「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

This microfluidic analysis system for monitoring the prescribed analysis substance (e.g. glucose) inside the prescribed liquid sample (e.g. ISF) includes a prescribed analysis module accompanied by at least one microtube for receiving and transporting the prescribed liquid sample, at least one analysis substance sensor for measuring the prescribed analysis substance inside the liquid sample, and at least one position electrode.例文帳に追加

上記システムは一定の液体サンプル（例えば、ＩＳＦ）の中における一定の分析物（例えば、グルコース）をモニターするための微量液体分析システムであり、一定の液体サンプルを受容して輸送するための少なくとも１個の微小管、その液体サンプルの中の一定の分析物を測定するための少なくとも１個の分析物センサーおよび少なくとも１個の位置電極を伴う一定の分析モジュールを含む。 - 特許庁

This flow cytometer 10 comprises a cell body 102 made of a translucent body, a sample flow channel 104 penetrating the cell body 102, a condenser lens 16 for collecting fluorescence radiated from the sample flow channel 104, and a phase conjugate mirror 106 for emitting phase conjugate light of the fluorescence at a relative position with the condenser lens 16 about the sample flow channel 104.例文帳に追加

本発明に係るフローサイトメータ１０は、透光体からなるセル本体１０２と、前記セル本体１０２に貫通して設けた試料流路１０４と、前記試料流路１０４から放射する蛍光を集光する集光レンズ１６と、前記試料流路１０４を中心に前記集光レンズ１６との相対位置で前記蛍光の位相共役光を出射する位相共役鏡１０６とを備えている。 - 特許庁

The microscopic inspection apparatus 100 is equipped with a cassette 102 which can house a plurality of sheets of samples 101, an elevator to vertically move the cassette 102, a microscope 132 to enlarge and observe a sample 101, an XY stage 105 to appropriately place the sample 101 in an observation position, and a carrying device 104 to carry the sample 101 between the cassette 102 and the XY stage 105.例文帳に追加

顕微鏡検査装置１００は、複数枚の標本１０１を収納し得るカセット１０２と、カセット１０２を上下方向に昇降させるエレベーター１０３と、標本１０１を拡大観察する顕微鏡１３２と、標本１０１を観察位置に適宜配置するためのＸＹステージ１０５と、カセット１０２とＸＹステージ１０５の間で標本１０１を搬送する搬送装置１０４とを備えている。 - 特許庁

The X-ray beam 2' is incident on an XZ surface, and an X-axis is moved to determine the position in the surface of the sample 1 on the basis of X-coordinates X1 and X2 that has diffracted X rays 2a suddenly changed in the intensity.例文帳に追加

Ｘ線ビーム２’をＸＺ面に入射し、Ｘ軸を移動して回折Ｘ線２ａ強度が急変するＸ座標Ｘ１、Ｘ２を基準として試料１面内の位置を決定する。 - 特許庁

An air bearing guide or the like is used for the guide mechanism of the sample stage 16, and a stage position is held by attracting the stage 16 floating above a surface plate 18 to a surface plate 18 side by the permanent magnet 17.例文帳に追加

試料ステージ１６の案内機構にエアベアリングガイド等を用い、定盤１８上に浮上したステージ１６を永久磁石１７で定盤１８側に引き付けてステージ姿勢を保持する。 - 特許庁

In the image processing apparatus 1, an image processing section 140 includes a high-brightness area extracting section 142 and an elastic fiber position determining section 145 and specifies the blood vessel area in a sample image.例文帳に追加

画像処理装置１において、画像処理部１４０は、高輝度領域抽出処理部１４２と弾性線維位置判定処理部１４５とを含み、標本画像中の血管領域を特定する。 - 特許庁

A tape is fed intermittently by a positioning device so as to position accurately a wetting area of the test element attached with the liquid sample, in a measuring portion.例文帳に追加

液体試料の被着されたテストエレメントの湿潤領域を測定箇所に正確にポジショニングするため、テストエレメント上の液体試料の存在に応答するポジショニング装置によってテープ送りを断続する。 - 特許庁

This method is provided with a process for adjusting defect detection sensitivity so as to detect the defect in the desired size while using a standard sample prepared by programming the size and position of the defect beforehand.例文帳に追加

本発明は、予め欠陥の大きさと位置をプログラムして作製した標準試料を用いて所望の大きさの欠陥を検出するように欠陥検出感度を調整する工程を備えている。 - 特許庁

To provide a method and a device for controlling and monitoring a position of a holding element which is provided to hold a sample to be examined, in particular by a beam device such as an electron microscope.例文帳に追加

