「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, a probe for analyzing nucleic acid is fixed to the second metal layer or the insulation layer 603 at the gap position and the nucleic acid in the sample is analyzed, by generating localized surface plasmon with optical irradiation to the gap.例文帳に追加

そして、ギャップ位置の第二の金属層又は絶縁層６０３に、核酸を分析するプローブを固定し、ギャップへの光照射により局在型表面プラズモンを発生させ、試料中の核酸を分析する。 - 特許庁

In relation to a specific measuring item, a control part 18 recognizes the position of the reagent container on reagent disks 71a and 71b at the point of time when work for dispensing a reagent in a reaction tube 3 containing a specimen sample is completed.例文帳に追加

特定の測定項目に関して、検体試料を含む反応管３に試薬を分注する作業が終了した時点での試薬ディスク７１ａ、７１ｂ上の試薬容器位置を制御部１８が認識する。 - 特許庁

To provide a scanning type optical microscope which can have its confocal pinhole position easily aligned with the optical axis of the light from a sample and a confocal pinhole adjusting method for the scanning type optical microscope.例文帳に追加

共焦点ピンホール位置を簡単に標本からの光の光軸に一致させることが可能な走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a focusing method for easily aligning a sample with the focus position of an objective lens and to provide a micro chemical system and an analyzer which execute this method.例文帳に追加

マイクロ化学システム及び分析装置において、試料の位置を対物レンズの焦点位置に簡易に合わせることができる合焦方法及び該方法を実行するマイクロ化学システム及び分析装置を提供する。 - 特許庁

Provided is the optical microscope where an infrared-visible conversion part is arranged at a conjugate position to a sample surface in a microscope equipped with an objective, an eyepiece and an infrared light source.例文帳に追加

本発明の上記課題は対物レンズと接眼レンズと赤外光源を備えた顕微鏡において、標本面と共役位置に赤外可視変換部が配置されることを特徴とする光学顕微鏡によって解決される。 - 特許庁

The photo detector 16 is turned about the measuring position for measuring regular reflected light in a predetermined angle range, reflected light from the non-abrasion region of the sample 11 is measured, and a value showing the glareproof is determined.例文帳に追加

この受光器１６を正反射光を測定する測定位置を中心に所定の角度範囲で回動させて、試料１１の非擦傷領域をからの反射光を測定し、防眩性を示す値を求める。 - 特許庁

Accordingly, since the exclusive arrangement position for the subject sample, when its quantity is very small, can be discriminated, a malfunction by noise, for example, can be prevented to provide a device with high measurement precision and reliability.例文帳に追加

これにより、被検試料が微量の場合には、専用の配置位置を区別することができるので、例えばノイズによる誤動作を防止して測定精度及び信頼性の高い装置を提供することも可能である。 - 特許庁

Therefore, the position of the test tube 1 is not varied even when the flow rate of the heating/cooling gas 104 is increased, the sample temperature can be uniformed, and the RF receiving sensitivity is improved to allow the NMR analysis of high sensitivity.例文帳に追加

従って、温調ガス１０４の流量を増大しても試料管１に位置変動がなく、試料温度を均一化でき、ＲＦ受信感度を向上して高感度のＮＭＲ分析が可能になる。 - 特許庁

To provide a reflecting X-ray microscope using an image-forming optical system provided with a convex mirror and a concave mirror and capable of observing an image of a sample placed approximately perpendicular to an optical axis yet in a reflecting position.例文帳に追加

凸面鏡と凹面鏡を具備した結像光学系を用いて、試料を光軸にほぼ垂直に配置して、なおかつ反射型の配置で像を観察することのできる反射型Ｘ線顕微鏡を得る。 - 特許庁

Thereafter, a data quantity (correction quantity) determined from the approximate expression at each scanning position (x) is subtracted from the measured data in the whole scanning range by a data correction part 33, and the extracted data are used as corrected sample surface data.例文帳に追加

続いて、データ補正部３３で、全走査範囲の前記実測データから、各走査位置（ｘ）にて前記近似式により求めたデータ量（補正量）を差し引き、差し引いたデータを、補正された試料表面データとする。 - 特許庁

Measurement precision is not reduced even if scanning when light is measured is applied to the outside of coloring scope, satisfactory measurement precision is obtained without being affected by the point fixation liquid amount, and measurement is possible by a small amount of sample without depending on the point fixation position.例文帳に追加

