「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

In the plasma treatment apparatus which utilizes a plasma for treating the sample, a non-opening part 2 is provided in a middle portion of a dispersion plate 1 installed at an upper position of a sample treatment chamber 12 where a sample 14 is placed.例文帳に追加

プラズマを利用して試料を処理するプラズマ処理装置で、試料１４が載置されている試料処理室１２の上部の位置に設置された分散板１の中央部分に、非開口部２を設けた。 - 特許庁

There is provided an add processing to subject one arbitrary waveform sample among the waveform buffers to prescribed level control and to again write the waveform sample in the same storage position in addition to the waveform sample stored in the another arbitrary waveform buffer.例文帳に追加

また、波形バッファのうちの任意の１つの波形サンプルに所定のレベル制御を施して別の任意の波形バッファに記憶された波形サンプルに足して再び同記憶位置に書き込むａｄｄ処理を備える。 - 特許庁

To provide a total reflection X-ray photoelectron spectrometer capable of distinctively measuring the photoelectron signal caused by the surface of a sample and the photoelectron signal caused by the deep position of the sample in one sample measurement.例文帳に追加

一回の試料測定で試料表面に起因する光電子信号と試料の深い位置に起因する光電子信号とを区別して測定することの可能な全反射Ｘ線光電子分光装置を提供する。 - 特許庁

The integrating sphere 2 is equipped with a sample opening 2a, the light detecting opening 2b, provided at a position symmetric with respect to the normal line 2n of the sample surface 1, arranged in the sample opening 2a and a mirror surface reflecting opening 2t.例文帳に追加

また積分球２は、試料開口２ａと、該試料開口２ａに配置される試料面１の法線２ｎに関して対称な位置に設けられた受光開口２ｂ及び鏡面反射開口２ｔとを備える。 - 特許庁

This probe control method is adopted for the scanning probe microscope for changing the relative position relation between the probe 20 and a sample 12, and measuring the sample surface by a measuring part, while scanning the sample surface by the probe.例文帳に追加

この探針制御方法は、探針２０と試料１２の相対的な位置関係を変化させ、探針が試料の表面を走査しながら測定部で試料表面を測定する走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

When an operator selects automatic regulation to cope with the alarm message (S8), a sample stage is automatically moved, based on a difference between the sample position in the present and a target position (S9, S10) to start again the X-ray analysis.例文帳に追加

この警告に対してオペレータが自動調整を選択すると（Ｓ８）、現在の試料位置と目標位置との差に基づいて試料ステージを自動的に移動させ（Ｓ９、Ｓ１０）、Ｘ線分析を再開する。 - 特許庁

When incident light from a light source is made to pass through a region of high numerical aperture including the total reflection region at the peripheral part of an objective lens, the focal position and the sample position even of the transparent sample can be measured with high precision.例文帳に追加

光源よりの入射光を対物レンズの辺縁部分の全反射領域を含む高開口数の領域に通すと、透明試料等も高精度で合焦位置および試料位置を計測できる。 - 特許庁

To provide an atom position fixing device and atom position fixing method suppressing deviation in relative position between a probe and a sample atom due to the influence of thermal drift and creep.例文帳に追加

熱ドリフト及びクリープの影響による探針と試料原子との相対位置のずれを抑制することができる原子位置固定装置及び原子位置固定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope equipped with an automatic focusing device capable of easily positioning a focal position adjusting lens for adjusting the focal position of illuminating light for autofocus at a desired position on a sample.例文帳に追加

オートフォーカス用の照明光の焦点位置を調整する焦点位置調整レンズを標本の所望の位置に容易に合わせることができるオートフォーカス装置を備えた顕微鏡。 - 特許庁

The fluid discharge channel 24 employs a parabola curve or the like in which the position of the upper end of the outmost circumference of the sample-holding plate 14 is defined as a focus position and the position of the upper end of the outlet that is symmetrically opposite to the focus position is defined as a reference position.例文帳に追加

流出流路部２４は、試料保持台１４の最外周上端の位置を焦点位置とし、焦点位置に対称的に向かい合う流出口上縁端の位置を基準位置とするパラボラ曲線等が用いられる。 - 特許庁

The sample portion 50 is set in a position with an interval from the heating element 4 and the sample can be flown by a pressure wave generated at the heating element 4.例文帳に追加

