「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

The method for observation and determination of dimensions of individual molecule and for determination of weight distribution of a polydispersed sample: comprises placing a molecule in a media, applying external forces, inducing change of conformation/position; and then measuring the change.例文帳に追加

個々の分子の寸法の観察及び決定並びに多分散試料の重量分布の決定のための方法であって：媒体中に分子を置き、その分子に外力を加え、コンホメーション／位置の変化を引き起こし；次いでそれらの変化を測定することを含む。 - 特許庁

To provide a technique capable of surely measuring a molten steel temperature, a coagulation temperature and a sample property, etc., for instance by accurately and surely detecting respective boundary position and thus accurately controlling an immersion depth to a molten metal layer.例文帳に追加

より精度よく且つ確実に各境界位置を検知でき、これにより溶融金属層への浸漬深さをより正確に制御することで、例えば溶鋼温度や凝固温度、サンプル性状などの測定をより確実に行うことができる技術を提供せんとする。 - 特許庁

The light receiving surface of a photodetector 15 is arranged in the light condensing position of the objective lens 106, and the light receiving surface is irradiated with the luminous flux which returns from the objective lens 106 after being condensed by the objective lens 106 and reflected on the surface of a sample 100.例文帳に追加

光検出器１５は、対物レンズ１０６の集光位置に受光面が配置されており、対物レンズ１０６によって集光させた光束が標本１００の面上で反射した後に対物レンズ１０６を戻って当該受光面へ照射される。 - 特許庁

To provide a method of controlling position by which an ultra-fine pattern can be formed in a highly reproducible state with high accuracy when an auto-alignment mechanism is unusable or the fine adjustment of a sample holder is difficult after the holder is fixed in a lithography step performed in the manufacturing process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造工程のリソグラフィー工程において、オートアライメント機構の使用が不可能な場合、またはサンプルホルダー固定後の微調整が困難な場合に極微細パターンを高精度で再現性良く形成できる位置制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device capable of easily setting a position of an FOV or a size, even when there are a number of measurement points on a sample, as well as an image acquisition condition determining method, using the device.例文帳に追加

本発明は、数多くの測定点が試料上に存在する場合であっても、ＦＯＶの位置、或いは大きさを容易に設定することが可能な荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置による画像取得条件決定方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a cassette of excellent examination precision for medical examination capable of eliminating labors and time of transferring a specimen during preparation of a sample, capable of keeping the specimen in a prescribed position and direction to be embedded, cutting it into a thin slice, and of attaining labor saving for work and quickening the work.例文帳に追加

標本作製中に検体を移し替える手間が不要で、検体を所定の位置と方向を維持して包埋し、薄切することが可能な、作業の省力化と迅速化を図るとともに、検査精度に優れた医療検査用カセットを提供する。 - 特許庁

To provide a coulometric measuring method, the device for the coulometric measuring cell and a coulometric measuring cell set, capable of easily keeping the supply height, angle position, and the like of a sample liquid on the detection electrode of a coulometric measuring cell constant by using a simple constitution.例文帳に追加

簡単な構成で容易に、クーロメトリ式測定セルの検出極上へ試料液を供給する高さ、角度、位置などを一定に保つことができるクーロメトリ式測定方法、クーロメトリ式測定セル用治具及びクーロメトリ式測定セルセットを提供する。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 is made to almost perpendicularly cross with that of an electron beam irradiation system for STEM observation 5, the sample 7 is arranged on the crossing position, and an FIB cross section processing face is used for a thin film face for STEM observation.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

Non-compacted powder fed to the mill hole from the powder feeders 21, 41 is removed through evacuation by the suction heads 28, 48, and a sample compacted at least by the pressure roll 16 at the position on the most upstream side is taken out of the rotary table 3 by a scraper 61.例文帳に追加

粉末供給器21,41から臼孔に供給された未圧縮の粉末を、吸引ヘッド28,48での真空吸引により取除いて、少なくとも最上流側位置の加圧ロール16で圧縮成型されたサンプルを、スクレーパ61で回転盤3外に取出すようにしている。 - 特許庁

A weir 19 is disposed at the position near to the inlet 2 of a push-out flow type digestion tank 1 having the inlet 2 at one end part thereof and having an outlet 3 at the other end thereof and the section on the upstream side of the weir 19 is set as a first chamber 20 provided with a sample collection port 33.例文帳に追加

