「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

The Fluency function is differentiable limited time, and is a sample function in a finite case that takes 1 at the sample position t=0, and takes 0 in the ranges t=±1, t≤-2, and t≥+2, and takes a value other than 0 with other values of t.例文帳に追加

フルーエンシ関数は、有限回微分可能であって、標本位置ｔ＝０で１、ｔ＝±１，ｔ≦−２，ｔ≧＋２で０、これ以外のｔで０以外の値を有する有限台の標本化関数である。 - 特許庁

The fluency function is differentiable limited time, and is a sample function of a finite support, which takes 1 at the sample position t=0, and takes 0 in the ranges t=±1, t≤-2, and t≥+2, and takes a value other than 0 with other values of t.例文帳に追加

フルーエンシ関数は、有限回微分可能であって、標本位置ｔ＝０で１、ｔ＝±１，ｔ≦−２，ｔ≧＋２で０、これ以外のｔで０以外の値を有する有限台の標本化関数である。 - 特許庁

The additional ϕ rotary device 7 is driven by the ϕ rotary device 8 to be rotated centering around the ϕ axial line and can rotate the sample S centering around the ϕ' axial line passing the sample position.例文帳に追加

付加φ回転装置７は、φ回転装置８によって駆動されてφ軸線を中心として回転でき、試料位置を通るφ’軸線を中心として試料Ｓを回転させることができる。 - 特許庁

Under these conditions, the primary electron beam EB is scanned to always irradiate a prescribed position on the sample surface and is scanned continuously with an incident angle of the electron beam on the sample 18.例文帳に追加

以上の条件で、一次電子ビームＥＢを走査することで、試料面上の所定位置に常に電子ビームが照射され、試料１８に対する電子ビームの入射角度が連続的に走査される。 - 特許庁

To make a conveyance device movable a specific point on the sample surface shown by coordinate values before bending deformation to a prescribed target position, even if a retained sample is bent by its own weight.例文帳に追加

保持した試料が自重で撓んでいる場合であっても、撓み変形前の座標値で表された試料表面上の特定点を所定の目標位置に移動させることができるようにする。 - 特許庁

Thereafter, a length change ΔLm of the optical fiber for the sample is calculated from a position change dm (m=1-M) of the movable mirror 43, and distortion is determined from the ratio (ΔLm/Lm) to the initial optical fiber length Lm for the sample.例文帳に追加

そして可動鏡４３の位置変化ｄｍ（ｍ＝１〜Ｍ）から、試料用光ファイバの長さ変化ΔLｍを算出し、初期の試料用光ファイバ長Ｌｍとの比（ΔＬｍ／Ｌｍ）より歪みを求める。 - 特許庁

The sample stage 10 holds a hair sample to be positioned accurately, and the laser irradiation part 20 irradiates an optional position on the hair such as a tip of the hair to generate ablation.例文帳に追加

試料ステージ１０は、毛髪試料を保持し正確な位置決めを行い、レーザー照射部２０は、毛髪の先端など毛髪上の任意の位置にレーザー光を照射してアブレーションを発生させる。 - 特許庁

To provide new technique to decrease deviation in an imaging position caused by movement of a sample in the microscopic images of the sample to be picked up respectively under illuminating light of different wavelength regions.例文帳に追加

異なる波長域の照明光の下で各々撮像される標本の顕微鏡画像において当該標本の移動により生じる撮像位置のズレを低減させる新たな手法を提供する。 - 特許庁

An accelerated voltage is generated between an ion source and a sample P, and ion beam B released from the ion source are focused and irradiated on a given processing position P3 to process the surface of the sample P.例文帳に追加

イオン源と試料Ｐとの間に加速電圧を生じさせ、イオン源から放出されるイオンビームＢを集束し所定の加工位置Ｐ３に照射させて、試料Ｐの表面を加工する。 - 特許庁

Further, the head 11 measures the colors without contacting, so the relative position between the head 11 and sample medium M is varied, the head 11 need not be made to abut against and leave the sample medium M.例文帳に追加

しかも、ヘッド１１は非接触で測色を行うので、ヘッド１１とサンプルメディアＭとの相対位置を変化させるに当たってヘッド１１をサンプルメディアＭに当接・離間させる必要がない。 - 特許庁

