「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

The robot arm is moved to position the metering probe, which is arranged to the end part of the robot arm on the remote side of a pivot point, on one sample.例文帳に追加

ロボットアームが移動して、ピボット点の遠位側のロボットアームの端部に配置された計量プローブを１つのサンプルの上に位置付けする。 - 特許庁

With this, an edge to be an observation position of the sample is arranged on a eucentric axis, and also, structured so as to be exposed from the through-hole.例文帳に追加

それによって、試料の観察位置となる縁は、ユーセントリック軸上に配置され、且つ、貫通孔より露出するように構成されている。 - 特許庁

A nozzle 12 extends forward from the humidifier 11, and the tip of the nozzle 12 is arranged at a position opening to the top face of the sample block 1.例文帳に追加

ノズル１２は加湿器１１から前方に伸び、ノズル１２の先端は標本ブロック１の上面に対向する位置に配置されている。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope capable of accurately irradiating an aimed position in a sample with stimulating laser light even when an observing method is switched.例文帳に追加

観察方法を切換えても、試料内の狙った位置に正確に刺激レーザ光を照射できる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Here, Fn and Fm are functions of the orthonormal function system, (i) and (N) are integers, and (xi, yi) is a sampling position for measurement on a sample surface.例文帳に追加

ここで、Ｆｎ，Ｆｍは正規直交関数系の関数、ｉ、Ｎは整数、（ｘｉ、ｙｉ）は試料表面上を測定するサンプリング位置である。 - 特許庁

At the second step, a suitable measurement position is decided from the digital colored display of the sample by a computer using an image processing method.例文帳に追加

第２のステップにおいて、試料のディジタル・カラー表示から好適な測定位置が画像処理手段を用いたコンピュータにより決定される。 - 特許庁

To provide a sample analyzer capable of moving a reagent container storing a reagent desired to be replaced by a user, to the unloading position.例文帳に追加

使用者が交換したい試薬が収容された試薬容器を取出位置に移動させることが可能な試料分析装置を提供する。 - 特許庁

The management data have event IDs designating waveform processes carried out in respective corresponding sections and sample position data designating their execution positions.例文帳に追加

管理データは、対応する各区間において実行される波形処理を指示するイベントID、その実行位置を指示するサンプル位置データを有する。 - 特許庁

In this state, a hole is bored in the lens by a drill 60 and then bored in the lens at the same position with the through hole of the sample lens 130.例文帳に追加

この状態で、ドリル６０でレンズに孔を開けることにより、サンプルレンズ１３０の貫通孔と同じ位置において、レンズに孔開けを行う。 - 特許庁

To accurately identify the element contained at each scanning position on a sample in X-ray mapping to accurately obtain the concn. of the identified element.例文帳に追加

Ｘ線マッピングにおいて、試料上の各走査位置に含まれる元素の同定を正確に行い、その同定元素の濃度を正確に得る。 - 特許庁

To correct a drift of a focusing point position at a high speed in a scanning electron microscope having a function to observe featured objects on a sample.例文帳に追加

試料上の特徴物を観察する機能を有する走査型電子顕微鏡において、合焦点位置のずれを高速に補正する。 - 特許庁

After the removal of the sample of the reservoir 7s via the nozzle 17 at the position A, the buffer liquid is injected into the reservoir 7s from the nozzle 19.例文帳に追加

ポジションＡでリザーバ７ｓのサンプルをノズル１７を介して吸引除去した後、リザーバ７ｓにノズル１９からバッファ液を注入する。 - 特許庁

A reflected electron waveform 75 is stored sequentially, at each specified irradiating position on a sample, in a storage device through a reflected electron detector 63.例文帳に追加

反射電子検出器６３を介して反射電子波形７５が試料上での所定照射位置毎に、順次記憶装置に記憶される。 - 特許庁

The weighing device includes a sample receiving device 60 arranged inside the measuring device at a measurement position of the device.例文帳に追加

前記秤量装置は、当該装置の測定位置において当該測定装置の内部に配置されている試料受け取り装置（６０）を含んでいる。 - 特許庁

To provide a holder device capable of easily adjusting a position of a sample in a height direction, and a processing observation method using the holder device.例文帳に追加

試料の高さ方向の位置を容易に調節することが可能なホルダ装置、及びこのホルダ装置を用いた加工観察方法を提供する - 特許庁

An inlet port 3 presents weak suction power until the end of the insertion of the finger at the prescribed position and presents strong suction power after the end of the insertion at a position facing the surface of the finger to sample the fingerprint.例文帳に追加

吸気口３は、指の指紋採取面に相対する位置に、所定位置への指の挿入が終了するまでは弱い吸引力を維持し、挿入終了後は強い吸引力を発揮する。 - 特許庁

A first position R1 and a second position R2 are defined for a spectrum (γ-ray Compton spectrum) 100 for evaluation generated by using a β-ray standard sample and an external standard source (γ-ray source).例文帳に追加

