「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

A region estimation part 174 extracts pixels satisfying predetermined conditions among the feature values of respective sample points in the detection object region, generates a region configured of the pixel groups, and calculates the center of gravity position of the generated region.例文帳に追加

領域推定部１７４は、検出対象領域内における各サンプル点の特徴量のうち、所定の条件を満たす画素を抽出し、その画素群で構成される領域を生成し、生成した領域の重心位置を算出する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device in which installing space does not become large, and which gives freedom of design, and furthermore position correction of an electrode plate can be made, and in which leakage into the sample room is prevented.例文帳に追加

装置全体の設置スペースが大きくならないとともに装置設計の自由度が損なわれることがなく、さらに電極板の位置補正をすることができ、また試料室へのリークの発生のない荷電粒子ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

A light separation member 22 is arranged in a position nearly conjugate to the condensing point of the sample 12, separates the observation light into two luminous fluxes and emits them from the pinholes 22a and 22b formed in a reflecting film 22d provided on one side surface of the light separation member 22.例文帳に追加

光分離部材２２は、試料１２の集光点と略共役な位置に配置され、観察光を２つの光束に分離して、一側面に設けられている反射膜２２ｄに形成されているピンホール２２ａおよび２２ｂから射出する。 - 特許庁

A focusing signal processing section 17 detects that a surface of the observation sample S is positioned at the focusing position of the objective lens 2 based on AF light that is emitted from a reference light source 3, is reflected on the surface, and comes via the objective lens 2.例文帳に追加

合焦信号処理部１７は、対物レンズ２の合焦位置に観察試料Ｓの表面が位置したことの検出を、基準光源３から発せられて該表面で反射して対物レンズ２を介して到来するＡＦ光に基づいて行う。 - 特許庁

The photo detector 16 is turned about the measuring position in a predetermined angle range, the abrasion region and non-abrasion region of the sample 11 are measured, and a value showing the abrasion resistance and a value showing the glareproof are determined based on the measurement results.例文帳に追加

また、測定位置を中心に所定の角度範囲で受光器１６を回動させて試料１１の擦傷領域と非擦傷領域をそれぞれ測定し、それらの測定結果から耐擦傷性を示す値と、防眩性を示す値とを求める。 - 特許庁

A computer 11 moves a stage 28 in an up and down direction and changes, when a plurality of viewing screens of the sample 13 are to be viewed, light sensitivity of the photodetector 31 and the photodetector 36 according to a position of the stage 28 in the up and down direction.例文帳に追加

コンピュータ１１は、ステージ２８を上下方向に移動させて、試料１３の複数の観察面を観察する場合、ステージ２８の上下方向の位置に応じて光検出器３１と光検出器３６の受光感度を変化させる。 - 特許庁

Coordinate data Z of a height position in the confocal image data acquired by an infrared confocal scanning microscope 1 are corrected by a data correction-computing part 19, based on a refractive index data of the sample S input from a user interface 17.例文帳に追加

ユーザインタフェース１７からインプットされた試料Ｓの屈折率データに基づいてデータ補正演算部１９により赤外共焦点走査型顕微鏡１により取得された共焦点画像データの高さ位置の座標データＺを補正する。 - 特許庁

The device also comprises a tissue sampling tip formed at the tip of the shaft, effective for excising a tissue sample when the shaft is moved to the tip position, and a chopping member connected to the shaft on the base end side of the tissue sampling tip.例文帳に追加

この装置はまた、シャフトが先端位置に移動した時に組織サンプルを切除するのに有効なシャフトの先端部に形成された組織採取先端と、その組織採取先端の基端側でシャフトに結合された細断部材とを含む。 - 特許庁

A laser irradiation part 10 including a laser light source 11, and lenses 12, 13, 14 is arranged on the center axis C at a position further away from the detection part 9 as the farthest site from the sample S, and a light axis of the laser light matches the center axis C.例文帳に追加

