「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

The image processing device 10 obtains the position distribution of the probe particles P, based on a diameter of a value for defining the magnitude of the probe particle P in the probe screen that is previously stored; calibration data indicating the relation with the distance from the surface of the sample S of the probe particles P; and the diameters of the probe particles P photographed by the imaging apparatus 4.例文帳に追加

画像処理装置１０は、予め格納されたプローブ画像におけるプローブ粒子Ｐの大きさを規定する値である直径とプローブ粒子Ｐの試料Ｓ表面からの距離との関係を示す校正データと撮像装置４によって撮像されたプローブ粒子Ｐの直径とに基づいて、プローブ粒子Ｐの位置分布を得る。 - 特許庁

In the electron beam-plotting technique for independently turning on and off each of a plurality of electron beams for scanning to plot a desired pattern on a sample, the deviation between a pattern that is plotted by each of the plurality of electron beams and the desired pattern to be plotted is controlled by shifting the position of pattern data that are drawn by each of the plurality of electron beams.例文帳に追加

複数の電子ビームの各々を独立にオンオフし走査して試料上に所望のパターンを描画する電子ビーム描画方法において、前記複数の電子ビームの各々が描くパターンと描画すべき前記所望のパターンとのずれを、前記複数の電子ビームの各々が描くパターンのパターンデータの位置をシフトすることにより制御する。 - 特許庁

This sample inspection device comprises: a microscope 1 equipped with a CCD camera and an illumination device; an image processing device 8 for controlling the microscope 1; an inspection stage 2 for moving an inspection object 3 to an inspection position; a stage drive control device 4 for driving and controlling the inspection stage 2; and a system control device 6 for controlling the whole inspection system.例文帳に追加

試料検査装置は、ＣＣＤカメラ及び照明装置を備えた顕微鏡１、この顕微鏡１を制御する画像処理装置８、被検査対象３を検査位置に移動する検査ステージ２、この検査ステージ２を駆動・制御するステージ駆動・制御装置４及び検査システム全体を制御するシステム制御装置６で構成される。 - 特許庁

A method includes: a step of arranging plural sample objects having unique attributes at different positions on a display screen; a step of acquiring a point position on the display screen specified via a device specified by a user; a step of changing the attribute of a target object; and a step of correcting the target object on the basis of the changed attribute.例文帳に追加

固有の属性を持つ複数のサンプルオブジェクトを、表示画面の異なる位置に配置するステップと、ユーザによって指定できるデバイスから指定された表示画面のポイント位置を取得するステップと、ターゲットオブジェクトの属性を変更するステップと、変更された属性に基づいてターゲットオブジェクトに修正を加えるステップを有する方法。 - 特許庁

Correlation value computation parts 24-26 compare the received waveform data with one frame of first prediction code data corresponding to a position marker or a code of a marker, where each sample is a value represented by a plurality of bits; one frame of second prediction code data corresponding to a code 0; and one frame of third prediction code data corresponding to a code 1.例文帳に追加

相関値算出部２４〜２６は、受信波形データと、各サンプルが複数ビットにより表される値である１フレーム分のポジションマーカー或いはマーカーの符号に相当する第１の予想符号データ、１フレーム分の符号「０」に相当する第２の予想符号データ、および、１フレーム分の符号「１」に相当する第３の予想符号データとを、それぞれ比較する。 - 特許庁

Furthermore, the control part 2 calculates the detection sensitivity of the photodetector 5, when the confocal image is acquired from luminance information within the acquired condition calculation object region, and calculates the relative position of the objective 15 to the sample 16, where the detection sensitivity of the photodetector 5 is switched to the calculated sensitivity.例文帳に追加

更に、制御部２は、当該共焦点画像を取得するときの光検出器５の検出感度を、取得した条件算出対象領域内の輝度情報から算出し、試料１６に対する対物レンズ１５の相対的な位置であって光検出器５の検出感度を当該算出された感度に切り替える位置を算出する。 - 特許庁

A drawing control unit 100 for deflecting an electron beam to perform drawing on a desired position of a sample surface makes graphic data include specified information on a least deflection address unit (LSB) and retrieves LSB every time it calls the graphic data within a pattern from a buffer memory, thereby allowing the changeover of LSB by a gain switch 7 of an analog control unit 6.例文帳に追加

電子ビームを偏向して試料面の所望の位置へ描画する描画制御部１００は、描画パターンの図形データに最小偏向アドレス単位（ＬＳＢ）の指定情報を持たせ、パターン内の図形データをバッファメモリ１から呼び出す度にＬＳＢを取り出し、アナログ制御部６のゲイン切替７によってＬＳＢ切替を可能にしている。 - 特許庁