β線標準サンプル及び外部標準線源(γ線線源)を用いて生成された評価用スペクトル（γ線コンプトンスペクトル）１００に対して、第１位置Ｒ１及び第２位置Ｒ２が定められる。 - 特許庁

The position to be analyzed by characteristic X-rays or Auger electrons is corrected by measuring the amount of sample displacement, by a position detecting means having high detection efficiency, such as secondary electrons, passed electrons or the like.例文帳に追加

検出効率が高い二次電子あるいは透過電子等の位置検出手段により試料変位量を計測して特性Ｘ線あるいはオージェ電子による分析を行う位置を補正する。 - 特許庁

This device is equipped with a shutter 7 that switches a photosensitive film 5 placed in intimate contact with a sample between a shield position where the film 5 is shielded and an exposure position where an X-ray detection means 5 is exposed to a light source.例文帳に追加

試料と密着配置された感光フィルム５を覆う遮蔽位置と、Ｘ線検出手段５を光源に対して露出させる露光位置とに切換えるシャッタ７を備えてなる。 - 特許庁

To accurately measure the concentration of impurities by region by simply and accurately specifying the axial core position of a single crystal sample (the position of a silicon core rod) prepared from a polycrystalline silicon rod by an FZ method.例文帳に追加

多結晶シリコンロッドからＦＺ法により作製した単結晶試料の軸芯位置（シリコン芯棒の位置）を簡易かつ正確に特定して、不純物濃度を部位別に正確に測定する。 - 特許庁

In the case of correcting a plotting position on a sample 317 with a batch graphic selection on a second mask 305, a correction quantity is changed, while depending on the deflection quantities of deflectors 311 and 102 for specifying a selected graphic position and the plotting position.例文帳に追加

第２マスク３０５上の一括図形選択に伴い試料３１７上の描画位置補正を行う際の補正量を、選択した図形位置と描画位置を規定する偏向器３１１，１０２の偏向量に依存して変化させる。 - 特許庁

When the sample is conveyed between the holders 10, 40, a mechanical guidance mechanism positions the holders with a mutual precision higher than the mutual precision in the second position, and the mechanical guidance mechanism does not position at least one of the holders 10, 40 when the specimen is in the second position.例文帳に追加

試料がホルダ(10,40)間を搬送されるとき、機械的案内機構は、第2位置での相互精度よりも高い相互精度でホルダを位置設定し、かつ試料が第2位置にあるときには、ホルダ(10,40)のうちの少なくとも1は位置設定されない。 - 特許庁

To provide a method of measuring an interface position capable of measuring quickly the interface position in an inside of a sample, in interface position measurement for measuring the positions of a plurality of interfaces in an inside of a transmissive substrate formed by layering a plurality of layers, using an optical system.例文帳に追加

複数の層を積層して形成された透過性基板内の複数の界面の位置を、光学系を用いて測定する界面位置測定において、試料内部の界面位置を高速に測定できる界面位置測定方法を提供する。 - 特許庁

The microscope 202 is controlled in such a manner that the microscopic images when the position of the focus is in the position after the movement are successively acquired every time the movement of the position of the focus with respect to the sample is made at the intervals of the movement by this control.例文帳に追加

そして、該制御によって標本の位置に対する焦点の位置の移動が該移動の間隔でなされる度に、該焦点の位置が該移動後の位置であるときにおける顕微鏡画像を順次取得させるように顕微鏡２０２を制御する。 - 特許庁

The sample analyzer 1 includes the pipette P, a pipette moving mechanism 160 for moving the pipette P, a position confirming member 210 disposed at a position, and a position confirming member for carrying out a position confirmation process to confirm that the pipette P is disposed at the position by moving the pipette to the position confirming member 210 with the pipette moving mechanism 160.例文帳に追加

本発明の検体分析装置１は、ピペットＰと、ピペットＰを移動させるピペット移動機構１６０と、所定位置に配置された位置確認用部材２１０と、ピペット移動機構１６０により前記ピペットを位置確認用部材２１０に移動させ、ピペットＰが所定位置に配置されたことを確認する位置確認処理を実行する位置確認実行手段と、を備える。 - 特許庁

A beam irradiation axis of an FIB lens barrel 1, a beam irradiation axis of an SEM lens barrel 2, and a first rotating axis of a rotatable table cross each other at almost a right angle at a sample observation position, the rotatable table has a support rotatable on the first rotating axis as a center; and the support connects a sample 5 to a translational mechanism which can be arranged at a sample observation position.例文帳に追加