A reflection measuring section irradiates a sample, which is set at a reflection measurement position, with terahertz pulse light, detects a portion of the terahertz pulse light reflected by the sample and outputs a reflected light detection signal.例文帳に追加

反射測定部は、反射測定位置にセットされた試料にテラヘルツパルス光を照射し、当該試料を反射したテラヘルツパルス光を検出して反射光検出信号を出力する。 - 特許庁

To provide a means enabling dimensional proofreading at a focus position outside a movable range of a sample stage in a light axis direction, in a charged particle beam device equipped with a sample stage of a side entry system.例文帳に追加

サイドエントリー方式の試料ステージを有する荷電粒子線装置において、試料ステージの光軸方向の可動範囲以外のフォーカス位置にて、寸法校正ができる手段を提供する。 - 特許庁

Consequently, when the sample 210 sandwiched by the two support members 310, 320 is moved to a desired position of the waveguide 110, the sample 210 resides at that position, and a S parameter can be correctly measured using a meter 120.例文帳に追加

これにより、図示しない治具を用いて、支持部材３１０，３２０に挟み込まれた試料２１０を導波管１１０の所望の位置に移動させれば、試料２１０はその位置に留まり、測定器１２０を用いてＳパラメータを正しく測定することが可能となる。 - 特許庁

A position of a liquid face and a position of a liquid bottom of the sample 3 stored in each well 1a are detected on the basis of a detect signal of the photo detection sensor 7a and an X coordinate of the laser light source 11, and moreover, an optical path length in a depthwise direction of the sample 3 is calculated.例文帳に追加

光検出センサ７ａの検出信号及びレーザ光源１１のＸ座標に基づいて各ウエル１ａに収容された試料３の液面位置及び液底位置を検出し、さらに試料３の深さ方向の光路長を算出する。 - 特許庁

Rigidity of a cable 12 brings no influence in the measurement of the force because a position of the pedestal terminal part 6 is not moved although a position of the sample S1 is moved downwards by a deformation of the load cell 1, when applying the force onto the sample S1 by a load part 11.例文帳に追加

負荷部１１によって力を試料Ｓ１に加えた場合に、試料Ｓ１の位置はロードセル１の変形の分だけ下方に移動するが、台座端子部６の位置は少しも動かないので、力の測定にケーブル１２の剛性は全く影響しない。 - 特許庁

Subsequently, sample data whose light quantity is within a tolerance are extracted from the plurality of acquired sample data as valid data, and a maximum emission light quality giving the valid data is defined as an optimal emission light quantity value of the position detection light source for detecting the position.例文帳に追加

続いて、取得された複数のサンプルデータのうち、受光量が許容範囲内にあるものを有効データとして抽出し、有効データを与えた最大の出射光量を、位置検出を行う位置検出用光源の出射光量の最適値とする。 - 特許庁

At the same time, an adjustment of an irradiating position of the focused laser beam 16 is carried out by using an optical fiber fine-tuning mechanism for introducing the laser beam 16 close to a sample stand by using an output of an optical position detecting element 27 provided on the sample holder 13, 25.例文帳に追加

その際、収束したレーザー光１６の照射位置の調節を、試料ホルダー１３、２５に設けた光位置検出素子２７の出力を用いてレーザー光１６を試料台近傍に導入する光ファイバー微動機構を用いて調節する。 - 特許庁

To evaluate the position of a target device in a high-frequency network by maintaining a probabilistic model on several sample points indicating the predicted distribution of a signal value at a certain position.例文帳に追加

高周波ネットワーク内の目標装置の位置を、ある位置における信号値の予測分布を示すいくつかのサンプル点に関する確率モデルを維持することによって評価する。 - 特許庁

The focal position, i.e. the position of the microscope sample with respect to an objective lens is measured by using an objective lens type reflective optical system of a numerical aperture ≥1.3 under the optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡下において、開口数１.３以上の対物レンズ型全反射光学系を用いて、焦点位置、つまり、対物レンズに対する顕微試料の位置を計測する。 - 特許庁

To provide an ion milling device and an ion milling method, capable of carrying out shielding position adjustment simply and accurately without taking time, in carrying out adjustment of a shielding position of a sample and a mask.例文帳に追加

