「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a confocal microscopic spectroscope for simultaneously measuring scattered light, such as Raman scattered light and fluorescence, and the optical image (confocal optical microscopic image)of a sample, and for clarifying the position relationship.例文帳に追加

ラマン散乱光や蛍光などの散乱光と、試料の光学像（共焦点光学顕微鏡像）とを同時に測定することができ、これらの位置関係を明確にすることができる共焦点顕微分光装置を提供する。 - 特許庁

To protect the mechanism in the electronic balance, for example, when the electronic balance is conveyed, the slider 23 is moved up to abut against the reverse surface of the sample mount pan 20 and the slider is fixed to the guide shaft 22 at the position.例文帳に追加

電子天びんを運搬するときなどのように天びん内部の機構を保護したい場合には、滑子２３を上方に移動させ、試料載置皿２０の下面に当接するようにしてその位置で滑子をガイド軸２２に対して固定する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is configured to display measurement data in a scanning image display area 202 of a monitor screen 201 as an image with a monochromatic density matched to irregularity information with a line 203 showing a measuring position of sample line profile.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定データは凹凸情報を白黒濃度に対応させた画像としてモニター画面２０１の走査画像表示領域２０２に、試料ラインプロファイルの測定位置を示す線２０３と一緒に表示される。 - 特許庁

To provide a device facilitating verification whether an analysis condition of a registered background measurement angle position and the like are suitable for a sample to be analyzed or not in a wavelength-dispersive scanning type fluorescent X-ray spectrometer.例文帳に追加

波長分散型で走査型の蛍光Ｘ線分析装置において、登録したバックグラウンドの測定角度位置等の分析条件が、分析対象の試料に適切か否かの検証を容易にできる装置を提供する。 - 特許庁

Also, the microscope device 1 modulates the phase of a laser beam with the phase modulation type SLM5 arranged at the pupil conjugate position of an object lens 13 and irradiates a sample surface SP through the object lens 13 with the laser beam.例文帳に追加

さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 - 特許庁

A normal vector N is found at the position of the sample point Q, an angle ξ of intersection of a projection vector N^* obtained by projecting the normal vector N on the projection surface Syz and the reference axis R is found, and an azimuth angle θ satisfying θ=ξ/2 is defined.例文帳に追加

標本点Ｑの位置において法線ベクトルＮを求め、これを投影面Ｓｙｚに投影して得られる投影ベクトルＮ^＊と基準軸Ｒとの交差角ξを求め、θ＝ξ／２なる方位角θを定義する。 - 特許庁

To provide a spotting device, a spotting method, and a control device of the spotting device capable of performing spotting of a sample onto the accurate position on the surface of a base material regardless of an attitude of the base material on the XY-plane.例文帳に追加

基材がＸＹ平面中でどのような姿勢になっていても、試料を基材の表面の正確な位置に点着することができる点着装置及び点着方法並びに点着装置の制御装置を提供すること。 - 特許庁

A confocal microscope 10 which is provided movably in the Z-axis direction by a Z-stage 21, images a focal image on a Z-position different relative to a sample 16 by a measuring camera 18, and outputs it to a control unit 20.例文帳に追加

共焦点顕微鏡１０は、Ｚステージ２１によりＺ軸方向に移動可能に設けられ、試料１６に対して異なるＺ位置での焦点画像を測定カメラ１８で撮像し、制御ユニット２０へ出力する。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzer for adjusting an X-ray application position that can easily analyze XAFS(X-ray absorption fine structure) with high sensitivity under a low S/B by measuring the amount of electron being generated by applying X-rays to a sample.例文帳に追加

試料にＸ線照射して発生する電子量を低いＳ／Ｂの下、高い感度で測定して容易にＸＡＦＳ解析をすることができるＸ線照射位置調整が簡単なＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

The control part derives the moving speed, on the basis of the differences of distance between the occurrence of the jump and one sample previous and two samples previous and estimates a current position at the occurrence of the jump, on the basis that the moving speed is maintained.例文帳に追加

そして、制御部は、その跳躍が発生した時点から１サンプル前と２サンプル前との距離差から移動速度を導出し、その移動速度を維持するものとして、跳躍発生時における現在位置を推定する。 - 特許庁

To control a sample stage used in an optical microscope or an electronic microscope with high accuracy, when being moved vertically to a predetermined position in micron units, and to minimize the overall size of a device, as much as possible.例文帳に追加