レーザ光源１０、レンズ１２、１３、１４を含むレーザ照射部１０は中心軸Ｃ上で、サンプルＳから最も離れた部位である検出部９よりもさらに離れた位置に配置され、レーザ光の光軸と中心軸Ｃとも一致させる。 - 特許庁

A microscope 20 detects a displacement of a preparation PRT relative to a standard position PR, which is determined by holding projections 71A to 71C provided on a stage 21, from a thumb nail imaging including the preparation PRT distributed an organism sample SPL.例文帳に追加

顕微鏡２０は、生体サンプルＳＰＬが配されたプレパラートＰＲＴを含むサムネイル像から、ステージ２１に設けられる保持突起７１Ａ〜７１Ｃにより規定される基準位置ＰＲに対する該プレパラートＰＲＴの位置ずれを検出する。 - 特許庁

This enables the arranging of one end 22a of the core line 22 built in the curved PSPC 20 at a position that allows the detection of diffraction X rays generated from the sample to a higher angle region extending to 180° in the angle of diffraction.例文帳に追加

このような配置とすることにより、試料から発生する回折Ｘ線を回折角１８０°に至る高角領域まで検出可能な位置へ、湾曲ＰＳＰＣ２０に内蔵した芯線２２の一端２２ａを配置することが可能となる。 - 特許庁

A diffraction X-ray pattern is accurately read since an incident X-ray 2 serving as a reference is recorded in the position sensitive X-ray detector, by thinning a film thickness of the measured sample to measure the diffracted X-ray by the transmission X-ray.例文帳に追加

測定試料の膜厚を薄くして透過Ｘ線で回折Ｘ線を測定することにより、基準となる入射Ｘ線２も位置感応型Ｘ線検出器に記録されるため、回折Ｘ線パターンを正確に読み取ることができる。 - 特許庁

To provide wafer carrying and holding mechanisms capable of carrying the wafer holder by positioning it accurately and holding the wafer holder by positioning it accurately without varying the position of a wafer holder having a mounted wafer, and provide a sample creating apparatus.例文帳に追加

ウエハが搭載されたウエハホルダの位置を変化させてしまうことなく、正確に位置決めして搬送することが可能なウエハ搬送機構、及び、正確に位置決めして保持することが可能なウエハ保持機構、並びに、試料作製装置を提供する。 - 特許庁

The processing part 30 is equipped with an input editing processing part 32, a judgment part 34 for position in document, a document sample extracting part 36 and an extracted document selecting part 38 to perform a variety of processing necessary to prepare structured documents and display or select samples of the structured documents.例文帳に追加

処理部３０は、構造化文書の作成や文例の表示、選択に必要な各種の処理を行うために、入力編集処理部３２、文書内位置判定部３４、文例抽出部３６、抽出文例選択部３８を備えている。 - 特許庁

The light-and- dark border is electrically detected by a CCD, a photodiode array, or the like, arranged at the position where the image is formed by the hemispherical prism 2 to determine the critical refracting angle, which can determine a refractive index n2 of the sample as a refractive index n1 of the prism 2 is known.例文帳に追加

半球状プリズムの結像位置に配したＣＣＤ、フォトダイオードアレイ等で明暗境界の検出を電気的に行ない、臨界屈折角を求めれば、プリズムの屈折率ｎ_1 は既知であるため、サンプルの屈折率ｎ_2 を求めることができる。 - 特許庁

To provide a charged particle beam drawing apparatus capable of high-precision drawing on a sample by correcting misalignment of the axis of a charged particle beam due to a shift in position of a charged particle beam generation source, and enabling beam adjustment free of beam absence and beam defocusing.例文帳に追加

荷電ビーム発生源の位置ずれに伴う荷電ビームの軸ずれを補正し、ビーム欠け、ビームぼけの無いビーム調整を可能とし試料に対して精度の高い描画を行うことができる荷電ビーム描画装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Regarding the microscope, an abutting member 20 which is made movable in the optical axis direction, with reference to an objective optical system 4, and also, which can be positioned in a desired position in the optical axis direction is arranged on the leading end part of the objective optical system 4 arranged adjacent to the sample A.例文帳に追加