とくには電子顕微鏡などのビーム装置によって検査される試料を保持するために設けられた保持部材の位置を制御および監視するための方法および装置を提供する。 - 特許庁

The sample (w) is displaced in an optical axis direction through a stage control circuit 40, so that an optical axis direction position when a received light quantity is made maximum is obtained as a height data for each picture element by a processing device 46.例文帳に追加

処理装置４６が、ステージ制御回路４０を介して試料ｗを光軸方向に変位させ、受光量が最大になるときの光軸方向位置を高さデータとして各画素ごとに求める。 - 特許庁

To provide a semiconductor crystal defect testing method, etc. which uses cathode luminescence (CL) that enables checking of the measurement position at a high spacial resolution, and a sample analysis at a high spacial resolution.例文帳に追加

高空間分解能で測定位置の確認ができ、且つ高空間分解能で試料分析ができるカソードルミネッセンス（ＣＬ）を用いた半導体結晶欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

Since the off-axis parabolic mirrors 11 and 12 share the focus F, light transmitting the position of the focus F is reflected at the parabolic mirror 12 to be returned to be parallel light, subsequently emitting a sample 100.例文帳に追加

軸外し放物面鏡１１，１２は焦点Ｆを共有するため、焦点位置Ｆを通過した光は、放物面鏡１２で反射した後に平行光に戻されてから、サンプル１００を照射する。 - 特許庁

To provide a sample cross section manufacturing method capable of efficiently detecting a center position of a defective part or a contact hole by an FIB device without having an SEM observation function.例文帳に追加

ＳＥＭ観察機能を備えないＦＩＢ装置でも、欠陥部分やコンタクトホールの中心位置を検出することが効率よく、実行できる試料断面作製方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a novel method to imbed GPS position data with respect to a GSM(Global Systems for Mobile Communications) cellular phone into a consecutive sample of voice data sent from the GSM cellular phone and to provide a device to employ the method.例文帳に追加

ＧＳＭセルラ電話機が送信するボイス・データの連続サンプル内に、ＧＳＭセルラ電話機に関するＧＰＳ位置データを埋め込むための新規な方法、およびその使用のための装置を提供する。 - 特許庁

When determined that it is a periodic structure, the electron beam diffraction image and a limited visual field image are preserved as one data group together with an observation condition including the position of the sample stage, an X-ray spectrum or the like.例文帳に追加

周期構造であると判定したら、電子線回折像、及び、制限視野像を、試料ステージの位置を含む観察条件、Ｘ線スペクトル等と共に１つのデータ群として保存する。 - 特許庁

The charged particle beam device is provided with a cover which envelops a charged particle source and a sample stage, and a mechanism which changes a position or an arrangement angle of at least a part of the cover inner face.例文帳に追加

本発明に係る荷電粒子線装置は、荷電粒子源および試料ステージを包囲するカバーと、カバー内面の少なくとも一部の位置または配置角度を変更する機構を備えている。 - 特許庁

A filament 4a arranged at a given position in a sample analysis room 1 and a spare filament 4b for replacing the filament 4a arranged in a reserve room 2 are retained at a front and a rear side of a retention plate.例文帳に追加

試料分析室１の所定位置に配置されるフィラメント４ａと、保存室２に配置される、前記フィラメント４ａと交換するための予備フィラメント４ｂとが、保持板３の表裏に保持されている。 - 特許庁

A reference sample 10a is irradiated with light of wavelength λ and the focus position of an image pickup device (CCD camera) is moved to detect the 1st and 2nd inspection marks 32 and 33 at respective focus positions.例文帳に追加

基準サンプル１０ａに波長がλの光を照射し、撮像装置（ＣＣＤカメラ）の焦点位置を移動させて各焦点位置における第１及び第２の検査マーク３２、３３を検出する。 - 特許庁

A deflecting member 33 is arranged near the pupil position of the objective lens 22 so as to deflect a portion of light from the sample 12 through the objective lens 22 and bring the portion to head to an imaging plane S2 of an imaging element 41.例文帳に追加

また、偏向部材３３は、対物レンズ２２の瞳の位置近傍に配置され、対物レンズ２２を介してサンプル１２からの光の一部を偏向して撮像素子４１の撮像面Ｓ２に向かわせる。 - 特許庁

The position measurement strategy automatic determining means 5 optimized the parameters such as the kind and sequence of filter processing and thinning ratio in response to the sample image with the template and search area set manually.例文帳に追加

位置計測戦略自動決定手段５は人手により設定されたテンプレートと探索領域を用いて、フィルタ処理の種類と順番、及び間引き率のパラメータをサンプル画像に適応して最適化する。 - 特許庁

A coefficient unit 2 multiplies a code vector Ci outputted from a composition variable code book 1 after the position of a non-zero sample is controlled on the basis of an index (i) and a transmitting parameter (p) by a gain (g).例文帳に追加

