「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for analyzing secondary ion masses, capable of specifying an analyzing position, even with respect to a sample, where the hole formed by the irradiation with ion beam is difficult to be discriminated, because the optical surface reflectivity is low, by irradiating the surface of the sample with a laser beam through the route of a secondary ion optical system.例文帳に追加

二次イオン光学系の経路を通して試料表面にレーザを照射することにより、表面の光学的な反射率が低いため、イオンビームを照射して形成された穴が判別しにくい試料であっても分析位置を特定することができる二次イオン質量分析方法を提供する。 - 特許庁

While sample data for one page is read out from a buffer area of a second memory in each channel ch, a transfer part for reading out the waveform data from a first memory in units of page and writing the same to the second memory reads out sample data for another page next to that page from the first memory and writes the same in a buffer area of the channel ch concerned according to waveform position information.例文帳に追加

第１メモリからページ単位で読出して第２メモリへ書込む転送部は、各ｃｈで１ページ分のサンプルデータが第２メモリのバッファ領域から読出されている間に、波形位置情報に基づいて、そのページの次の１ページ分のサンプルデータを第１メモリから読出して当該ｃｈのバッファ領域に書込む。 - 特許庁

In the pattern inspection of a semiconductor device, a basic pattern used for correcting the mounting position of a sample substrate on a supporting base is recorded previously, the positional shift of mounting is corrected using the basic pattern, the image of a pattern formed on the sample substrate mounted on the supporting base is acquired, and then the defect of the pattern is detected from the image thus acquired.例文帳に追加

半導体装置のパターン検査において、試料基板の支持台に載置する際の載置位置の補正に用いる基本パターンを予め記録し、基本パターンを用いて載置位置のずれを補正して、支持台に載置された試料基板に形成されたパターンの画像を取得し、取得された画像から、パターンの欠陥を検出する。 - 特許庁

When a driving motor 13 is driven after a tray 6 loaded with a cartridge 5 set with a plurality of vials 4 is moved from a sample stocker part 3 to a sample suction position, an eccentric cam 14 is rotated, and a projection rod 9 is raised after piercing through a hole provided on the tray 6, and the cartridge 5 is tilted, to thereby tilt the vial 4.例文帳に追加

複数のバイアル瓶４をセットしたカートリッジ５を載置したトレイ６を試料ストッカー部３から試料吸引位置に移動した後、駆動モータ１３が駆動されると、偏心カム１４が回転し、突出棒９がトレイ６に設けられた孔を突き抜けて上昇し、カートリッジ５が傾くので、バイアル瓶４も傾く。 - 特許庁

The control part 420 selectively arranges one among a plurality of containers 512 held on the sample tray 550 on the optical axis of an objective 312 by controlling the rotational angle of the motor 262, after detecting that the sample tray 550 exists at the reference position based on output from the sensor 594.例文帳に追加

制御部４２０は、センサー５９４の出力に基づいて標本トレー５５０が基準位置にあることを検知した後、モーター２６２の回転角度を制御することにより、標本トレー５５０に保持されている複数の容器５１２のうちの一つを対物レンズ３１２の光軸上に選択的に配置する。 - 特許庁

Then, as a coding information determination step, from the optimum delay amount and an optimum delay amount correlation value, weighting which is to be multiplied with a number of the master channel, the difference of the time position of each sample value sequence of the master channel and the frame signal of the channel to be coded, and each sample value sequence of the master channel, is determined.例文帳に追加

次に、符号化情報決定ステップとして、前記最適遅延量と最適遅延量相関値から、マスターチャネルの番号と、前記マスターチャネルの各サンプル値列と符号化対象チャネルのフレーム信号との時間位置の差と、前記マスターチャネルの各サンプル値列に乗算する重みを決定する。 - 特許庁

Even if a very small amount of the sample irrespective of a size of the micro channel, the gas excessively dissolving in the sample of a liquid state is effectively absorbed in the bubble nucleus made to generate in the bubble-nucleus introduction means to enable to prevent a generation of the bubble at a position excepting the bubble-nucleus introduction means.例文帳に追加

これにより、マイクロ流路の大きさにかかわらず、微量のサンプル量であっても、液体状態の試料中に過剰に溶解している気体を気泡核導入手段に発生させた気泡核に効率よく吸収させて、気泡核導入手段以外の位置での気泡の発生を防止することができる。 - 特許庁

This measuring instrument for measuring optically in order a plurality of samples arranged arrayedly via the objective lens and the imaging lens is provided with a driving means for moving the objective lens to correspond to a position of the each sample, and a photoereceiving part for receiving a sample image via the objective lens and the imaging lens.例文帳に追加

アレイ状に並べられた複数の試料を対物レンズと結像用レンズを介して光学的に順次測定する計測装置であって、前記対物レンズを前記試料の位置に対応して移動させる駆動手段と、前記対物レンズと結像用レンズを介して試料像を受ける受光部を備える。 - 特許庁

To provide a technology for correcting sample deviation so that a signal inputted with an absolute time is outputted from all nodes at the same sampling time regardless of the position relationship of the nodes when transmitting audio sample data while circulating a packet in an annular audio network system.例文帳に追加

リング型オーディオネットワークシステムにおいて、パケットを巡回させながらオーディオサンプルデータの伝送を行う場合に、ノードの位置関係にかかわりなく、絶対時間で入力される信号が全ノードから同一サンプリング時間で出力されるようにサンプルずれを補正する技術を提供することを目的とする。 - 特許庁

In this method, based on position coordinates of the defect detected by defect detecting means, marking is made in the vicinity of the defect by using an ion beam, etc., sample is monitored with transmission electron microscope to specify the defective section from relative positional relationship between the marking and the defect, and then sample including the target defective section will surely be prepared.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

A focal length of an objective is continuously changed by making accelerated voltage from a power source 1 of an electron beam accelerating voltage connected to an electron gun 2 of the scanning electron microscope variable by a voltage fine controller 3 to realize focusing to a sample without adjusting a position of a sample by a mechanical means.例文帳に追加

走査電子顕微鏡の電子銃２に接続される電子線加速高圧電源１を電圧微細調整器３により加速電圧を可変にすることにより対物レンズの焦点距離を連続的に変更し、試料位置を機械的手段で調整することなく試料への焦点合わせを実現させる。 - 特許庁

To improve a hole inspecting method for performing the irradiation of electron beams to an area on which almost the same number of holes are always formed even when positional relation between a sample on which holes to be measured are formed and the position of an electron beam to be applied to the sample is slightly shifted and capable of improving the stability/reliability of measurement.例文帳に追加

測定対称であるホールが形成された試料と、その試料に照射される電子ビームの位置関係が幾分ずれたとしても、常にほぼ同数のホールが形成された領域に電子ビームの照射を行なうことができ、測定の安定性・信頼度を向上させることができるホールの検査方法を実現する。 - 特許庁

Before the tip of a probe 4 relatively scans a sample 33 and the surface shape is measured, the probe 4 and a displacement sensor 21 are positioned so as to dispose the tip of the probe 4 on a measurement axis L of the displacement sensor 21 for detecting a position of a stage for placing the sample 33 in the Z direction.例文帳に追加

試料３３とプローブ４先端とを相対的に走査させて、表面形状を測定する前に、試料３３が載置されているステージのＺ方向の位置を検出する変位センサ２１の測定軸Ｌ上に、プローブ４の先端が配置されるように、プローブ４と変位センサ２１との位置決めを行う。 - 特許庁

To provide a light irradiation device which has a function for specifying an irradiation position on a sample part by light of a wavelength and irradiating the sample part by light of different wavelengths, and can easily and freely change an irradiation color, an irradiation strength, an irradiation spot diameter and an irradiation time according to a command from information processing means.例文帳に追加

本発明は、波長の光で標本部位の照射位置決めを特定し、異なる波長の光で標本部位を照射する機能や、照射色、照射強度、照射スポット径、照射時間を情報処理手段からの指令により簡単に自在変更できる光照射装置を提供することである。 - 特許庁

In an incident optical system, since an ellipsoidal mirror 33 has a confocal on a focal position A of light whose direction is changed by a plane mirror 31 and on a sample measuring point B(B'), the light whose direction is changed again by a plane mirror 32 is condensed by the ellipsoidal mirror 33 and the sample measuring point B or B' is irradiated therewith.例文帳に追加

入射光学系において、楕円面鏡３３は平面鏡３１で方向を変えられた光の焦点位置Ａと試料測定点Ｂ（Ｂ’）とに共焦点を持つため、平面鏡３２でさらに向きを変えられた光は楕円面鏡３３で集光されて試料測定点Ｂ又はＢ’に照射される。 - 特許庁

Then, a probe driving device 129 is moved by a probe position controller 130, and a portion positioned in a root side by about 5 μm from a tip of the probe 128 is made to approach an ear part end face of the sample holder 138 to fix the probe 128 and the sample holder 138 at a joining point by electrification welding.例文帳に追加

その後、プローブ位置制御装置１３０によりプローブ駆動装置１２９を移動させ、プローブ１２８の先端から５μｍ程度根元側の部分を微小試料ホルダ１３８の耳部端面に接近させることにより、通電溶接によりプローブ１２８と微小試料ホルダ１３８が接合点において固定される。 - 特許庁

An optical separating member 22 separates the observation light incident on a position almost conjugate to the light collecting point of the sample 12 into at least the observation light from the near-field region of the light collecting point of the sample 12 and the observation light from the peripheral domain of the light collecting point.例文帳に追加

また、光分離部材２２は、試料１２の集光点と略共役な位置に入射する観察光を、少なくとも試料１２の集光点の近傍領域からの観察光とその周辺領域からの観察光とに分離し、光検出器２６が、光分離部材２２により分離された観察光を検出する。 - 特許庁

The signal, wherein a signal component of the background light having a small change of light intensity is suppressed, even when an irradiation position of the light L1 and a relative position with the substrate 110 are changed, includes many signal components of the Raman scattered light emitted from the sample 111 whose light intensity is fluctuated synchronously with a periodical change of the relative position.例文帳に追加

この信号は、光Ｌ１の照射位置と光電場増強基板１１０との相対位置が変化しても、光強度の変化が少ないバックグランド光の信号成分が抑圧され、相対位置の周期的変化と同期して光強度が変動する試料１１１から発せられるラマン散乱光の信号成分が多く含まれる。 - 特許庁

In a sample introduction part 4 of an element analyzer 100, an opening and closing mechanism for opening and closing the introduction port 5 of a block body 41 having an introduction passage 41A by a lid member 42 moves vertically the lid member 42 on a blocking position P to a middle position Q, and then moves horizontally lid member 42 on the middle position Q in the horizontal direction.例文帳に追加

元素分析装置１００の試料導入部４において、導入通路４１Ａを有するブロック体４１の導入口５を蓋部材４２により開閉する開閉機構が、閉塞位置Ｐにある蓋部材４２を中間位置Ｑに鉛直移動させて、その後、中間位置Ｑにある蓋部材４２を水平方向に水平移動させる。 - 特許庁

To provide a method for immediately finding out a focal position from one obtained image without searching an optimum position by obtaining an image while slightly mechanically moving a sample or an optical member when a focal surface is obtained by using an optical microscope.例文帳に追加

本発明の課題は、光学顕微鏡を用いて焦点面を求める際にわずかずつ試料若しくは光学部材の機械的移動を行いながら画像を取得して最適な位置を探索することなく、得られた１画像から即座に合焦位置を割り出すことが出来る手法を提示することにある。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a sample for cross-section observation by a scanning electron microscope that is appropriate to smooth cross-section formation of 10-100 μm order, does not require a skilled technique of a worker, has high processing position accuracy, and accurately forms a cross section at a desired specific position.例文帳に追加

１０μｍ〜１００μｍオーダーの平滑な断面形成に適し、作業者の熟練の技術を必要とせず、かつ加工位置精度に優れ、所望の特定位置に正確に断面を形成できる、走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for setting pattern measuring conditions, to set a measuring position while preventing a reduction in working efficiency when the measuring position of a complicated pattern or a sample having a plurality of patterns whose optical proximity effect is to be evaluated, on the basis of defective coordinates.例文帳に追加

本発明は、複雑なパターン、或いは複数のパターンが配列され光近接効果の影響を評価すべきパターン等を有する試料に対し、欠陥座標等に基づいて、測定位置を設定する場合に、作業効率の低下を抑制しつつ、測定位置を設定することを目的とする。 - 特許庁

The ratio of the estimated timing to the correlation value between the estimated timing and timing ahead the estimated timing by one sample is calculated, a position where difference becomes minimum is calculated by comparing the ratio with the table value of the value of the ratio that is preliminarily calculated in each small time interval, and the receiving timing is estimated more accurately than the sampling rate on the basis of the position.例文帳に追加

推定されたタイミングとその一サンプル前との相関値との比を求め、あらかじめ微小時間間隔毎に算出しておいた前記比の値のテーブル値と比較して差が最小となる位置を求め、この位置に基づき、サンプリングレートよりも高精度に受信タイミングを推定する。 - 特許庁

A contact position C when a probe 6 head made a contact with a sample 8 surface is calculated and specified, based on all displacement signals T1 taken into the controller 14 during the period, and at the same time, a proper probe load value L at the time of scanning is set up based on the contact position.例文帳に追加

そして、この間にコントローラに取り込まれた全ての変位信号に基づいて、探針先端が試料表面に接触したときのコンタクト位置Ｃを算出して特定すると同時に、コンタクト位置に基づいて走査時の適正な探針荷重値Ｌを設定する。 - 特許庁

When an interesting part of the displayed image for designating the observation position is selected, the sample 9 is horizontally moved to set the position of the part on a center of the first display face area, and an enlarged image of the interesting part is displayed on the first display surface area.例文帳に追加

その表示された観察位置指定用像上の興味ある部分を選択すると、その部分の位置が第１表示面領域の中心に位置づけられるように試料９が水平移動され、上記興味ある部分の拡大像が第１表示面領域に表示される。 - 特許庁

The invention concerns a device for inspecting and/or processing a sample on a stage by use of a probe or image pickup device including a column having a beam generating means and deflecting means and for controlling, using the position control means, the position of the stage relative to the probe or image pickup device.例文帳に追加

当発明は、ビーム生成手段及び偏向手段を有するカラムを含むプローブ又は撮像装置を用いてステージ上のサンプルを検査及び/又は処理し、ステージのプローブ又は撮像装置に対する相対的な位置を位置制御手段で制御する装置に関する。 - 特許庁

This balance device has a balance beam 4 supporting a sample S, a support shaft 3 supporting the balance beam 4, a bearing 2 rotatably supporting the support shaft 3 in the state of being floated with magnetic force, and a support shaft position sensor 14 for detecting a change in position of the support shaft 3 in the axial direction X_0.例文帳に追加

試料Ｓを支持する天秤ビーム４と、天秤ビーム４を支持する支軸３と、支軸３を磁力により浮かせた状態で回転可能に支持する軸受２と、支軸３の軸線方向Ｘ０の位置変化を検出する支軸位置センサ１４とを有する天秤装置である。 - 特許庁

To obtain a microscopic optical system capable of observing or picking up an image and a pupil, and making an intermediate image position by an objective optical system function as a visual field diaphragm, and which is usable at illuminating a sample through the objective system, and capable of reducing the fluctuation of the pupil position due to the replacement of the objective optical system.例文帳に追加

像と瞳とを観察又は撮像し得るもので、対物光学系による中間像位置を視野絞りとし、対物系を通して標本を照明する際にも適用可能で、対物光学系の交換に伴う瞳位置変動等を少なくし得るようにする。 - 特許庁

Here, the position of excitation light is changed only once relative to the sample position over a desired region to detect a plurality of fluorescence labels, for high speed detection.例文帳に追加

複数の蛍光標識が付加されたＤＮＡサンプルに複数の波長からなる励起光を照射し、各蛍光強度を分離検出する際、励起光とサンプルの位置とを相対的に所望の領域に亘り１回だけ変化させることにより複数の蛍光標識検出することにより高速検出を行う。 - 特許庁

A cuvette transfer arm 4 transfers the cuvette-containing the dispensed sample to a vacant fixed photometric portion 2 from the position A, and a reagent probe 6 sucks a reagent at a reagent sucking position B or C and dispenses the reagent into the cuvette positioned at the portion 2.例文帳に追加

キュベット移送アーム４により、検体が分注されたキュベットをキュベット供給位置Ａから空いている固定測光部位２に移送し、試薬プローブ６により、試薬吸引位置Ｂ又はＣにある試薬を吸引し、測光部位２に装着されたキュベットに試薬を分注する。 - 特許庁

The image display device is provided with a display means that displays a color sample and a cursor on this screen, a moving means that moves a position of the cursor in response to the entry by the user, and an adjustment means that adjusts RGB gains depending on the position of the cursor at that time when the user enters a decision entry.例文帳に追加

画面上に色見本とカーソルを表示する表示手段と、使用者からの入力に応じカーソルの位置を動かす移動手段と、使用者から決定のための入力があったときに、そのときのカーソルの位置に応じてＲＧＢゲイン調整する調整手段と、を備える。 - 特許庁

The position of the radiation source 18A is specified from a relative ratio on the size between the first transmission image and the second transmission image, and a geometric relationship based on a relative position relationship between the X-ray source 11, the radiation source 18A, the standard sample 12 and an image receptor 13.例文帳に追加

第１の透過画像及び第２の透過画像の大きさに関する相対比と、Ｘ線源１１、放射線源１８Ａ、標準試料１２及び受像器１３の相対的位置関係に基づく幾何学的関係とから、放射線源１８Ａの位置を特定する。 - 特許庁

Since the surface potential of the sample 2 is different at a reference position where there is no deposit on the surface of the inspection object 1 and at an inspection position where the deposit is present, the surface potential values measured at both positions are compared with each other to inspect whether there is the deposit on the surface of the inspection object 1.例文帳に追加

被検査物１の表面に付着物がない基準位置と、付着物がある検査位置では、試料２の表面電位が異なるため、両位置で測定した表面電位値を比較することによって、被検査物表面に付着物があるか否かを検査することができる。 - 特許庁

The instrument observes a surface of the sample by the epi-illumination observation means, selects the PL observation area by the view field diaphragm 30, and regulates the position of the bundle fiber by the position regulating means 33 to make a light flux converged by the view field diaphragm get properly into the bundle fiber 20.例文帳に追加

この装置では、試料の表面を落射照明観察手段で観察し、ＰＬ観測領域を視野絞り３０によって選択し、視野絞りで絞られた光束が適切にバンドルファイバ２０に入射するように、バンドルファイバの位置を位置調整手段３３で調整する。 - 特許庁

A determination value calculation part 28 projects a browsing inhibition polyhedron into an image based on map information in a position attitude of each sample of a particle filter while calculating a depth value in a pixel in which the browsing inhibition polyhedron is projected based on the map information so that the minimum depth value in each of the pixels calculated in the position attitude of each sample becomes a browsing inhibition depth determination value of each pixel.例文帳に追加

判定値算出部２８が、パーティクルフィルタの各サンプルの位置姿勢において、地図情報に基づいて閲覧禁止多面体を画像に投影するとともに、閲覧禁止多面体が投影された画素における奥行き値を地図情報に基づいて算出し、各サンプルの位置姿勢において算出された各画素における奥行き値の最小値を、各画素の閲覧禁止奥行き判定値とする。 - 特許庁

The device also has a configuration wherein a position relation between the stage 15 and the image acquisition part 30 is adjusted by the stage 15 which is an XY-stage so that the sample S is scanned in the second direction by the imaging device 31.例文帳に追加

また、ＸＹステージであるステージ１５により、撮像装置３１によって試料Ｓが第２の方向に走査されるようにステージ１５と画像取得部３０との位置関係を調整する構成とする。 - 特許庁

The dispersing passage 64 is formed in a position closer to the periphery along the circle having the rotating shaft 54 of a motor 52 as the center within the disc 20 to disperse the particle component in the sample injected to the injection part 28.例文帳に追加

分散流路６４は、ディスク２０の内部でモータ５２の回転軸５４を中心とする円に沿って周縁寄り箇所に形成され、注入部２８に注入された試料中の粒子成分を分散させる。 - 特許庁

The static load produced in the sample piece 1 is detected by a static load sensor 12, and the dynamic displacement and the dynamic load are detected at the same position and at the same time by a composite sensor 15 by using an impedance head or the like.例文帳に追加

試料片１に生ずる静的荷重を静的荷重センサ１２により検出し、インピーダンスヘッドなどを用いた複合センサ１５により動的変位と動的荷重を同一位置において同時に検出する。 - 特許庁

An apparatus is equipped with an advance gate processing part 1 and a delay gate processing part 3 for setting an advance gate and a delay gate which are adjacent on the front and rear sides, separated by the center of a gate position of a sample gate processing part 2 for catching a target.例文帳に追加

目標をとらえるサンプルゲート処理部２のゲート位置の中心を境に前後に隣り合う進みゲート及び遅れゲートを設定する進みゲート処理部１及び遅れゲート処理部３を備える。 - 特許庁

The device has a constitution wherein droplets including a sample are discharged into a gas passage by utilizing a frictional resistance from the gas, and the position or the speed in the gas passage can be controlled by an electric field.例文帳に追加

マイクロ流路内にガスを流すマイクロ流体デバイスを用い、ガスからの摩擦抵抗を利用して試料を含む液滴をガス流路内に放出し、ガス流路内での位置や速度を電界で制御できる構成とした。 - 特許庁

A sample image stored in a computer system 15 is displayed on an imaging display 19 for each of the steps in which setting a parameter and a position for an image region, or reading and analyzing the images are done.例文帳に追加

パラメータの設定や撮影領域の位置設定、あるいは撮影された画像の理解、評価を行うそれぞれのステップで、コンピュータシステム１５内に保存されているサンプル画像を画像ディスプレイ１９に表示する。 - 特許庁

The exciting light optical system evaluating filter 21 has a transmission spectrum equal to the absorption spectrum of a fluorescent substance contained in the sample and may be inserted at any position on the light path of an exciting light optical system.例文帳に追加

励起光光学系評価用フィルタ２１は、試料に含まれる蛍光物質の吸収スペクトルと等しい透過スペクトルを有しており、励起光光学系の光路上の何れの位置に挿入されてもよい。 - 特許庁

In order to bring a probe 20a of a manipulator 18a into contact with a prescribed position of a sample 4, the distance in the Z-direction of movement of a stage 16 and movement by the manipulator 18a must be known beforehand.例文帳に追加

試料４の所定位置にマニピュレータ１８ａの探針２０ａを接触させるためには、ステージ１６の移動とマニピュレータ１８ａによって移動させるＺ方向の距離があらかじめ分かっていなければならない。 - 特許庁

To detect an accurate charged particle image, not including a noise component by irradiation of stimulating light, and not having a position shift by an electric charge to be charged, and having a high contrast, from a sample having an insulator.例文帳に追加

励起光の照射によるノイズ成分が含まれず、しかも帯電する電荷による位置ずれのない正確で、かつ高コントラストな荷電粒子像を絶縁物を有する試料から検出できるようにする。 - 特許庁

To obtain a satisfactory signal and to obtain a stable servo signal by sample-holding the servo signal in recording from a recording laser irradiating position even in a system where gain in recording is lowered in order to avoid saturation in recording.例文帳に追加

記録時の飽和を避けるため、記録時のゲインを下げたシステムにおいても、記録時のサーボ信号を記録レーザ照射位置からサンプルホールドすることにより、十分な信号を得、安定したサーボ信号を得る。 - 特許庁