試料Ａに近接配置される対物光学系４の先端部に、該対物光学系４に対して、光軸方向に移動可能かつ、所望の光軸方向位置に位置決め可能な突当て部材２０を備えることを特徴とする。 - 特許庁

Thereafter, the sweat sample is extruded in a state that the valve 23 is closed and a valve 24 is opened to move through the flow channel pipe 21 from the position of the valve 24 and passes through the detection part 30 equipped with a biosensor provided ahead of the flow channel pipe 21.例文帳に追加

その後、バルブ２３が閉塞されてバルブ２４が開放された状態で汗試料が押し出されることで、バルブ２４位置を経て流路管２１内を汗試料が移動し、その先にあるバイオセンサを備えた検出部３０を通過する。 - 特許庁

To provide an error distribution method for controlling the distribution of both errors as a shape processing method for deriving position and shape errors to the design shape of a sample from measured data outputted by a shape measuring machine.例文帳に追加

形状測定機が出力する測定データから被測定物の設計形状に対する位置誤差及び形状誤差を導出する形状処理方法として、両誤差の配分を制御可能とするような誤差配分方法を提供する。 - 特許庁

A photo detector 16 is turned about the measuring position for receiving regular reflected light in a predetermined angle range, the abrasion region and non-abrasion region of the sample 11 are measured, and a value showing the abrasion resistance is determined based on the measurement results.例文帳に追加

正反射光を受光する測定位置を中心に所定の角度範囲で受光器１６を回動させて試料１１の擦傷領域と非擦傷領域をそれぞれ測定し、それらの測定結果から耐擦傷性を示す値を求める。 - 特許庁

The maximum speed within a searching range covering nearly throughout the area over an ultrasonic beam is measured and the position of the maximum speed is searched based on the comparison of the maximum speed and the speed in the sample gate set within the searching range.例文帳に追加

そして、超音波ビーム上のほぼ全域を範囲とする探索範囲内における最高速度が計測され、その探索範囲内に設定されたサンプルゲート内における速度と最高速度との比較に基づいて、最高速度の位置が探索される。 - 特許庁

In this stain resistance testing method and a stain resistance testing machine, a staining substance is bonded to the surface of a sample by repeating dripping of a definite amount of a staining substance-containing liquid from an upper constant position and rinsing of the staining substance-containing liquid to evaluate dust.例文帳に追加

本発明の耐汚染性試験方法及び装置は、汚染物質含有液を上部の定位置から一定量の滴下と水洗を繰り返すことで試料表面に汚染物質を付着させるとした塵埃について評価する。 - 特許庁

When the shape or the fixing position of the thin film sample changes, although the intensity of scattered X rays changes as well as fluorescent X rays, a ratio between the intensity of fluorescent X rays and the intensity of scattered X rays is constant with respect to a constant adhesion amount.例文帳に追加

薄膜試料の形状や固定位置が変化した場合、蛍光Ｘ線が変化すると共に散乱Ｘ線強度も変化するが、この蛍光Ｘ線強度と散乱Ｘ線強度の比は一定の付着量に対して一定の比となる。 - 特許庁

The sample stage has a two-dimensional coordinate which regulates a position within a two-dimensional plane crossing the optical axis of an objective lens and the beam axis of the electronic microscope, and the confocal microscope and the electronic microscope commonly have the coordinate.例文帳に追加

試料ステージは、共焦点顕微鏡の対物レンズの光軸及び電子顕微鏡のビーム軸と直交する２次元平面内の位置を規定する２次元座標系を有し、共焦点顕微鏡及び電子顕微鏡は座標系を共有する。 - 特許庁