一端部に入口２を備え、他端部に出口３を備えた押し出し流れ形式の消化槽１の入口２側寄り位置に堰１９を設け、堰１９より上流側の区画を第一室２０とし、サンプル採取口３３を設ける。 - 特許庁

As the support 5 is made movable lengthwise of the top plate 1 separately from the X-ray generating part 3, the position of the X-ray generating part 3 to the sample can be held while the support 5 can be solely moved lengthwise of the top plate in accordance with the need of operation.例文帳に追加

支柱5をＸ線発生部3と独立して天板1の長手方向に移動可能とすることで、施術の都合に合わせて、Ｘ線発生部3の被検体に対する位置を保持したまま、支柱5のみを天板長手方向に移動させることができる。 - 特許庁

A genetic polymorphism at a position of from the 1038th to 1048th of a second intron of 3 gene of angiopoietin in a human genome DNA is specifically detected by detecting a sample containing the human genome DNA and using a genetic polymorphism analyzing method.例文帳に追加

ヒトゲノムＤＮＡを含む試料を検査し、遺伝子多型解析方法を用いてヒトゲノムＤＮＡ中のアンジオポエチン関連蛋白質３遺伝子の第２イントロンの１０３８番目から１０４８番目の位置における遺伝子多型を特異的に検出する。 - 特許庁

A measurement probe 8 is moved to the measurement position of a reference sample 20a by controlling a linear slider 5 when the time of a time interval predetermined by a CPU 1 is passed, and reference sampling for storing spectral data that are output to a RAM 2 by a spectroscope is performed.例文帳に追加

ＣＰＵ１が予め設定した間隔時間の経過時にリニアスライダ５を制御して測定プローブ８をリファレンスサンプル２０ａの測定位置に移動させて、前記分光器が出力した分光データをＲＡＭ２に記憶させるリファレンスサンプリングを行う。 - 特許庁

To provide a method for easily and rapidly obtaining structural information, by identifying the bonding position of a labeling compound within a molecule by MS^n(n>1) analysis, along with enabling MS^n (n>1) analysis of a trace amount of a sample.例文帳に追加

本発明の目的は、微量試料においてもＭＳ^n（ｎ＞１）解析を可能にするとともに、ＭＳ^n（ｎ＞１）解析によって分子中の標識化合物の結合位置を同定することによって簡便、迅速に構造情報を得る方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an infrared spectroscopic device for measuring the infrared absorption spectrum while ultraviolet light is applied to a measured sample, which has a simple measuring mechanism, prevents disagreement between the beam diameters of irradiating light of infrared ray and ultraviolet ray and shifting of irradiating position, and is capable of applying ultraviolet light to the measured sample by use of an attachment without an ultraviolet ray radiating window.例文帳に追加

紫外光を測定試料に照射しながら赤外線吸収スペクトルの測定を行なう赤外分光装置において、測定機構が単純で、赤外光と紫外光の照射光同士のビーム径の不一致や照射位置の位置ずれが起こらず、しかも、紫外線照射窓のない付属品を使用して測定試料に紫外光を照射することが可能な赤外分光装置を提供する。 - 特許庁

The absolute value of a composite sample wherein OFDM symbols succeed is calculated, the difference of the mentioned value and another value which are separated by a cycle representing the effective part of the OFDM symbols is decided and integrated over multiple symbols, and the sample position indicating a point where the integrated difference value substantially varies is decided to generate frame synchronizing pulses, which are used to perform FFT demodulation of the OFDM symbols.例文帳に追加

ＯＦＤＭシンボルの連続する複合サンプルの絶対値を導出し、ＯＦＤＭシンボルの有効部分を表す周期だけ分離された前記値と他の値との差を判定し、差分値を複数のシンボルに亘って積分し、かつ積分された差分値が実質的に変化するポイントを表すサンプル位置を判定することによって生成されたフレーム同期パルスを用いて、ＯＦＤＭシンボルのＦＦＴ復調が達成される。 - 特許庁

In order to solve above problems, a high-powered microscope apparatus is provided with a prescribed pattern which is formed on the stage or a sample support member for microscopes, a recognizing means which recognizes the prescribed pattern, and a moving means which moves the sample support member for the microscopes to a prescribed position, based on positional information being recognized by the recognizing means.例文帳に追加

