「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

This centrifuge measuring machine is equipped with a turntable having a holding part for holding a sample container for storing a sample inside, a high-speed rotation part for rotating the turntable at high speed, and a fixed position moving part for positioning the turntable on a prescribed angle position.例文帳に追加

遠心測定機は、内部に試料を収容する試料容器を保持する保持部を有するターンテーブルと、このターンテーブルを高速回転させる高速回転部と、ターンテーブルを所定角度位置に位置決めする定位置移動部とを備える。 - 特許庁

The individual alpha values estimated for each sample position are then individually compared with a threshold alpha value defined for the alpha test and the result of this alpha test comparison is used to decide either to keep or to discard the sample position from further processing.例文帳に追加

サンプル位置ごとに推定された個々のアルファ値が、アルファテスト用に定義されたしきいアルファ値と個別に比較され、このアルファテスト比較の結果が、さらなる処理からのサンプル位置の保存または破棄のいずれを行うかを判断するのに使用される。 - 特許庁

To obtain all at once an X-ray locking curve on each position on a sample, and to measure an area map of a lattice constant on the sample in a short time, by using a two-dimensional position sensitive X-ray detector in a precise measuring method of the lattice constant.例文帳に追加

格子定数の精密測定法において２次元の位置敏感型のＸ線検出器を用いることにより、試料上の各位置におけるＸ線ロッキングカーブを一挙に得て、試料上の格子定数のエリアマップを短時間で測定する。 - 特許庁

In this fault analyzer, when analyzing a fault position of a semiconductor device by a liquid crystal analysis, a bias voltage or the like applied to the semiconductor device sample 1 is changed by control of a control part 14 to pinpoint the fault position of the semiconductor device sample 1.例文帳に追加

半導体装置の不良箇所を液晶解析によって行う際、制御部１４の制御により、半導体装置試料１に印加するバイアス電圧等を変更して、半導体装置試料１の不良箇所の絞り込みを行う。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of removing extraneous matter like dust or foreign substances obstructing observation of a sample surface or a processing position in a sample just before the observation and processing of the sample, by providing a sample exchanging device of the charged particle beam device with a removing function.例文帳に追加

荷電粒子線装置で試料において、試料表面の観察や加工部位に妨げとなる付着物等のゴミや異物を除去することを目的としており、荷電粒子線装置の試料交換装置に除去機能を有することで試料の観察，加工時直前に実施でき付着物を着実に除去できる。 - 特許庁

Since a series of operations, wherein a sample S fed to an analyzing position by a start command is irradiated with X-rays and the intensity of fluorescent X-rays generated from the sample S is measured and a group to which the sample S belongs, is selected to quantitatively analyze the sample S are executed, analytical operation can be executed easily.例文帳に追加

スタート指令により、分析位置に搬送された試料ＳにＸ線を照射し、試料Ｓから発生する蛍光Ｘ線の強度を測定し、試料Ｓが属するグループを選択して、試料Ｓを定量分析するという一連の動作が行われるので、分析操作を容易に行うことができる。 - 特許庁

In addition, a sample stage 2 for fixing the position of the shielding plate 5 and holding the sample 3 is moved in a two-dimensional plane, whereby scanning for moving the irradiation part 4 of the particle beam on the sample 3 is carried out, and thereby two-dimensional distributions of qualitative information and quantitative information in a predetermined range on the sample 3 can be acquired.例文帳に追加

さらに、この遮蔽板５の位置を固定し試料３を保持する試料ステージ２を二次元面内で移動させることにより、試料３上での粒子線の照射部位４を移動させる走査を行い、それにより試料３上の所定範囲の定性情報や定量情報の二次元分布を取得可能とする。 - 特許庁

In the biological sample discriminating device, when a DNA conjugate is filled into a channel 21, formed in the plate for biological sample discrimination and a fixed quantity of collected biological sample is subjected to electrophoresis therein, and detection of the position of the channel 21 is performed by detecting the biosample held in a sample-folding part 9 or in the channel 20.例文帳に追加

生体サンプル判別用プレートに形成された流路２１にＤＮＡコンジュゲートを充填し、一定量を採取した生体サンプルをその中で電気泳動させるにあたって、流路２１の位置の検出を、サンプル保持部９または流路２０に保持した生体サンプルを検出することによって行う。 - 特許庁

