「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a detection method of a periodical pattern for detecting a position of a periodical pattern having a known profile in high precision, and a photographing method of a sample image using this detection method.例文帳に追加

本発明は周期パターンの検出方法及び試料画像の撮影方法に関し、既知の形状を持った周期的なパターンの位置を高精度に検出することができる周期パターンの検出方法及びこの検出方法を用いた試料画像の撮影方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a fine particle analyzer capable of obtaining stable measurement performance by controlling the position deviation of an irradiation spot on a sample flow caused by minute deviation of relative positions of a light source, a lens, etc. which constitute a light irradiation path so as to irradiate fine particles with light with high accuracy.例文帳に追加

光照射経路を構成する光源やレンズ等の相対位置の微小なずれに起因するサンプル流上の照射スポットの位置ずれを抑制し、微小粒子に対して高精度に光を照射して、安定した測定性能を得ることが可能な微小粒子分析装置を提供。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for inspecting patterns, capable of preventing incorrect detection of defects while shortening the inspection time by controlling the focal deviation of an electron beam or the deviation of irradiation position, which is caused by the charging phenomenon on the surface of a sample incident to irradiation with an electron beam in the inspection of fine patterns.例文帳に追加

微細なパターンの検査において、電子ビームの照射によって生じる試料表面の帯電現象による電子ビームの焦点ずれや照射位置のずれを抑制し、欠陥の誤検出を防止するとともに、検査時間を短縮できる検査装置，検査方法を提供する。 - 特許庁

A sample analysis system 100 includes an analyzing device 1 as an object to be protected which is installed at a position where the analyzing device 1 is influenced by a magnetic field that a superconducting magnet 2 produces, in relation to the superconducting magnet 2, and a magnetic field change suppressing device 3 which suppresses change in the magnetic field acting on the analyzing device 1.例文帳に追加

試料分析システム１００は、磁場を形成する超電導マグネット２に対してその磁場の影響を受ける位置に設置される保護対象としての分析装置１と、この分析装置１に作用する磁場の変化を抑える磁場変化抑制装置３とを備えている。 - 特許庁

In this material testing machine, a collar 201b for fixing a grip 8 for holding a sample is made rotatable with respect to a body 202, the body 202 is made rotatable with respect to a color 201a having a constant relative position with a cross head 2, and bolts 203a, 203b, 205a, 205b are provided for regulating their rotating angles.例文帳に追加

供試体を把持するグリップ８が固定されるカラー２０１ｂをボディ２０２に対して回転可能とし、かつ、ボディ２０２をクロスヘッド２との相対位置が一定なカラー２０１ａに対して回転可能とするとともに、それらの回転角度調整を行わせるボルト２０３ａ，２０３ｂ，２０５ａ，２０５ｂを設けた。 - 特許庁

The in-focus position is detected surely and quickly by irradiating the sample with the measuring lighting to form a differential component in an image signal at all times even when the object to be measured is a reference having no differential component and when a pattern does not exist in a field of view.例文帳に追加

そして、測定用の照明を試料に照射して常に画像信号に微分成分を形成させることにより、測定対象物が微分成分の無いリファレンスである場合や、視野内にパターンが存在しない場合であっても、合焦点位置を確実かつ高速に検出する。 - 特許庁

To simplify a method for adjusting automatically and relatively the position coordinates of at least one sample as to the central coordinates of a goniometer determined by a point where tilting axes cross each other, and constitution of an angle measuring system, and to reduce the cost for a plurality of circular systems.例文帳に追加

傾斜軸の交差する点によって決定されたゴニオメーターの中心座標に関し少なくとも１つのサンプルの位置座標を自動的に相対的に調節するための方法および角度測定システムの構成を簡単にし、かつ、多数円システムのコストを低下させる。 - 特許庁

The sample stage device has a circular pressing part, being a pressing mechanism for pressing a guide mechanism, that is rotatably fixed to a support member for supporting the guide mechanism so as to press the guide mechanism by its rotation and has the center position different from the rotation center of its rotation.例文帳に追加

また、ガイド機構を押圧する押圧機構であって、ガイド機構を支持する支持部材に回転可能に固定され、当該回転によって、前記案内機構を押圧すると共に、前記回転の回転中心とは異なる中心位置を持つ円形の押圧部を有する試料ステージ装置を提案する。 - 特許庁

