「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

This sample rack conveyer 15 has the sample rack 10, and a conveying means for conveying the sample rack 10 to be stopped at the plurality of stopping position.例文帳に追加

サンプルラック１０と、このサンプルラック１０を搬送し複数の停止位置で停止させる搬送手段とを有するサンプルラック搬送装置１５。 - 特許庁

In accordance with the position of a measurement device, the light passes to a sample X (measurement position) or to a reference criterion 7 (calibration position) thereafter.例文帳に追加

測定装置の位置に応じて、その後、試料Ｘ（測定位置）へ、又は、参照基準７（較正位置）へ通過する。 - 特許庁

To provide a method for measuring the focal position and the sample position of an organism sample weak against irradiation with light or a low-reflectance sample with high precision.例文帳に追加

光照射等に弱い生物標本や低反射率の試料に対して合焦位置および試料位置を高精度で計測できる標本合焦位置高精度計測法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer capable of improving sample dispensation precision by fixing a position of liquid sampling in a sample container held on a sample rack always at a single position.例文帳に追加

試料ラックに保持される試料容器内の液体サンプリングの位置を常に単一位置に固定することで試料分注精度の向上を図ることができる自動分析装置を提供する。 - 特許庁

The sampler moves the sample container to a position for suction by the sampling probe.例文帳に追加

サンプラは、サンプル容器をサンプリングプローブによる吸引位置まで移送する。 - 特許庁

POSITION CONTROL METHOD OF PARTICLES IN SAMPLE LIQUID AND PARTICLE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

試料液中粒子の位置制御方法および粒子測定装置 - 特許庁

DEVICE FOR INDICATING POSITION OF SAMPLE HOLDER CAPABLE OF ORIENTING AND ALIGNING MICROTOME例文帳に追加

ミクロトームの配向・位置合せ可能な試料ホルダの位置を指示する装置 - 特許庁

To lower the height of a member arranged over the sample replacement position.例文帳に追加

試料交換位置の上方に配置する部材の高さを低くすること。 - 特許庁

SAMPLE POSITION ADJUSTING DEVICE, RADIATION DIFFRACTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試料位置調整装置、放射線回折装置及び放射線回折法 - 特許庁

A sample is injected into the reservoir 7s with a syringe 23 at the position B.例文帳に追加

ポジションＢでシリンジ２３によりサンプルをリザーバ７ｓに注入する。 - 特許庁

To improve a positioning accuracy in the case of positioning a sample at a predetermined position of a sample base without cost.例文帳に追加

試料を試料台の所定の位置に位置決めする際の位置決め精度を、コストをかけずに向上させる。 - 特許庁

To accurately plot a pattern on a sample by correcting the irradiation position of electron beams which are irradiated on the sample.例文帳に追加

試料に照射される電子線の照射位置を補正することにより、精度よく試料にパターンを描画する。 - 特許庁

It calculates the position information of the sample S from the contrast of the black table 10 to the white sample S.例文帳に追加

資料Ｓの位置情報は、黒い資料提示台１０と白い資料Ｓとのコントラストから算出する。 - 特許庁

To perform patterning of a sample precisely by correcting the position of a sample being irradiated with an electron beam.例文帳に追加

試料に照射される電子線の照射位置を補正することにより、精度よく試料にパターンを描画する。 - 特許庁

An arrangement position for the sample vessel housing a trace subject sample is provided on the inside or outside of the sampler.例文帳に追加

サンプラ内あるいはサンプラ外には、微量の被検試料を収納する試料容器の配置位置設けている。 - 特許庁

In the first position, the movable portion is concave and the sample chamber does not contain a biological sample.例文帳に追加

第１の位置において、移動可能な部分は窪んでおり、かつサンプルチャンバは生物学的サンプルを含まない。 - 特許庁

A local prediction of pixels influenced by the sample is updated if the position of the sample is changed.例文帳に追加

サンプルの位置が変化した場合には、サンプルによって影響を受けるピクセルの局所的な予測が更新される。 - 特許庁

The sample stage is used to be placed on with a sample base 9 and has a sample stage driving mechanism for adjusting the position of the sample base 9 by moving the sample base 9 to a horizontal direction.例文帳に追加

本発明にかかる試料ステージは、試料台９を載せる試料ステージであって、試料台９を水平方向に移動させて、当該試料台の位置を調整する試料ステージ駆動機構を備えている。 - 特許庁

Then, the intensity of the scattered light 7 is detected by the scattered light intensity detector 46, and the position of the sample 2 is detected from an image forming position (light receiving position) of the S-polarized light 7s by the sample position detector 49.例文帳に追加