発熱体４と空間を隔てた場所に試料部５０を配置しておき、発熱体４で発生する圧力波によって、試料を飛翔させることができる。 - 特許庁

The drilled cross section can be formed at a specific position of the sample S by glow discharge, and the surface of the sample S can be drilled in a short time, over a broad range.例文帳に追加

グロー放電によって、試料Ｓの特定の位置に掘削断面を形成することができ、また試料Ｓの表面を広範囲に短時間で掘削することができる。 - 特許庁

To automatically correct an observation position so as to follow movement of a sample not only in the case that a microscope body is deformed, but also in the case that the sample moves in any direction.例文帳に追加

顕微鏡本体の変形のみならず、標本がいずれの方向に移動した場合においても、これに追従するように観察位置を自動的に補正する。 - 特許庁

Then processing for adding a numeral calculated based upon the difference value and a variable J to the sample value of a sample at a position corresponding to the variable J is carried out (step S3040).例文帳に追加

次に、変数Ｊに応じた位置のサンプルのサンプル値に、差分値と変数Ｊとに基づいて算出した数値を加算する処理を実行する（ステップＳ３０４０）。 - 特許庁

The most flat region of the analyzing surface of the sample 3 is selected to adjust the position of the sample 3 so that the beam enters the selected region at a predetermined angle.例文帳に追加

試料３の分析面の最も平坦な領域を選定し、選定された領域にビームが所定角度で入射されるように試料３の位置を調整する。 - 特許庁

To provide a sample inclination observing method in a scanning charged particle beam system, allowing image observation by eliminating dislocation of an observation position during sample inclination.例文帳に追加

試料傾斜時の観察位置のずれをなくして、画像観察を行うことができる走査型荷電粒子ビーム装置における試料傾斜観察方法を実現する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device with a sample stage, capable of detecting a stage position with high accuracy, irrespective of thermal deformation of a sample chamber.例文帳に追加

本発明の目的は、試料室の熱変形に依らず、高精度にステージ位置を検出することが可能な試料ステージを備えた荷電粒子線装置の提供にある。 - 特許庁

The medical image processor displays a sample image for a CAD processing (Step S22), and a CAD mark is displayed on a position of the abnormal shade pick on the sample image (Step S24).例文帳に追加

ＣＡＤ処理の対象となるサンプル画像を表示し（ステップＳ２２）、サンプル画像上の異常陰影候補の位置にＣＡＤマークを表示する（ステップＳ２４）。 - 特許庁

To provide a radiation measuring device improved in measurement accuracy at the position of the width direction of a sample 3 and widening a sample measurement range (a thickness range, a material, and the like).例文帳に追加

試料３の幅方向位置の測定精度を向上させ、試料測定範囲（厚さの範囲や材質など）の広範囲化を図った放射線測定装置を提供する。 - 特許庁

Further, processing for subtracting the numeral calculated based upon the difference value and variable J from the sample value of the sample at the position corresponding to the variable J is performed (step S3050).例文帳に追加

更に、変数Ｊに応じた位置のサンプルのサンプル値から、差分値と変数Ｊとに基づいて算出した数値を減算する処理を実行する（ステップＳ３０５０）。 - 特許庁

Further, transmittance measuring means (16) is provided for measuring the transmittance of the sample held by the sample holding means located at the transmittance measuring position.例文帳に追加

更に、透過率測定位置に位置せしめられている試料保持手段に保持されている試料の透過率を測定するための透過率測定手段（１６）が配設されている。 - 特許庁

The conveying means 14 sets the position of each of the parts of the sample on the optical axis of the observation optical system by moving the culturing container on observing the sample by the observing means.例文帳に追加

搬送手段１４は、観察手段による試料の観察時に、培養容器を移動して試料の各部を観察光学系の光軸上に位置決めする。 - 特許庁

A sample installation plate 11 at the fixture 10 can be moved, and after a movement position has been decided, the sample 5 is fixed to the plate 11 by a weighting-type fixing screw 12 or the like.例文帳に追加

固定具１０の試料設置板１１は移動でき、移動位置決定後、試料設置板１１に加重式固定ネジ１２等により試料５を固定する。 - 特許庁

To provide a conveyer capable of detecting a stepping position of a sample rack by simple and inexpensive structure, capable of smoothing stepping of the sample rack, and capable of miniaturization.例文帳に追加