In the sample book bound by the perfect binding, the handle is attached to the back cover from a rear side via the stopper and further a notched part is provided at a position corresponding to the stopper at a bound side side edge of the mount interfering with the stopper among the mounts to be adhered to the back cover.例文帳に追加

無線綴じにより製本する見本帳において、背表紙に裏側から止め具を介して把手を取り付けると共に、この背表紙に接着する台紙のうち上記止め具と干渉する台紙の綴じ側側縁の上記止め具と対応する位置に切り欠き部を設けた。 - 特許庁

Then the input changeover switch 200 is thrown to the position of a fixed level for a 2nd period, the 1st clamp means samples and holds a clamp level with respect to the fixed level for the first half of the 2nd period and the 1st sample-and-hold means samples and holds the signal at the output side of the clamp capacitor 201.例文帳に追加

次に、第２の期間で入力切換スイッチ２００を固定電位側に切り換えて、その第２の期間の前半で固定電位に対してクランプ電位を第１クランプ手段によりサンプルホールドした後、クランプコンデンサ２０１の出力側の信号を第１サンプルホールド手段によりサンプルホールドする。 - 特許庁

To provide a method and a device for easily setting an irradiation area or an irradiation position of a laser not based on the trial and error after placing a sample, improving reproducibility of data and reducing measuring time in mass spectrometry using laser for ionization.例文帳に追加

レーザーをイオン化に用いる質量分析において、レーザーの照射領域や照射位置を、試料設置後の試行錯誤等によるのではなく、容易に設定すること、データの再現性を向上させること及び測定時間を短縮することを可能とする方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

In the analyzer, the first transferring mechanism 2 and the second transferring mechanism 3 move to the photographing position for every sample apart from the plurality of other samples; taking a picture thereof with a camera 4; and storing the obtained image data and analysis data based on the image data in a storage medium 6.例文帳に追加

所定時間ごとに第１の移動機構２および第２の移動機構３により、試料１個体ごとに複数試料から独立した撮影位置に移動し、カメラ４で撮影を行い、得られた画像データおよびその画像に基づく解析データを記憶媒体６に格納する。 - 特許庁

Systems and methods for picture up-sampling use direct interpolation using filter coefficients selected on the basis of the phase of the location of a low-resolution image corresponding to a sample position of a high-resolution image, and is applied to scalable video coding (SVC) extension of H.264/MPEG-4 AVC.例文帳に追加

画像アップサンプリング用法および画像アップサンプリングシステムは、高解像度画像のサンプル位置に対応する低解像度画像の位置の位相に基づいて選択されたフィルタ係数を用いたダイレクト補間処理を用い、H.264/MPEG-4 AVCスケーラブル映像符号化(SVC)拡張方式に適応される。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope that sets contact resistance to low impedance of the same degree as a bulk metal and measures the position of the probe, which traces the surface of a sample being a target measuring article by a means other than an optical means, and to provide the scanning probe microscope using the same.例文帳に追加

接触抵抗をバルク金属と同程度の低インピーダンスにすると共に、光学的手段以外の手段により、対象測定物である試料表面をトレースするプローブの位置を計測する走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By this structure, the merchandise sample display device 1 can be installed at a position where the holding section 7 is positioned at the front line of the merchandise 2 hung from the hook member 3a of the hook hanger 3 and the holding section 7 rotates around the shaft section 8b as a supporting point to be left from the removing route of the merchandise 2.例文帳に追加

これにより、商品見本陳列装置１は、保持部７がフックハンガー３のフック部材３ａに掛けられた商品２の先頭となる位置に取り付けられ、かつ、保持部７が軸部８ｂを支点に回動して商品２の取り出し経路から退避できるようになっている。 - 特許庁

Countermeasures against failure factors including a hardware factor such as a backlash due to which no movement is made at a correct angle using a stage having no sample rotating stage, are taken, and the wiring line is continuously displayed even on accurate movement to an end of the long wiring line to detect the failure position during automatic multiple-time reciprocation between both ends of the wiring line.例文帳に追加

試料回転ステージのないステージでバックラッシュ等の正しい角度で移動しないハード要因を含めて対策し、正確に長い配線の端まで移動しても配線を表示し続け、自動で配線の両端まで数往復する間に不良位置を検出する。 - 特許庁

All focal images of the sample 101 are prepared by updating, whenever a slice image is newly acquired, the maximum luminance image acquired by setting, as the luminance value of the pixel at the position, the larger one of the luminance value of the pixel constituting a newly acquired slice image and the maximum value of luminance values of pixels that are at the same position as the former pixel and constitute respective already acquired slice images.例文帳に追加