The analyzer also has a fluorescence condensing part 13 for condensing fluorescence 22 discharged from a position separated as long as a prescribed distance in an optical axis direction from the sample surface 16a in the fluorescence 22 generated from the plasma 21, and a means for determining an element content based on the wavelength of the fluorescence 22 condensed by the fluorescence condensing part 13 and on the intensity of the wavelength.例文帳に追加

プラズマ２１から発生する蛍光２２のうち試料表面１６ａから光軸方向に所定の距離だけ離れた位置から放出される蛍光２２を集光する蛍光集光部１３と、蛍光集光部１３で集光した蛍光２２の波長およびこの波長の強度に基づいて元素含有量を定量する手段と、を有する。 - 特許庁

The optical axis direction position of the sample face is detected on the basis of the deflection voltage ratio of the deflection systems 19, 20 when the left and right of a secondary electron image of the marker obtained while a primary electron beam is deflected by the electrostatic deflection systems 19, 20 to scan on the marker 18, are just reversed, or the magnification substantially becomes infinite.例文帳に追加

静電偏向器１９及び２０により一次電子線を偏向してマーカ１８上を走査する間に得られた該マーカの二次電子画像の左右が丁度反転するとき又はその倍率が実質的に∞になるときの偏向器１９及び２０の偏向電圧比に基づいて、試料面の光軸方向の位置を検出する。 - 特許庁

The Kerr effect microscope is equipped with a light source 1, the objective 14, a Berek prism 13 making light from the light source 1 incident on a sample through the objective 14, and a holding mechanism holding the objective 14 and the Berek prism 13 so that a position where the light emitted from the Berek prism 13 is made incident on the objective 14 can be adjusted.例文帳に追加

本発明によるカー効果顕微鏡は，光源１と，対物レンズ１４と，光源１からの光を対物レンズ１４を介して試料に入射するベレークプリズム１３と，ベレークプリズム１３から出射された光が対物レンズ１４に入射される位置が調節可能であるように，対物レンズ１４とベレークプリズム１３とを保持する保持機構とを備えている。 - 特許庁

An illumination device is equipped with: a light guide 40 having emission ends 42a-42d emitting illumination lights La-Ld to enter the sample 2 obliquely with respect to the optical axis AX of the objective lens of the microscope; and an emission end rotation part 50 for rotating each position of the emission ends 42a-42d by using the optical axis AX as a rotation axis.例文帳に追加

照明装置は、顕微鏡の対物レンズの光軸ＡＸに対して斜めに試料２に入射するように照明光Ｌａ〜Ｌｄが出射する出射端４２ａ〜４２ｄを有する光ガイド４０と、光軸ＡＸを回転軸として出射端４２ａ〜４２ｄの位置を回転させる出射端回転部５０と、を備える。 - 特許庁

A mark image is formed on the basis of a sample signal generating when a mark is scanned with charged particle beams, and the characteristic position of the mark is found by using a signal waveform fy(x) obtained by totally adding picture element data of the mark image in the Y axial direction and a signal waveform fx(y) obtained by totally adding data of the mark image in the X axial direction.例文帳に追加

マークを荷電粒子ビームで走査するとき試料から発生する試料信号に基づいてマーク画像を形成し、マーク画像の画素データをＹ軸方向に総加算して得られる信号波形ｆ_y(ｘ)と、マーク画像のデータをＸ軸方向に総加算して得られる信号波形ｆ_x(ｙ)とを用いてマークの特徴的位置を求める。 - 特許庁

The controller 11 controls an XY scanner 4 or a Z scanner 8 on the basis of chromatic aberration information indicating the extent of the chromatic aberration of the objective lens system 6 that is registered in a storage section 14, converging the illumination light passed through the objective lens system 6, at the same position in a sample 7 regardless of the wavelength variation of the illumination light.例文帳に追加

制御部１１は、記憶部１４に登録されている対物レンズ系６の色収差の程度を示している色収差情報に基づいてＸＹスキャナ４若しくはＺスキャナ８を制御し、対物レンズ系６を通過した照明光を当該照明光の波長の変化に拘らず試料７内の同一の位置に集束させる。 - 特許庁

When the directivity pattern belonging to the other sector is instructed, the DSP 10 generates a parameter corresponding to the directivity pattern for which the directivity pattern is mirror-inverted to perform signal processing and supplies driving signal sample to each speaker unit SP obtained as a result to the speaker unit SP at a position for which the original speaker unit SP is mirror-inverted.例文帳に追加

