「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The intensity of the reflected light from the recessed part of the sample is detected while moving the sample in an optical axis direction, so as to detect a position in the optical axis direction, where the intensity of the reflected light becomes the largest.例文帳に追加

試料を光軸方向に移動させながら試料の凹部からの反射光強度を検出し、反射光強度が最大となる光軸方向の位置を検出する。 - 特許庁

To appropriately correct optical aberration caused by the thickness of a cover glass and a transmissible sample holding member even in the case of changing the position of the focus of an objective lens relative to a sample.例文帳に追加

対物レンズの焦点の試料に対する位置を変化させても、カバーガラスや透過性の試料保持部材の厚さに起因する光学的な収差が適切に補正されるようにする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correctly position a probe in a short time to an observation point of a sample without making the probe approach the surface of the sample.例文帳に追加

探針を試料表面にアプローチさせること無く、試料の観察ポイントに対して探針を短時間且つ正確に位置決めさせることが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the method of measuring distribution of molecular weight by utilizing laser-induced plasma shockwaves, first a sample for mounting a capillary introducing gel carrying a sample is mounted to a prescribed position of a stage (A).例文帳に追加

レーザー誘起衝撃波を利用した分子の分子量分布の測定方法は、まず、試料を担持したゲルを導入したキャピラリーを取り付けたサンプルをステージの所定の位置に取り付ける（Ａ）。 - 特許庁

To enable a user to visually recognize a sample gate which is set in three-dimensional space and to grasp a position, size and shape of the sample gate particularly in relation to the tissue.例文帳に追加

三次元空間内に設定されたサンプルゲートをユーザーが視覚的に認識できるようにし、特に、組織との関係において、サンプルゲートの位置、大きさ、形状などを把握できるようにする。 - 特許庁

To provide an evaluating method of an internal defect of a sample capable of exactly evaluating the existence of the defect, even when the sample has the defect even at a position considerably deep from the surface.例文帳に追加

表面より十分に深い位置にまで欠陥を有する試料であっても、欠陥の有無を的確に評価できる試料内部欠陥の評価方法を提供すること。 - 特許庁

Based on the AFM observation, a four-terminal probe unit 1 is positioned to a measuring position of the sample, probes 11a-14a are brought into contact with the sample, and the electric characteristic is measured.例文帳に追加

そして、そのＡＦＭ観察に基づいて、４端子プローブユニット１を試料の計測位置に位置決めし、プローブ１１ａ〜１４ａを試料に接触させて電気特性を計測する。 - 特許庁

To realize a focus detecting device and an autofocusing microscope by which the position of a sample surface is highly accurately and easily detected even though the sample has unevenness on its surface and which are easily assembled.例文帳に追加

表面に凹凸のある試料であっても、試料表面の位置を高精度且つ容易に検出可能で、組立も容易な焦点検出装置及び自動焦点顕微鏡の実現。 - 特許庁

When the plane mirror 9 located in a position indicated by a solid line, the light from the laser 15 is reflected by the plane mirror 9 therein to reach the sample cell 11, and the absorbance by a sample is measured.例文帳に追加

平面ミラー９が実線で示される位置にあるときはレーザー１５からの光が平面ミラー９により反射され試料セル１１に到達し、試料による吸光度が測定される。 - 特許庁

A transmittance measuring section irradiates a sample which is set at a transmittance measurement position, with terahertz pulse light, detects a portion of the terahertz pulse light transmitted through the sample and outputs a transmitted light detection signal.例文帳に追加

透過測定部は、透過測定位置にセットされた試料にテラヘルツパルス光を照射し、当該試料を透過したテラヘルツパルス光を検出して透過光検出信号を出力する。 - 特許庁

Control DNA, wherein a labelling substance different from a DNA sample is added to a mixture of wild type DNA constituting sample DNA and SNP type DNA, is mixed with sample DNA to obtain a new DNA sample and this new DNA sample is allowed to flow through the same flow channel to perform the timewise position comparison to control DNA to diagnose and discriminate the type of DNA contained in sample DNA in a real time.例文帳に追加

サンプルＤＮＡを構成しているワイルドタイプのＤＮＡとＳＮＰタイプＤＮＡの混合物にＤＮＡサンプルとは異なる標識物質を付加したコントロールＤＮＡをサンプルＤＮＡと混合して新ＤＮＡサンプルとし、これらを同一流路にて流して、コントロールＤＮＡに対する時間的な位置比較をすることにより、リアルタイムでサンプルＤＮＡに含まれているＤＮＡのタイプが診断・判定する。 - 特許庁

