1153万例文収録!

「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > sample positionに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

sample positionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1237



例文

When a position on the reconstructed picture is designated by a user, an objective lens 14 moves in the direction (z) and the picture at a position on the sample corresponding to the designated position on the reconstructed picture is acquired by the camera 16, stored into the device 32 and displayed by a high magnification picture display device 34.例文帳に追加

この再構成画像上の位置がユーザにより指定されると、対物レンズ14がz方向に移動して、その再構成画像上の指定された位置に対応する試料上の位置の画像が、カメラ16により取得され、画像記憶装置32により記憶されて、高倍率画像表示装置34により表示される。 - 特許庁

The probe 1 is tilted and moved to the direction where the tip of the probe 1 corresponds to the tip of the shade of the probe 1 at a target position on an observation screen while causing the tip thereof to approach the target position of the sample 5, and observing a distance between the tip of the probe 1 and the target position by a charged particle beam microscope.例文帳に追加

プローブ1をチルトさせてその先端部を試料5の目標位置に接近させながら、プローブ1先端部と前記目標位置の距離を荷電粒子ビーム顕微鏡で観察しつつ、観察画面上で前記目標位置にてプローブ1とプローブ1の影との先端部が一致する方向へ、プローブ1を移動させる。 - 特許庁

To provide a method of correcting an aberration in a scattered data without the knowledge in advance about a characteristic of microstructure of a sample, and without the calculation based on modeling of a peak position.例文帳に追加

試料のマイクロ構造の特性についての事前知識も、ピーク位置のモデリングに基づいた算出も必要でない、散乱データにおける収差を補正する方法を記載する。 - 特許庁

To provide a charged beam lithography system capable of performing precise lithography by uniformizing temperature in a uniform heating plate 19 to suppress a temperature difference depending on a position in a sample 12.例文帳に追加

均熱板19の温度を均一化することで試料12における位置による温度差を抑制し、高精度な描画を行うことが可能な荷電ビーム描画装置を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide an optical microscope with which appropriate microscopic observation can be realized in the center of observation field even when a sample S is at a position deviated from the center axis of the curved liquid level of a culture solution.例文帳に追加

標本Sが培養液の彎曲液面の中心軸から外れた位置にあっても観察視野の中央で適正な顕微鏡観察ができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁


例文

After determination, the sample welded steel pipe is replaced with the welded steel pipe to be inspected (S8) and the flaw of the welded steel pipe to be inspected is detected on the basis of the determined incident angle and the arranging position.例文帳に追加

決定後、サンプル溶接鋼管を検査対象溶接鋼管と入れ替え(S8)、決定された入射角及び配置位置に基づいて、検査対象溶接鋼管を探傷する(S9)。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer that accurately detects a position of a rack at a time of sucking a sample by reducing an influence of a dirt on the rack or external disturbance thereof and makes it possible to control a stable rack movement at the time of sampling.例文帳に追加

ラックの汚れや外乱の影響を緩和することで、サンプル吸引時のラックの位置を正確に検知し、サンプリング時における安定したラック移動の制御を可能とする。 - 特許庁

The fluorescent cube 10 is replaced and arranged at a predetermined position by a driving gear 12 in a fluorescent illumination device 20 which illuminates a sample S with exciting light L2 so as to generate fluorescence L3.例文帳に追加

蛍光キューブ10は、試料Sを励起光L2で照明して蛍光L3を発生させる蛍光照明装置20において、駆動歯車12により所定位置に交換配置される。 - 特許庁

To improve aggregation position accuracy of a sample spot, and to improve measurement accuracy, by solving a problem wherein spectrum analysis is hindered by unevenness or dispersion of the thickness of a thin film having water repellency.例文帳に追加

撥水性を有する薄膜の厚みの不均一やバラツキなどによって、スペクトル解析に支障をきたす問題や試料スポットの凝集位置精度を改善し測定精度を改善する。 - 特許庁

例文

An electric field caused by electrification on a condenser element is shielded by placing a metal grid having a grounding potential between a sample and the condenser element, and position fluctuation of the irradiation electron beam is suppressed.例文帳に追加