測光時の走査が発色範囲外にかかっても測定精度が低下せず、点着液量の影響を受けず良好な測定精度が得られ、微量の検体で測定でき、点着位置に左右されない。 - 特許庁

This system comprises an evaluation device 2 equipped with a test element 3 in contact with an analysis sample 8 and a test element support part 5 for fixing the test element 3 on a measuring position for executing analysis and a measuring/evaluating electronic device 15.例文帳に追加

分析を行なうために、被分析サンプル８に接触するテストエレメント３、テストエレメント３を測定位置に固定するテストエレメント支持部５を備えた評価装置２および測定・評価電子装置１５からなる。 - 特許庁

Moreover, the phase change of the X rays due to the sample 2 is allowed to emerge on the X-ray image pick-up element 3 as interference contrast by locating a reflection standard 7 in a symmetrical position to the surface S1 of the object with respect to a beam splitter 6.例文帳に追加

また、反射原器７をビームスプリッタ６に関して物体面Ｓ１と対称の位置に配置し、試料２によるＸ線の位相変化をＸ線撮像素子３上に干渉コントラストとして出現させる。 - 特許庁

The coordinate position where the diffracted X-rays issued from the single crystal sample plate 21 are detected by the two-dimensional X-ray detector is recognized as a blank region not allowed to contribute to the operation of the diffracted X-ray intensity distribution.例文帳に追加

単結晶試料板２１から出る回折Ｘ線が２次元Ｘ線検出器２によって検出される座標位置を、回折Ｘ線強度分布の演算に寄与させないブランク領域として認識する。 - 特許庁

A laser beam (P polarized light) is condensed by one microlens, transmitted through the dichroic mirror DM, passes through a pinhole at a condensing position and is radiated only to the limited area of a sample through an objective.例文帳に追加

レーザ光（Ｐ偏光光）は、１つのマイクロレンズによって集光され、ダイクロイックミラーＤＭを透過し、集光位置にあるピンホールを通過して対物レンズを介して試料の限定された領域にのみ照射される。 - 特許庁

When the boundary surface of the sample changes in the height direction by Δz, the reflecting light is regarded to appear from a position shifted by Δx to be provided by Δx=2Δz×tanθ in the horizontal direction in the boundary surface of the sample and larger variation of Δx is obtained even to variation of Δz by increasing an angle of incidence θ.例文帳に追加

試料境界面が高さ方向にΔｚ変化すると、反射光は試料境界面内で横方向にΔｘ＝ ２Δｚ×ｔａｎθで与えられるΔｘずれた位置から出てくると見なされ、入射角θを大きくすることにより、Δｚの変化量に対しても、より大きなΔｘの変化量を得ることができる。 - 特許庁

In total reflection fluorescent X-ray analysis, a collimator for specifying the incident position and angle of an X-ray and a superconducting spectral element are integrated and brought close to or into contact with a sample, to thereby remove necessity of each independent alignment for the sample, the spectral element and the incident X-ray when performing the total reflection local fluorescent X-ray measurement.例文帳に追加

本願発明においては、Ｘ線の入射位置、角度を規定するためのコリメータと超伝導分光素子を一体化し、これを試料に近接あるいは接触させることにより、全反射局所蛍光Ｘ線測定を行うに際して試料、分光素子、入射Ｘ線各々独立のアライメントの必要性を排除した。 - 特許庁

When converting ISDB-T SUB into 3GPP Timed Text, character strings being continued laterally (or longitudinally in the case of longitudinal writing) and having the same background color are detected as one caption group, starting coordinates of each group are detected, and a position adjustment is made by setting a blank character or a line feed code in Text Box, thereby generating one Text Sample including a plurality of caption groups.例文帳に追加

ISDB-T SUBを3GPP Timed Textに変換する際に、横方向（縦書きの場合は縦方向）に連続し背景色が同じである文字列を１つの字幕グループとして検出するとともに、各グループの開始座標を検出し、Text Box内に空白文字や改行コードを設定することで位置調整して、複数の字幕グループを含む１つのText Sampleを生成するようにしたものである。 - 特許庁

A deflection surface 25A of an optical deflecting element 25, on which a plurality of micromirrors are provided, of the confocal microscope 1 is disposed at a position conjugate to a prescribed observation surface of a sample S, and the optical deflecting element 25 controls the deflection directions of an observation light emitted from the sample S, focused with an objective lens 29 and made incident on the deflecting surface 25A by a micromirror.例文帳に追加

コンフォーカル顕微鏡１の光偏向素子２５は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面２５Ａが試料Ｓの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ２９により集光されて偏向面２５Ａに入射する試料Ｓからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。 - 特許庁