他方のセクタに属する指向性パターンが指示された場合、ＤＳＰ１０は、この指向性パターンを鏡面反転させた指向性パターンに対応したパラメータを発生させて信号処理を行い、この結果得られる各スピーカユニットＳＰ宛の駆動信号サンプルを、本来のスピーカユニットＳＰを鏡面反転させた位置のスピーカユニットＳＰに供給する。 - 特許庁

The downsized gas amplification type detector in which an electron incident face is separated by a low density thin film is arranged at an appropriate position in an electron beam passage retained in a high vacuum or in a sample room, and by arranging the detector in a lens magnetic field, a moving distance of an electron advancing in the detector is made large and a gas amplification rate is increased.例文帳に追加

上記目的は、電子入射面を低密度薄膜で隔離した小形のガス増幅形検出器を高真空に保持された電子線通路または試料室中の適切な位置に配置し、当該検出器をレンズ磁場中に配置することで検出器内を進む電子の移動距離を大きくしガス増幅率を増大させることで実現される。 - 特許庁

The CPU 25 applies as the initial value of a control value used in the speed feedback control an initial value stored in an FROM 251 in advance, that is, a value corresponding to the quantity of current to be supplied to a VCM 15 needed to move the head 12 from its parking position over the ramp 16 during a prescribed point of time up to a first sample time.例文帳に追加

ＣＰＵ２５は、この速度フィードバック制御で用いられる制御値の初期値として、ＦＲＯＭ２５１に予め保存されている初期値、即ち速度フィードバック制御の第１回目のサンプル時点までの所定時間の間にヘッド１２をランプ１６上のパーキング位置から動かすのに必要なＶＣＭ１５に供給すべき電流の量に対応する値を適用する。 - 特許庁

The method for analyzing the nucleic acid sequence comprises reacting a nucleic acid in a sample with a first probe containing a first target site and a first sequence and a second probe containing a sequence shorter than the first sequence by one base and homologous except the one base of a second target site corresponding to the position of the first target site under conditions for initiating suitable hybridization.例文帳に追加

第１の標的部位と第１の配列を含む第１のプローブと、第１の配列よりも１塩基だけ短く、第１の標的部位の位置に対応する第２の標的部位の１塩基を除いて相同な配列を含む第２のプローブとに対して、試料中の核酸を適切なハイブリダイゼーションの生じる条件下で反応させることを具備する核酸配列の解析方法。 - 特許庁

In the method of fitting the probe 2 to the lower end part of the sub-lance 4 and performing the temperature measurement of the molten metal, the molten metal surface level measurement and the pickup of the sample, the probe supplied from a probe holding box 1, is inclined and erected while carrying a probe supporting inclinable frame to a probe fitting position 13 of the sub-lance.例文帳に追加

サブランス４の下端部に装着され、溶融金属の温度測定、湯面測定、材料採取のうち１以上を行うプローブ２の自動装着方法において、プローブ収納箱１から供給された前記プローブを、プローブ支持起倒フレームが前記サブランスのプローブ装着位置１３まで搬送しながら傾倒し起立させることを特徴とするプローブ自動装着方法。 - 特許庁

The light received by the CCD 13 contains spatial intensity distribution and, in the CCD 13, the drift component not depending on the complex refractive index change of the sample is removed from a signal containing the drift of a measured light path of an SPR angle as a feature point by the change of a position receiving the light lowest in the intensity of the spatial intensity distribution.例文帳に追加

上記ＣＣＤ１３にて受光される光には、空間的強度分布が含まれており、ＣＣＤ１３において、空間的強度分布の最も強度が小さい光を受光する位置の変動により、特徴点としてのＳＰＲ角度の、測定される光路のドリフトを含む信号から、試料の複素屈折率変化に依存しないドリフト成分を除く。 - 特許庁

To provide a printer capable of mounting a scanner head, a bidirectionally readable line scanner and a bidirectional register adjustment method which shifts a resistor by minimum units for the bidirectional resister adjustment and scans a read position of an adjusting sample the number of times corresponding to the register adjustment divisions to automatically determine a register adjustment value, without checking the deviation of pixels on a display.例文帳に追加

双方向レジ調整を行なう場合にレジを最小単位でずらして、ディスプレイ上で画素のずれを確認することなしに、調整用サンプルの読み取り位置をレジ調整分の回数スキャンするだけで、レジ調整値を自動的に決定することができるスキャナヘッドを搭載可能なプリンタ及び双方向読み取り可能なラインスキャナ並びに双方向レジ調整方法の提供。 - 特許庁

