「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

A focal position is regulated to arrange the surface of a sample in an upper limit position of the depth of a focus or in a position slightly lower than the upper limit position when observing the sample in this scanning charged corpuscular beam device.例文帳に追加

本発明の走査荷電粒子線装置によると、試料の観察時に、試料の表面が焦点深度の上限の位置に又は上限の位置より僅か下方に配置されるように、焦点位置を調整する。 - 特許庁

To easily set a sample in a proper position with respect to an incident X-ray.例文帳に追加

入射するＸ線に対して試料を適正な位置に容易に設定する。 - 特許庁

To automatically adjust the position of particles contained in a sample liquid.例文帳に追加

試料液中に含まれる粒子の位置を自動的に調整できるようにする。 - 特許庁

The movable portion can be movable with respect to the remainder of the sample chamber from a first position to a second position.例文帳に追加

移動可能な部分は、第１の位置から第２の位置まで、サンプルチャンバの残りに関して移動可能であり得る。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING LASER PROJECTION POSITION EVALUATING SAMPLE AS WELL AS METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING STABILITY OF LASER PROJECTING POSITION例文帳に追加

レーザ照射位置評価サンプル生成方法と装置およびレーザ照射位置安定性評価方法と装置 - 特許庁

A person candidate position sample extraction part 14 extracts person candidate position samples by resampling from the map (b).例文帳に追加

人候補位置サンプル抽出部１４は，マップｂからのリサンプリングにより，人候補位置のサンプルを抽出する。 - 特許庁

A fixed rod 120 is run through the through hole formed in the sample lens 130, and support pins 76 are arranged at the periphery of the sample lens 130 to fix the position of the sample lens 130.例文帳に追加

サンプルレンズ１３０に形成された貫通孔に固定棒１２０を挿通し、支持ピン７６をサンプルレンズ１３０の周囲に配置して、サンプルレンズ１３０の位置を確定する。 - 特許庁

A sample movement process is performed on a current sample in the first prediction pattern to change a current position of the current sample in the first prediction pattern.例文帳に追加

サンプルの移動処理が、最初の予測パターン内の対象のサンプルに対して実行され、最初の予測パターン内にある対象のサンプルの現在の位置を変化させる。 - 特許庁

The position of the sample lens 130 is determined by inserting a fixing bar 120 into the through hole 132 of the sample lens 130 and pressing supporting pins 76 to the periphery of the sample lens 130.例文帳に追加

サンプルレンズ１３０の貫通孔１３２に固定棒１２０を挿通し、支持ピン７６をサンプルレンズ１３０の周囲に押し当てて、サンプルレンズ１３０の位置を確定する。 - 特許庁

To provide a fixing method of a sample stage capable of fixing the sample stage as required by adjusting the position of the sample stage in the vertical direction highly accurately with a simple operation.例文帳に追加

簡易な操作で、サンプルステージの鉛直方向の位置を高精度に調整して、所望のように、サンプルステージを固定することができるサンプルステージの固定方法を提供する。 - 特許庁

By short-circuiting the top of the transmission line with the sample, a test signal of high current density is applied to the sample so that a loop of the current standing wave is located in the position of the sample.例文帳に追加

試料によって伝送線路先端を短絡することで、試料の位置を電流定在波の腹として、高電流密度の試験信号を印加する。 - 特許庁

A layer structure of a sample is obtained from frequency spectral intensity to dispersion waveform of reflection light from a sample in CMP process and a measurement position of a sample is specified.例文帳に追加

ＣＭＰ加工中、試料からの反射光の分光波形に対する周波数スペクトル強度から試料の層構造を求め、試料の計測位置を特定する。 - 特許庁

This dispensing device sucks the liquid sample, containing a sample or a reagent by a dispensing probe 6 and transfers the sucked liquid sample to a prescribed position to be delivered.例文帳に追加

試料又は試薬を含む液体試料を分注プローブ６によって吸引し、吸引した液体試料を所定位置へ移送して吐出する分注装置。 - 特許庁

Holes for sample desalting treatment in accordance with a sample application position on a sample plate 2 are formed on a plate column 1, and the plurality of holes have a sintering filter and a filling material.例文帳に追加

プレートカラム１はサンプルプレート２のサンプル塗布位置に合わせたサンプル脱塩処理用の穴が形成され、これら複数の穴は焼結フィルタ、充填材を有する。 - 特許庁

To provide a highly precise measurement method of a sample position with which a focusing position and the sample position are measured with high precision and in a wide range even at the time of fluorescent image observation without a loss with respect to a biotic example not resistant to light irradiation, etc. and a sample with low reflectivity.例文帳に追加

光照射等に弱い生物標本や低反射率の試料に対して合焦位置および試料位置を蛍光像観察時にも損失無く高精度で広範囲に計測できる試料位置高精度計測法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic sample exchanger for an NMR apparatus which can set a sample tube at a low position and achieve reduced cost.例文帳に追加

低い位置で試料管をセットでき、しかも、コストを低く抑えたＮＭＲ装置用自動試料交換装置を提供する。 - 特許庁

As a second step, a sample/hold element 4a at a sample/hold section 4 obtains a second estimated value θ^_e2 of magnetic pole position.例文帳に追加