When there is the atmospheric pressure fluctuation, an irradiation position of the electron beam on a sample under the atmospheric pressure fluctuation can be corrected if the amount of deflection of an electron beam is changed according to the amount of the atmospheric pressure fluctuation to offset the fluctuation of an image.例文帳に追加

大気圧の変動があれば、大気圧の変動量に応じて電子ビームの偏向量を像の変動を打ち消すように変化させれば、大気圧変動による電子ビームの試料上の照射位置の補正を行うことができる。 - 特許庁

To enable the position of rotation starting origin of a high-speed rotary table to determine accurately in a short period of time, and delicate operation to a high-speed rotary table portion from outside such as injection of a sample, movement of a member on a table or the like to perform automatically.例文帳に追加

高速回転盤の回転開始原点の位置を短時間で、高精度に決定し、試料の注入、盤上の部材の移動など、外部よりの高速回転盤部に対する微妙な操作を自動的に行うことを可能とする。 - 特許庁

A scanning unit 11 performs horizontal scanning and vertical scanning to irradiate the observation sample 300 with the laser light; and after horizontal scanning with laser light with the 1st intensity, horizontal scanning with laser light with the 2nd intensity is carried out successively at the same scanning position and then movement of the scanning position as vertical scanning is performed.例文帳に追加

走査ユニット１１は、主走査と副走査とを行ってレーザ光を観察標本３００へ照射するが、ここで、コンピュータシステム２００からの指示に応じ、第一の強度のレーザ光での主走査に続けて第二の強度のレーザ光での主走査を同一の走査位置で行ってから副走査である走査位置の移動を行う。 - 特許庁

When specifying the position to be observed on a sample and applying electron beams for forming an image, based on the position information of a defect inspected and detected by other inspection device, observation of electrical defects that can be conducted with a potential contract by designating electron beam irradiation conditions, detectors, detection conditions, and the like, according to the types of defects to be observed.例文帳に追加

他の検査装置で検査され、検出された欠陥の位置情報をもとに、試料上の被観察位置を特定し、電子線を照射し画像を形成する際に、観察すべき欠陥の種類に応じて電子ビーム照射条件および検出器、検出条件等を指定することにより、電位コントラストで観察可能な電気的欠陥が可能になる。 - 特許庁

This method for separating an analyzing target to analyze the same is equipped with the step for transferring a liquid sample to a multiwell plate at a first position by the pipette tip, the step for replacing the plurality of tips in a rack for the tips at the same position and the step for reusing each pipette tip in order to suck and supply a liquid.例文帳に追加

第１位置において、ピペット先端部により液体サンプルをマルチウェル・プレートへと移し換える段階と、同一の位置において先端部用ラックにおける複数の先端部を交換する段階と、液体を吸引かつ供与するために各ピペット先端部を再使用する段階とを備えて成る、分析対象物を分離して分析する方法が提供される。 - 特許庁

The illumination light beams emitted from laser light sources (2, 14) are simultaneously made incident on the phase-modulation-type spatial light modulator (5) arranged in a position optically conjugate to the pupil position of an objective lens (12), and a two-dimensional scanning means (16) to scan a sample (13) disposed on an illumination optical path different from that of the spatial light modulator (5), respectively.例文帳に追加

レーザ光源（２、１４）から射出された照明光を、対物レンズ（１２）の瞳位置と光学的に共役な位置に配置された位相変調型空間光変調器（５）と、空間光変調器（５）とは異なる照明光路上に配置された標本（１３）を走査する２次元走査手段（１６）へ同時に入射させる。 - 特許庁

The microscopic device, equipped with the reflecting objective on an optical path from a sample to the detector, is equipped with an optical axis correction means (optical axis correction device 18) for correcting the relative position of the detector to the optical axis of the light made incident on the detector, whereby the optical axis of the light made incident on the detector is set to an optimum position.例文帳に追加

試料から検出器に向う光路上に反射対物鏡を備える顕微鏡装置において、検出器とその検出器に入射する光の光軸との相対位置を補正する光軸補正手段（光軸補正装置１８）を備えることによって、検出器に入射する光の光軸を最適的位置に設定する。 - 特許庁