A one-dimensional region where the virtual flat image 33 crosses the sample is a region of interest, a graph of the height and phase along the region of interest is made and displayed to a graph display area 37, and height and phase values at a position identified by cursors A to F displayed onto the graph, a differential value between two cursors, or the like are written in a property value table 38.例文帳に追加

仮想平面像３３と試料とが交差した一次元領域を関心領域とし、この関心領域に沿った高さと位相とをグラフ化してグラフ表示領域３７に表示し、さらにそのグラフ上に表示したカーソルＡ〜Ｆで特定される位置における高さ及び位相の値や２本のカーソル間の差分値などを特性値テーブル３８中に表記する。 - 特許庁

This tester has a constitution wherein the hollow X formed on the sample surface by an indenter 31 is displayed on a display screen of a monitor 7, and a prescribed feature point on the hollow X displayed on the display screen is depushed, to thereby input the position of the feature point through a touch panel 71 provided on the display screen of the monitor 7, and the distance between the feature positions is calculated.例文帳に追加

圧子３１により試料の表面に形成されたくぼみＸを、モニタ７の表示画面に表示し、その表示画面に表示されたくぼみＸの所定の特徴点を押下することにより、モニタ７の表示画面に備えられたタッチパネル７１を介して、その特徴点の位置の入力を行い、特徴点間の距離を算出する構成にした。 - 特許庁

A photometric analysis technology by a scanning molecule counting method estimates the abundance ratio of particles which emit light in a plurality of wavelength bands, using the relations between the number of signals detected in time sequential light intensity data for each of the wavelength bands measured by moving the position of the light detection region in a sample solution and the number of signals concurrently generated thereamong.例文帳に追加

本発明の走査分子計数法による光分析技術では、試料溶液内にて光検出領域の位置を移動させながら計測された複数の波長帯域の時系列光強度データの各々にて検出された信号の数とそのうちの同時に発生した信号の数との関係を用いて、複数の波長帯域にて光を発する粒子の存在比率が推定される。 - 特許庁

To provide an intravenous catheter introducing apparatus provided with a flashback member which can be held at a preparation completion position for sampling a blood sample from the vein after the insertion of a needle cannula into the skin of a patient so as to accelerate the inflow of blood into the needle cannula and thus enable an operator to conveniently observe the introduction of a catheter and perform an inspection.例文帳に追加

ニードルカニューレ内への血液の流入を促進し、それによって、操作者がカテーテルの導入を便利に観察し且つ検査することを可能にするよう、患者の皮膚内へのニードルカニューレの挿入後、静脈から血液試料を採取するための準備完了位置に猶も保持され得るフラッシュバック部材を備える静脈内カテーテル導入装置を提供する。 - 特許庁

By changing both the width W_1 of the heating element and the load stress for contacting the heating element, the release position of the destructive origin for the cuboid sample can be adjusted.例文帳に追加

直方体試料の片面に平板状発熱体を密着加熱し、直方体試料の中に熱応力を発生させることによって熱衝撃強度を求める熱衝撃試験方法において、発熱体の幅Ｗ_１と発熱体を密着するための負荷応力を変えることにより、直方体試料の破壊始点の発生位置を調整する熱衝撃試験方法及びその熱衝撃試験装置。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope in which an optical filter and a mechanical driving part requiring high position reproducing accuracy are not necessitated and the change of a device constitution is not necessitated for the various kinds of the combinations of exciting wavelength and a fluorescent pigment, by which the multiexcited fluorescent image of a sample multi-colored can be obtained by one photodetector by having a high S/N and whose constitution is simple.例文帳に追加

光学フィルタや高度な位置再現精度を要する機械駆動部を必要とせず、励起波長や蛍光色素の各種組み合わせに対しても装置構成の変更を必要としない、多重染色された標本の多重励起蛍光像を一つの光検出装置でも高いＳ／Ｎをもって得ることの出来る、簡易な構成のレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When receiving a prescribed sample output command, the image forming device forms an image of perfume identification information specifying one or a plurality of perfumes on a paper and sticks a perfume specified by the perfume identification information by a perfume output portion X to a position corresponding to the perfume identification information in the paper in a process following a heating fixation process by a fixing device 6.例文帳に追加

所定のサンプル出力指令を受けた場合に，１又は複数の香料各々を特定する香料識別情報の画像を用紙に画像形成するとともに，定着装置６による加熱定着工程の後工程において，その用紙における香料識別情報各々に対応する位置に，香料出力部Ｘにより各香料識別情報により特定される香料を付着させる。 - 特許庁