An electron beam is linearly and repeatedly scanned at two end positions in the predetermined region on the sample 4, the focus of the electron beam is changed in a predetermined range during the process of the repetitive scanning, and a signal obtained from the sample for every focus is displayed, by displacing it at an end position corresponding to the scanning of the electron beam of the rhombus-shaped image.例文帳に追加

更に、試料４上の所定領域の２つの端部位置で電子ビームがライン状に繰り返し走査され、この繰り返し走査の過程で電子ビームのフォーカスを所定範囲変化させ、各フォーカスごとに試料から得られた信号を前記菱形の像の電子ビームの走査に対応した端部位置においてずらして表示する。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises: the cantilever 14 provided with prove 13; the moving mechanisms 11 and 17 for relatively moving the position of the probe to the sample 10; the detection means for detecting the specific physical amount; the measurement means for measuring the surface of the sample; and the measurement control means 60 for controlling the operation of the moving mechanisms and the measurement means.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針１３を有するカンチレバー１４と、試料１０に対する探針の位置を相対的に変化させる移動機構１１，１７と、所定物理量を検出する検出手段と、試料表面を測定する測定手段と、移動機構と測定手段の動作を制御する測定制御手段６０を備える。 - 特許庁

The system (80) also includes a control subsystem (98) coupled to the laser source (82), the control subsystem (98) configured to synchronize a position of the sample (92) with the pulse duration and energy level in order to selectively remove at least one of a thermal barrier coating, a bond coat and a substrate metal in the sample (92) to form at least one trench (44).例文帳に追加

本システム（８０）はまた、レーザ発生源（８２）に結合された制御サブシステム（９８）を含み、制御サブシステム（９８）は、サンプル（９２）の位置をパルス幅及びエネルギーレベルと同期させて、該サンプル（９２）内の断熱皮膜、ボンディングコート及び基体金属の少なくとも１つを選択的に除去して少なくとも１つのトレンチ（４４）を形成するように構成される。 - 特許庁

A movement adjustment mechanism 6 capable of moving an objective lens 3 along a surface orthogonal to the optical axis O of the objective lens 3 is provided on the optical path of an observation optical system including the objective lens 3 acquiring an observation image of the sample 2 on a stage 9, and the observation position of the sample 2 is moved by moving the objective lens 3 by the movement adjustment mechanism 6.例文帳に追加

ステージ９上の標本２の観察像を取得する対物レンズ３を含む観察光学系の光路上に、対物レンズ３を該対物レンズ３の光軸Ｏと直交する面に沿って移動可能にした移動調整機構６を設け、この移動調整機構６により対物レンズ３を移動させて標本２の観察位置を移動させる。 - 特許庁

The laser scanning microscope has: lasers 1, 2 and 3 emitting the laser beams having the different wavelength; a scanning means 30 two-dimensionally scanning a sample 9 with the laser beam; and a wavelength selection means 5 selecting the wavelength of the laser beam on a go-path and the laser beam on a return-path when scanning nearly the same scanning line position on the sample back and forth.例文帳に追加

異なる波長のレーザ光を射出するレーザ１，２，３と、前記レーザ光を標本９上で二次元に走査する走査手段３０と、前記標本上のほぼ同一の走査線位置上を往復走査するとき、往路のレーザ光と復路のレーザ光の波長を選択する波長選択手段５を有するレーザ走査顕微鏡。 - 特許庁

To provide a measuring probe capable of continuously an extremely fine region of a nanometer order while minimizing a contact state or a measuring position error without separating probes from a sample each time when measurement in a depth direction is performed with respect to the sample, a measuring instrument of surface characteristics and a measuring method of surface characteristics.例文帳に追加

試料に対して深さ方向の計測を行う際に、探針をその都度試料から離間させる必要がなく、接触状態や計測位置誤差を最小限に抑えてナノメートルオーダーの極微細領域を連続して計測することができる計測プローブ及び表面特性計測装置並びに表面特性計測方法を提供すること。 - 特許庁

A kind of the wafer W is automatically recognized based on X-ray fluoroscopic information of the semiconductor wafer W conveyed on a sample table 3, a map of a position to be inspected such as the each semiconductor bump is automatically prepared based on the same fluoroscopic information, and the sample table 3 is automatically moved based on the map to conduct fluoroscopic inspection.例文帳に追加

試料テーブル３上に搬送された半導体ウエハＷのＸ線透過情報から、そのウエハＷの種類を自動的に認識し、同じくそのＸ線透過情報から各半導体バンプなどの検査すべき位置のマップを自動的に作成し、そのマップに基づいて試料テーブル３を自動的に移動させて透視検査を行う。 - 特許庁