第２のステップとして、サンプル／ホールド部４のサンプル／ホールド要素４ａにより磁極位置の第２の推定値θ＾_ｅ２を求める。 - 特許庁

The head part of a sample nozzle 1 is stopped at the minimum lowering position where air is not entrained at the initial stage of sucking a measurement sample 4.例文帳に追加

サンプルノズル１の先端部を、被測定試料４を吸引する初期に空気混入のない最小降下位置に停止する。 - 特許庁

The sample piece 15 is molded by clipping the original sample 5 at a desired position by using a focused ion beam irradiation optics 2.例文帳に追加

集束イオンビーム照射光学系2により元試料5の所望位置において試料片15の切り出しの成形を行なう。 - 特許庁

To correct a processing position without putting a mark on a sample, in carrying out processing of the sample with a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置により試料の加工を行う際に、試料にマークを加工することなく、加工位置を補正する。 - 特許庁

A sample for measurement by a DSC is prepared by fusing the glass capillary 1 at an upper position of the sample 2 to be sealed.例文帳に追加

ＤＳＣ用測定試料は、さらに試料２より上方位置でガラスキャピラリー１を溶断して封止して調製される。 - 特許庁

The sample function generation part 40 generates a sample function, on the basis of the sample position and the sample value which are outputted from the sample value generation part 30 and outputs it to a convolution operation part 50.例文帳に追加

標本化関数が標本位置ｔ＝０で１、ｔ＝±１，±２で０、これ以外のｔで０以外の値を有する有限台の関数なので、ｓｉｎｃ関数を用いる場合に生じていた打ち切り誤差がなくなり、処理の精度が大幅に向上する。 - 特許庁

The dispensing device, the dispensing method, and the automatic analysis apparatus have a step of sucking the liquid sample by a dispensing nozzle, moving between a suction position for sucking the liquid sample, containing a sample or a reagent and a discharge position for discharging the liquid sample sucked, and dispensing by discharging the liquid sample sucked into a container, located at the discharge position.例文帳に追加

検体または試薬を含む液体試料を吸引する吸引位置と、吸引した液体試料を吐出する吐出位置との間を移動する分注ノズルによって液体試料を吸引し、吸引した液体試料を吐出位置に配置された容器に吐出して分注を行う分注装置、分注方法及び自動分析装置。 - 特許庁

A workpiece set as a measurement sample in a machine tool is machined at an initial position (x0, y0), a first position (x1, y1), a second position (x2, y2) and a third position (x3, y3).例文帳に追加

工作機に測定用のワークを設置し、初期位置（ｘ０，ｙ０）、第１位置（ｘ１，ｙ１）、第２位置（ｘ２，ｙ２）、第３位置（ｘ３，ｙ３）で加工を施す。 - 特許庁

Accordingly, it is unnecessary to prepare a holder matched with the sample 21 in size or shape, and a measuring position can be freely changed by shifting the position of the sample.例文帳に追加

従って、試料２１の大きさや形状に合わせたホルダを用意する必要もなく、試料位置をずらすことにより測定位置を自由に変えることができる。 - 特許庁

The sample is maintained in the above-mentioned position over a given duration time, and a given quantity of noble metal is added into the reactor water while the sample is maintained in the position.例文帳に追加

試料は、所与の持続時間にわたり前記位置に維持され、試料が前記位置に維持されている間に、所与の量の貴金属が、原子炉水中に加えられる。 - 特許庁

Then, each coordinate position of the sample shots is measured and during the measurement, a relative position of each sample shot region relative to a predetermined standard surface of a wafer is detected.例文帳に追加

そして、そのサンプルショットの座標位置がそれぞれ計測され、この計測の際にサンプルショット領域毎にウエハの所定基準面に対する相対位置が検出される。 - 特許庁

An arbitrary section is set by the user as a plane including the sample gate central position.例文帳に追加

そのサンプルゲート中心位置を含む面として任意断面がユーザー設定される。 - 特許庁

The loading position (X_L, Y_L) of the sample stage is corrected based on the eccentricity (Δx_1, Δy_1).例文帳に追加

この偏心量(Δx_1,Δy_1)に基づいて、試料ステージのロードポジション(X_L,Y_L)を補正する。 - 特許庁

Seeing as the position of the particle beam 3 the sample is known at the moment that the marker is damaged, the position of the marker in the sample is, accordingly, also known.例文帳に追加

サンプルに関して粒子ビーム（３）の位置を認識することにより、マーカが損傷された瞬間が理解され、従って、サンプルにおけるマーカの位置が又、理解される。 - 特許庁

An analyzing position is specified by irradiating the surface of the sample with a laser beam, in alignment with the optical axis of secondary ions and observing the position of the laser spot generated on the surface of the sample.例文帳に追加

二次イオンの光軸に一致させて試料表面にレーザ光を照射させ、試料表面に生じたレーザスポットの位置を観察することで分析位置を特定する。 - 特許庁

When the operating member 13 is moved from the separated position to the operating position in this state, the wafer sample pressing member separates from the positioned and fixed wafer sample W and frees the movement of the wafer sample W.例文帳に追加