光学顕微鏡や電子顕微鏡に使用される試料ステージを、所定位置にミクロン単位で鉛直移動させるに際し、精度高く制御し、且つ装置全体の大きさを極力抑えることができるようにすることにある。 - 特許庁

The antibody is fixed at a prescribed position of a membrane carrier to form an uptake site, and protoporphyrins in the biological sample can be detected by an immunochromatography for competitively binding them and labeled protoporphyrins to the uptake site.例文帳に追加

抗体を膜担体の所定位置に固定して捕捉部位を形成し、生体試料中のプロトポルフィリン類を、標識されたプロトポルフィリン類と競合的に捕捉部位に結合させるイムノクロマトグラフィー測定法で検出してもよい。 - 特許庁

To provide a microtome enabling one hand to operate both a cutting blade moving mechanism and a microscopic observation sample position adjusting mechanism, to thereby improve the operability, and hereby enabling the other free hand to remove a microsection.例文帳に追加

一方の手で、切断刃移動機構と検鏡試料位置調整機構とを操作することができて操作性を向上し、そのことによって、あいている他方の手で検鏡試片を取り去ることができるミクロトームを提供する。 - 特許庁

The computer 12 estimates the position relation when the light intensity becomes maximum based on the detected light intensity and acquires the result as height information of the sample 6 in response to a measurement finish instruction thereafter.例文帳に追加

その後の測定終了指示に応じ、コンピュータ１２は、検出がされた光の強度に基づいて該光の強度が最大となるときの該位置関係の推定を行ってその結果を試料６の高さ情報として取得する。 - 特許庁

Electrodes that are located in axial symmetry is provided between a secondary electron detector and the sample to adjust the voltage applied to the electrodes so that potential in a specified position on an optical axis is adjusted then this enables to control passing or non-passing of the secondary electron.例文帳に追加

２次電子検出器と試料間に、軸対称の電極を設け、この電極に与える電圧を調整することにより、光軸上の特定の場所での電位を調整し、２次電子の通過不通過を制御可能にする。 - 特許庁

A fluorescent image creation section 74 captures the positioned fluorescence detection position information from a sample stage drive control section 70, and creates a fluorescence image by capturing the detection fluorescence information from the detector 22 of the fluorescence detector 1.例文帳に追加

蛍光画像作成部７４は、試料ステージ駆動制御部７０から、位置決めされた蛍光検出位置情報を取り込み、蛍光検出器１の検出器２２から検出蛍光情報を取り込んで蛍光画像を作成する。 - 特許庁

To provide an electron beam apparatus immediately detecting an error in position of an electron beam generated during lithography of a sample and a failure in characteristics such as an electron beam irradiation amount, and a device manufacturing method using the electron beam apparatus.例文帳に追加

試料の描画中に発生する電子ビームの位置異常、電子ビーム照射量等の特性の異常の発生を即座に検出できる電子ビーム装置及びその電子ビーム装置を用いるデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic image pickup apparatus that brings the focal point of an image pickup part to an image pickup position set in an image-pickup object area when the image-pickup area including a sample is scanned in a predetermined direction.例文帳に追加

試料が存在する撮像対象エリアを所定方向にスキャンさせる際、該撮像対象エリア内に設定される撮像位置に撮像部の焦点を確実に合わせていくことが可能な顕微鏡画像撮像装置を提供する。 - 特許庁

Subsequently, the capturing pipe 19 is heated while feeding N2 reversely through the capturing pipe 19 by switching a six-way valve 18 to a position shown by a solid line and the sample components liberated from the adsorbent are introduced to a flow cell 26.例文帳に追加

続いて、六方バルブ１８を実線で示す位置に切り替えて捕集管１９に逆方向からＮ2を流しつつ捕集管１９を加熱して、吸着剤から離脱させた試料成分をフローセル２６に導入する。 - 特許庁

To provide a heat insulated type calorimeter preventing heat leakage causing an error in measuring a calorific capacity, and facilitating an easy work for an operator in a looking-down posture, and allowing easy confirmation of the correctness of the sample position and direction.例文帳に追加

熱容量の測定の誤差の原因となっている熱漏れを防止でき、測定者が見下ろす姿勢で楽に作業でき、試料の位置、向きが常に正しいことを容易に確認できる等、作業し易い断熱型カロリーメータを実現する。 - 特許庁

Because of micro-area high-speed scanning by means of the cylindrical piezoelectric element 2 for fine movement and high-speed scanning area position adjustment by means of the cylindrical piezoelectric element 1 for coarse movement, the sample 3 can, be scanned at a high speed with high resolution.例文帳に追加