本発明によれば、上記課題を解決するために、顕微鏡用試料保持材やステージに形成された所定のパターンと、この所定のパターンを認識する認識手段と、この認識手段によって認識された位置情報に基づいて、上記顕微鏡用試料保持材を所定位置に移動させる移動手段とを備えていることを特徴とする高倍率顕微観測装置を提供される。 - 特許庁

The method for analyzing the depth direction element distribution of a sample consists of a process subjecting the surface of a sample to precise cross-sectional processing by converged ion beam 2', a process for measuring fine particles 3 generated from the cross section 17 obtained by the precise cross-sectional processing and a process for processing the measured value as a function of the depth direction scanning position of the converged ion beam.例文帳に追加

収束イオンビーム（２’）により試料表面を精密断面加工する工程と、前記精密断面加工により得られた断面（１７）から発生する微粒子（３）を測定する工程と、前記測定によって得た値を前記収束イオンビームの深さ方向走査位置の関数として処理する工程と、を具備することを特徴とする、試料の深さ方向元素分布分析を行う方法。 - 特許庁

This method of photoelectron spectroscopic analysis for an insulating material has, at least, a conductive-film forming process for forming a conductive thin film near a measured position of a sample prior to measurement, and a measurement process for performing measurement while irradiating the measured position with electron rays and applying a voltage on the thin film.例文帳に追加

本発明は絶縁物試料のＸ線光電子分光分析法において、測定に先立ち、該試料の測定箇所近傍に導電性薄膜を形成する導電性薄膜形成工程と、該測定箇所に電子線を照射しつつ、かつ該導電性薄膜に電圧を印加しながら測定を行なう測定工程とを少なくとも有するＸ線光電子分光分析方法を提供する。 - 特許庁

A stirring mechanism of a noncontact system for stirring reaction liquid is arranged at least on either of a specimen dispensation position and a reagent dispensation position, and an operation for dipping the sample probe or the reagent probe into a reaction container into which a detergent is discharged, and a stirring operation of the noncontact system in the reaction container are performed simultaneously, to thereby clean automatically the inner wall and the outer wall of the probe.例文帳に追加

本発明は、検体分注位置または試薬分注位置の少なくともいずれかにおいて、反応液を攪拌するための非接触方式の攪拌機構を配置し、洗剤が吐出された反応容器にサンプルプローブまたは試薬プローブを浸漬する動作と、当該反応容器において非接触方式の攪拌動作を同時に行うことにより、プローブの内壁および外壁を自動で洗浄する。 - 特許庁

In a confocal laser microscope 100, an information recording part 10 is configured to record luminance information detected by an optical detector 6 and position information acquired by a position detection part 8 in association with each other by a specific moving method for changing a sample 5 and/or an objective lens 4 to either the increasing direction or reducing direction of their mutual relative distance by a driving mechanism 7.例文帳に追加

共焦点レーザ顕微鏡１００において、情報記録部１０は、駆動機構７で試料５および／または対物レンズ４を、互いの相対距離の増大方向または縮小方向のいずれかの方向へ変化させる特定移動方法により、光検出器６が検出した輝度情報と位置検出部８が取得した位置情報とを相互に関連付けて記録する。 - 特許庁

With fluorescence emitted from this sample, a photomultiplier tube 24 is irradiated via the objective lens 16, the dichromic mirror 14, a spectroscopic filter 18, a condensing lens 20 and a pinhole slit 22, and the existence or absence of fluorescent materials in the well 4 located in the irradiation position A and the concentrations are measured.例文帳に追加

試料から発光された蛍光を対物レンズ１６、ダイクロイックミラー１４、分光フィルター１８、集光レンズ２０及びピンホールスリット２２を介して光電子増倍管２４へ照射して、照射位置Ａに位置されたウェル４内の蛍光物質の有無及び濃度を測定する。 - 特許庁

When depositing the material for forming an EL layer, a mask 113 is arranged between a sample boat 111 and a base board 110, and the advancing direction of the material for forming the EL layer is controlled by impressing voltage on the mask 113, and the material can be selectively deposited on the desired position.例文帳に追加