To provide a microscope stage by which a stable observed image where one-sided blur is hardly caused is obtained regardless of an observation sample, which has compact shape that space in an optical axis direction is restrained, and where the optional position of the observation sample is easily moved to the vicinity of the center of rotation, and to provide a microscope on which the microscope stage is mounted.例文帳に追加

観察試料に関係なく片ボケを生じにくい安定した観察像を得られるとともに、光軸方向のスペースを抑えたコンパクトな形状を有し、観察試料の任意の位置を回転中心付近に簡単に移動可能にした顕微鏡ステージおよびこの顕微鏡ステージを搭載した顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method of inspecting a failure of the charged particle beam capable of performing the focused clear observation and the accurate failure inspection even in the case of using a charged up sample by automatically correcting a displacement of the focal point position due to the charge up generated in the sample as an object of observation.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam defect inspecting device and method for correcting a dislocation of a focal position due to a charged-up state of a sample to be observed without troubling an operator, and resultingly ensure a focused clear observation and a precise defect inspection even under a charged-up state of the sample.例文帳に追加

観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam drawing method, a position detecting method for a reference mark for charged particle beam drawing, and a charged particle beam drawing device, wherein the position of the reference mark formed on a sample and having a step can be detected with good reproducibility without being influenced by edge roughness of the reference mark.例文帳に追加

試料に形成された段差を有する基準マークのエッジラフネスの影響を受けることなく、基準マークの位置を再現性良く検出することが可能な荷電粒子ビーム描画方法、荷電粒子ビーム描画用の基準マークの位置検出方法及び荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

The sample stage (21) includes a pallet holding member (24) movable between a pallet holding position and a pallet releasing position, urging means (26) for urging the pallet holding member (24), a pallet release engaging part provided in the pallet holding member (24), and a lever (32) having an operating part for samples and an operating part for pallets.例文帳に追加

試料ステージ（２１）は、パレット保持位置とパレット解除位置との間を移動可能なパレット保持部材（２４）と、パレット保持部材（２４）を付勢する付勢手段（２６）と、パレット保持部材（２４）に設けられているパレット開放用係合部と、試料用作動部およびパレット用作動部を有するレバー（３２）とを具備している。 - 特許庁

To provide a secondary ion mass spectrometry capable of specifying the position of a compound film/substrate interface by measuring the concentration and the distribution of a trace element highly sensitively and highly quantitatively, and specifying the position of a compound film/substrate interface, concerning material having information of an elemental composition of the polar surface of a sample and an interface such as the compound film/substrate or the like.例文帳に追加

本発明は、試料の極表面の元素組成の情報や化合物膜／基板のような界面を有する材料において、微量元素の濃度および分布を高感度でかつ高定量的に測定し、化合物膜／基板界面の位置を特定することが可能である二次イオン質量分析(SIMS)法を提供する。 - 特許庁

To provide an analysis method with which a reference position for detecting a position of a chemical material deposited on a sample can be set by using DART or DESI and a mass spectrometer can be calibrated, an adhesive tape and a pen used for the analysis method.例文帳に追加

本発明は、ＤＡＲＴ又はＤＥＳＩを用いて、試料に付着している化学物質の位置を検出するための基準の位置を設定すると共に、質量分析計を校正することが可能な分析方法並びに該分析方法に用いられる粘着テープ及びペンを提供することを目的とする。 - 特許庁

To meet this requirement, the thermal switch changes a thermal path between a cooling source 22 within the device and the end 20 of the sample holder 7 in a way that connection from the end 20 to the cooling source 22 occurs in one position 46a while connection to a part 44 of the device maintained at room temperature occurs at another position 46b.例文帳に追加

このために、熱スイッチは、装置内の冷源２２と試料ホルダ７の末端２０との間の熱経路変更し、それによって、１つの位置、位置４６ａにおいて、末端２０から冷源２２への接続が行われ、他の位置、位置４６ｂにおいて、室温に維持される装置の一部４４に接続が行われる。 - 特許庁

The liquid level of an earlier dispensed reagent is detected to move a light projecting/receiving part 10 to a position higher than the liquid level, making it possible to detect the sample at the higher position and measure its dispensing volume even if the earlier dispensed reagent is deposited on an inner wall of a reaction vessel C or the liquid level of the reagent is unstable.例文帳に追加