この微動円筒型圧電素子２による微小領域の高速走査と、粗動用円筒型圧電素子１の高速走査領域の位置調整により、試料３を高速に、かつ高分解能に走査することが可能となる。 - 特許庁

A plurality of extraction algorithms A-D different in the number of analysis parts set on an analysis surface of a sample, an initial position, an avoiding method when a defective part is present, and the like are previously stored in an extraction information storage part 22.例文帳に追加

試料の分析面上に設定する分析個所の数、初期的な位置、欠陥部が存在した場合の回避方法などが相違する複数の抽出アルゴリズムＡ〜Ｄを抽出情報記憶部２２に記憶させておく。 - 特許庁

A relative position calculating section 63 obtains the relative positional relation of the sample line designated by the operator and a reference point on the ultrasonic image a brightness information acquiring section 62 acquires the brightness information of the reference point.例文帳に追加

相対位置算出部６３は、超音波画像上において操作者によって指定されたサンプルラインと基準ポイントとの相対的な位置関係を求め、輝度情報取得部６２は、基準ポイントの輝度情報を取得する。 - 特許庁

To solve the problem wherein inspection of a sample easy to charge with high sensitivity/high stability is difficult since continuous irradiation thereof with electron beam causes drifting of the position or focal point of an electron beam image by change with time of the charged potential.例文帳に追加

帯電が蓄積しやすい試料に対して電子線を照射し続けると、帯電電位が経時変化することにより電子線画像の位置や焦点がドリフトするため、高感度・高安定での検査が困難である。 - 特許庁

A surface to be placed with the microplate has such a step difference that the position of a circumference part is lower than that of a center part, and a swing rotor is rotated at a high speed in a state that the reverse bottom surface of a sample injecting hole part of the microplate is held by the center part.例文帳に追加

マイクロプレートが載置される面を中央部より周辺部が低い段差のある面とし、マイクロプレートの試料注入穴部の裏底面が上記中央部により保持された状態でスイングロータを高速回転する。 - 特許庁

To obtain at least two different observation images without consuming time, with such a simple operation of moving a stage for obtaining an observation image at an arbitrary position on a sample, to simultaneously display the images and to observe the images.例文帳に追加

標本上の任意の位置の観察像を取得するための位置にステージを移動させるだけの簡単な操作で、時間を掛けずにそれぞれ異なる少なくとも２つの観察像を取得して同時に表示させて観察すること。 - 特許庁

To specify a defect position without wrong detection from an image taken in first magnification, and to enable imaging in second magnification, in a method for observing many defects in a short time by using an image acquisition means, concerning defects of a sample.例文帳に追加

試料上の欠陥を，画像取得手段を用いて短時間に多数の欠陥観察を行う方法において，第１の倍率で撮像した画像から誤検出なく欠陥位置を特定し，第２の倍率での撮像を可能とする。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device converging an ion beam to a beam-spot position with no magnetic field without isotope separation on a sample even when a magnetic field exists on an optical axis of an ion beam and the magnetic field changes.例文帳に追加

イオン・ビーム光軸上に磁場が存在し、更に磁場が変動する場合でもイオン・ビームが試料上で同位体分離を生じることが無く、磁場が無い場合のビーム・スポット位置へ集束する集束イオン・ビーム装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging time-of-flight mass spectrometer capable of measuring both of spatial position information and mass information on atoms and molecules constituting a sample at the same time with a high resolution and at high speed.例文帳に追加

本発明は、試料を構成する原子および分子の空間的な位置情報と質量情報との両方を同時に高分解能で，しかも高速に測定できるイメージング飛行時間型質量分析装置を提供する - 特許庁

In a step 270, a point closest to a position r of a present control point is searched from a group of sampling points positioned on a carrying path indicated by sample data (expert data), and the operation force of an expert at that point is obtained.例文帳に追加

ステップ７２０では、見本データ（熟練者データ）が示す運搬経路上に位置する各サンプリング点の集合の中から現在の制御点の位置ｒに最も近い点を検索し、その点における熟練者の操作力を求める。 - 特許庁

By using a scanning thermal microscope cantilever 1 of a structure with a hole opening or a scanning thermal microscope probe of a structure in which a probe tip projects from the cantilever, the surface temperature of a sample 6 in the vicinity of the beam irradiation position can be measured.例文帳に追加