Since the sample bonding face 10 is formed in the position lowered by 40μm from the shielding material guide face 13 by this manner, the sample 7 is brought into a state projected frontwards by 60μm from the shielding material guide face 13 as shown in Fig.(d), when the sample 7 with 100μm of thickness is attached onto the sample bonding face 10.例文帳に追加

このように試料貼付け面１０が遮蔽材ガイド面１３より４０μｍだけ下がった位置に形成されているため、厚さ１００μｍの試料７を試料貼付け面１０に取り付けると、図２（ｄ）に示すように、試料７が遮蔽材ガイド面１３より６０μｍだけ前に出た状態となる。 - 特許庁

To provide a structure with which the movement to another well or the overflowing of a sample is prevented when a small amount of sample is injected into a well, the position of the injected sample in the well is adjusted, or the injected sample can be moved to a next well under control.例文帳に追加

本発明は、ウエルに微量の試料を注入する際に試料が他のウエルに移動し、或いは溢れ出ることを防止するための構造、及び注入された試料のウエル内における位置を調整し、或いは、次のウエルに制御しながら試料を移動させることができる構造を提供することを目的とする。 - 特許庁

When the sample 3 to be analyzed reaches a measurement position by the travel of the sample stand 1, a displacement sensor 12 measures the amount of displacement in the height of the upper surface of the sample 3, and an amount-of-displacement correction control section 17 drives a displacement drive section 16 based on the measurement value and finely moves the sample stand 1 in the direction of Z axis.例文帳に追加

試料台１の移動により分析対象のサンプル３が測定位置に来たとき、変位センサ１２はそのサンプル３上面の高さの変位量を計測し、変位量補正制御部１７は計測値に基づいて変位駆動部１６を駆動して試料台１をＺ軸方向に微小移動させる。 - 特許庁

When a pattern on another wafer with the same pattern as the one used last time baked in the same alignment or on the same wafer as the one used last time is observed, the previous movement target instruction position to the sample stage is changed in consideration of the previous observation visual field position slippage registered in the corresponding observation position, and the sample stage is moved according to the instruction position.例文帳に追加

先と同じパターンを同じ配列で焼き付けされた別のウェーハ又は先と同じウェーハ上のパターンの観察を行うときに、対応する観察位置に登録された前回までの観察視野位置ずれ量を考慮して前回までの試料ステージへの移動目標指示位置に変更を加え、その指示位置に従い試料ステージを移動させる。 - 特許庁

A CPU 21 functions as a head movement detecting means whenever a position error is calculated in a head positioning period of control, and detects head movement in which movement quantity of a head 12 exceeds the prescribed movement quantity by comparing a position error (previous sample) held in a register 201 with the calculated position error (position error of present sample).例文帳に追加

ＣＰＵ２１はヘッド位置決め制御の期間において位置誤差が算出される毎にヘッド移動検出手段として機能して、レジスタ２０１に保持されている位置誤差（前サンプルの位置誤差）と当該算出された位置誤差（現サンプルの位置誤差）とを比較することで、ヘッド１２の移動量が規定の移動量を超えるヘッド移動を検出する。 - 特許庁

To inexpensively form a mark showing the position of a probe to a cantilever with high precision, without laboring, and to accurately align the leading end position of the probe with the target measuring start position of a sample using the mark.例文帳に追加

探針の位置を示すマークを、手間をかけずに安価且つ高精度にカンチレバーに形成すると共に、該マークを利用して探針の先端位置を試料の狙った測定開始位置に対して正確に位置合わせすること。 - 特許庁

A Boolean input value has a specified position (X_d, Y_d) in the departure space and designates the other input values having the same position as being non-valid if the position is outside the set of image sample values [SV].例文帳に追加

ブール入力値は出発空間内の特定の位置（ｘ_ｄ，ｙ_ｄ）を有し且つ、位置が画像サンプル値[ＳＶ]の組の外側である場合には、有効でないとされているのと同じ位置を有する他の値を指定する。 - 特許庁

To provide an absolute surface reference which makes it possible to automatically correct a shift in the position of a glass sample relative to one plane.例文帳に追加

一つの平面に対するガラス検体の位置の変動を自動的に補正し得る絶対的表面基準を提供する。 - 特許庁

In this capillary electrophoresis device, a sensor for identifying the kind of a sample container is fixed in a position apart from a capillary cathode end.例文帳に追加