試料と集光素子の間に接地電位の金属グリッドを置くことにより集光素子上での帯電による電界を遮蔽し、照射電子線の位置変動を抑える。 - 特許庁

例文

Furthermore, a threshold value is decided from reflectance of a pattern itself to a dispersion waveform of reflection light from a sample and it is specified that a detection position is a large area part of a pattern by the threshold value.例文帳に追加

また、試料からの反射光の分光波形に対し、パターン自体の反射率から閾値を決定し、閾値により、検出位置がパターンの大面積部分であることを特定する。 - 特許庁

A two-dimensional histogram as to each pixel existing in the same position of the images of the two time phases obtained from this space is deemed as a sample distribution of pixels corresponding to the hepatic region.例文帳に追加

この空間において、2つの時相の画像で同一位置にある各画素についての2次元ヒストグラムを求め、これを肝臓領域に対応した画素の標本分布とみなす。 - 特許庁

With the sample platform for the scanning electron microscope, a method is adopted to drop, dry and fix slurries by setting a patterned indented surface at a position where the slurries are to be dropped.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の試料台において、懸濁液を滴下する位置の表面に凹凸形状を設けることにより、懸濁液をその上から滴下し乾燥,固定する手法を用いる。 - 特許庁

The reflection angle of the mirror 31 is adjusted not to allow optical paths to be coincident before/after the reflection, so that the laser light is reflected at a position different from the preceding time on the sample surface 11.例文帳に追加

鏡31の反射角度は反射の前後で光路が一致しないように調整されてあり、レーザ光は試料面11上の前回とは異なる位置で反射する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic image pickup method and device capable of automatically keeping the identity of the position of a sample volume in the area of concern when the two-dimensional distribution image of a flow velocity index is picked up.例文帳に追加

流速指数の2次元分布像を撮像するとき、関心領域におけるサンプルボリュームの位置の同一性が自動的に保たれる超音波撮像方法および装置を実現する。 - 特許庁

The control computer 150 controls the driving part 2 to scan the sample 1 along an X axis while changing the Y-axial position of the line sensor 4 each time one scan is made.例文帳に追加

制御コンピュータ150は、駆動部2を制御して、1回の走査が終了する度にラインセンサ4のY軸方向の位置を変更しながら、試料1をX軸方向に走査する。 - 特許庁

To solve the problem that an optical system having spherical aberration causes a focus position becoming maximum in detection signal to be shifted and enables the focal point not to be accurately calibrated in the case where a sample for use in calibrating a focal point.例文帳に追加

球面収差がある光学系では、焦点校正の試料がパターン形状の場合、検出信号が最大となるフォーカス位置がシフトし、正確な焦点校正ができない。 - 特許庁

A sample 12 and the shield plate 13 are symmetrically arranged to the center position of the main coil 31 making up the magnetic field producing device, and the detector 14 is disposed outside the shield plate 13.例文帳に追加

磁場発生装置を構成する主コイル31の中心位置に対して試料12と遮蔽板13とを対称に配置し、遮蔽板13の外側に検出器14を配置する。 - 特許庁

First, a line L11 showing the relation of the actual displacement amount of the relative position of an observation sample to an objective to feed amount by the driving device is obtained in a range R14.例文帳に追加

まず、範囲R14において駆動装置による送り量に対する観察試料と対物レンズの相対位置の実際の変位量の関係を示す直線L11を得る。 - 特許庁

The base 3 has a plurality of projecting parts 4a and 4b at position holding a central axis A in-between, in such a manner the contact patterns to the sample are axisymmetric.例文帳に追加

底面3は、試料に対する接触パターンが、中心軸に対して軸対称となるように、中心軸Axを挟む位置に複数の突出部4a、4bを有している。 - 特許庁

After dipping in the washing liquid and after elapsing a prescribed time, and measurement preparation for next sample is completed, the nozzle 7 is raised from the washing bottle 32 and is returned to an initial position of analysis mode.例文帳に追加