そして、新たに取得したスライス画像を構成する画素の輝度値と、該画素と同一位置の画素であって既に取得していたスライス画像の各々を構成しているものの輝度値の最大値とで大きい方を該位置の画素の輝度値とすることで得られる最大輝度画像を、スライス画像を新たに取得する度に更新することで、試料１０１の全焦点画像を作成していく。 - 特許庁

To provide a multi-item ionic activity measuring instrument of high reliability capable of distribution-supplying surely and quickly a spotted sample or a reference liquid to an ion selective electrode, even when a position of a thin piece-like porous liquid distribution member is shifted slightly in the multi-item ionic activity measuring instrument.例文帳に追加

多項目イオン活量測定器具において、細片状多孔性液体分配部材の位置が若干ずれた場合でも、点着された試料液もしくは参照液のイオン選択電極への確実かつ迅速な分配供給が可能となる信頼性の高い多項目イオン活量測定器具を提供する。 - 特許庁

A region whose electric characteristics in a sample are to be measured is set to be a blanking region, the number of direct irradiation of charged particles is set to one or none, and the current position of a probe tip is calculated from an image obtained in the past or an image at a peripheral region, thus bringing the probe into contact with a target location.例文帳に追加

試料の電気特性測定対象領域をブランキング領域とし、直接荷電粒子を照射する回数を１回ないし皆無にした上で、過去に得られた画像あるいは周辺領域の画像から探針先端の現在位置を演算することで探針を目的の場所に接触させる。 - 特許庁

If the sugar chain-containing sample is subjected to mass analysis in the presence of aminoquinoline, in place of or in addition to usual molecular ions such as proton added molecular ions or metal ion added molecular ions, a peak (126Da added molecular ion peak) appears at a position separated from the peaks of the usual molecular ions toward a high mass side by m/z=126.例文帳に追加

糖鎖を含む試料をアミノキノリンの存在下で質量分析すると、プロトン付加分子イオンや金属イオン付加分子イオン等の通常の分子イオンに代えて又は加えて、これらのピークから高質量側にｍ／ｚ＝１２６離れた位置にピーク（１２６Ｄａ付加分子イオンピーク）が出現する。 - 特許庁

According to such a structure, since adhesion of electrostatic charge to the pre-dosing area is enabled in the pre-dosing area, on the basis of an irradiation condition in which the differences in the electrostatic charges at each position can be restrained, the effect of an electric field on the electrons emitted from a charged particle beam or a sample can be restrained.例文帳に追加

上記構成によれば、予備照射領域内で、各位置の帯電の差異を抑制し得るような照射条件に基づいて、予備照射領域に対する帯電の付着が可能となるため、荷電粒子ビームや試料から放出される電子に対する電界の影響を抑制することが可能となる。 - 特許庁

Then, when the boundary wall is blocked, the sampling container is arranged on a position corresponding to an examination condition by the container arrangement unit, and when arrangement of all sampling containers is completed, examination starting report is reported to the examiner, and the specimen sample in the sampling containers arranged in the container arrangement unit is examined by the examiner.例文帳に追加

次いで境界壁が遮蔽されると、採取容器は容器配列ユニットにより、検査条件に対応する位置に配列され、全ての採取容器の配列が完了すると、検査開始通報が検査者に通報され、検査者によって容器配列ユニットで配列された採取容器の検体試料の検査が行なわれる。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens which can correct various aberration generated by the change of the thickness of a medium between the objective lens and a sample, can easily find a lens position for most sharply imaging, can improve the efficiency of observation and maximize the performance.例文帳に追加

対物レンズと標本との間にある媒質の厚さの変化によって生じる諸収差を補正できる対物レンズにおいて、像が最も鮮明に見えるレンズの位置を容易に見付けて観察の効率を向上させることができると共に、性能を最大限に引き出すことが可能な顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁

This system is characterized in that a two-dimensional image is prepared by using a contrasting means based on a sample 1 while performing position correction and shade correction on spots appearing in the image and that compensation is performed on change in background with time accompanying the contrasting, with respect to disease diagnosis by the comparison of two or more images for diagnosis.例文帳に追加