本発明によると、キャピラリ陰極端より離れた位置に試料容器の種類を識別するセンサが固定されている。 - 特許庁

Diffracted X-rays from each position on the sample 28 are detected respectively on different positions on the X-ray detector 30.例文帳に追加

試料２８上の各位置からの回折Ｘ線は、Ｘ線検出器３０上において別個の位置でそれぞれ検出される。 - 特許庁

Each of the antenna 46 is able to read the IC tag when the sample rack 10 is located in the stopping position corresponding thereto.例文帳に追加

各アンテナ４６は、サンプルラック１０が各々に対応する停止位置にある場合にＩＣタグを読み取り可能となっている。 - 特許庁

At least two analysis units 20a and 20b take a sample from the specimen at the same sucking position.例文帳に追加

前記少なくとも２つの分析ユニット２０ａ、２０ｂが、同一の試料吸引位置において、前記試料のサンプリングを行う。 - 特許庁

The microscope 1 determines the focusing position where the objective lens 15 is focused to the sample SP based on the AF evaluation value.例文帳に追加

そして、顕微鏡１は、ＡＦ評価値に基づいて、対物レンズ１５がサンプルＳＰに対して合焦する合焦位置を決定する。 - 特許庁

Before analysis, an operator inputs characters and symbols for specifying a sample or its engraving position from an input part 21.例文帳に追加

分析前にオペレータは入力部２１より試料を特定するための文字記号やその彫刻位置などを入力しておく。 - 特許庁

To adjust a condensing position of light in a more simple manner, when irradiating a sample with light of a plurality of different wavelengths.例文帳に追加

複数の異なる波長の光を試料に照射する場合に、光の集光位置をより簡単に調整できるようにする。 - 特許庁

An operator confirms the kind of electric wire and a mounting position by the sample electric wire S, and performs insertion and mounting work of the electric wire.例文帳に追加

作業者はサンプル電線Ｓで電線の種類及び取付位置を確認して、電線の挿入取付作業を行う。 - 特許庁

To provide a rotation center searching method and a rotation center searching system for specifying a rotation center position of a sample pedestal.例文帳に追加

試料台の回転中心位置を特定する回転中心探索方法及び回転中心探索システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscopic device capable of easily setting the needle point of an operation needle to the vicinity of the target position of a sample.例文帳に追加

操作針の針先を標本の目標位置近傍に容易にセットすることが可能な顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁

A first image of high picture quality and high magnification including an image of a target position of the object to be inspected which is on a sample is acquired.例文帳に追加

試料上の検査対象における目標位置の像を含む高画質且つ高倍率の第１の画像を取得する。 - 特許庁

To provide a position adjusting mechanism capable of easily setting a sample to be faced to the tip of a probe in the axial direction of the probe.例文帳に追加

プローブの軸方向に沿ってプローブの先端と向き合うように試料を容易にセットできる位置調整機構を得る。 - 特許庁

The light receiving part is disposed so that when the turntable 20 is in the analytical position, the light passing through the sample can be received.例文帳に追加

受光部は、回転テーブル２０が分析ポジションにあるときに、試料を通過した光を受光できるように配置される。 - 特許庁

The detection value is obtained for every incident position of an electron beam 2 to the sample 5, and SEM images are formed corresponding to the detected value.例文帳に追加

試料５に対する電子線２の入射位置毎に検出値を求め、その検出値に応じたＳＥＭ像を作成する。 - 特許庁

The flow cytometer 10 also comprises a concave mirror for reflecting light at the relative position with the condenser lens 16 about the sample flow channel 104.例文帳に追加

また、前記試料流路１０４を中心に前記集光レンズ１６との相対位置で反射する凹面鏡を備える。 - 特許庁

To provide a microscope in which a stage position is stably maintained even when the mass of a sample placed on the stage is varied.例文帳に追加

ステージに載置される試料の質量が変化しても、ステージ位置を安定して維持することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope in which an electron energy loss spectroscopic (EELS) profile can be obtained regardless of an electron beam irradiation position on a sample.例文帳に追加

試料上での電子線照射位置に関係なくＥＥＬＳプロファイルを得ることができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The distance between the sample position and the aperture is sufficiently small to allow a large collection angle of the photons through this aperture.例文帳に追加