試料とマスクとの遮蔽位置の調整を行うに際して、手間取らずに簡便且つ精度の良い遮蔽位置調整が可能なイオンミリング装置及びイオンミリング方法を提供する。 - 特許庁

A distance β from a peak position of the center burst in the odd function intereferogram upto a peak position due to the asymmetry remaining in the vicinity of its side burst is found to calculate a thickness of a sample.例文帳に追加

この奇関数インターフェログラムのセンターバーストのピーク位置からサイドバースト付近に残った非対称性によるピーク位置までの距離βを求めて、試料の厚みが計算される。 - 特許庁

Electron energy loss spectrum is measured while controlling the correction of a gap amount between an electron beam position on a sample and a peak position of a spectrum and spectrum measurement by the electron beam detector.例文帳に追加

また、試料上の電子線位置と、スペクトルのピーク位置のずれ量の補正と、電子線検出器によるスペクトル測定とを制御しながら、電子エネルギー損失スペクトルを測定する。 - 特許庁

At this time, a position of the opening is measured and a stop error quantity of the opening is made feedback to a beam biasing position on a sample, whereby correction is made and high precise drawing is performed.例文帳に追加

このとき、開口の位置を測定し、開口の停止誤差量を試料上でのビーム偏向位置にフィードバックをかけることにより補正を行い、高精度な描画を行う。 - 特許庁

To reduce influence occurring due to deviation between the position of a scanner and the pupil position in an objective lens when a sample is observed while scanning by illumination light using the scanner.例文帳に追加

スキャナを用いて照明光による走査を行ないながら標本を観察する場合に、スキャナの位置と対物レンズの瞳位置とのずれにより生じる影響を低減させる。 - 特許庁

The measured electric characteristic depends on a position of the liquid sample inside the microtube operably communicating with the position electrode for measuring the prescribed electric characteristic.例文帳に追加

さらに、この測定される電気特性は一定の電気特性を測定するための位置電極に対して操作可能に連絡している微小管の中の液体サンプルの位置に依存している。 - 特許庁

The sample dispensing arm 10 stops the sample dispensing probe 16 at the suction position set to the analysis condition setting screen 43 based on a detection signal from the detector 16c, and the cleaning tank 16c cleans the sample dispensing probe 16 moved in response to the suction position set to the analysis condition setting screen 43.例文帳に追加

そして、サンプル分注アーム１０は検出器１６ｃからの検出信号に基づいてサンプル分注プローブ１６を分析条件設定画面４３に設定された吸引位置で停止し、洗浄槽１６ｃでは分析条件設定画面４３に設定された吸引位置に応じて移動されたサンプル分注プローブ１６を洗浄する。 - 特許庁

A microscope body 101 acquires a plurality of kinds of images of a sample 106 at the same position, which are acquired in different methods.例文帳に追加

顕微鏡本体１０１は、同一位置の試料１０６についての取得方法の異なる複数の種類の画像を取得する。 - 特許庁

A laser beam for heating alternate current-modulates is condensed on the sample surface to be heated, and a laser beam for temperature measurement is condensed a the same position.例文帳に追加

交流変調した加熱用レーザビームを試料表面に集光加熱し、それと同一位置に測温用レーザビームを集光する。 - 特許庁

To simply acquire a clear fluorescence image, regardless of scatter changes due to variations in depth of a light focusing position in a sample.例文帳に追加

試料における集光位置の深さが変動することによる散乱の変化に関わらず、簡易に鮮明な蛍光画像を取得する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of speedily imaging a sample with high quality without reference to a shift in imaging position during a scan.例文帳に追加

走査時の撮像位置のずれにかかわらず、試料の撮像を高品質で、迅速に行なうことができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

To provide a reflection mask-type charged particle beam exposure system, where a mask and a sample table stage are kept horizontal in position, and exposure can be easily controlled.例文帳に追加

マスクおよび試料台のステージが水平で露光量の制御が容易な反射マスク型荷電粒子ビーム露光装置を提供する。 - 特許庁

To detect the optical axis direction position of a sample without using complicated expensive parts, with no restrictions on the dimension and spacing of each part.例文帳に追加

各部品の寸法及び間隔に制約を受けず、複雑で高価な部品を用いないで試料の光軸方向位置を検出する。 - 特許庁

Then, the movable filter is pressed down at a prescribed speed to a prescribed position below the level of the liquid sample by the tip of the suction nozzle.例文帳に追加