洗浄液中に浸してから所定時間が経過し、次の試料の測定準備が完了すれば、ノズル7を洗浄瓶32から引き上げ分析モードの初期位置にノズル7を戻す。 - 特許庁

A semiconductor inspection device with a plurality of primary electron beams is provided with an adjustment means for setting a position where the plurality of primary electron beams are emitted to a sample for inspection.例文帳に追加

複数の一次電子ビームを有する半導体検査装置において、前記複数一次電子ビームが被検査試料を照射する位置を個別に設定調整手段を有する。 - 特許庁

To provide an excellent ultrasonic Doppler blood flowmeter that can display a Doppler spectrum in an easy-to-diagnose range, by automatically detecting and setting an optimal sample frequency and a base line position.例文帳に追加

最適なサンプル周波数やベースラインボジションを自動的に検出・設定することにより、診断しやすいレンジでドプラスペクトラムを表示できる優れた超音波ドプラ血流計を提供する。 - 特許庁

Therefore, the main beam transmitted through the sample 7 passes a position displaced from the center of an annular detection face by the dark-field scan image detector 10 through a locus as shown by a dotted line.例文帳に追加

したがって、試料7を透過した主ビームは、点線で軌道を示すように、暗視野走査像検出器10の環状の検出面の中心から外れた位置を通過する。 - 特許庁

The probe 6 is located on the observation position (xi, yj), and the distance between the cantilever and the sample) is kept in the distance in gaining the irregular information on the basis of the stored information of the memory 20.例文帳に追加

探針6は観察位置(x_i,y_j)上に位置されると共に、メモリ20の記憶情報に基づき、カンチレバと試料間の距離は凹凸情報取得時の距離に保持される。 - 特許庁

To observe or inspect a sample by correctly selecting the desired position for observation or inspection and to prevent a filament from being cut in an electron beam biprism device.例文帳に追加

電子線バイプリズム装置において、試料の観察または検査したい場所を正確に選択して観察または検査できるようにし且つフィラメントの切断が発生しないようにすること。 - 特許庁

The system 4 is constituted of the high magnifying power objective lens 8 having the positive refracting power and arranged on a position opposed to the group 5 while holding the sample 1 in between.例文帳に追加

高倍率の観察光学系4は、標本1を挟んで第1レンズ群5と対向する位置に配置された正の屈折力を有する高倍率の対物レンズ8により構成している。 - 特許庁

Adjacently to an XY table 21 for holding the workpiece W, an XY table 31 for holding a position detecting sample S which is irradiated with a laser beam with a prescribed timing is arranged.例文帳に追加

被加工物Wを保持するXYテーブル21に隣接して、所定のタイミングでレーザ光を照射される位置検出試料Sを保持するXYテーブル31が配置されている。 - 特許庁

A composite data value 211 corresponding to the at least one sample volume position 150 within the image plane 121 is generated according to the corresponding set of received beams 151 to 155.例文帳に追加

画像平面(121)内の少なくとも1つのサンプル・ボリューム位置(150)に対応する合成データ値(211)を、対応する一組の受信ビーム(151〜155)に基づいて作成する。 - 特許庁

An output of the X-ray detector 30 can be recorded by a recording device, and a locking curve on each position on the sample 28 can be obtained all at once by the recording device.例文帳に追加

X線検出器30の出力は記録装置で記録することができて、この記録装置により試料上の各位置におけるロッキングカーブを一挙に得ることができる。 - 特許庁

A raster circuit 240 reads the storing place of the memory, the waveform sample is written at a storing position presently storing the mask pixel and it judges the occurrence of mask collision.例文帳に追加

ラスタ化回路240は、このメモリの記憶場所を読み取り、M個の入力信号の波形サンプルがマスク・ピクセルを現在蓄積している記憶位置に書き込まれて、マスク衝突を生じたを判断する。 - 特許庁

To provide a converged ion beam machining device capable of forming an etched slot having a desired size at a desired position of a sample in a manner that sets its side walls at a desired angle.例文帳に追加