The device is equipped with a reagent discharge head 12 capable of discharging respectively a plurality of kinds of reagents in the state of a fine droplet below 10 pl; and a fluorescence detection part 14 for irradiating the excitation light toward the periphery of a position where the reagents are discharged, and receiving and detecting the fluorescence emitted from the liquid sample on the position by an objective lens.例文帳に追加

そして、複数種類の試薬を１０ｐｌ以下の微細液滴にしてそれぞれ吐出可能な試薬吐出ヘッド１２と、試薬が吐出される位置近傍に励起光を照射するとともに当該位置の液状試料から発せられる蛍光を対物レンズで受けて検出する蛍光検出部１４とを備えている。 - 特許庁

A relative height position value between a focal point of a microscope and the sample solution is successively varied, and plane images are photographed through the microscope at respective relative height positions, and areas of specific polymer crystals are computed from their plane images at the relative height positions respectively, and the relative height position value is calculated in such a condition that its corresponding area represents the minimum value.例文帳に追加

顕微鏡の焦点と試料溶液との間の相対高さ位置を逐次変更し、各相対高さ位置において顕微鏡をとおして得られる平面画像を撮像するとともに、各高さ位置における特定高分子結晶の平面画像からそれぞれの面積を算出し、この面積が最小となるときの前記相対高さ位置を算出する。 - 特許庁

The small rheometer further includes a detection element outputting a position signal indicative of the displacement of at least one of the first and second substrates 100 and 102, and a feedback circuit which provides, based on the position signal, dynamic re-equilibrium about the force applied to the sample by the operation of the first and second substrates 100 and 102 on the microscopic scale.例文帳に追加

小型レオメータは、第１及び第２の基板１００、１０２のうち少なくとも１つの変位を示す位置信号を出力する検出素子と、当該位置信号に基づいて、第１及び第２の基板１００、１０２の微小スケールの動作によりサンプルに印加される力に関する力学的再平衡を提供するフィードバック回路とをさらに備える。 - 特許庁

The focus control part 51 calculates a focus measured value from a plurality of images of a sample S obtained by a focus measurement performed while continuously changing the focal position in one direction and the position of focusing is determined based on the focus measured value and a focus correction value stored on the correction value storage part 53.例文帳に追加

また、焦点制御部５１は、焦点位置を一方向に連続的に変更しつつ実行される焦点計測において取得される複数の試料Ｓの画像から焦点計測値を算出し、焦点計測値、及び補正値記憶部５３に記憶された焦点補正値に基づいて試料Ｓにおける合焦点位置を求める。 - 特許庁

This OFDM signal receiver is provided with processing means 11 to 14 for providing a time window for a received sampling sequence, generating a signal sequence by cyclically rearranging N (N is a positive integer) sample signals from the start position of the window to the latter half position of the window, and variably controlling the number of N samples to be rearranged on the basis of the transmission path characteristic.例文帳に追加

受信サンプリング系列に対して時間的な窓を設け、窓の開始位置からＮ（Ｎは正の整数）サンプルの信号を窓の後半位置に巡回的に並べ替えて信号系列を生成し、且つ並べ替えのＮサンプルの数を伝送路特性に基づいて可変制御させる処理手段１１から１４を備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device for actualizing smooth and automatic processing of a processed pattern by improving the detecting probability of a processed pattern detecting mark and the reproductivity of a processing position, and to provide a sample processing method and program using the same.例文帳に追加

加工パターン検出用のマークの検出確率と加工位置の再現性を向上させ、加工パターンの自動加工を円滑化することができる集束イオンビーム装置、集束イオンビーム装置を用いた試料加工方法及び試料加工プログラムを提供する。 - 特許庁

By using a two-dimensional scattered ion detector 8, the energy spectrum is measured on the basis of a detection position of the scattered ions, the crystal axis of the sample is detected on the basis of a detection amount distribution of the scattered ions, and the crystal axis and the beam axis of the ion beam are aligned.例文帳に追加