ＥＬ層を形成する材料を蒸着する際に試料ボート１１１と基板１１０の間にマスク１１３が設けられており、マスク１１３に電圧をかけることによって、ＥＬ層を形成する材料の進行方向が制御され、所望の位置に選択的に蒸着することができる。 - 特許庁

In the case of photographing, a setting picture 51 expressing a numeral range settable as the photographing condition by a particular display form (two-dimensional coordinate axes) is displayed, and the sample image is displayed at a position corresponding to the setting value of each scene stored in the memory in the setting picture 51.例文帳に追加

撮影に際し、撮影条件として設定可能な数値範囲を特定の表示形態（二次元座標軸）で表した設定画面５１を表示すると共に、その設定画面５１中の前記メモリに記憶された各シーンの設定値に対応した位置にサンプル画像を表示する。 - 特許庁

The toroidal mirror 2 reflects a component in each direction around the center axis parallel with a measuring plane 2a vertical to the center axis 2x, among rays of reflected light from the face 1 of the sample, and converges it at a position corresponding to each direction on the focal circumference 2f of the toroidal mirror 2.例文帳に追加

トロイダル鏡２は、試料面１からの反射光のうち、中心軸２ｘに垂直な測定平面２ａに平行な中心軸周りの各方向の成分を反射すると共に、トロイダル鏡２の焦点円周２ｆ上の各方向に応じた位置に収束する。 - 特許庁

A mask 30 for use in an electron beam proximity aligner 1 is provided while altering the line width (Wma-Wmc) of each aperture (35a-35c) depending on the distance between a mask thin film 32 and a sample 40 at the position of the aperture (35a-35c) which varies due to the deflection of the thin film 32.例文帳に追加

電子ビーム近接露光装置１に使用するマスク３０を、その薄膜部３２のたわみにより変化する、各開口（３５ａ〜３５ｃ）位置におけるマスク薄膜部３２と試料４０との距離に応じて、当該開口（３５ａ〜３５ｃ）の線幅（Ｗｍａ〜Ｗｍｃ）を変更して設ける。 - 特許庁

X-rays, secondary electrons or the like generated from the sample by electron beam irradiation are detected respectively by an X-ray detector 24 and an electron detector 23, and results are stored in a storage part 34 as time series data combined in time series together with elapsed time information and a coordinate position.例文帳に追加

電子線照射により試料から発生したＸ線、二次電子等をそれぞれＸ線検出器２４、電子検出器２３で検出し経過時間情報、座標位置とともに時系列的に組み合わせた時系列データとして記憶部３４に格納する。 - 特許庁

When the integration time Ts is shorter than fixed level time Tc of the LCD driving signal A, a position detection sample signal S2 is also integrated in the fixed level time Tc by shifting the start timing of the sampling by time Td from rising timing of the LCD driving signal A.例文帳に追加

積分時間ＴｓがＬＣＤ駆動信号Ａの一定レベル時間Ｔｃよりも短い場合には、サンプル開始タイミングをＬＣＤ駆動信号Ａの立ち上がりタイミングから時間Ｔｄだけずらして一定レベル時間Ｔｃ内で位置検出サンプル信号Ｓ２を積分してもよい。 - 特許庁

The front surface of the practicing paper sheet 1 is printed, in addition to the character sample book 2, with figures 3-1 to 3-4, 4-1 to 4-3, a circular frame 5, a cross-shaped line 5, a circular auxiliary frame 7, and a frame 8 indicating a position where where a name is written.例文帳に追加

練習用紙１の表面には、文字手本２のほか、文字手本２の筆順を示す数字３−１〜３−４，４−１〜４−３、円形の枠５、枠５の中心を示す十文字状の線６、円形の補助枠７、名前を書く位置を示す枠８を印刷する。 - 特許庁

This magnetic field applying device of the transmission electron microscope comprises a plurality of deflectors to swingingly return the optical axis deflection of an irradiated electron beam generated simultaneously with application of the magnetic field onto the optical axis, and is formed so that the deflection main surface of one deflector is disposed at a position extremely close to the surface of the sample 6.例文帳に追加

透過電子顕微鏡の磁場印加装置において、磁場印加と同時に発生する照射電子線の光軸偏向を軸上に振り戻す複数の偏向器からなり、１つの偏向器の偏向主面が試料６表面に極めて近い位置に配置されように構成される。 - 特許庁

