布の分布形状特徴に基づいて分布形状変換し、各画像位置の推定色素量を補正する。 - 特許庁

The external parameters from the global coordinate system GCS at the given position Q is calculated by using the transformed external parameters of the local coordinate systems LCSi of the sample points Pi, and shading or illumination at the given position Q is then performed by using the calculated surface normal N at the given position Q and the calculated external parameters at the given position Q.例文帳に追加

所定位置Qにおける全体座標系GCSからの外部パラメータを、サンプル点Piの局所座標系LCSiの変換済み外部パラメータを使用することによって計算し、所定位置Qにおける計算済み表面法線Nと所定位置Qにおける計算済み外部パラメータを使用して、所定位置Qにおけるシェーディング又は照明を行う。 - 特許庁

This position measuring device is provided with a means 2 acquiring a good sample image of the same kind as the image of an on-line inspection, a means 3 setting a template region used for position measurement, a means 4 setting the search area scanning a template for position measurement, and a means 5 automatically determining the strategy for stably conducting position measurement at a high speed.例文帳に追加

オンライン検査の画像と同種で良品のサンプル画像を取得する手段2、位置計測に使用するテンプレート領域を設定する段3、位置計測を行うためにテンプレートを走査する探索領域を設定する4、及び位置計測を高速かつ安定に行う戦略を自動的に決定する手段5を備えている。 - 特許庁

Specifically, one embodiment of the present invention sets forth a method, which includes the steps of deriving a first destined texel position based on an original sample position associated with a pixel projected in a texture map and a first offset position specified by a user and fetching texel attributes at the first destined texel position for the texture operation.例文帳に追加

具体的には、本発明の一実施形態は、テクスチャマップに射影された画素に関連する元のサンプルの位置、及びユーザによって指定された第1のオフセット位置に基づいて第1の目標テクセル位置を導出するステップと、テクスチャ動作のために第1の目標テクセル位置のテクセルの属性を取り出すステップとを含む方法を説明する。 - 特許庁

In the spoon type sampling device for coal, a spoon like sampling tool 11 is provided on a tip of a hollow turning arm 10, a coal sample is sampled by the sampling tool 11, the sampling tool 11 is guided to a required position Q by turning the turning arm 10, and the coal sample in the sampling tool 11 is delivered to the required position Q.例文帳に追加

中空の旋回アーム10の先端にスプーン状のサンプリング具11を設け、そのサンプリング具11により石炭サンプルを採取し、前記旋回アーム10を回して前記サンプリング具11を所要位置Qに導いて、その所要位置Qにサンプリング具11内の石炭サンプルを払い出す石炭用スプーン型サンプリング装置である。 - 特許庁

Under this control, intensity detection of light passing a pinhole 8 arranged on a conjugate position to the condensing position of the objective lens 5, which is detected when the outgoing light is converged onto the sample 6, is performed by a light detector 9.例文帳に追加

この制御の下で、出射光を試料6に対して集束させているときに検出がされる、対物レンズ5の集光位置に対し共役な位置に配置されているピンホール8を通過した該光の強度の検出を光検出器9が行う。 - 特許庁

To provide a laser scanning type microscope capable of moving only the focused position of an observation laser beam while keeping a state where an operation laser beam is focused on the same position on a sample, and a microscopic observation method.例文帳に追加

標本内の同じ位置に操作用レーザ光を合焦させた状態を維持しながら観察用レーザ光の合焦位置のみを移動させることのできるレーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a device and a method for setting fast Fourier transform starting position which move a fast Fourier transform starting position on the basis of a result of synchronization acquisition in the cyclic prefix direction by the amount of predefined sample offset to perform fast Fourier transform.例文帳に追加

同期獲得の結果による高速フーリエ変換開始位置をサイクリックプレフィックス方向に既に定義されたサンプルオフセットの大きさだけ移動させて、高速フーリエ変換を行う高速フーリエ変換開始位置設定装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To accurately align the position of a converging point of a propagating beam on a measurement surface of a sample on measuring a wide range with propagating light, and to always obtain the highest resolution by devising a method and a means to control the distance between a light probe and a sample.例文帳に追加