The surface treatment apparatus S comprises a sample stage 12 supporting a sample 43, a plasma discharging electrode 20 having a porous body 21 located to the position facing the surface to be treated of the sample 43 put on the sample stage 12, and a gas passage 15 supplying a prescribed gas between the plasma discharging electrode 20 and the sample 43 put on the sample stage 12 through the porous body 21.例文帳に追加

プラズマ処理装置Ｓは、試料４３を支持する試料ステージ１２と、試料ステージ１２に支持されている試料４３の被処理面に対向する位置に設けられ、多孔質体部２１を有するプラズマ放電電極２０と、プラズマ放電電極２０と試料ステージ１２に支持されている試料４３との間に多孔質体部２１を介して所定のガスを供給可能な主ガス流路１５とを備えている。 - 特許庁

The sensor face 13a is arranged at a position facing to a flow passage 16 injected with a solution 21 containing the sample.例文帳に追加

試料を含む溶液２１が注入される流路１６と対向する位置にはセンサ面１３ａが配置されている。 - 特許庁

The velocity of shear wave of the sampled core sample is measured by age of optional material, and strength of the soil in the original position is evaluated.例文帳に追加

採取したコア供試体のせん断波速度を、任意の材齢で測定し、原位置地盤の強度を評価する。 - 特許庁

A sample gate central position is appointed by the user using three sections which intersect at right angles to the inside of the three-dimensional space.例文帳に追加

三次元空間内に対して直交する３つの断面を用いてサンプルゲート中心位置がユーザー指定される。 - 特許庁

A pressure limiting aperture (PLA) is placed in a diaphragm between an objective lens in the ESEM (R) and a sample position.例文帳に追加

圧力制限アパーチャ(PLA)が、ESEM（登録商標）の対物レンズと試料位置との間のダイアフラム内に設けられている。 - 特許庁

After that, when intermittent standby period is set, sample data is recorded in the next recording position and R-OPC is performed.例文帳に追加

その後、間欠待機期間が設定されると、次の記録位置にサンプルデータが記録されＲ−ＯＰＣが実行される。 - 特許庁

A sample tube 6 is inserted from a vertical bore 8a on this position, and an NMR signal is measured from the probe coil 5.例文帳に追加

この位置においてサンプル管６を垂直ボア８ａから挿入し、プローブコイル５からＮＭＲ信号を測定する。 - 特許庁

To provide a microtome capable of regulating finely a position of a sample support mechanism along an axial direction of a male screw.例文帳に追加

試料支持機構の位置の微調整を雄ネジの軸心方向に沿って行うことができるミクロトームを提供する。 - 特許庁

To provide a focused ion-beam device capable of accurately setting a processing-position, without giving damages on a sample.例文帳に追加

試料へのダメージを最小化し高精度の加工位置決めを行うことができる集束イオンビーム装置を提供する。 - 特許庁

In a phase shifting FMCW (frequency-modulated continuous wave) ultrasonic Doppler system, Doppler information is selectively extracted from the position of the sample volume.例文帳に追加

位相シフト型ＦＭＣＷ超音波ドプラシステムでは、サンプルボリュームの位置から選択的にドプラ情報が抽出される。 - 特許庁

Then, if intermittent standby period is set, sample data is recorded on the following recording position, and R-OPC is executed.例文帳に追加

その後、間欠待機期間が設定されると、次の記録位置にサンプルデータが記録されＲ−ＯＰＣが実行される。 - 特許庁

The sure position of the inserts (groups) is facilitated by using vacuum sample processing with automated liquid handlers.例文帳に追加

挿入物（群）の確実な位置は、自動化された液体取り扱い器具を用いる真空試料処理の使用を容易にする。 - 特許庁

The stage 12 is moved by a stage moving mechanism 14, and the non-abrasion region of the sample 11 is positioned at a measuring position.例文帳に追加

ステージ１２をステージ移動機構１４で移動させ、試料１１の非擦傷領域を測定位置に位置させる。 - 特許庁

A prescribed voltage is applied to the reservoir through an electrode 41 at a position C to inject the sample into a passage for separation.例文帳に追加

ポジションＣで電極４１を介してリザーバに所定の電圧を印加してサンプルを分離用流路に注入する。 - 特許庁

The position and width of the sample volume are set by using a tomographic image to be formed by a tomographic image forming part 46.例文帳に追加