To be able to collect a sample at the targeted depth position easily and securely by eliminating the possibility that a pile hole infill on the way to the targeted depth could be attached around the undersurface of a upper external cylinder and the top face of a lower external cylinder, and enabling operation only by the lifting performance of an operation bar.例文帳に追加

採取装置が採取深さに至るまで、途中深さの杭穴充填物が上外筒の下面及び下外筒の上面の周辺に付着するおそれがなく、操作棒の引き上げ動作のみで操作できるので、求める深さ位置の試料を簡易かつ確実に採取できる。 - 特許庁

Original image data loaded by using a universal scanner 30 or a digital camera on a condition that a film-type culture medium 10 after incubating a test sample on a culture layer is placed on a tray 20, are received from a user, and corrected image data in which the tilt, position, and image quality of the original image data are corrected, are created.例文帳に追加

培養層で検体をインキュベ−トした後のフィルム型培地１０をトレイ２０に載置した状態で汎用スキャナ３０やデジタルカメラを用いて取り込んだ元画像データをユーザから受信し、該元画像データの傾きおよび位置、さらには画質を補正して補正画像データを作成する。 - 特許庁

A sample supply device includes a storage part configured so as to be able to store containers, a carry-out part for carrying out containers in the storage part to the outside of the storage part, and an arrangement part for arranging containers carried out to the outside of the storage part by the carry-out part on a prescribed position.例文帳に追加

容器を貯留可能に構成された貯留部と、前記貯留部内の容器を前記貯留部外へ搬出する搬出部と、前記搬出部によって前記貯留部外に搬出された容器を所定位置に配置する配置部と、を備えた試料供給装置である。 - 特許庁

Preferably, in the metal tube 5, a first domain 5a including the position facing to the sample container 4 is made of a first metal having an excellent thermal conductivity, and a second domain 5b other than the first domain 5a is made of a second metal having a lower thermal conductivity in comparison with the first metal.例文帳に追加

金属管５は、試料容器４に対向する位置を含む第１の領域５ａが熱伝導性に優れる第１の金属からなるとともに、第１の領域５ａ以外の第２の領域５ｂが第１の金属と比較して熱伝導性が低い第２の金属からなることが好ましい。 - 特許庁

To provide an objective mirror replacing device capable of replacing an objective mirror simply as much as possible, and at the same time, bringing a free space which is large as much as possible in the periphery of the objective mirror and an inspection sample placed on an operation position, and to provide a microscope including the objective mirror replacing device.例文帳に追加

できるだけ簡単な対物鏡交換を可能にし、一方で操作位置に置かれた対物鏡と検査標本の周囲に出来るだけ大きな自由空間をもたらす、対物鏡交換装置及び当該対物鏡交換装置を備えた顕微鏡を具体化することである。 - 特許庁

To solve a problem that accuracy is deteriorated by fluctuation in a measurement value caused by fluctuation in an ablation laser spot position and a spot area on a sample surface when measuring the laser-induced fluorescence of an element generated by irradiating plasma generated at irradiation with ablation laser light with a laser having a resonance wavelength.例文帳に追加

アブレーションレーザ光を照射して生成したプラズマに共鳴波長のレーザを照射して発生させた元素のレーザ誘起蛍光を測定する際に、試料面上のアブレーションレーザスポット位置やスポット面積の変動によって測定値が変動し、精度が劣化する問題を解決する。 - 特許庁

To precisely acquire, for the purpose of analyzing in the order of microns the structure of a multi-layered permeable membrane formed in a cylindrical shape, Rayleigh light containing information on the interfacial position of the membrane while acquiring faint Raman scattered light containing information required for analyzing the sample in the depthwise direction.例文帳に追加

円筒形状に形成された多層構造の透過性の膜のミクロン単位の膜構造解析をおこなうため、試料の深さ方向解析に必要な情報を含んだ微弱なラマン散乱光を取得しつつ、膜の界面位置情報を含んだレイリー光を精度良く取得する。 - 特許庁

The sweat gathered in the sweat gathering tank 11 installed on the skin is sent out to a collecting pipe 12 by sweating action and, when the leading end thereof is detected by a sensor 13, the sweat of the amount up to the position of the sensor 13 is drawn into a flow channel pipe 21 as the sweat sample by opening a valve 23.例文帳に追加