先に分注した試薬の液面を検出して当該液面よりも上方の位置に投受光部１０を移動させることで、先に分注した試薬が反応容器Ｃの内壁に付着したり、試薬の液面が不安定になっていたりしてもその上方の位置でサンプルを検出してその分注量を計測できる。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing the defect detected by an optical defect inspection device is mounted with an optical microscope 6 for re-detecting the defect, and has a constitution where, when focusing of the optical microscope 6 is performed, a lighting position and a detecting position of the optical microscope 6 to a sample 1 are not changed.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡５において、欠陥を再検出する光学式顕微鏡６を搭載し、この光学式顕微鏡６の焦点合わせを行う時に、試料１に対して光学式顕微鏡６の照明位置と検出位置を変化させない構成とする。 - 特許庁

Moreover, whether the sample has been processed to the target position or whether it has been processed to the prescribed thickness is chocked, and if the answer is a No, then the steps will be repeated, otherwise the process will be finished.例文帳に追加

更にその後、試料が目的とする位置まで加工されたかどうか、あるいは所定の薄さに加工されたかどうかを確認し、その結果がＮｏならば以上のステップを繰り返し、Ｙｅｓならば加工処理は終了する。 - 特許庁

This sample holder for differential thermal analysis is provided with additional thermal conversion measures and connecting structures (11,11', 20,20', 21,21', 22, 23, 24,24', 25,25') on at least one position out of the two positions (5, 6) on a substrate (1).例文帳に追加

本発明による示差熱分析用サンプルホルダーには、追加熱変換手段及び接続構造（１１，１１’，２０，２０’，２１，２１’，２２，２３，２４，２４’，２５，２５’）が、基板（１）上の２つの位置（５，６）の内の少なくとも１つの位置に設けられる。 - 特許庁

To measure the charge of a sample under a controlled condition to provide an energy spectrum in an accurate position with a stable peak shape all the time, when the energy of a charged particle is dispersed into its spectral components to be measured.例文帳に追加

荷電粒子をエネルギー分光し、測定するに際し、試料の帯電を抑制した状態で測定し、エネルギースペクトルが常に正確な位置に安定したピーク形状で得られることを可能とする方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for fluorescent X-ray analysis for making an analysis by setting accurately, to a detector, the position of a sample comprising a substrate with a smooth surface and a dotted measured object stuck to the surface.例文帳に追加

平滑な表面を有する基板とその表面に付着した点状の被測定物とからなる試料を、検出器に対し十分正確に位置設定して分析を行える蛍光Ｘ線分析方法および装置を提供する。 - 特許庁

Next, with one as a complex conjugate spectrum, the inverse Fourier transform of a product with the other spectrum is performed to obtain a cross correlation function, and the peak position of the cross correlation is obtained from a sample value of every Δt of the cross correlation function.例文帳に追加

次に一方を複素共役スペクトルとして他方のスペクトルとの積の逆離散フーリエ変換を行って相互相関関数を求め、この相互相関関数のΔｔごとの標本値から相互相関のピーク位置を求める。 - 特許庁

The intensity in the electric field of the terahertz pulse light L8 transmitted through the sample S is detected finely with a prescribed delay time interval, during the one time delay operation for moving a turning mirror 11 by a distance d along an A direction from an original position.例文帳に追加

原点位置からＡ方向に距離ｄだけ折り返しミラー１１を移動させる１回の時間遅延動作中に、、試料Ｓを透過したテラヘルツパルス光Ｌ８の電場強度を所定遅延時間間隔で細かく検出する。 - 特許庁

Once operation data are input from a USB memory, a map, a last or sample trace, a person in charge, and an operation course name are displayed on a screen based upon the current position of a vehicle, and the map is moved as the vehicle moves.例文帳に追加

ＵＳＢメモリーから業務データを取り込むと、画面上に車両の現在位置に基づいて地図および前回または見本となる軌跡と担当者と作業コース名を表示し、車両の移動にしたがって地図を移動させる。 - 特許庁

To provide an inspection device, capable of performing the visual inspection of a semiconductor at a high speed with high resolution and uniformly preparing a sample for TEM observation and various analyses, with high position accuracy, from a region where foreign matters or defects exist.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

The defect inspection apparatus 1, using the coordinate table 6a, irradiates the laser light 5a to the predetermined position of the sample 20, in the predetermined order and detects a signal caused by a temperature change ΔT generated by the irradiation to inspect a defect.例文帳に追加

欠陥検査装置１は、座標テーブル６ａを用い、レーザ光５ａを試料２０の所定位置に所定順序で照射し、照射によって生じる温度変化ΔＴに起因した信号を検出し、欠陥検査を行う。 - 特許庁