この状態で、前記作動部材１３を離隔位置から作動位置に移動させると、前記ウエハ試料押圧部材８は位置決め固定されたウエハ試料Ｗから離隔してウエハ試料Ｗの移動を自由にする。 - 特許庁

A sample container 8 provided with a diaphragm 6 is put into an extraction position of the sampling station provided with a sampler 2, when preparing the sample for the analyzer, and the sampler 2 is arranged on the sample container 8 in the extraction position.例文帳に追加

分析器用試料の準備に際し、隔膜６を備える試料容器８が、サンプラ２を備えるサンプリングステーションの抽出位置に入れられ、サンプラ２が、抽出位置で試料容器８の上に配置される。 - 特許庁

When the audio end position is the loop end position, on the other hand, the encoding is performed by using a sample of audio data (e.g. audio data right after the loop start) which is musically related to the audio data at the audio end position as a sample after an audio end position.例文帳に追加

音声エンド位置がループエンド位置の場合は、音声エンド位置後のサンプルとして、音声エンド位置の音声データと楽曲上つながりのある音声データ（例えば、ループスタートの直後の音声データ）のサンプル用いてエンコードを行う。 - 特許庁

A processing control unit and a start-position movement amount correction unit sequentially determine, as a sample in a start position of a compression process in a time axis domain of the audio signal, a (multiple of N)-th sample from a start position immediately before the start position.例文帳に追加

処理制御部と開始位置移動量補正部は、オーディオ信号の時間軸領域における圧縮処理の開始位置のサンプルとして、その開始位置の１つ前の開始位置からＮの倍数番目のサンプルを順次決定する。 - 特許庁

Then, the opening 22 is moved to a position B, and the sample face position b of the electronic beam formed at the opening of the position B is measured.例文帳に追加

そして、次に開口部２２を位置Ｂに移動させ、位置Ｂの開口部で成形された電子ビームの試料面上位置ｂを測定する。 - 特許庁

To provide a box type microscopic apparatus capable of easily placing a sample container at an optimum position without adjusting the position of the sample container on a stage when changing the sample container with inexpensive and simple constitution, and easily and rapidly changing the sample container.例文帳に追加

低コスト且つ簡単な構成で、試料容器を交換する際のステージにおける試料容器の位置調整をすることなく最適な位置に試料容器を容易に載置可能であり、簡単且つ迅速に試料容器を交換可能な箱型顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

By this, the visible light imaging part fixed on the sample table 33 can image a desired position all the time because a relative position to the sample does not change regardless of movement of the sample table 33, and the visible light observation image of the sample is imaged easily.例文帳に追加

これによって、試料台３３上に固定された可視光撮像部は、試料台３３の移動に拘わらず試料との相対位置が変化しないため、常時所望の位置を撮像することが可能となり、試料の可視光観察像を容易に撮像できる。 - 特許庁

A relative position between the sample 16 and the search needle 20 is changed along the sample 16 surface, and the relation between the sample 16 and the search needle 20 is controlled so as to be kept in the fixed state, and a surface characteristic of the sample 16 is measured by a control signal.例文帳に追加

試料表面に沿って試料・探針間の相対的位置を変化させ、試料と探針の関係が一定状態に保持されるように制御し、制御信号で試料の表面特性が測定される。 - 特許庁

When the sample shape 13 of a sample 5 is displayed on a shape display device 12 and an observing position 15 outside a horizontal movement range 14 in the sample shape 13 is designated, the sample 5 is automatically rotated up to a position where the observing position 15 enters the horizontal movement range 14 to automatically effect horizontal movement so as to irradiate an electron beam 2 to the observing position 15.例文帳に追加

試料５の試料形状１３を形状表示装置１２に表示し、試料形状１３において水平移動範囲１４外に観察位置１５を指定すると、観察位置１５が水平移動範囲１４に入る位置まで試料５を自動に回転させて、水平移動を自動に行い、観察位置１５に電子ビーム２が照射する。 - 特許庁

In a lens evaluation device 1, a sample 101 is arranged on a conjugate position with a focal position of an objective lens 133.例文帳に追加

レンズ評価装置１において、対物レンズ１３３の焦点位置と共役な位置に試料１０１が配置されている。 - 特許庁

The position regulation mechanism 13 regulates the position of the sample support mechanism 12 by screw treatment of the male screw and the female screw.例文帳に追加

位置調整機構１３は、雌ネジと雄ネジとのネジ待遇により試料支持機構１２の位置調整を行う。 - 特許庁

To correct the fluctuation of a sample position at electron beam drawing without narrowing a drawing region.例文帳に追加

電子線描画の試料位置の変動を描画領域を狭めることなく補正する。 - 特許庁

To easily set a sample at an appropriate position on a stage of an inverted microscope.例文帳に追加

倒立顕微鏡用ステージ上の適切位置に試料を容易に設置できるようにする。 - 特許庁

Based on this position change, force of the operation needle 32 applied to the sample 12 is detected.例文帳に追加

この位置変化により操作針３２の被検体１２へ作用する力を検出する。 - 特許庁