２以上の診断用画像の対比による病症診断において、標本１をもとに造影手段によって二次元画像を作製するとともに、該画像に現出するスポットに対し、位置補正および濃淡補正に加え、造影に伴うバックグランドの経時変化の補正を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus of surface plasmon resonance capable of measuring surface plasmon resonance while specifying the accurate occurring position thereof, capable of knowing the correlation of the fine structure of localized surface plasmon with the surface structure of a sample and simple in its structure and low in cost, and a measuring method of the surface plasmon resonance.例文帳に追加

表面プラズモン共鳴をその正確な発生位置を特定しながら測定でき、従って局在化した表面プラズモンの微細構造と試料の表面構造との相関関係を知ることができ、しかも、簡易で低コストである、表面プラズモン共鳴の測定装置及び測定方法を提供すること。 - 特許庁

The automatic focusing microscope is constituted of a positive first lens group G1 and a second lens group G2 in order from a sample side, the first lens group G1 is movably disposed along an optical axis direction and the focus position can be changed by moving the first lens group G1 and the microscope is distinguished by satisfying following conditional formulae (1), (2).例文帳に追加

標本側から順に、正の第１レンズ群Ｇ１と、第２レンズ群Ｇ２とからなり、第１レンズ群Ｇ１が光軸方向に沿って移動可能に設けられていて、第１レンズ群Ｇ１の移動によって焦点位置を変化させることが可能であり、次の条件式(1)，(2)を満足することを特徴としている。 - 特許庁

A difference between current sampling data and sampling data of one preceding data unit is calculated, each difference calculated by each sampling is integrated by tracing back by number of samples of CP signal inserted to the initializing signal in the past, and the position of the CP signal is confirmed on the basis of the sample number where the integrated value denotes a minimum value.例文帳に追加

現サンプリングデータと１データユニット前のサンプリングデータとの差分を計算し、サンプリング毎に算出された差分値をイニシャライジング信号に挿入されるＣＰ信号のサンプル数だけ過去に遡って積算し、この積算値が極小値を示すサンプル番号からＣＰ信号の位置を確定する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope for analysis having an analyzing function accurately performing element analysis and element mapping at a specific area of a sample at a correct analysis position (consonance of electron beam) with a simple constitution without providing an equivalent circuit on a scanning electron microscope side and an external analyzer side.例文帳に追加

走査電子顕微鏡本体側と外部分析装置側に同等の回路を備えることなく、簡単な構成により、試料の特定領域の元素分析や元素マッピングを正しい分析位置（電子ビーム一致）で正確に行うことができる分析機能を有した分析走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

An auxiliary heating instrument 4 comprises: a plurality of positioning sections 16 and 17 which are arranged on a circumference of a circle to position a plurality of sample containers; and microwave reflection sections 9 which are respectively arranged between a center C1 of the circle where the plurality of positioning sections are arranged and the plurality of positioning sections.例文帳に追加

複数の試料容器をそれぞれ位置決めし、同一円上に配置されている複数の位置決め部１６，１７と、前記複数の位置決め部が配置されている円の中心Ｃ１と前記複数の位置決め部のそれぞれとの間に配置されているマイクロ波反射部９と、を有する加熱補助器具４。 - 特許庁

The image processor is equipped with a means for successively obtaining enlarged images of a sample in the same field of view from a microscope, a means for integrating plurality of the images successively obtained to form an integrated image and a means for superimposing the integrated images on the next one at a matching position to integrate them.例文帳に追加

顕微鏡から試料の拡大した同一の視野の画像を順次取得する手段と、順次取得した画像について、所定の複数毎を積算して積算画像を生成する手段と、積算画像と次の積算画像とをマッチングする位置で重ねて積算する手段とを備えるように構成する。 - 特許庁

Whereby the instability of the secondary ion intensity immediately after the start of measurement is curbed, and the quantitative analysis can be performed while the secondary ionization rate is stable after the interface position of the metal silicide film 3 and the silicon base 1 in the processed sample, that is, in the all area including the silicon base 1 surface.例文帳に追加

これにより、測定開始直後の二次イオン強度の不安定さはアモルファスシリコン層４の表面で収束し、処理試料における金属シリサイド膜３とシリコン基板１の界面位置以降、すなわち、シリコン基板１表面を含むすべての領域で、二次イオン化率が安定した状態で定量分析を行うことができる。 - 特許庁

The apparatus is especially equipped with a needle (4) for collecting a sample and a cannula (5), slides (11, 12) connecting with springs (14, 15) for starting the needle and the cannula, a control button for bringing the slides to the backward position against the springs for starting the needle and the cannula, and a trigger mechanism.例文帳に追加