ＦＩＢ鏡筒１のビーム照射軸と、ＳＥＭ鏡筒２のビーム照射軸と、回転可能な台の第一の回転軸が、試料観察位置でそれぞれが互いに略直交に交わり、回転可能な台が第一の回転軸を中心に回転可能な支持部を有し、支持部が試料５を試料観察位置に配置可能な並進機構と接続する。 - 特許庁

A template extracting means 13 extracts constitution elements which are arranged almost at the same position in sample pages stored in the sample page storage part 15 and have the same contents as content-matching elements and also extracts constitution elements which are arranged almost at the same position in sample pages and have different contents as different-content constitution elements.例文帳に追加

テンプレート抽出手段13は、サンプルページ記憶部15に格納されているサンプルページの内の、複数枚のサンプルページに於いてほぼ同一位置に配置され、且つ内容が同一の構成要素を内容一致構成要素として抽出すると共に、上記複数枚のサンプルページに於いてほぼ同一位置に配置され、内容が異なる構成要素を内容不一致構成要素として抽出する。 - 特許庁

This analyzing device comprises the flat plate-like reaction vessel having a plurality of reagents spotted in different positions, a sample feeding mechanism for feeding a sample to the reaction vessel, and a measuring mechanism for radiating light to every position to which the reagents are spotted on the reaction vessel to which the sample is supplied by the sample feeding mechanism, and measuring a detected optical signal.例文帳に追加

異なる位置に複数の試薬が点着された平板状の反応容器と、該反応容器に試料を供給する試料供給機構と、該試料供給機構により試料が供給された反応容器上の前記複数の試薬が点着された位置毎に光を照射し、検出される光信号を測定する測定機構と、を備えた分析装置。 - 特許庁

This electron microscope is provided with the visible light imaging part for imaging a visible light observation image which is attached to the sample table 33 movable at least on the XY plane, and the visible light imaging part is adjusted in a position and an angle in which the visible light observation image of the sample mounted on the sample table 33 is imaged in a state being attached to the sample table 33.例文帳に追加

この電子顕微鏡は、少なくともＸＹ平面上を移動可能な前記試料台３３上に装着される、可視光観察像撮像用の可視光撮像部を備え、可視光撮像部は試料台３３に装着された状態で、試料台３３上に裁置される試料の可視光観察像を撮像可能な位置及び角度に調整されている。 - 特許庁

A reference position calculating section 91 determines a new position of the reference point on a newly acquired ultrasonic image from the brightness information of the reference point and a position determining section 92 obtains a new position of the sample line on a newly acquired ultrasonic image from the above new position and the above relative positional relation.例文帳に追加

基準位置算出部９１は、基準ポイントの輝度情報に基づいて、新たに取得された超音波画像上における基準ポイントの新たな位置を求め、位置決定部９２は、その新たな位置と上記相対的な位置関係とに基づいて、新たに取得された超音波画像上におけるサンプルラインの新たな位置を求める。 - 特許庁

The respective boats produce heat by electric resistance including in themselves, and they evaporate or sublime a given sample (Ge or Mn) by the heat, and the sample is deposited on a substrate that is located at a specified position within the deposition apparatus.例文帳に追加

それぞれのボートは、自身が備える電気抵抗により熱を発生し、この熱により盛られた試料（Ｇｅ又はＭｎ）を蒸発又は昇華させ、蒸着装置内の所定の位置に配置された基板に蒸着させる。 - 特許庁

A CPU 102 determines an insertion position where the operation stylus 30a should be inserted into a sample in a sample container S and an insertion direction in which the operation stylus 30a should be inserted while taking conditions set by an operator into consideration.例文帳に追加

ＣＰＵ１０２は、標本容器Ｓに入っている標本に操作針３０ａを刺すべき挿入位置、及びその操作針３０ａを刺すべき挿入方向を、作業者が設定する条件を考慮して決定する。 - 特許庁

Thereafter, the speed of the relative movement of the probe and the sample is detected by relatively moving the probe and sample (tracking the feature point S1c) so as to keep this state (S1d) and the control of the relative position is corrected using the detected speed (S2).例文帳に追加

その後、その状態が維持されるように探針と試料を相対的に移動させる(特徴点を追跡する、S1c)ことにより該相対移動の速度を検出し(S1d)、検出された速度を用いて前記相対位置の制御を補正する(S2)。 - 特許庁

When a dimension of a sample is greater than a standard sample thickness, a position of the angle 8 is adjusted so that a distance C between the rotation center of the rod 4 and an upper face B of an X-Y inplane rotational plate 11 is increased.例文帳に追加

標準の試料厚さよりも大きな寸法の試料の場合は、アングル８の位置を調節して、ロッド４の回転中心の位置ＡとＸ−Ｙ面内回転プレート１１の上面Ｂとの距離Ｃを大きくする。 - 特許庁