また，２次元の散乱イオン検出器８を用いて，散乱イオンの検出位置に基づくエネルギースペクトル測定や，散乱イオンの検出量分布に基づく試料の結晶軸検出及び該結晶軸とイオンビームのビーム軸との軸合わせを行う。 - 特許庁

Upon selecting any component on the processing target image 31, the selected component is displayed with a mark 311 to pay attention thereto, and packaging information (packaging position and direction, article number and the like) corresponding to the component is displayed together with a sample image 36.例文帳に追加

処理対象画像３１上の部品を選択する操作が行われると、選択された部品をマーク３１１により着目表示するとともに、この部品に対応する実装情報（実装位置、方向、品番など）を見本画像３６とともに表示する。 - 特許庁

In this glossiness sensor constructed of a light receiving element consisting of a position detecting sensor or a split type photodiode and a polarizing filter, a cylinder lens is arranged between the polarizing filter and the measurement sample or between the polarizing filter and the light receiving element.例文帳に追加

位置検出センサまたは分割型ホトダイオードからなる受光素子と、偏光フィルタとで構成された光沢センサにおいて、偏光フィルタと被測定試料との間、または偏光フィルタと受光素子との間に、シリンダーレンズを配置したことを特徴としている。 - 特許庁

To provide a stirrer and an auto-analyzer capable of restraining a sample liquid from becoming thermally affected, by moving heat generated in a piezoelectric substrate or a container of an sound wave generation means caused by the interference of sound waves, to a position located at a distant from the container.例文帳に追加

音波の干渉に起因して音波発生手段の圧電基板内や容器壁内で発生した熱を容器から離れた位置へ移動させ、液体試料への熱的影響を抑制することが可能な攪拌装置及び自動分析装置を提供すること。 - 特許庁

To precisely apply a sample solution on a substrate at a predetermined position so as to uniformize the size and shape of a spot in an optical detecting substrate used in a method for detecting the detection light emitted from the substance deposited on the substrate.例文帳に追加

基板上に定着させた物質から発せられる検出光を検出する方法に用いられる光学検出用基板において、試料溶液を基板上の所定位置に、スポットの大きさおよび形状が均一となるように、精度良く点着できるようにする。 - 特許庁

A clock reproducing section 20 ANDs bits of standardized digital data and bits of 0xOFF, determines a distance between a frequency and a convergent point in sample data and extracts a sampling position where the distance is minimized, as a Nyquist point.例文帳に追加

クロック再生部２０は、規格化されたデジタルデータの各ビットと０ｘ０ＦＦＦとの各ビットとのＡＮＤをとり、その結果から、サンプルデータにおける周波数と収束点との距離を求め、その距離が最も小さくなるサンプリング位置をナイキスト点として抽出する。 - 特許庁

Since a detector 14 with changeable position is used for measurement only at the sample side and a detector 5 of the main body A of the spectrophotometer is used to a reference side detector, usage of optical fibers becomes unnecessary and also additional costs are suppressed to the minimal.例文帳に追加

位置の変更が可能な検出器１４はサンプル側のみの測定に使用し、リファレンス側検出器には、分光光度計本体Ａの検出器５を使用することにより、光ファイバーの使用を不要とするとともに、付加的なコストを最小限に抑える。 - 特許庁

A two-fiber type fiber 23 including a plurality of fibers having different diameters respectively is configured such that its incident end face on which the observing light is made incident is arranged at a position nearly conjugate to a light condensing point on the sample 12, and transmits the observing light to the photodetectors 24a and 24b.例文帳に追加

そして、それぞれ径が異なる複数のファイバを有する２芯ファイバ２３は、試料１２の集光点と略共役な位置に観察光が入射する入射端面が配置され、観察光を光検出器２４ａおよび２４ｂに伝達する。 - 特許庁