光プローブと試料間距離を制御する方法や手段について工夫することにより、伝搬光による広範囲測定において、伝搬光束の集光点を試料の被測定面に対して正確に位置調整して、常に最も高い分解能を実現すること。 - 特許庁

Positional information that indicates the position where sample data which are the same as a portion of the digital contents and are not encrypted, is read and the sample data are reproduced, based on the read positional information without a necessary decoding code that is normally required to decode the encrypted digital contents.例文帳に追加

本願発明はディジタル内容の一部と同じで暗号化されていないサンプルデータが存在する位置情報を読み取り、暗号化されたディジタル内容を解読するために必要な解読コードをなしで、前記読み出した位置情報に基づいて前記サンプルデータを再生することを特徴とする。 - 特許庁

When an object to be detected as a target is designated on a sample image, a pixel block having the same shape as a template image is extracted from a sample image corresponding to the designated position, and a prescribed similarity evaluation value is calculated by using the template image and the pixel block.例文帳に追加

サンプル画像上で、目標物として検出したい対象物を指定すると、指定された位置に対応するサンプル画像上から、テンプレート画像と同形状の画素ブロックを抽出し、テンプレート画像および画素ブロックを用いて所定の類似性評価値を算出する。 - 特許庁

To accurately measure the absorbance of a light absorbing sample becoming an absorbance measuring target by preventing the irregularity in the intensity of transmitted light at each position of an incident window 14 in a sample for measuring the concentration of a component used for measuring absorbance.例文帳に追加

本発明は、吸光度を測定するための成分濃度測定用試料において、入射窓14の位置ごとにおける透過光強度のばらつきを防ぐことによって、吸光度を測定する対象となる光吸収試料の吸光度を正確に測定可能とすることを目的とする。 - 特許庁

The sample image A and prediction view image B are scrolled and displayed at a constant speed on the display 21 to be evaluated, they are imaged following the scroll to obtain an image for evaluation, and color difference at a corresponding position in the screen between a sample image area and a prediction observation image area is determined.例文帳に追加

これらサンプル画像Aと予測観視画像Bを評価対象ディスプレイ21に一定速度でスクロール表示させ、スクロールに追従させて撮像して評価用画像を取得し、サンプル画像領域と予測観察画像領域の画面内対応位置における色差を求める。 - 特許庁

Afterward the position of the sample container Bs on the conveying path is recognized, and only when the sample container Bs is inspected by the inspection device having the same ID number as the ID number inputted by a user, the inspection results are outputted from the inspection device to an information control device 10.例文帳に追加

その後、搬送経路上におけるサンプル容器Bsの位置を把握し、そのサンプル容器Bsがユーザが入力したID番号と同じID番号が付された検査装置に検査された場合にのみその検査装置から情報管理装置10に検査結果が出力される。 - 特許庁

After a sample and a diluent have been discharged, an alkali detergent and pure water are injected into a sample dilution pipette 13 and moved to a cleaning position, while a detergent injection pump 46 and a cleaning pump 45 are driven, and the inside wall of the pipette 13 is cleaned with detergent by the alkali detergent which is diluted with pure water.例文帳に追加

サンプルおよび希釈液の吐出後、洗浄位置へ移動されたサンプル希釈ピペット13内に、洗剤注入ポンプ46および洗浄ポンプ45の駆動でアルカリ洗剤および純水が注入され、純水で希釈されたアルカリ洗剤でピペット13の内壁が洗剤洗浄される。 - 特許庁

When moving an observation position while watching an observation image, one sample stage 2 is moved in a direction corresponding to respective coordinate systems of a focused ion beam image-displaying section and an electron beam image-displaying section with respect to the moving direction of the sample stage 2 specified by the respective coordinate systems of the focused ion beam image-displaying section and the electron beam image-displaying section.例文帳に追加

観察像を見て観察位置を動かす際、集束イオンビームと電子ビームの像表示部のそれぞれの座標系で指定した試料ステージ2の移動方向に対して、一つの試料ステージ2をそれぞれの座標系に対応した方向に移動する。 - 特許庁

This X-ray analyzer has an X-ray source for generating an X-ray with which the sample S placed on a measuring position is irradiated, an X-ray detector for detecting the X-ray diffracted by the sample S, and the vacuum path 17 provided between the X-ray source and the X-ray detector.例文帳に追加