To provide a sample holding device capable of coping with both X-ray diffraction measurements of a transmission method or a reflection method, holding a plurality of samples, and arranging an optional portion of each held sample on an X-ray irradiation position.例文帳に追加

透過法と反射法、いずれのＸ線回折測定にも対応可能で、複数の試料を保持でき、しかも保持した各試料の任意の部位をＸ線照射位置へ配置することができる試料保持装置を提供する。 - 特許庁

An electrical connection member 200 is electrically connected to the sample 100 positioned on a wheel 40, and a coil spring 204 energizes the electrical connection member 200 to the sample 100 side positioned on an inspection position M of the wheel 40.例文帳に追加

電気接続部材２００は、ホイール４０に位置決めされた試料１００に対して電気的に接続し、コイルバネ２０４は、ホイール４０の検査位置Ｍに位置決めされた試料１００側に電気接続部材２００を付勢する。 - 特許庁

The quantitative determination is carried out by moving the metal sample and the counter electrode respectively to the optimum position the element by the element, in emission spectrochemical analysis of executing spark discharge many times between the metal sample and the counter electrode under an inert gas atmosphere.例文帳に追加

不活性ガス雰囲気にて金属試料と対電極との間で多数回のスパーク放電を行なう発光分光分析にて、各元素ごとに金属試料と対電極とをそれぞれ最適の位置に移動させて定量する。 - 特許庁

To evade failure in X-ray analysis caused by coming-out from a sample position where an X-ray is efficiently taken in, when executing the X-ray analysis following to sample observation by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡による試料観察に引き続いてＸ線分析を実行する場合に、試料の位置がＸ線を効率良く取り込める位置から外れていることでＸ線分析が失敗してしまうことを回避する。 - 特許庁

In this electron microscope, the electrons are applied to a sample on the basis of the predetermined image observing condition, and a desired position of the sample can be observed with a desired observing magnification by detecting the secondary electrons or reflected electrons.例文帳に追加

電子顕微鏡は、所定の像観察条件に基づいて電子を試料に照射し、二次電子または反射電子を検出することで、試料の所望の位置を所望の観察倍率にて像観察することが可能である。 - 特許庁

In the image display device, a chromaticity diagram (color sample image) 32 where a color sample of each color defined by a chromaticity coordinate (color coordinate) is displayed in a position corresponding to the chromaticity coordinate is displayed and a cursor 31 is displayed on the chromaticity diagram 32.例文帳に追加

本発明の画像表示装置は、色度座標（色座標）で定義される各色の色見本を色度座標に対応した位置に表示した色度図（色見本画像）３２を表示し、色度図３２上にカーソル３１を表示させる。 - 特許庁

To obtain correct results from a measurement, even if the distance from an X-ray source or a detector to the measuring surface of a sample is changed, according to the switching of plural samples or the change of a sample position.例文帳に追加

Ｘ線源や検出器から試料の測定面までの距離が複数の試料の切り換えや試料の位置の変更に応じて変化しても正しい測定結果が得られるような蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

The control section generates a plurality of sets of sample shot from a plurality of shot regions on the substrate, and makes the measuring instrument measure the position of an alignment mark, respectively, under a plurality of measurement conditions for each of the plurality of sets of sample shot.例文帳に追加

制御部は、基板上の複数のショット領域から、複数のサンプルショットセットを生成し、複数のサンプルショットセットのそれぞれに関し、複数の計測条件のそれぞれで計測器にアライメントマークの位置を計測させる。 - 特許庁

In a peak profile by 2θ scanning obtained on an optional sample 1, background estimation intensity obtained on the sample 1 and the registered background measurement angle position serving as the basis for estimation of the background estimation intensity are displayed while overlapped to the profile.例文帳に追加

任意の試料１について得られた２θスキャンのピークプロファイルに、その試料１について得られたバックグラウンド推定強度とその推定のもととなった登録されているバックグラウンドの測定角度位置を重ねて表示する。 - 特許庁

To provide a high-speed position control system for a stable sample table by which noises caused by thermal drift and vibration can be suppressed without being affected by a driving condition such as a gap initial state, etc. in a sample stage apparatus.例文帳に追加

試料ステージ装置における、ギャップの初期状態等の駆動条件に影響されることなく、熱ドリフトや振動によるノイズを抑えることが可能で、安定した試料テーブルの高速な位置決め制御方式を提供する。 - 特許庁

To provide a sample preparing apparatus and sample preparing method for properly providing analyte-related information on a predetermined area of a slide glass even when glass pieces, dust and the like are attached to the predetermined position of the slide glass.例文帳に追加

スライドガラスの所定位置にガラス片や埃などが付着した場合にも、検体関連情報をスライドガラスの所定位置により良好に付与することが可能な標本作製装置および標本作製方法を提供する。 - 特許庁