そして、散乱光強度検出器４６では散乱光７の強度を検出し、試料位置検出器４９ではＳ偏光７ｓの結像位置（受光位置）から、試料２の位置を検出する。 - 特許庁

When a synchronization instruction operation is performed, the CPU 12 shifts the readout position of the sample to the first beat point sample and restarts the output of each sample after the first beat point sample.例文帳に追加

同期指示操作を行うと、ＣＰＵ１２は、サンプルの読み出し位置を最初の拍点サンプルへとシフトし、最初の拍点サンプル以後のサンプルの各々の出力を改めて開始する。 - 特許庁

To provide a flow cytometer capable of measuring a measuring target sample with high precision even if the measuring target sample is present at a position shifted from the center of a sample flow, and a sample measuring method.例文帳に追加

測定サンプルがサンプル流の中心からずれた位置に存在する場合でも高精度の測定を行うことができる、フローサイトメータおよびサンプル測定方法を提供することにある。 - 特許庁

In the structure, a housed coal sample is protected from moisture by blocking an input port of a hopper 32 inputted with the coal sample and housing the coal sample at a withdrawn position from an input position of the coal sample until delivery of the coal sample.例文帳に追加

石炭サンプルが投入されてその石炭サンプルを収納したホッパー３２が、石炭サンプルの投入位置から退去した位置において、収納石炭サンプルの排出まで、前記投入口を閉塞して収納石炭サンプルの防湿を図る構造である。 - 特許庁

This injector has a configuration wherein a sample holding chamber 7 for holding a minute amount of sample is formed, and position detection of the sample holding chamber 7 is performed by transmitted light acquired by allowing a beam to enter and pass the sample holding chamber 7, to thereby perform position control of the sample holding chamber 7.例文帳に追加

このインジェクターは、微量試料を保持する試料保持室７が形成され、前記試料保持室７内に光線を入射させて通過した透過光により試料保持室７の位置検知を行って試料保持室７の位置制御をするようにした。 - 特許庁

In a treating device wherein a plurality of places carrying the sample exist and another treating device where a mechanism to the carrying position, the sample and the information of the sample exist, the sample has the information at both carrying original position and carrying destination position on the halfway of carrying.例文帳に追加

試料を搬送する場所が複数ある処理装置と、その搬送位置への機構と、試料及び、試料の情報がある処理装置において、試料を搬送途中は搬送元位置と搬送先位置の両方に試料情報を有することを特徴とする。 - 特許庁

The sample-dispensing mechanism 11 is constituted so as to make the sample probe move, even to a sample chucking position 25 set outside the upper surface of the housing 1, when seen from above.例文帳に追加

試料分注機構１１は上方から見て筐体１上面の外の筐体外試料吸引位置２５にも試料プローブを移動させるものである。 - 特許庁

To provide a product sample display device for laying out a product sample at an arbitrary position through a simple operation, and effectively illuminating the product sample.例文帳に追加

簡単な作業で商品見本を任意の位置にレイアウトでき、さらに商品見本を効果的に照明できる商品見本展示装置を提供する。 - 特許庁

This microtome 11 is provided with a sample support mechanism 12 for holding a sample S, a position regulation mechanism 13 for regulating a position of the sample support mechanism 12, and a cutting mechanism 15 for supporting movably the cutting blade 14 for cutting the sample S.例文帳に追加

ミクロトーム１１は、試料Ｓを保持する試料支持機構１２と、試料支持機構１２の位置調整を行う位置調整機構１３と、試料Ｓを切断する切断刃１４を移動可能に支持する切断機構１５とを備える。 - 特許庁

The area where the sample image exists is extracted from the image obtained by photographing the entire sample, and automatic focus position detection operation following to the horizontal movement of the sample image is started in the case of horizontally moving to a position where the sample image exists, and the automatic focus position detection operation is stopped in the case of horizontally moving to a position where the sample image does not exist.例文帳に追加

また、標本全体を撮影した画像から標本像の存在する領域を抽出し、標本像の存在する位置に水平移動するときには標本像の水平移動に追従した自動的焦点位置の検出動作を開始し、標本像の存在しない位置に水平移動するときには自動焦点位置検出動作を停止する。 - 特許庁

Thus each absolute temperature in the sample position (5) and the reference position (6) can be detected.例文帳に追加

これにより、サンプル位置（５）及び基準位置（６）におけるそれぞれの絶対温度の検出が可能となる。 - 特許庁

The sample image is stored in a storage device 16 with a position of the image as an image for designating an observation position.例文帳に追加