穴開き構造の走査熱顕微鏡カンチレバー1またはカンチレバーから探針先端が突き出した構造の走査熱顕微鏡探針を使用して、ビーム照射位置近傍のサンプル6の表面温度を測定できるようにする。 - 特許庁

To display an image excellent in visibility by regulating automatically a contrast in an interest area or by regulating automatically a focal position to be fit to the interest area, in a sample observation having plural structures of great density difference.例文帳に追加

濃淡差の大きい複数の構造を有する試料観察において、関心領域のコントラストを自動調整し、または関心領域に合わせて焦点位置を自動調整することで視認性の良い画像を表示する。 - 特許庁

The confocal scanning microscope 1 produces a confocal effect by a line slit member 5a arranged in a position optically conjugate to the focal position on the side of the sample 12 of the objective optical system 6, between the light source part 2 and the objective optical system 6 and intercepts the self-fluorescence by a line slit member 15a arranged in a position optically conjugate to the line slit member 5a in the imaging optical system 13.例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡１は、光源部２と対物光学系６の間で、且つ、対物光学系６の試料１２側の焦点位置と光学的に共役な位置に配置されたラインスリット部材５ａにより共焦点効果を生じさせ、撮像光学系１３内でラインスリット部材５ａと光学的に共役な位置に配置されたラインスリット部材１５ａにより自家蛍光を遮断する。 - 特許庁

The method includes the steps of: defining local coordinate systems at sample points of a volume data set; transforming external parameters from a global coordinate system into the local coordinate systems; calculating gradient vector components within the local coordinate systems of the sample points; and using the gradient vector components for calculating a surface normal at a given position of the volume data set.例文帳に追加

ボリュームデータセットのサンプル点において局所座標系を定義する段階と、外部パラメータを全体座標系から前記局所座標系に変換する段階と、前記サンプル点の前記局所座標系内の勾配ベクトル成分を計算する段階と、前記勾配ベクトル成分を使用して前記ボリュームデータセットの所定位置における表面法線を計算する段階とを含む。 - 特許庁

A point on a sample after the load test corresponding to a point of interest on the sample before the load examination is obtained by assuming that a position giving the greatest correlation coefficient is the same point (S9, S10).例文帳に追加

そこで、負荷試験前の試料の凹凸プロファイル（基準高さ分布）と負荷試験後の試料の凹凸プロファイル（比較対象高さ分布）とを用い（Ｓ１、Ｓ２）、デジタル画像相関法と同様の手法により相関係数の分布を求め（Ｓ３〜Ｓ８）、最大の相関係数を与える位置が同一点であるとして（Ｓ９、Ｓ１０）、負荷試験前の試料上の注目点に対応する負荷試験後の試料上の点を求める。 - 特許庁

The protective circuit 4 includes a temperature measuring switch 7 connected in series to a series circuit for the series resistance 3 and the temperature sensor 2, a sample hold circuit 8 for detecting and holding voltages of a measuring point 6, and a timing circuit 9 that controls the timing when the sample hold circuit 8 holds the samples of detected voltages and the timing when changing over the temperature measuring switch 7 to ON position.例文帳に追加

保護回路４は、直列抵抗３と温度センサー２の直列回路に直列に接続された温度測定スイッチ７と、測定点６の電圧を検出して保持するサンプルホールド回路８と、サンプルホールド回路８が検出電圧をサンプルホールドするタイミングと、温度測定スイッチ７をオンに切り換えるタイミングとを制御するタイミング回路９とを備える。 - 特許庁

This sample separation and suction tool 100 includes a cathode 2, an anode 3, and a first opening 17 opened at the facing side to the cathode 2, and a second opening 18 opened at the facing side to the anode 3 and prepares a sample separation section 6 containing separating gel 7 and a slit structure 8 having a slit 1 at a facing position to the second opening 18.例文帳に追加

本発明に係るサンプル分離吸着器具１００は、陰電極２と、陽電極３と、陰電極２に対向する側に開口する第１開口１７および陽電極３に対向する側に開口する第２開口１８を有し、かつ、分離ゲル７を格納するサンプル分離部６と、第２開口１８に対向する位置にスリット１を有するスリット構造体８とを備える。 - 特許庁

When a sample to be cut and separated is in the outside of a predetermined collection radius of the system, in order to raise the system and move the center of the sample to be cut and divided from the optical axis of the microscope, the slide is moved to a predetermined position in parallel with the optical axis of the microscope.例文帳に追加