その後、吸引ノズルの先端により可動式濾過材を液体試料の液面以下の所定位置に所定速度で押下げる。 - 特許庁

A vibrating sample magnetometer controls an electromechanical driving device using both AC control and DC control and a position sensor.例文帳に追加

試料振動磁力計は、交流制御および直流制御の両方と位置センサとを用いる電気機械駆動装置を制御する。 - 特許庁

Consequently, a Doppler information analyzing part 44 selectively extracts the Doppler information from a sample volume corresponding to the target position.例文帳に追加

これにより、ドプラ情報解析部４４において、目標位置に対応したサンプルボリュームからのドプラ情報が選択的に抽出される。 - 特許庁

To clear an observation image of a sample for transmission type electron microscope observation at a specific position to be observed by the transmission type electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡で観察したい特定箇所の透過型電子顕微鏡観察用試料の観察像を鮮明にする。 - 特許庁

The pin hole array 113 is pin holes shaped on at least one image formation position of a reflected light reflected by the sample and fluorescence.例文帳に追加

ピンホールアレイ１１３は試料に反射された反射光および蛍光の少なくとも一方の結像位置にピンホールが形成される。 - 特許庁

To provide a thermal analyzer capable of always placing a sample container on a heat-sensitive plate at a constant position, and to provide a thermal analysis method.例文帳に追加

試料容器を常に感熱板上の一定の位置に載せることができる熱分析装置および熱分析方法を提供する。 - 特許庁

In this soil quality inspection method, soil in an original position is sampled from a stratum to be improved, and a sample of improved soil is prepared in accordance with the design of blending.例文帳に追加

改良対象となる地層から原位置土を採取し、配合設計にしたがって改良土の供試体を作成する。 - 特許庁

The head position in a next sample is estimated, and a bias initial value is estimated from a difference between the detective position and the estimate position, and the setting control accompanied with the integral compensation or the bias compensation is performed by using the bias initial value.例文帳に追加

次のサンプルでの前記ヘッドの位置を推定し、前記検出位置と前記推定位置との差から、バイアス初期値を推定し、前記バイアス初期値を用いて、積分補償又はバイアス補償を伴う整定制御を行う。 - 特許庁

It cyclically shifting the symbol, and performs insertion of a cyclic prefix by a cyclic prefix inserting unit 3-2 so that the position of the sample data detected by the difference minimum position detection unit 3-1, becomes a top position of the cyclic prefix.例文帳に追加

差分最小位置検出部３−１で検出されたサンプルデータの位置が、サイクリックプレフィックスの先頭位置となるように、サイクリックプレフィックス挿入部３−２により、シンボルを循環移動させてサイクリックプレフィックスの挿入を行う。 - 特許庁

At the time of stirring the liquid sample, a predetermined suction quantity of the liquid sample is sucked by the nozzle tip 2 at the level height position of the liquid sample in a container 100, after which the nozzle tip 2 is lowered to a given height determined by the relation with the predetermined suction quantity to start suction or discharge.例文帳に追加

液体試料の攪拌に際して、まず容器１００内の液体試料の液面高さ位置でノズルチップ２により所定吸引量だけ液体試料を吸引し、その後、所定吸引量との関係で決まる所定高さだけノズルチップ２を下降させて吸引又は吐出を開始する。 - 特許庁

The vacuum tank is provided with symmetry having three planes intersecting with each other as symmetric faces, and a sample to be measured is held on the center of the vacuum tank to suppress temperature drift which may be generated by the thermal expansion/contraction of members when the temperature of the sample is changed on the relative position of the probe to the sample.例文帳に追加

また、互いに直交する３平面を対称面とする対称性を真空槽に持たせ被測定試料をその中心に保持することによって試料温度変化の際の部材の熱膨張収縮に伴う探針の試料に対する相対位置の温度ドリフトを抑制する。 - 特許庁

To provide a technique allowing correction to a fixed analytical result all the time, irrespective of differences in a sampling position of a sample and a sampling amount, in an automatic analyzer for acquiring the sample by turning and moving vertically a sampling probe, and for making the sample react with a reagent while stirring to conduct photometric measurement.例文帳に追加

試料をサンプリングプローブの回動や上下動により取得し、攪拌して試薬と反応させ、測光する自動分析装置において、試料をサンプリングした位置やサンプリングしようとする量の違いに依らずに常に一定の分析結果に補正する技術を提供する - 特許庁