サンプルラックの歩進位置を簡単、且つ、安価な構造で検知することができ、サンプルラックの歩進が円滑であり、小型化が可能な搬送装置を提供すること。 - 特許庁

Sample points 15-24 positioned in a determination range A1 including a traveling position P1 are extracted from a plurality of sample points 11-29 set along a trajectory r.例文帳に追加

軌道ｒに沿って設定された複数の標本点１１〜２９の中から、走行位置Ｐ１を含む判定用範囲Ａ１内に位置する標本点１５〜２４を抽出する。 - 特許庁

An X-ray detector for irradiating the surface of a sample with X-rays to detect reflected X-rays from the surface of the sample at a predetermined angle position is fixedly provided.例文帳に追加

試料面にＸ線を照射し、該試料面から反射してくる反射Ｘ線を所定の角度位置で検出するように前記Ｘ線検出器を固定する。 - 特許庁

When the boundary surface of the sample is varied by Δz in a height direction, the reflection light is regarded to come from a position shifted by Δx in a lateral direction on the boundary surface of the sample.例文帳に追加

試料境界面が高さ方向にΔｚ変化すると、反射光は、試料境界面内で横方向にΔｘずれた位置から出てくるとみなされる。 - 特許庁

The sample 5 placed on the sample stage 7 and the position of the light used for irradiation from the spot light source 2 are scanned by a scanning means stage controller 27 for relatively moving both.例文帳に追加

試料ステージ７に載置された試料５と点光源１からの照射された光の位置を相対的に移動させる走査手段ステージコントローラー１７により走査する。 - 特許庁

The heating furnace 26 is elevated by an elevation mechanism, and is arranged to surround the sample container 21 held vertically by the sample container holder 11 when elevated to the highest position.例文帳に追加

加熱炉２６は昇降機構により昇降され、最高位置に上昇したとき、試料容器ホルダ１１に垂直に保持された試料容器２１を囲むように配置される。 - 特許庁

The sample rack conveyer 15 has also a determination part for determining whether the sample rack 10 is positioned in the normal stopping position or not, based on a read result by the antenna 46.例文帳に追加

また、サンプルラック搬送装置１５は、アンテナ４６の読み取り結果からサンプルラック１０が正常な停止位置に位置決めされたか判断する判断部をさらに有する。 - 特許庁

After the analysis of the inclusion at that position is completed, the constant-speed move and high-speed beam scanning of the sample stage are resumed and the above operation is executed for the entire surface of a sample.例文帳に追加

その位置における介在物分析終了後再び試料ステージの定速移動と高速ビームスキャンを再開させ、上記動作を試料全面に亘って実行する。 - 特許庁

To provide a sample stage for an electron microscope, capable of setting an eucentric position around the visual field of the electron microscope at all times during a large inclination of a sample.例文帳に追加

試料の大傾斜時にユーセントリック位置を電子顕微鏡の視野中心に常に設定できる電子顕微鏡用試料ステージを供することを目的とする。 - 特許庁

Thus the sorption microarray enables soft fluidic acquisition of the substance in analysis sample to clearly define the position of acquisition on the analysis sample.例文帳に追加

収着マイクロアレイは、物質を損なうことなく、分析試料の物質のおだやかな流体的捕捉を可能にし、分析試料上の捕捉の位置が明確に定められる。 - 特許庁

A prescribed voltage is applied to the reservoir via the electrode 41 at the position C to separate the sample by migration, and the separated sample is detected by a detection optical system 45.例文帳に追加

ポジションＣで電極４１を介してリザーバに所定の電圧を印加してサンプルの泳動分離を行ない、分離したサンプルを検出光学系４５により検出する。 - 特許庁

Therefore, the working position of the sample being positioned is accurately irradiated with an ion beam, and the sample with the desired cross section for an electron microscope can be produced.例文帳に追加

このため、位置決めされた試料加工位置にイオンビームが正確に照射され、所望の断面を有する電子顕微鏡用試料を作製することができる。 - 特許庁

Moreover, the rotation of the rotary stand 7 and the position of the sample stand are controlled, by making the sample stand 2 relative to the rotary stand 7 to be out of synchronization.例文帳に追加