The aim of the present invention is to act on the control of the position of each particle which is present in the sample, for the purpose of displacing such particles in a deterministic or statistical way, in order to detect their presence with the integrated optical or impedance meter sensors and/or characterize their type, for the purpose of counting or manipulating them in an efficient way.例文帳に追加

試料中に存在する各粒子を効率良くカウントするまたは操作することを目的として、そのような粒子の存在を一体型の光センサもしくはインピーダンス計センサによって検出するおよび／またはそのような粒子の種類を特徴付けるために、そのような粒子を決定論的なまたは統計的な手法で移動させることを目的とした、そのような粒子の位置制御を実行することにある。 - 特許庁

The electron microscope, with an image forming lens system to project electron beams transmitted through a sample to an image forming part and a TV detector to receive transmitted and projected electron beams at the image forming part, has a detection means to detect displacement between transmitted and projected electron beams and the TV detector, and a positioning means to position the transmitted electron beams and the TV detector based on the displacement information detected.例文帳に追加

試料を透過した電子線を結像部に投影する結像レンズ系と、投影された透過電子線を結像部で受光するＴＶ検出器とを備えた電子顕微鏡において、投影された透過電子線とＴＶ検出器との間の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、検出された位置ずれ情報に基づいて透過電子線とＴＶ検出器の位置合わせをする位置合わせ手段とを設けた。 - 特許庁

The electron beam irradiation apparatus comprises an electron beam source, an accelerating electrode for accelerating electrons emitted from this electron beam source, and an electron lens for converging an accelerated electron beam, and further comprises an integrated electron beam irradiation part without a deflection means for electrically changing the direction of radiation of the electron beam, and comprises a mechanically moving means for moving the relative position between the electron beam irradiation part and a sample.例文帳に追加

電子線源と、この電子線源から放出された電子を加速する加速電極と、加速された電子線を収束する電子レンズとを備え、且つ前記電子線の照射方向を電気的に変える偏向手段を持たない一体化された電子線照射部とを有し、前記電子線照射部と試料との相対位置を移動するための機械的移動手段を備えたことを特徴とする電子線照射装置。 - 特許庁

The height data of a sample in the coordinates in the direction scanned by the sine wave drive sinal is displayed at a position where the coordinates point in the scanning direction of the timing of acquiring the height data and the coordinates point on a height data display screen coincide with each other.例文帳に追加

積層型圧電体を有する走査型プローブ顕微鏡用走査機構において、XY走査の少なくとも1方向は正弦波駆動信号により走査され、前記正弦波駆動信号の周波数は前記走査機構の機械的共振周波数より低い周波数であって、前記正弦波駆動信号によって走査される方向の座標における試料の高さ情報を、前記高さ情報を取得するタイミングの走査方向座標点と高さ情報表示画面上の座標点とが一致する位置に表示する。 - 特許庁

5. If the deposited culture ceases to be available, either because it is no longer viable or because the authority of deposit is no longer in a position to deliver its sample, it is not considered to be the interruption of availability on the condition that: (a) a new deposit of the microorganism is made within a period of three months starting from the date on which the interruption was notified to the owner of the patent application or of the patent, either by the depositary authority or by the Service; (b) a copy of the receipt regarding the new deposit of the microorganism, accompanied with references to the patent application or to the patent, is sent to the Service within a period of four months starting from the date of the new deposit. If the interruption results from the non-viability of the culture, the new deposit shall be made with the authority that received the initial deposit; in other cases, it may be made with other empowered authority. A new deposit of the microorganism must be accompanied with a statement signed by the depositing party certifying that the microorganism subjected to the new deposit is the same as the one which was the object of the initial deposit.例文帳に追加

(5) 寄託培養試料が，もはや活性を有していないためか又は寄託機関がその試料をもはや交付できないための何れかによって，入手不能になった場合において，それが次のときは，入手可能性の中断とはみなさないものとする。 (a) 寄託機関又は庁の何れかによって特許出願人又は特許権者に対して当該中断が通知された日から起算して3月以内に，微生物の新規寄託が行われたとき (b) 特許出願又は特許についての明細資料を添付の上，微生物の新規寄託の受領書の写が新規寄託の日から起算して4月以内に，庁宛に送達されたとき 中断が培養試料の不活性化に起因した場合は，新規寄託については，原寄託を以前行った機関に対して，行わなければならない。その他の場合は，新規寄託を他の寄託機関に対して，行うことができる。 微生物の新規寄託には，新規に寄託される微生物が原寄託の対象のものと同じである旨証明した寄託当事者の署名入り宣誓書を添付しなければならない。 - 特許庁