係数器２が、インデックスｉと伝送パラメータｐとに基づいて非零サンプルの位置が制御された上で構成可変符号帳１から出力されるコードベクトルＣ_i に、ゲインｇを乗算する。 - 特許庁

This plant growth analyzer comprises a first transfer mechanism 2 for transferring a plurality of plant samples, and a second transfer mechanism 3 for transferring a piece of plant sample to a photographing position.例文帳に追加

植物生育解析装置１では、複数の植物試料を移動させるための第１の移動機構２と植物試料１個体を撮影位置に移動させるための第２の移動機構３を備えている。 - 特許庁

By deriving an interpolation function by a specified method with the plotted point as a sample point, the focus lens 102A is driven to the physical position of the lens obtained by reversely converting a value which becomes the maximum value of the interpolation function.例文帳に追加

プロットした点を標本点として所定の方法により補間関数を導出し、補間関数の最大値となる値を逆換算したレンズ物理位置へフォーカスレンズ１０２Ａを駆動させる。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method having high reliability by acquiring a position relation between mutual probes and between a sample and a probe for characteristic evaluation of a miniaturized device.例文帳に追加

本発明の目的は、微細化されたデバイスの特性評価のために、プローブ相互間及び試料とプローブとの位置関係を把握して、信頼性の高い検査装置及び検査方法を提供することにある。 - 特許庁

Figure 8 shows wave forms of respective signals at the time of stopping irradiation of electron beam depending on a scanning wait signal during a non-linear responding period wherein, the electron beam is moving toward the analysis position of the sample.例文帳に追加

図８は電子ビームが試料の分析位置に移動中の非直線応答期間には走査ウェイト信号に基づき電子ビームの試料への照射を停止する際の各信号波形を示している。 - 特許庁

The microscope includes an optical system for changing a beam diameter and a field stop disposed at a position conjugate with a sample surface, in this order beginning from the side of the laser light source.例文帳に追加

上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。 - 特許庁

The force acting on a probe 11a is measured by a PZT scanner 14 on the basis of the position of the photodetector 16 in each distance while changing the distance between the cantilever 11 and a sample 13.例文帳に追加

ＰＺＴスキャナ１４によって、カンチレバー１１と試料１３との間の距離を変えながら、各距離において、フォトディテクタ１６の位置に基づき、探針１１ａに働く力を計測する。 - 特許庁

To provide a sample position adjusting device, capable of detecting the diffraction peaks of radiation, such as X rays, neutron beams, etc. with high accuracy in short time, a radiation diffraction device and a radiation diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線及び中性子線等の放射線の回折ピークを高精度且つ短時間で検出可能とする試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法を提供する。 - 特許庁

To arrange a beam waist on the same depth position of a sample, even if the individual difference of a pulse laser light source for emitting extremely-short pulse laser light or the wavelength of the extremely-short pulse laser light emitted from the pulse laser light source is changed.例文帳に追加

極短パルスレーザ光を出射するパルスレーザ光源の個体差、パルスレーザ光源から発せられる極短パルスレーザ光の波長が変化しても、試料の同一深さ位置にビームウエストを配置する。 - 特許庁

To provide an X-ray analysis apparatus for easily and precisely specifying an analysis position in a sample from an optical image without deteriorating a sensitivity and spatial resolution in a light element analysis.例文帳に追加

軽元素分析の感度や空間分解能を低下させることなく、光学像から試料における分析位置を簡便かつ高精度に特定することのできるＸ線分析装置を提供すること。 - 特許庁

After a container storing a sample of luminescence measuring object is installed in a holder, a light-shielding plate arranged opposite to a light detector which detects light is moved from a position opposite to the light detector.例文帳に追加

発光計測対象の試料を収めた容器をホルダに設置した後に、光を検出する光検出器に対向して設けられた遮光板を光検出器に対向する位置から移動させる。 - 特許庁

An operation unit compresses samples in a predetermined number times the pitch cycle from the sample in the start position of the audio signal in a time axis domain, and sets the number of samples of the audio signal after the compression to be the multiple of N.例文帳に追加

演算部は、オーディオ信号の開始位置のサンプルからピッチ周期の所定数倍分のサンプルを時間軸領域で圧縮し、圧縮後のオーディオ信号のサンプル数をＮの倍数にする。 - 特許庁

The thermal analyzer further has a second opening 02 provided on the opposite side to the first opening 01 relative to the position where the sample S is disposed and a gas carrying pump 23 connected to the second opening 02.例文帳に追加

この熱分析装置は、試料Ｓが配置される位置に関して第１開口Ｏ１の反対側に設けられた第２開口Ｏ２と、第２開口Ｏ２に接続されたガス搬送ポンプ２３とを有する。 - 特許庁