サンプルボリュームの位置と幅は、断層画像形成部４６によって形成される断層画像を利用して設定される。 - 特許庁

The sensor face 13a is arranged at a position facing a flow passage 16 to be injected with a solution containing the sample.例文帳に追加

試料を含む溶液が注入される流路１６と対向する位置にはセンサ面１３ａが配置されている。 - 特許庁

Charge removal processing is carried out, by reciprocating a dispensing nozzle horizontally between the center of an opening part of a sample container and a prescribed neighboring position in an opening edge of the sample container, before sucking a sample liquid by a dispensing nozzle (step S8).例文帳に追加

分注ノズルによって試料液を吸引する前に、試料容器の開口部の中心と、該試料容器の開口縁の所定の近接位置との間で分注ノズルを水平方向に往復移動する除電処理を行う（ステップＳ８）。 - 特許庁

The spark discharge emission spectral analysys method, which quantifies an element contained in an analyzing sample, on the basis of the spectral line obtained by spark discharge caused between the placed and fixed analyzing sample and the electrode provided at the position opposed to the analyzing sample, is improved.例文帳に追加

分析試料を載置、固定し、該分析試料に対向する位置に設けた電極との間でスパーク放電して得られたスペクトル線に基づき、該分析試料が含有する元素を定量するスパーク放電発光分光分析方法を改良した。 - 特許庁

To provide a method for finding a minute sample scattered widely on a substrate in a short time and provide a method for securely moving the sample to an arbitrary position on the substrate by a probe of a scanning probe microscope with reduced damages of the probe and the sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

The delay network interpolates the interpolated data that are up-sampled to provide interpolated data samples that are delayed and up-sampled before and after an original sample position according to a 2nd sample interval providing higher resolution than that of the 1st sample interval.例文帳に追加

遅延ネットワークは、アップサンプリングされた補間済みデータを補間して、第１のサンプル間隔より解像度の高い第２のサンプル間隔に従い、かつオリジナルのサンプル位置の前後にある、遅延およびアップサンプリングされた補間済みデータサンプルを提供する。 - 特許庁

Treatment which has little dispersion all over a sample and is close to desired setting can be carried out by performing partial treatment repeatedly for a sample all over the sample and carrying out treatment in each position separately optimally.例文帳に追加

試料に対し、部分的な処理を繰り返して試料全面に渡って行い、それぞれの位置での処理を個別に最適になるように行うことで、試料全域に渡ってばらつきが少なく、所望の設定に近い処理を行うことができる。 - 特許庁

The difference between the inherent sample delay time and the desired delay time is saved and inserted by the interface electronics during position measurement such that the calibrated sample time is consistently the desired sample delay time.例文帳に追加

この内在するサンプリング遅延時間と望ましい遅延時間の間の差が保存され、位置測定の間にインターフェース・エレクトロニクスによってそれが挿入されて、その結果、補正後のサンプリング遅延時間と望ましい遅延時間の一貫性が得られる。 - 特許庁

A sample stage 12 for holding the sample 13 is made movable in two axial directions of an X-axis and a Y-axis and the intensities of the photoluminescence (PL) of respective sections are measured while stepwise altering an exciting light irradiation position over the whole of the sample 13.例文帳に追加

試料１３を保持する試料ステージ１２をＸ軸、Ｙ軸の二軸方向に移動可能とし、試料１３全体に亘って励起光照射位置をステップ状に変更しながら各区画のフォトルミネッセンス（ＰＬ）強度を測定する。 - 特許庁

The sample container 24 which houses a measuring sample 22 and the sample container 24 which houses a reference substance 23 are respectively inserted in a pair of the holes 43 to be placed on the heat-sensitive plate 16 at a predetermined position.例文帳に追加

一対の穴４３のそれぞれに、測定試料２２を収容した試料容器２４、および基準物質２３を収容した試料容器２４を挿入することによって、感熱板１６上の所定位置にそれらの試料容器２４を載置する。 - 特許庁

To provide a method for detecting microscopic sample dispersed widely on substrate, in a short time, and to provide a method for surely moving the sample to any little position on the substrate, by using probe of the scanning probe microscope with little damage on the probe/sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus for automatically forming a sample for inspecting a specimen by accurately feeding a prescribed amount of a sample liquid only to a prescribed position of a Petri dish without the direct feeding of the sample liquid by an operator to the Petri dish.例文帳に追加