また、同期を外すことにより回転台７に対し試料台２を相対的に移動させるようにして、回転台７の回転と試料台２の位置を制御する。 - 特許庁

The sample 7 is arranged at the focal position of the rotary oval surface of the reflecting surface 6a of the infrared reflecting mirror 6 for guiding infrared rays to the sample 7 from the infrared ray source 9.例文帳に追加

赤外線光源９から試料へ光を導く赤外線反射鏡６の反射面６ａの回転楕円面の焦点位置に、試料７が配置される。 - 特許庁

A sample holder attachment 30 rotatable from a position where a sample 23 is extended approximately orthogonally to the center axis C connecting a condenser mirror 20 to a reflection objective mirror 21 to a position crossing obliquely at a prescribed angle is mounted on a sample stage 22 at the high-sensitivity reflection measuring time.例文帳に追加

高感度反射測定時には、集光鏡２０と反射対物鏡２１とを結ぶ中心軸Ｃに対し試料２３が略直交して延在する位置から所定角度を以て斜交する位置まで回動自在であるような試料ホルダアタッチメント３０を試料ステージ２２に取り付ける。 - 特許庁

When the sample observation by the SEM is finished (S1) to start the X-ray analysis (S2, S3), the sample position at the time when the sample observation is finished is detected, based on an excitation current of an objective lens under a focused condition, to determine whether the position is proper for the X-ray analysis or not(S4).例文帳に追加

ＳＥＭの試料観察が終了して（Ｓ１）Ｘ線分析が開始されると（Ｓ２、Ｓ３）、合焦状態となっている対物レンズの励磁電流に基づいて試料観察終了時の試料位置を検知し、その位置がＸ線分析に適切な位置であるか否かを判定する（Ｓ４）。 - 特許庁

The second passage switching valve 20 can switch a passage between a position for connecting the second sample loop 22 between the sample carrying passage 4b and a discharge passage 38 and a position for connecting the second sample loop 22 between an analyzing mobile phase supply passage 6a and an analysis passage 6b.例文帳に追加

第２流路切換バルブ２０は、第２サンプルループ２２を試料搬送流路４ｂと排出流路３８との間に接続するポジションと、第２サンプルループ２２を分析用移動相供給流路６ａと分析流路６ｂとの間に接続するポジションの間で切り換えることができる。 - 特許庁

A head wave candidate position calculating part 14 calculates the position where a sample value of a delay profile first becomes a peak as a candidate for a peak wave position, and a head wave position selecting part 15 selects a head wave position that is temporally the earliest among head wave position candidates as a head wave position in the delay profile.例文帳に追加

先頭波候補位置算出部１４にて、遅延プロファイルのサンプル値が最初にピークとなる位置を先頭波位置の候補として算出し、先頭波位置選択部１５では、先頭波位置の候補のうち時間的に最も早い先頭波位置を、遅延プロファイルにおける先頭波位置として選択する。 - 特許庁

A computer 12 performs, to a Z-stage, the control for changing discretely the relative position relation between the condensing position of an objective lens 5 for converging outgoing light from a light source 1 onto a sample 6 and the position of the sample 6 in response to a measurement start instruction.例文帳に追加

測定開始指示に応じ、コンピュータ１２は、光源１からの出射光を試料６で集束させる対物レンズ５の集光位置と試料６の位置との相対的な位置関係を離散的に変化させる制御をＺステージ１０に対して行う。 - 特許庁

The scanning electron microscope according to the present invention scans a sample along one or more straight lines and adds, to a detection signal for each scan line, information for identifying a start position and an end position of the scan line as address information indicating a scan position on the sample.例文帳に追加

本発明に係る走査型電子顕微鏡は、試料を１以上の直線状に走査し、走査線の開始位置と終了位置を特定する情報を、試料上の走査位置を示すアドレス情報として、１走査線毎の検出信号に付与する。 - 特許庁

The reference position designating member 592 intercepts the light traveling from the light-emitting element to the light-receiving element of the sensor 594 when the sample tray 550 exists at a reference position.例文帳に追加

基準位置指示部材５９２は、標本トレー５５０が基準位置にあるとき、センサー５９４の発光素子から受光素子に向かう光を遮る。 - 特許庁

To automatically move a position for focusing a charged beam on a sample from a measuring position, in dimension measurement for a pattern using the charged beam.例文帳に追加

荷電ビームを用いたパターンの寸法測定において、試料上で荷電ビームの焦点合わせを行う位置を測定位置から自動的に移動させる。 - 特許庁