次に切り分ける標本が粘着性採集装置の所定の採集半径の外側にある場合は、粘着性採集装置を上昇させ切り分ける標本の中心を顕微鏡の光軸から外すためにスライドを顕微鏡の光軸に対して所定位置まで平行移動させ、粘着性採集装置を試料上まで下降させ、次の１つ以上の標本を切り分ける。 - 特許庁

An X-ray detector 20 detects separately a diffraction X-ray coming out of the first sample domain irradiated with a characteristic X-ray of Co and a diffraction X-ray coming out of the second sample domain irradiated with a characteristic X-ray of Cu, being of a position sensitive type at least in the Z-direction, for example, a two-dimensional CCD sensor capable of TDI operation.例文帳に追加

Ｘ線検出器２０は，Ｃｏの特性Ｘ線が照射された第１試料領域から出てくる回折Ｘ線とＣｕの特性Ｘ線が照射された第２試料領域から出てくる回折Ｘ線とを分離して検出できるような，少なくともＺ方向に位置感応型のＸ線検出器であり，例えば，ＴＤＩ動作が可能な２次元ＣＣＤセンサである。 - 特許庁

To accurately measure the position of patterns and the patterns by highly precisely matching the patterns over the entire surface of a flat sample without being influenced by the change of a parameter in an electro-optical system due to re-focusing when there is a distortion exceeding the focus depth in the electro-optical system on the flat sample, as to a method and a device for collating the patterns.例文帳に追加

本発明は、パターン照合方法およびパターン照合装置に関し、平坦試料上で電子光学系の焦点深度を超えた歪みがある場合などに再フォーカス合わせによる電子光学系のパラメータの変化による影響を受けることなく平坦試料の全面に渡って高精度にパターンマッチングしてパターンの位置およびパターン測長を正確に行うことを目的とする。 - 特許庁

Optical scanning equipment based on a confocal optical system inspects the surface of a wafer to be inspected as a sample, identifies the defects or contaminations on the sample surface detected by the inspection according to its type, outputs and displays the position of the identified defects or contaminations on a wafer screen corresponding to the specimen by a symbol indicative of the type of the defects or contaminations.例文帳に追加

検査対象ウエーハである試料の表面をコンフォーカル光学系による光学的走査装置によって検査し、該検査によって検出された該試料表面上の欠陥や異物をその種類別に識別し、該識別された欠陥や異物の位置を各欠陥や異物の種類別を示す記号によって該試料に対応するウエーハ画面上に出力表示するようにした。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that can concurrently perform SEM observation and sample processing in a single instrument, automatically return the specimen holder to its home position after the processing, and rapidly introduce it into the sample chamber.例文帳に追加

本発明は走査電子顕微鏡に関し、更に詳しくは試料加工室を持つ走査電子顕微鏡に関し、一つの装置でＳＥＭ観察と試料加工を同時進行で行なうことができ、かつ処理後の試料ホルダの位置を自動的にホームポジションに戻すことができ、試料室への導入を速やかに行なうことができる走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

For example, the video encoder or the video decoder uses an intermediate pixel values with a dynamic range (in the unit of bits) wider than a final range to calculate a pixel value at a sub-pixel sample position (e.g. an intermediate value of 16 bits and an output value in 8 bits).例文帳に追加

例えば、ビデオエンコーダまたはビデオデコーダは、最終的な値より広いダイナミックレンジ（ビット単位）を有する中間ピクセル値を使用して、サブピクセルサンプル位置のピクセル値を計算する（例えば、１６ビットの中間値および８ビットの出力値）。 - 特許庁

To provide a measuring substrate capable of enhancing detection sensitivity by suppressing a steric hindrance between labelling substances in the detection of the bio-sample present on a substrate at a predetermined position using hybridization reaction, and to provide a measuring method.例文帳に追加

基板上の所定の位置に存在する生体試料のハイブリダイゼーション反応を用いた検出において、標識物質間の立体障害を抑制することにより、検出感度を向上することのできる基板および測定方法を提供する。 - 特許庁

A plurality of kinds of the fixed-phase antibodies can be specifically bonded respectively to a plurality of kinds of antigens, and they are fixed to different parts on the judgment part 204 at an intensity at which a position is not changed substantially due to the movement of the sample.例文帳に追加

複数種類の固定相抗体のそれぞれは、複数種類の抗原のそれぞれに特異的に結合し得、かつ試料の移動に伴う位置の変化が実質的に起きない強度で判定部上の異なる部分に固定化される。 - 特許庁