この装置は、特に、サンプルを採集するための針(４)とカニューレ(５)と、これらの針とカニューレとを始動させるためのバネ(１４、１５)に連結されたスライド(１１、１２)と、上記の針とカニューレとを始動するため上記のスライドをバネに抗して後方位置に寄せる制御ボタンと、トリガー機構とを備えている。 - 特許庁

When the stylus-type prove 10 is irradiated with illumination light from a laser light source 4 through the glass substrate 20, an interference fringe appears resulting from the gap G, and the position in the X-direction of the interference fringe is detected by a microscope 2 and a CCD camera 3, to thereby measure the irregularity quantity on the sample S surface.例文帳に追加

レーザー光源４からの照明光をガラス基板２０を通して触針式プローブ１０へ照射すると、ギャップＧに起因して干渉縞が現れ、その干渉縞のＸ方向の位置を顕微鏡２とＣＣＤカメラ３で検出することにより、試料Ｓの表面の凹凸量を測定する。 - 特許庁

This sample body is provided with a masking layer 13 formed from such a material that chemical transformation occurs reversibly to produce an aperture 3 by the chemical transformation caused by heat or light irradiation and a recording layer 15 provided at the reachable position of an evanescent field caused by the aperture 3 when the masking layer 13 is irradiated with light.例文帳に追加

熱あるいは光照射により化学変化を起こしてアパーチャ３を生じ、前記化学変化が可逆的である材料により形成されたマスク層１３と、このマスク層１３に光を照射したときにアパーチャ３にて生じるエバネッセント場が到達可能な位置に設けられた記録層１５とを備えている。 - 特許庁

This optical microscope is provided with an objective lens 2 forming a 1st real image by enlarging the image of a sample, a light amplification means whose photoelectric surface is arranged at a position where the 1st real image is formed and an ocular 3 enlarging a 2nd real image optically amplified and outputted from the light amplification means as a virtual image.例文帳に追加

光学顕微鏡において、標本を拡大して第１の実像を結像させる対物レンズと、第１の実像の結像位置に光電面が配置された光増幅手段と、この光増幅手段から出力される光増幅された第２の実像を虚像として拡大する接眼レンズとを設ける。 - 特許庁

In the neighborhood of a position where the pulse gas which transitionally advances in a parallel direction to the vacuum chamber 17 by being ejected from the pulse gas ejecting device 12 and the pulse gas is transitioned to have a triangle type pressure distribution not having a flat part from the flat top trapezoidal type pressure distribution having a flat part, the laser beam irradiation system is set so that the laser beam is irradiated to the sample molecules.例文帳に追加

レーザー光照射システムは、パルスガス噴射装置１２から噴射されて真空室１７を並進するパルスガスが、フラット部を有するフラットトップ台形型圧力分布からフラット部を有しない三角型圧力分布に遷移する位置付近において、レーザー光をサンプル分子へ照射するように設定される。 - 特許庁

The lithography apparatus 100 comprises a BLK deflector 212 for turning on electron beams 200 by passing them without any deflection and turning off the beams by deflecting them, a forming deflector 205 for deflecting the electron beams 200 for forming, and an objective deflector 208 for deflecting the electron beams 200 to a predetermined position in a sample 101.例文帳に追加

描画装置１００は、電子ビーム２００を偏向せずに通過させることでビームＯＮさせ、偏向することでビームＯＦＦさせるＢＬＫ偏向器２１２と、電子ビーム２００を偏向して成形する成形偏向器２０５と、電子ビーム２００を試料１０１の所定の位置に偏向する対物偏向器２０８と、を備える。 - 特許庁

For example, when an output of a gas sensor 23b is saturated at a preliminary measurement, the output of the gas sensor 23b may be optimized by regulating a degree of opening of the gas sensor chamber 21b by adjusting a position of the shutter 25 to control an amount of the sample gas to be introduced into the gas sensor chamber 21b.例文帳に追加

例えば予備測定時にガスセンサ２３ｂの出力が飽和してしまった場合は、シャッター２５の位置を調節してガスセンサ室２１ｂの開放度合いを調節することにより、ガスセンサ室２１ｂに導入されるサンプルガスの量を調節してガスセンサ２３ｂの出力を最適化することができる（（Ｃ）参照）。 - 特許庁