皮膚に設置された集汗用のタンク１１で収集された汗は採取管１２に発汗作用によって送り出され、センサ１３でその先端が検出されると、センサ位置までの量の汗が試料としてバルブ２３が開いて流路管２１に引き込まれる。 - 特許庁

When the XY moving stage 6 is moved to change the position of the sample S, the refractive power variable lens 20 is moved similarly to the XY moving stage 6, whereby the optical axis of the refractive power variable lens 20 is aligned with the center axis of the curved liquid level of the culture solution.例文帳に追加

ＸＹ移動ステージ６を移動させて標本Ｓの位置を変えたときには、屈折力可変レンズ２０もＸＹ移動ステージ６と同じように移動させることにより、屈折力可変レンズ２０の光軸を培養液の彎曲液面の中心軸と一致させる。 - 特許庁

Two metal drums 2, 3 are vertically mounted, an interval therebetween is adjusted corresponding to a thickness of a measured sample, the lower drum 3 makes one rotation at a constant speed, is stopped at a fixed position, and further is driven by a driving motor 5 through a torque sensor 5.例文帳に追加

二本の金属製のドラム（２），（３）を垂直方向に配設し、その間隔を測定試料の厚さに合わせた間隔に調節でき、下側のドラム（３）は定速で一回転し定位置で停止するようにし、かつ、下側のドラム（３）は駆動モーター（５）よりトルクセンサー（５）を介して駆動するよう構成する。 - 特許庁

The scale device comprises a scale beam 4 supporting a sample S, a shaft 3 supporting the scale beam 4, bearings 2 rotatably-supporting the shaft 3 in a magnetically levitating condition, and a shaft position sensor 14 detecting positional variation in an axial line direction X_0 of the shaft 3.例文帳に追加

試料Ｓを支持する天秤ビーム４と、天秤ビーム４を支持する支軸３と、支軸３を磁力により浮かせた状態で回転可能に支持する軸受２と、支軸３の軸線方向Ｘ０の位置変化を検出する支軸位置センサ１４とを有する天秤装置である。 - 特許庁

According to the coordinate data on the sample points, the identification server 5 refers to a coordinate table 508 associating entry fields plotted on the application form 36 and position coordinates on a dot pattern to identify in which entry field the stroke has been entered.例文帳に追加

そして、識別サーバ５は、サンプル点の座標データに基づいて、申込書３６に配置された記入欄とドットパターン上の位置座標とが対応付けされた座標テーブル５０８を参照することにより、ストロークがどの記入欄に対して記入されたものであるかを識別する。 - 特許庁

To provide an inexpensive device with a simple structure and an easy operation capable of enlarging an analyzing area of sample and enhancing a resolving power of ion at an electric field evaporation position to an atom level in an atom probe or a scanning type atom probe in which an electric field ion microscope and an ion detector are combined.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡とイオン検出器を組み合わせたアトムプローブあるいは走査型アトムプローブにおいて、試料の分析領域を拡大すると共にイオンの電界蒸発位置の分解能を原子レベルまで向上させ得る、簡素な構造で安価で操作が容易な装置を構成する。 - 特許庁

On an X-ray spectrum generated based on a detected signal obtained by irradiating with a primary X-ray a sample 2 to be measured, a Rayleigh scattering ray detection section 14 detects a Rayleigh scattering ray which is expected to appear on an energy position in accordance with a target element of an X-ray tube 1.例文帳に追加

被測定試料２に１次Ｘ線を照射して得られた検出信号に基づいて作成されるＸ線スペクトル上で、レイリー散乱線検出部１４はＸ線管１のターゲット元素に応じたエネルギー位置に出現する筈であるレイリー散乱線を検出する。 - 特許庁

In the information recording medium equipped with a perpendicular magnetic recording layer, the perpendicular magnetic recording layer is composed of magnetic material of which inclination α of a magnetic hysteresis curve measured by an oscillating sample magnetometer at a coercive force position Hc of the recording layer becomes in the range of 2.0-20.例文帳に追加

垂直磁気記録層を備えた情報記録媒体において、垂直磁気記録層を、振動試料型磁力計により測定される磁気履歴曲線の、該記録層の保磁力Ｈｃ位置における傾きαが、２．０〜２０の範囲となる磁性材料により構成する。 - 特許庁