作業者がシャーレに直接試料液を供給することなく、試料液の所定量をシャーレの所定位置のみに正確に供給して、検査サンプルを自動的に作成できる検体検査サンプル自動作成装置を提供すること。 - 特許庁

A controller 1 detects position information of a head for write processing at each predetermined time, and for each detected position information, calculates predicted head position information of a next sample, based on the difference between position information detected at the previous time and position information detected at this time, and the position information detected at this time.例文帳に追加

制御装置１は、ライト処理を行うヘッドの位置情報を所定の時間ごとに検出し、検出された位置情報ごとに、前回検出された位置情報と今回検出された位置情報との差分と今回検出された位置情報に基づいてヘッドの次サンプルの予測位置情報を算出する。 - 特許庁

In the loop playback processing in one playback processing task, the CPU 12 outputs each sample after a beat point sample to be a readout position to a sound system 19 one by one in synchronization with a clock signal while shifting the readout position of the sample to a rear beat point sample in sound waveform data every time a beat signal is generated by a beat signal generation part 15.例文帳に追加

１つの再生処理タスクにおけるループ再生処理において、ＣＰＵ１２は、拍信号発生部１５が拍信号を発生するたびに、サンプルの読み出し位置をその音波形データにおける後方の拍点サンプルへとシフトしつつ、読み出し位置となった拍点サンプル以後のサンプルの各々をクロック信号と同期してサウンドシステム１９へ１つずつ出力する。 - 特許庁

The method for controlling the distance between a light probe and a sample is carried out by detecting the focus position of the propagating beam exiting from a light probe 13 and controlling relative positions of the light probe 13 and a sample 2 so as to align the focus position onto the measurement surface 2a of the sample 2, for a wide range measurement using propagating light.例文帳に追加

伝播光を用いた広範囲測定を行う際に、光プローブ１３から射出する伝播光束の焦点位置を検出し、この焦点位置が試料２の被測定面２ａとなるように上記光プローブ１３と試料２との相対位置を制御する光プローブと試料間距離の制御方法。 - 特許庁

This fluorescent X-ray analyzer is equipped with a sample stand 3 for supporting the sample S; an X-ray source 4 for irradiating the center of a prescribed irradiation position P1 with a primary X-ray P; and a detector 5 arranged toward the irradiation position P1, for detecting a fluorescent X-ray Q generated from the sample S.例文帳に追加

蛍光Ｘ線分析装置は、試料Ｓを支持する試料台３と、所定の照射位置Ｐ１を中心として一次Ｘ線Ｐを照射するＸ線源４と、照射位置Ｐ１に向って配置され、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線Ｑを検出する検出器５とを備えている。 - 特許庁

The sample holder 14 is equipped with a means, having a mechanism of inclination and rotation, in addition to the movement of the position of the sample or a means for altering the position of the lens barrel 1 of the scanning electron microscope and a reflected electron detector 12, to make the lens barrel 1 and the reflected electron detector 12 face the surface of the sample.例文帳に追加

前記試料ホルダ１４は、試料位置の移動に加え傾斜と回転の機構を有するか、前記走査型電子顕微鏡の鏡筒１と反射電子検出器１２の位置を変更し、前記鏡筒１と反射電子検出器１２を前記試料表面に対向させるための手段を備える。 - 特許庁

An escape depth of the fluorescent X-ray is deeper than that of the photoelectron, the detected fluorescent X-ray has elementary information in a position of about several μm of depth from a sample surface, and the elementary information in a position deeper than that of the sample elctrode surface is provided based on an analyzed result of the second sample analyzing means 22.例文帳に追加

蛍光Ｘ線の脱出深さは光電子の脱出深さに比べて深く、検出された蛍光Ｘ線は試料表面から約数μｍのところの元素情報を有しており、第２の試料分析手段２２の分析結果から、試料極表面より深いところの元素情報を得ることができる。 - 特許庁

A camera scans the sample and generates a position signal in accordance with detection of the high-contrast characteristic part 204, and this position signal enables accurate positioning of a measuring sensor.例文帳に追加

カメラは試料を走査し、高コントラスト特徴部２０４の検出に応じて位置信号を生成し、この位置信号は、測定センサの正確な位置決めを可能とする。 - 特許庁

The defective part is detected from the difference of brightness from a normal part of the sample surface by the image analysis, and an analysis position is extracted so that the analysis position avoids the defective part.例文帳に追加

画像解析により試料表面の正常部との輝度の違いから欠陥部を検出して、分析する位置が欠陥部を避けるように分析位置を抽出する。 - 特許庁