A plasmid is produced by connecting nucleotide sequence control (synthetic nucleotide having methylcytosine, unmodified cytosine or uracil at one or more known position), the plasmid is made linear to produce an imitation of genome nucleic acid sample, and the imitation is provided to the methylation examination and used for the method for evaluating effectiveness of the methylation examination.例文帳に追加

ヌクレオチド配列対照物（一以上の既知の場所にメチルシトシン、未修飾シトシン、ウラシルをもつ合成ヌクレオチド）の連結によりプラスミドを造り、このプラスミドを線状にしてゲノム核酸サンプルの模倣体を産生し、この模倣体をメチル化検査法に供し、メチル化検査法の有効性を評価するための方法に使用する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of observing reactions of light stimulation and fluorescence discoloration in real time by adding a function for performing the light stimulation to a Nipkow disk system confocal microscope, and adjusting a focal position in the optical axis direction of the spot of the light beam for stimulation that is concentrated on a sample.例文帳に追加

ニポウディスク方式の共焦点顕微鏡に光刺激を行なう機能を付加することにより、光刺激や蛍光褪色の反応をリアルタイムで観察可能とすると共に、試料上に集光させる刺激用光ビームのスポットの光軸方向焦点位置を調節することができる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

This method for detecting Candida albicans comprises labeling about 0.9 kb DNA fragment obtained by decomposing whole DNA of Candida albicans with a restriction enzyme EcoO109I and having a restriction enzyme HincII recognition site at the position of about 0.1 kb from one end and bringing the DNA fragment into contact with a sample to be detected as a probe in situ and detecting signals from the above label.例文帳に追加

カンジダアルビカンスの全ＤＮＡを制限酵素ＥｃｏＯ１０９Ｉで分解して得られ、一端より約０．１ｋｂの位置に制限酵素ＨｉｎｃII認識部位を有する約０．９kbのＤＮＡ断片を標識し、イン・ザイチューでプローブとして被検試料と接触させ、前記標識からの信号を検出する。 - 特許庁

A determination unit 53 detects whether a specific fluorescent reaction 81 is present in a sample 8 based on calculation processing data for each pixel unit obtained by comparison calculation between pixel units that are at the same position in the binarized data for each pixel unit in the plurality of kinds of digital images D1, D2 at excitation.例文帳に追加

判定部５３は、複数種類の励起時デジタル画像Ｄ１，Ｄ２における各画素単位の２値化データのそれぞれ同じ位置にある画素単位同士で照合演算して求めた各画素単位ごとの演算処理データに基づいて、試料８中における特定蛍光反応８１の有無を検出する。 - 特許庁

The sample holder 10 for an electron microscope loaded with a measuring target has a housing 16 having openings 28 and 28' permitting the electron beam applied to the measuring target and the detection means provided in the housing 16 to measure the position and flight time of the element dissociated from the measuring target.例文帳に追加

被測定体を搭載する電子顕微鏡用の試料ホルダ１０において、前記被測定体に照射される電子線が通過可能な開口２８、２８’を有する筐体１６と、前記筐体１６の内部に設けられ、前記被測定体から離脱した元素の位置および飛行時間を測定する検出手段とを有する。 - 特許庁

A fine regulation mechanism is provided with a shaft body 51 for supporting the sample support mechanism, a nut 50 screwed with a male screw part 51a of the shaft body 51 and provided in a prescribed position, a worm wheel 63 fixed to the nut 50, a worm meshed with the worm wheel 63, and a fine regulation knob for rotating the worm regularly and reversely.例文帳に追加

微調整機構は、試料支持機構を支持した軸体５１と、軸体５１の雄ネジ部５１ａに螺着されると共に所定位置に設けられたナット５０と、ナット５０に固定されたウォームホイール６３と、ウォームホイール６３に噛合するウォームと、ウォームを正逆両方向に回転させる微調整ノブとを備えた。 - 特許庁

The sucking apparatus for dispensing the liquid is provided with a main part 7 for dispensing the liquid, a plunger reciprocable in a cylindrical space 2 so as to dispense a liquid sample to a chip, a returning spring 1 for returning the plunger to its initial position, and a means for adjusting and setting the dispensing quantity.例文帳に追加

液体を分注するための本体部７と、液体サンプルを分注されるチップ内にサンプルを分注すべく筒状空間２において往復移動可能なプランジャと、プランジャをその初期位置に戻すための戻しバネ１と、分注量を調節設定するための分注量調節設定手段とを備えた液分注用吸引装置。 - 特許庁