To provide an X-ray fluoroscopic analyzer capable of easily and rapidly photographing an image of the state of appearance and an image of the internal state with the same magnification, position, and angle with respect to those of a sample.例文帳に追加

時間をかけずに簡便に、試料に対して同じ倍率、位置、及び、角度の外観状態の画像と内部状態の画像とを撮影することができるＸ線透視分析装置を提供する。 - 特許庁

In a multichannel signal coding method of the invention, a weighting difference of a frame signal of a channel to be coded, and a plurality of sample value sequences in which a time position of a master channel is different, is coded.例文帳に追加

本発明の多チャネル信号符号化方法は、符号化対象チャネルのフレーム信号を、マスターチャネルの時間位置が異なる複数のサンプル値列との重み付け差分を符号化する方法に関する。 - 特許庁

The positioning device disposes the sample base 8 in the Z-axial direction based upon the position information and correction information regarding the surface shapes of reflecting elements 27, 28, 30, and 37.例文帳に追加

位置決め装置は、上記位置情報と、ビームが照射される反射素子２７，２８，３０，３７の面形状に関する補正情報とに基づいて、Ｚ軸方向に関して試料台８を位置決めする。 - 特許庁

To provide a wrong measurement verification method capable of verifying accurately wrong measurement such as measuring start position deviation, when performing inline automatic inspection of a sample such as a wafer by utilizing a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を利用してウェハ等の試料をインライン自動検査を行うとき測定開始位置ずれなどの誤測定を正確に検証できる誤測定検証方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sample fixing table allowing the location of a foreign substance to be rapidly and efficiently identified within an electron microscope image; an electron microscope equipped with it; and a position identifying method of the foreign substance.例文帳に追加

異物の場所を電子顕微鏡画像の中で素早く、効率的に特定できる試料固定台及びそれを備えた電子顕微鏡、並びに、その異物の位置特定方法を提供する。 - 特許庁

In this state, the laser power level is measured in a mark part detection system and a space/erasure part detection system while the sample position of the laser power level to a mark part and a space part is changed in the minimum resolution unit.例文帳に追加

この状態で、マーク部とスペース部に対するレーザーパワーレベルのサンプル位置を最小分解能単位で変えながら、マーク部検出系とスペース／イレース部検出系でレーザーパワーレベルを測定する。 - 特許庁

When the flow cell 10 is moved up to the position of a sample suction part 30, both the linear pipe line parts 111, 121 are also turned and the motions are absorbed by the spiral pipe line parts 112, 122.例文帳に追加

フローセル１０が試料吸引部３０の位置まで移動するとき、両直線状管路部１１１、１２１も回動し、その動きは螺旋状管路部１１２、１２２により吸収される。 - 特許庁

The branched optical paths created by the dichroic mirrors 135, 112 and the prism 202 are led into the main optical path without requiring to change the position of a sample 103 along the optical axis O.例文帳に追加

ダイクロイックミラー１３５とダイクロイックミラー１１２とプリズム２０２によって作り出された分岐光路は、標本１０３の位置を光軸Ｏに沿って変更することを必要とせずに主光路に導入される。 - 特許庁

The permanent magnet 17 is magnetically shielded by a shield member 21 in order to prevent effect of the leakage magnetic field from the permanent magnet 17 on an irradiation position of an electron beam 4 onto the sample 7.例文帳に追加

永久磁石１７からの漏洩磁場が試料７上への電子ビーム４の照射位置に影響を及ぼすのを避けるために、永久磁石１７をシールド部材２１で磁気シールドする。 - 特許庁

To enable beam irradiation in a peak position of gas concentration without affecting drive of a sample stage on the occasion of beam assist deposition or beam assist etching, and to secure the working symmetry.例文帳に追加

ビームアシストデポジション、あるいはビームアシストエッチングを行う際に、試料ステージの駆動に影響を及ぼすことなしに、ガス濃度のピーク位置にビーム照射を可能としてその加工の対称性を確保すること。 - 特許庁

An encoding device 100 encodes the whole sample data stream of the plurality of pieces of music to generate an MP3 frame and also generates sectioning position data indicating sectioning positions between pieces of music in all the whole data stream.例文帳に追加

符号化装置１００は、複数曲の全サンプルデータ列を符号化してＭＰ３フレームを生成するとともに、全サンプルデータ列における曲間の区切り位置を示す区切り位置データを生成する。 - 特許庁

The X-ray source arm 6 supports the X-ray irradiation devices 7, 8 in a position where an incident angle θs of an X-ray R0 with respect to the sample S is brought into at least one point within 0°-90° of angle range.例文帳に追加

Ｘ線源アーム６は、試料Ｓに対するＸ線Ｒ０の入射角度θｓが０°〜９０°の角度範囲内の少なくとも１点となる位置でＸ線照射装置７，８を支持する。 - 特許庁