その試料像は観察位置指定用像として該像の位置と共に記憶装置１６に記憶される。 - 特許庁

To improve the precision of position control over optical-axis directional scanning of a sample more.例文帳に追加

より試料の光軸方向走査の位置制御の精度を向上する。 - 特許庁

To precisely adjust the emission position of a laser beam on a sample.例文帳に追加

標本上におけるレーザ光の照射位置の調整を精度良く行う。 - 特許庁

Further, since the grasping mechanism 20 is changed over to a sample holding closed position and a sample releasing open position by a cam mechanism 30, the holding of the samples becomes easy.例文帳に追加

さらに、カム機構３０により、把持機構２０を試料保持の閉位置と試料開放の開位置とに切り換えるので、試料保持が容易になる。 - 特許庁

A skew profile is set as the average value of skew error signals at a same sample position.例文帳に追加

スキュープロファイルは同一サンプル位置のスキューエラー信号の平均値とする。 - 特許庁

A laser interferometer is used for measuring the position of a stage for mounting a sample thereon.例文帳に追加

試料が載置されるステージの位置の測定にレーザ干渉計を用いる。 - 特許庁

Controller 1 decides whether the calculated, predicted position information of the next sample is larger than a predicted position slice of the next sample, which is a predetermined threshold.例文帳に追加

そして、制御装置１は、算出された次サンプルの予測位置情報が所定の閾値である次サンプルの予測位置スライスより大きいかを判定する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR SECONDARY ION MASS SPECTROSCOPE AND METHOD FOR REGULATING ITS POSITION例文帳に追加

２次イオン質量分析装置用試料ホルダ及びその位置調整方法 - 特許庁

The measuring position is, therefore, freely changeable by shifting the sample position, without necessity to prepare holders fitted with magnitude and geometry of the sample 21.例文帳に追加

従って、試料２１の大きさや形状に合わせたホルダを用意する必要もなく、試料位置をずらすことにより測定位置を自由に変えることができる。 - 特許庁

The apparatus executes a sample showing table photographing process for photographing a sample showing table 10 by a camera 30, based on position information of two light spots 40 being reference points; and a sample photographing process for photographing a sample S after the camera 30 recognizes the size of the sample, based on the position information of the sample S set on the table 10.例文帳に追加

基準点である２つの光点４０の位置情報に基づいてカメラ３０が資料提示台１０を撮影する資料提示台撮影プロセスと、資料提示台１０にセットされた資料Ｓの位置情報に基づいてカメラ３０が資料Ｓのサイズを認識して資料を撮影する資料撮影プロセスとを行う。 - 特許庁

The sample pedestal for the sample for dimensional proofreading is provided with a holder mounting part engaged with a recessed part of the sample holder, a sample sticking part holding the dimensional proofreading sample, and a position adjustment mechanism for relatively moving a position of the dimensional proofreading sample along the light axis direction with respect to the holder mounting part.例文帳に追加

寸法校正用試料用の試料台は、試料ホルダーの凹部に係合するホルダー装着部と、寸法校正用試を保持する試料貼付部と、ホルダー装着部に対して寸法校正用試料の位置を光軸方向に沿って相対的に移動させるための位置調整機構と、を有する。 - 特許庁

The controller 32 calculates the optimum sample position from the measuring result, controls a position and width controlling circuit 33 and sets the optimum sample position in an SH timing generating circuit 29.例文帳に追加

そして、測定結果からコントローラー３２が最適なサンプル位置を計算し、位置＆幅制御回路３３を制御して、最適なサンプル位置をＳＨタイミング発生回路２９に設定する。 - 特許庁

When a desired coordinates position on an image displayed by a coordinates designation means 19 is specified, an observation/analysis position on a sample moves to a corresponding coordinates position on the sample stage 10.例文帳に追加

座標指定手段19により表示されている画像上の所望の座標位置を指定すると、試料ステージ10の対応する座標位置に試料上の観察・分析位置が移動する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of improving the visibility of a sample when the position of the sample is visually confirmed.例文帳に追加

試料の位置を目視で確認する際の試料の視認性を向上させることのできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a polarimetric analysis apparatus whereby a target sample and a measurement sample can be arranged to a proper position in a proper orientation.例文帳に追加

対象試料と測定試料が適切な位置と適切な向きで配置され得る偏光解析装置を提供する。 - 特許庁

As a result, the visibility of the sample, when the position desired to be observed of the sample is visually confirmed, can be improved.例文帳に追加

その結果、標本の観察したい位置を目視で確認する際の標本の視認性を向上させることができる。 - 特許庁