測定位置に置かれた試料Sに照射するX線を発生するX線源と、試料Sで回折したX線を検出するX線検出器と、X線源とX線検出器との間に設けられた真空路17とを有するX線分析装置である。 - 特許庁

In the three-dimensional sample showing the food sample to be housed in the horizontal rack of the electric appliance for home food, a recessed and projecting picture pattern in the state of a relief three- dimensionally showing food to be housed is formed on a sheet of a size and shape nearly equal to the housing position of the horizontal rack.例文帳に追加

家庭食品用電化製品の水平棚内に収納する食品例を示す立体サンプルであって、水平棚の収納位置にほぼ等しい大きさと形状を持つ大きさのシートに、収納すべき食品を立体的に示すレリーフ状の凹凸絵柄を形成した。 - 特許庁

To solve a problem wherein there is similarly no reference in the result of defect inspection of a circular sample such as a disk substrate where a reference position cannot be created, so that the re-inspection of the same sample, comparing inspection between manufacturing processes, reproducibility evaluation of an inspection apparatus, and matching with other inspection apparatuses are ambiguous.例文帳に追加

ディスク基板のような基準位置を作成できない円形の試料において、欠陥検査の結果も同様に基準が無いため、同一試料の再検査、製造工程間での比較検査、検査装置の再現性評価、他検査装置との突合せなどが曖昧である。 - 特許庁

Then, in the following communication period the voice switch 23c sequentially reads the received signal rx by each frame included in the correlation arithmetic operation object period K from a received signal buffer 232 while shifting the read position one sample by one sample and calculates a correlation value between the received signal rx and the transmission signal tx.例文帳に追加

次に、以後の通話期間中において、受話信号バッファ232から上記相関演算対象期間Kに含まれる受話信号rxを、1フレーム分ごとに読み出し位置を1サンプルずつシフトしながら順次読み出して、送話信号txとの相関値を算出する。 - 特許庁

This receiver includes an RF front end for receiving a satellite positioning signal, an analog/digital converter for sampling the signal received in order to create a signal sample, the memory, and a processor for deriving the code phase and pseudo range and processing the signal sample to calculate the position measurement.例文帳に追加

この受信機は、衛星測位信号を受信するRFフロント・エンドと、信号サンプルを生成するために受信された信号をサンプリングするアナログ/ディジタル変換器と、メモリと、符号位相および擬似距離を導出し、位置測定を計算するために信号サンプルを処理するプロセッサとを含む。 - 特許庁

To provide a micromanipulator system capable of automatically performing an operation while an operation stylus is inserted into a sample at a proper position, and to provide a micromanipulator system capable of extracting only a sample to be operated from samples and automatically performing an operation using the operation stylus.例文帳に追加

標本の適切な位置に操作針を刺しての操作を自動的に行うことができるマイクロマニピュレータシステム、更には標本のなかから操作すべき標本のみを抽出して、操作針を用いた操作を自動的に行うことができるマイクロマニピュレータシステムを提供する。 - 特許庁

A shield plate 20 is arranged at the incident position of the electromagnetic waves on the surface of the sample 14 above the surface of the sample 14 so as to leave the gap L of the wavelength distance of the electromagnetic waves and a measuring error is suppressed by the shielding or the like of the path 24 directly arriving at the receiving antenna 16.例文帳に追加

サンプル14の表面の電磁波の入射位置には、サンプル14の表面の上方向に電磁波の波長の距離の間隙Lをおいて遮蔽板20が配置され、受信アンテナ16に直接到達するパス24の遮断等により測定誤差を抑制する。 - 特許庁

Glow discharge is performed by exhausting air in a discharge tube hollow part sealed by an O ring 5 and a condenser lens and discharging between a discharge electrode 1 installed on a positive electrode table 6 and a sample 4, however, before the analytical discharge, a gold plate 3 is set in a position of the sample so as to perform the discharge.例文帳に追加

グロー放電は、Oリング5および集光レンズ7でシールされた放電管中空部を排気し、陽極台6に設置された放電電極1と試料4との間で放電させるものであるが、分析放電に先立ち、試料4の位置に金板3をセットして放電を行う。 - 特許庁