試料に対して、所望の箇所に、所望の大きさのエッチング溝を、その側壁が所望の角度となるように形成することが可能な集束イオンビーム加工装置を提供する。 - 特許庁

To provide a remote control method and a remote control system for an electron microscope capable of moving a sample to an intended position even if an environment of network line is bad.例文帳に追加

ネットワーク回線の環境が悪い場合でも、所望の位置に試料を移動させることができる電子顕微鏡の遠隔制御方法及び遠隔制御システムを実現する。 - 特許庁

In this case, the detectors are to be placed at the position of the sample 180, and electrical field emission patters of He ions emitted from the conductive tip 186 are to be observed with the detectors.例文帳に追加

この場合には前記試料180の場所に検出器を配置し、該検出器により前記導電性先端186から放出されるHeイオンの電界放出パターンを観察する。 - 特許庁

Thus, a recessed part 29a of a spoon part 29 on the tip of the stick part 28 is taken out in an upward position as well and a stool sample held in the recessed part 29a can be treated without spilling out.例文帳に追加

すると、スティック部28の先端のさじ部29の凹部29aが同じく上向き姿勢で取り出され、凹部29aに保持した検便をこぼれ落ちないよう処理できる。 - 特許庁

The imaging system is capable of spatially locating a datum mark on the sample and determining a spatial offset value of the mark relative to a nominal position thereof.例文帳に追加

上記画像生成システムは、上記サンプル上の基準マークの空間的位置を配置し、上記マークの公称位置に対する上記マークの空間オフセット値を判定することができる。 - 特許庁

The oblique incidence mirror for image formation 30 focuses the X-ray made incident on an incident area 35 out of the X-ray which irradiates the sample 60 to form an image at the position of a light receiving surface 41.例文帳に追加

結像用斜入射ミラー30は試料60に照射されたX線のうち入射領域35に入射したX線を受光面41の位置に結像させる。 - 特許庁

The position of the pseudo reference image Sref1 is moved by an operator so that the line profile of the shape of the sample is positioned between the reference line profiles Lref1, Lref2 of the pseudo reference image Sref1.例文帳に追加

オペレータは、疑似リファレンス画像Sref1の基準ラインプロファイルLref1,Lref2間に試料形状のラインプロファイルが収まるように、疑似リファレンス画像Sref1の位置を面画上で移動させる。 - 特許庁

The automatic dispenser includes a goods sample showcase, a camera having an infrared ray lighting for photographing the customer and an infrared ray illumination for lighting the customer from a position apart from an optical axis of the camera.例文帳に追加

この自動販売機は、商品見本陳列棚と、顧客を撮影する赤外線照明付きカメラと、カメラの光軸から離れた位置から顧客を照らす赤外線照明とを備える。 - 特許庁

To provide a grating illumination microscope which will not lower contrast of microscopic images, by preventing the light coming from parts other than the focal position in a sample from being imaged on an imaging device.例文帳に追加

標本中における焦点位置以外の部分からの光が撮像素子に結像されることを防ぎ、顕微鏡画像のコントラストを低下させない格子照明顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

The enabled DQS signal is regulated to correct, although indicating the generation of timing fluctuation, when the counter sample changes, to be kept in a position aligned to the central part of a DQS preamble.例文帳に追加

カウンタサンプルが変化した場合、これはタイミングの変動が生じたことを示すが、DQSイネーブル信号を調整して変動を補正し、DQSプリアンブルの中央に合わせた位置に保つことができる。 - 特許庁

To automatically, accurately return to the original observing position after moving a sample or image.例文帳に追加

試料や像の移動を行った後、元の観察位置への復帰を自動的に正確に行うことができる走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法および装置を実現する。 - 特許庁

A detection part 10 which detects a sample component separated by electrophoresis is provided at a predetermined position of a separation flow channel 28 during the first electrophoresis and second electrophoresis.例文帳に追加