試料位置とアパーチャとの間の距離は、このアパーチャを介して、光子の収集角を大きくできるほど十分に小さい。 - 特許庁

Therefore, control is easy for searching the observation position of the sample and the operability of the observation device is improved.例文帳に追加

従って、試料の観察位置を探索するための調整が簡単になり、観察装置の操作性を向上させることができる。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 and an irradiation axis of a STEM observation electron beam irradiation system 5 are made almost orthogonal, and the sample 7 is arranged at the intersection position and the FIB cross-section working face of the sample is made a thin-film face of the STEM observation sample.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device in which displacement of the observed image is not caused within the observation field even when moving the sample for a predetermined distance using a moving mechanism of a sample stage and then returning it to the original position during observation of an image of the sample.例文帳に追加

試料画像を観察中に、試料ステージの移動機構を用いて試料の位置を所定の距離だけ移動させた後、再びもとの位置に戻しても、観察画像が観察視野内で位置ずれを起こさないような荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

A signal processing circuit (20), using a brightness signal from a one-dimensional image sensor receiving reflected light from the surface of the sample and the position information from the spacing measuring means (12), outputs the two-dimensional image information of the sample and the height information of the surface of the sample.例文帳に追加

信号処理回路（２０）において、試料表面からの反射光を受光する1次元イメージセンサからの輝度信号及び間隔測定手段（１２）からの位置情報を用いて試料の2次元画像情報及び試料表面の高さ情報を出力する。 - 特許庁

To move a sample probe to a sample suction position set outside a housing, when seen from above, without having to provide an opening to the side surface of a protective cover, in an autoanalyzer equipped with a protective cover for covering the upper and lateral parts of the moving range of a sample-dispensing mechanism.例文帳に追加

試料分注機構の移動範囲の上方及び側方を覆う保護カバーを備えた自動分析装置において、保護カバーの側面に開口を設けることなく、上方から見て筐体の外の筐体外試料吸引位置に試料プローブを移動させる。 - 特許庁

Consequently, the relative position between the head 11 and sample medium M can be varied in two dimensions and the colors of all the color patches arranged in matrix on the sample medium M can automatically be measured.例文帳に追加

このため、ヘッド１１とサンプルメディアＭとの相対位置を二次元的に変化させることができ、サンプルメディアＭにマトリックス状に配設された全てのカラーパッチを自動的に測色することができる。 - 特許庁

An image composing section 7 outputs a composite image formed by overlapping, in a desired position, the foreign matter sample images formed by the foreign matter sample image forming section 6 on the X-ray absorption images of an inspected object W.例文帳に追加

画像合成部７は、被検査物ＷのＸ線吸収画像に対し、異物サンプル画像生成部６で生成された異物サンプル画像を所望の位置で重ね合わせた合成画像を出力する。 - 特許庁

An error amplifier 14 controls the distance between a cantilever 4 and the sample so that the frequency of the cantilever 4 is shifted from f0 to f1 in order to tap an observation position (xi, yj) on the sample by a probe 6.例文帳に追加

エラーアンプ１４は、探針６で試料上の観察位置（ｘ_i，ｙ_j）をタップさせるために、カンチレバ４の振動数がｆ_0からｆ_1にシフトするように、カンチレバと試料間の距離を制御する。 - 特許庁

A two-dimensional scatter diagram between level dispersion information of the particle image and particle observation position information is displayed on a display part 50, to provide information such as the pattern and the inclination of the sample flow, and a sample flow thickness.例文帳に追加

また、粒子画像のレベル分散情報と粒子観測位置情報の２次元散布図を表示部５０にて表示して、サンプル流れの形状、傾きおよびサンプル流れ厚さ等の情報を得る。 - 特許庁

Thus, a movement of the observation visual field due to the inclination of the sample is corrected, even when the sample is not set at a standard height position to enable an observer to observe a screen without visual field movement.例文帳に追加

この結果、試料が基準高さ位置にセットされていない場合でも試料の傾斜による観察視野の移動は補正され、観察者は視野移動のない画面を観察することができる。 - 特許庁

A stage 100 with a sample 200 disposed is installed inside a vacuum chamber 112 capable of vacuum evacuation, and a dust collection electrode 122 is disposed in a position surrounding the periphery of the sample 200.例文帳に追加

試料２００を配置したステージ１００が真空排気可能な真空チャンバ１１２の内部に設置されており、該試料２００の周囲を包囲する位置に集塵電極１２２が配置されている。 - 特許庁