A reference sample surface having a molybdenum film formed thereon is heated with a heating laser beam, a temperature measuring laser smaller in diameter than the heating laser is emitted to the heated position, and the amplitude of temperature change of the reference sample surface is measured based on a detected thermo-reflectance signal light.例文帳に追加

モリブデンを成膜した参照試料表面を加熱用レーザビームにより加熱し、この加熱位置に加熱用レーザ径より小さな測温用レーザを照射し、検出したサーモリフレクタンス信号光に基づいて参照試料表面の温度変化の振幅を測定する。 - 特許庁

To provide a thermal analyzer accurately carrying a sample and a reference material to a predetermined measuring position in a short period of time without complicating the moving form of a carrying device such as a robot arm, a sample support device such as a table.例文帳に追加

試料と標準物質との両方を所定の測定位置へ搬送することをロボットアーム等といった搬送装置や、テーブル等といった試料支持装置等の移動形態を複雑にすることなしに、短時間に且つ正確に実現できる熱分析装置を提供する。 - 特許庁

To suppress cost-up and to remove the influence of parallax, in a photographing device for photographing the full face of an opposite face of a sample carrier by a photographing means installed on a position apart from the sample carrier where many things to be photographed are stored respectively separately in the depth direction.例文帳に追加

多数の被撮影物をそれぞれ各別にその奥行き方向に貯留してなる試料担体から離れた位置に設けられた撮影手段により、試料担体の対向面の全面を撮影する撮影装置において、コストアップを抑制しつつパララックスの影響を除去する。 - 特許庁

While a probe 1 is vibrated in the direction of the normal line to the surface of a sample 5 with a fixed amplitude at or near the resonance frequency of the probe 1 by impressing a signal upon a piezoelectric element 3 from a signal source 4, the relative position between the surface of the sample 5 and probe 1 is scanned and controlled.例文帳に追加

信号源4から圧電素子3に信号を印加することにより、探針1を試料5表面の法線方向に探針1の共振周波数もしくはそれに近い周波数で一定の振幅で振動させ、試料5表面と探針1との相対位置を走査及び制御する。 - 特許庁

To provide a probe fixing jig for a surface potential measuring apparatus which can surely position a distance between a probe and a sample within a specified measurement range, concerning the probe fixing jig of surface potential measuring apparatus for measuring a surface potential of the sample arranged so as to face the probe.例文帳に追加

プローブに対向して配置された試料の表面電位を測定する表面電位測定装置のプローブ固定治具に関し、プローブと試料との距離を指定の測定範囲内で確実に位置決めできる表面電位測定装置のプローブ固定治具を提供することを目的とする。 - 特許庁

The rotary stage 32 is supported rotatably around a rotary shaft 30 of a motor 24 and has a sample mounting part on a rotational moving locus passing a prescribed measuring position set in the black box, and a plurality of samples can be mounted on the sample mounting part.例文帳に追加

回転ステージ32はモータ24の回転軸30周りに回転可能に支持されると共に、暗箱内に設定された所定の測定位置を通過する回転移動軌跡上に試料載置部を有しており、この試料載置部に複数の試料を同時に載置することができる。 - 特許庁

To provide a probe position control method which enables more accurate observation or operation by correcting the change of the relative position of a sample and a probe during observation or operation in a scanning type probe microscope (SPM) or an atomic manipulator (operation) by excluding the effect of a heat drift or the like, and a probe position control device.例文帳に追加

熱ドリフト等の影響を排除し、走査型プローブ顕微鏡(SPM)や原子マニピュレータ(操作)装置において、その観察又は操作の間に試料とプローブの相対位置が熱により変化するのを補正して、より正確な観察又は操作を可能にする位置制御方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

例文

A system for correcting electron energy-loss spectral images of the electron microscope provided with an electron spectrometer corrects spectra of electron energy-loss spectral images of a sample to be analyzed at each measuring position on the basis of differences between spectra at a reference position included in a reference spectral image and spectra except the reference position.例文帳に追加

電子分光器を備えた電子顕微鏡の電子エネルギー損失スペクトル像の補正システムであって、基準スペクトル像に含まれる基準位置のスペクトル及び基準位置以外のスペクトルの相違点に基き、分析対象試料のエネルギー損失スペクトル像の各測定位置のスペクトルを補正することを特徴とする補正システム。 - 特許庁




  
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