第1電気泳動時、第2電気泳動時にそれぞれ分離流路28の所定の位置に電気泳動により分離したサンプル成分の検出を行なう検出部10が設けられている。 - 特許庁

The control part 12 controls the movement and position of the sample through the movable part 11 on the basis of the photometric time measuring the intensity of the luminescence or fluorescence emitted from the sample by the photometric device 8 and the photometric standby time allowing the sample to stand by in the pre-darkroom 7 and also controls the on-off state of the measuring darkroom shutter 9 and the pre-darkroom shutter 10.例文帳に追加

そして、制御部12では、測光デバイス8で試料の発する発光又は蛍光の強度を測定する測光時間と試料が前暗室7で待機させる測光待機時間に基づいて、可動部11を介して試料の移動及び位置を制御するとともに、測定暗室シャッター9及び前暗室シャッター10の開閉状態を制御する。 - 特許庁

The simple measuring instrument for measuring endotoxin concentration in a sample liquid includes: an endotoxin concentration measuring cell (A) which comprises a means (a) for collecting a sample by piercing a sample collecting hole, a transmitted light passing part (b), and a means for connection connecting both; and a transmitted light intensity measuring means (B) installed in a predetermined position of the transmitted light passing part (b).例文帳に追加

検体採取口に穿刺して検体を採取する手段部分(a)、透過光通過部分(b)及び両者を結合する結合手段部分(c)からなるエンドトキシン濃度測定セル(A)、並びに該透過光通過部分(b)の所定位置に装着する透過光強度測定手段(B)を含むことを特徴とする検体中のエンドトキシン濃度の簡易測定器にて提供。 - 特許庁

When an input is performed to the input position detector and a position detection request signal C is outputted, sampling is performed by synchronizing start timing of the sampling of the position detection signal with timing of a prescribed phase of an LCD driving signal A and integrating a position detection sample signal S1 when a cycle T of the LCD driving signal A is longer than integration time T.例文帳に追加

入力位置検出装置に入力が行われて位置検出要求信号Cが出力されると、LCD駆動信号Aの周期Tが積分時間Tsよりも長い場合は位置検出信号のサンプル開始タイミングをLCD駆動信号Aの所定の位相のタイミングに同期させて、位置検出サンプル信号S1を積分することによりサンプルを行う。 - 特許庁

A value of a difference corresponding to a maximal value among count values exceeding a threshold or count values of differences obtained for all points on the minimum cost path is obtained as head position information L indicating a position in the speech signal S1, of a head sample of the reference signal.例文帳に追加

そして、閾値を超えたカウント値、または最小コストパス上の全ての点について求めた差分のカウント値のうちの最大値に対応する差分の値を、参照信号の先頭サンプルが音声信号S1における位置を示す先頭位置情報Lとして求める。 - 特許庁

A measurement position estimation processing means 205d estimates the moving speed from the path data 204c, and estimates the position of measurement of the measured sample of the measurement data 204b, and a display processing means 205e displays the result of estimation on the map.例文帳に追加

そして、計測位置推定処理手段205dは、経路データ204cから移動速度を推定して、測定データ204bの測定サンプルの測定位置を推定して、この推定結果を表示処理手段205eが地図上に表示するようにしたものである。 - 特許庁

A pixel position on the sample image where the prescribed similarity evaluation value is the minimum value or the maximum value is specified, and the pixel on the template image (b) is replaced by using the pixel block (a) corresponding to the pixel position, and the template image is updated with the acquired composite image (c).例文帳に追加

所定の類似性評価値が最小値または最大値をとるサンプル画像上の画素位置を特定し、当該画素位置に対応する画素ブロック(a)を用いてテンプレート画像(b)上の画素を置き換え、得られた合成画像(c)でテンプレート画像を更新する。 - 特許庁

例文

The coordinate table setting part 6 sets the coordinate table 6a so that the next irradiating position is set at a place which is away from the irradiation point by a predetermined distance, by taking into consideration the heat distribution generated, when the laser light 5a irradiates the irradiation position where a sample 20 is located.例文帳に追加

座標テーブル設定部6は、試料20のある照射位置にレーザ光5aを照射したときに生じる熱の分布を考慮し、その照射位置から所定距離離れた箇所に次の照射位置が設定されるように、座標テーブル6aを設定する。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS