「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

There is also provided, as needed, an inclining stage for directing the exposure position of the side surface of the sample to be exposed toward a direction perpendicular to the optical axis of the projection optical system.例文帳に追加

また、場合によっては、被露光試料の側表面の露光すべき位置を投影光学系の光軸に垂直な方向に向ける傾斜ステージを設ける。 - 特許庁

To provide a solid immersion lens 1A which permits passage of a luminous flux at a desired numerical aperture and is easy to position-control at optical coupling of the lens to a sample which is an object for observation.例文帳に追加

所望の開口数で光束を通すことができ、かつ、観察対象の試料に光学的に結合させる際の位置制御が容易な固浸レンズを提供する。 - 特許庁

A stationary diaphragm 3 having the diameter of ϕ_2 is further provided at the position at the distance L_2 to the sample 4 to be inspected, in each optical path for preventing the mixing of light, where ϕ_2 and L_2 satisfy expressions (1)-(3).例文帳に追加

さらに、光の混入を防ぐため各光路中、被検査試料４との距離がＬ_２となる位置に直径φ_２の固定絞り３を有している。 - 特許庁

To provide a blood analyzer for continuously applying a fixed pressure to a sample within a test chip for a predetermined time, and surely positioning a reagent chip at a predetermined position.例文帳に追加

試験チップ内の試料に一定の圧力を所定時間加え続け、かつ、試薬チップを所定位置に確実に位置決めすることが可能な血液分析装置を提供する。 - 特許庁

The pattern projection device includes a spatial light modulator (1) arranged at a position optically conjugate with a sample, and a controller for controlling the spatial light modulator (1).例文帳に追加

パターン投影装置は、標本と光学的に共役な位置に配置された空間光変調器（１）と、空間光変調器（１）を制御する制御装置を含んでいる。 - 特許庁

Fig.(a) is a display example in which on a beam cursor 70 showing an ultrasonic beam, a sample volume 72 showing a target position and a maximal marker 74 showing an extreme part are provided.例文帳に追加

（ａ）は、超音波ビームを示したビームカーソル７０上に、目標位置を示すサンプルボリューム７２と、極大箇所を示す極大マーカ７４を設けた表示例である。 - 特許庁

To provide an observation device which can perform terahertz wave observation and visible light observation to same observation position on a sample simultaneously or in a short time.例文帳に追加

試料上の同一の観察位置に対して、テラヘルツ波観察と可視光観察とを同時、または、短時間のうちに行うことができる観察装置を提供する。 - 特許庁

To provide a positioning device for circulating nozzle capable of easily replacing a sample vessel without impairing the reproducibility of the position of a circulating nozzle.例文帳に追加

還流ノズルの位置の再現性を損なうことなく、試料容器の交換を容易に行うことができる還流ノズル位置決め装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

For pixels in a non-error region, information on a height of the part of the sample 1 expressed by the pixels is acquired based on information on the focal position of each microscope image.例文帳に追加

非エラー領域の画素については、該画素で表されている標本１の部位の高さの情報を、各顕微鏡画像の焦点位置の情報に基づき取得する。 - 特許庁

The dispensing element 10 for dropping a sample or a reagent can be mounted/dismounted, and is equipped with a calibration part 72 for calibrating the dispensation position of the dispensing element 10.例文帳に追加

サンプル又は試薬を滴下する分注素子１０は着脱可能になっており、分注素子１０の分注位置を校正するための校正部７２を備えている。 - 特許庁

To provide a surface analyzer capable of easily adjusting samples S at a desired angle and scanning an analysis position on the surface of one sample S at various angles.例文帳に追加

試料Ｓを容易に所望の角度に調整でき、かつ、一の試料Ｓ表面上において分析位置を様々な角度で走査できる表面分析装置の提供。 - 特許庁

To provide a pulling apparatus of a silicon single crystal having a rising and falling means by which the position of a sample tube housing a sublimable dopant can be easily modified although it is miniaturized.例文帳に追加

小型でありながら、昇華性ドーパントを収容する試料管の位置を容易に修正可能な昇降手段を有するシリコン単結晶引上装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device which arbitrarily changes a pattern of light irradiating a sample and its irradiation position, with high light utilization efficiency, under various device conditions.例文帳に追加

さまざまな装置条件下で、標本に照射する光のパターンやその照射位置を、高い光の利用効率で任意に変更する顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration resistant device for precision equipment, with which a drawing material and a sample can be accurately set at the predetermined position even if the vibration is generated.例文帳に追加

被描画材料や試料を所定の位置にセットする際、振動が発生しても正確に装填することができる精密機器における除振装置を実現する。 - 特許庁

To provide a material testing machine having an excellent operability and a high precision of measurement, which can precisionally perform position adjustment for a pair of supports supporting a sample material to fix.例文帳に追加

試験材料を支持する一対の支持体を精度良く位置調整して固定することができ、作業性に優れた測定精度の高い材料試験機を提供する。 - 特許庁

At the third step, a color measurement head is moved automatically to the measurement position by the computer control and the color of the sample is measured in these measurement positions.例文帳に追加

第３のステップにおいて、コンピュータ制御により、色測定ヘッドは決定された測定位置へと自動的に移動し、これらの測定位置において試料の色が測定される。 - 特許庁

In this case, the laser beams pass through the pinhole 8 only when being focused on the sample surface, then, the focal position on the surface by XYZ scanning can be recognized.例文帳に追加

このとき試料表面に焦点が一致したときにのみピンホール９を通過することになるので、XYZ走査した表面上のピントのあったところの位置を知ることができる。 - 特許庁

To provide an ultraviolet ray microscope of which observation image is bright, the alignment of a light source can be confirmed in the middle of the observation of a sample, and the adjustment operation of a light source position is easy.例文帳に追加

観察像が明るく、標本の観察中にも光源のアライメントが確認でき、光源位置の調整作業が容易な紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The wafer 5 inside a sample observation space 8 is moved to a wafer observation position by the stage 7, and observation of surface shape and foreign materials, defect inspection, etc., are then performed.例文帳に追加

試料観察室８内のウェハー５はステージ７によってウェハー観察位置に移動され、表面形状や異物観察および欠陥検査などが行われる。 - 特許庁

Intensity of a generating fluorescent X-ray 25 is measured by irradiating to the designated part of the sample 1 carried to a measuring position M with a primary X-ray 24.例文帳に追加

測定位置Ｍに搬送された試料１の前記指定された部位に１次Ｘ線２４を照射して発生する蛍光Ｘ線２５の強度を測定する。 - 特許庁

When the separated sample arrives at the position of a measuring optical system 18, it is excited by exciting light 20 to emit fluorescence which is, in turn, detected by a detector 28.例文帳に追加

分離された試料が測定光学系１８の位置まで到達すると、励起光２０によって励起されて蛍光を発し、検出器２８により検出される。 - 特許庁

An imaging element 21 picks up an optical image of an observation sample S obtained by image-forming observation light coming via an objective lens 3 from a focusing position of an objective lens 2.例文帳に追加

撮像素子２１は、対物レンズ２の合焦位置から対物レンズ３を介して到来する観察光を結像させて得られる観察試料Ｓの光学像を撮像する。 - 特許庁

An evaluation sample 50 on which a first data mark 51 that can be read by an optical pickup and the probe is recorded at a preset position on a recording surface is adopted.例文帳に追加

記録面上の予め設定された位置に、光ピックアップおよびプローブで読み込み可能な第１データマーク５１が記録されている評価サンプル５０を採用した。 - 特許庁

A luminance change estimation part 5 detects change in luminance caused by change in position or attitude and change in illumination and generates a sample image needed for calculation for luminance correction.例文帳に追加

輝度変化推定部５は、位置または姿勢の変化、及び照明変化による輝度変化を検出して、輝度補正用計算に必要なサンプル画像を生成する。 - 特許庁

The measurement method of absorbance spectrum is a technique for performing an absorbance analysis by searching a position where an absorbance becomes spectroscopically equal even if the sample concentration is unknown.例文帳に追加

本発明においては、分光学的に吸光度が等しくなる位置を探索することで試料濃度が不明なままでも吸光度分析を行う手法を提供する。 - 特許庁

To provide a homogenizer which facilitates the charging of the next storing bag containing a sample by truing up a stoppage position of a paddle, further, stabilizes a paddle speed and achieves a higher speed and a high reliability of inspection.例文帳に追加

パドルの停止位置を揃えることにより、次の試料入り収納袋を装填し易くし、また、パドルスピードを安定化させ、検査の迅速化、信頼性を高める。 - 特許庁

To provide a focused charged particle beam processing method and a device, which perform a highly precise microprocessing by measuring the temperature of a sample in the vicinity of irradiation position of focused charged particle beams.例文帳に追加

集束荷電粒子ビーム照射位置近傍のサンプルの温度を測定し、高精度な微細加工を行う集束荷電粒子ビーム加工方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A mechanism for finding the sample is formed by performing raster scanning by predetermined high magnification ratio image frame when reaching a predetermined position and condition while performing raster scanning at low magnification ratio.例文帳に追加

低倍率でラスター走査をしながら、所定の位置・条件になると所定の高倍率画郭でラスター走査を行ない、試料を発見する機構を作成した。 - 特許庁

An image of a surface 1a and a reference identification part 2 of the sample 1 existing in an imaging position C is displayed as initialization by performing image processing by an image processing means 15.例文帳に追加

撮像位置Ｃにある試料１の表面１ａおよび基準識別部２の画像を、初期化したように画像処理手段１５で画像処理して、表示する。 - 特許庁

To provide a miniaturized scanning electron microscope enabling observation of the optional position of a large sample, and capable of easily obtaining a three-dimensional image.例文帳に追加

大型試料の任意の位置を観察することを可能にし、また、三次元立体像を容易に得ることができ小型化された走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a sample stage control method and an electron beam device in an electron beam device capable of adjusting an analysis position to a focus point of an electrospectrometer.例文帳に追加

分析位置を電子分光器のフォーカス点に合わせることができる電子線装置における試料ステージ制御方法および電子線装置を提供すること。 - 特許庁

By scanning (radial movement) a disk surface plural times, a domain varying in reflectance is detected, and plural skew error signal values for each sample position are obtained.例文帳に追加

ディスク面に対するスキャン（半径方向移動）を複数回行うことで、光反射率が変動する領域の検出と、サンプル位置ごとの複数のスキューエラー信号の値を得る。 - 特許庁

By means of the reagent carrier 16 including one or reagents to be mixed with the sample, the reagents are substantially immobilized in the known spatial position for an effective life duration (time).例文帳に追加

標本と混ぜられる１以上の試薬を含む試薬担体（１６）は、有効期間（時間）に亘ってその１以上の試薬を既知の空間位置に実質的に固定化する。 - 特許庁

To provide a method and its device for determining clearly the optimum position for irradiating laser light to a gas flow, when executing a detection method of sample molecules in a carrier gas.例文帳に追加

キャリヤガス中のサンプル分子の検出方法の実施にあたり、ガス流にレーザー光を照射する最適位置を明確に決定する方法とその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for acquiring with high sensitivity and high resolution, position information of a radioactively labeled organism-related material sample immobilized in the spot state on a porous sheet.例文帳に追加

多孔性シートにスポット状に固定された放射性標識生体関連物質試料の位置情報を高感度かつ高分解能にて取得する方法を提供する。 - 特許庁

Then, a color correction lens group 31 is positionally moved according to the offset value and set to a 2nd target focusing position, and a sample moving stage 17 is driven toward the same.例文帳に追加

そして、オフセット値に応じて色補正レンズ群３１の位置を移動し、第２の目標合焦位置に設定して、それに向けて試料移動ステージ１７を駆動する。 - 特許庁

With this, exchanging of the probe 1 can be made with the probe retaining member 2 at the shelter position, so that the sample 10 will never be damaged.例文帳に追加

これにより探針１の交換を行う際には、探針保持部材２が上記退避位置において探針１の交換ができるので、試料１０に損傷を与えることがない。 - 特許庁

To provide a sample-handling apparatus for easily measuring also a position on a liquid surface in a container which has a relatively small diameter and/or is deep.例文帳に追加

比較的小さな直径および／または深い容器内の液面の位置をもっと便利に測定できる試料取扱い装置、およびその装置の操作方法を提供する。 - 特許庁

For eliminating a variation in intensity of a scattering light by a flow position of particles, a width of beams irradiated to particles is made sufficiently large in comparison with a width of a sample flow.例文帳に追加

ここで、粒子の流れ位置による散乱光強度のばらつきをなくすために、粒子に照射するビーム幅をサンプル流の幅に比較して十分大きくしている。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device for processing and observing a sample by irradiating the sample with both an ion beam and an electron beam, which includes a common detector for both the ion beam and the electron beam, and in which the detector can be provided at a suitable position in accordance with details of processing on the sample and an observation technique.例文帳に追加

イオンビームと電子ビームの両方を試料へ照射して、試料の加工と観察を行う荷電粒子線装置において、イオンビームと電子ビームの両方に対して共通の検出器を有し、試料の加工内容や観察手法に応じて適した位置に検出器を設けることができる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of performing X-ray detection remarkably efficiently with little restriction of position relation between a detector and a sample in comparison with a conventional characteristic X-ray detection method wherein an X-ray detector is installed in front of the sample, namely, on the same side as a beam light source based on the sample surface entered by a primary beam.例文帳に追加

試料の前方、すなわち、一次ビームが入射する試料面を基準としてビーム光源と同じ側にＸ線検出器を設置する従来の特性Ｘ線検出法と比較して、検出器と試料の位置関係の制限が少なく、格段に効率よくＸ線検出を行うことができる方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

In this shape measuring instrument for measuring a shape of a sample W, for example, using a shape measuring means constituted of interferometers 1, 2, inclinations of both faces of the sample W are measured twice while changing an angle position relation between the sample W and the shape measuring means, and a calibration data is calculated based on a measured result therein.例文帳に追加

例えば干渉計１，２から構成される形状測定手段を用いて試料Ｗの形状を測定する形状測定装置Ａにおいて，試料Ｗと形状測定手段との角度位置関係を変えて試料Ｗの両面の傾きを２度測定し，その測定結果を用いて形状測定装置Ａの校正用データを算出する。 - 特許庁

A worker can bond thereby the adhesive sheet 11 in a proper position to seal the sample injection hole 5, by simple work of removing the separation paper 12 after the sample injection, and of pressing the adhesive sheet 11 onto the disk surface, and the liquid sample is surely prevented from being leaked since bonding force is prevented from getting low by touching the adhesive face.例文帳に追加

これにより、作業者は、試料注入後に剥離紙１２を取り除いて接着シート１１をディスク表面に押圧するという簡単な作業で、接着シート１１を適正な位置に貼付して試料注入孔５を封止することができ、接着面に触れて接着力が低下することもないため、液体試料の漏洩を確実に防止できる。 - 特許庁

This sample fixing table is equipped for this charged particle beam device; markings are formed on the sample fixing table; and, when an image of the sample fixing table imaged by an external imaging device is displaced from a normal position, a change of a shape (visibility in the image) according to the displacement is generated in the image of the markings.例文帳に追加

本発明による試料固定台は、荷電粒子線装置に備え付けられる試料固定台であって、試料固定台上にマーキングが設けられ、外部イメージング装置によって撮像された試料固定台の画像が正常位置から位置ずれしている場合に、マーキングの画像に位置ずれに応じた形状（画像における見え方に）変化が生じる。 - 特許庁

To prevent particles generated from a moving part of an electronic beam lens barrel from falling onto an observation face of a sample in an electronic microscope in which a floor area of a device is saved by positioning the electronic beam lens barrel at a position of observing respective points on the observation face of the sample to be retained by a sample retaining part by moving the electronic beam lens barrel.例文帳に追加

電子ビーム鏡筒を移動させることによって、試料保持部に保持される試料の観察面上の各箇所を観察する位置に電子ビーム鏡筒を位置付けることにより、装置の床面積を節約する電子顕微鏡において、電子ビーム鏡筒の移動部から発生するパーティクルが試料の観察面に落ちることを防止する。 - 特許庁