「sample position」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To accurately detect waviness in a sample to be inspected also to a variation of brightness in a patterning light source, and the position deviation of the sample to be inspected.例文帳に追加

パターン化光源の明るさの変動や、被検査試料の位置ずれに対しても正確に被検査試料のうねりを検出する。 - 特許庁

When laying the sample liquid, the sample is sufficiently overspread in a position covering the opening part of the sample supply part, and an amount of the sample liquid permeated into the primary side end part of the filter through the opening part gets sufficient to permeate the sample liquid quickly as a result thereof.例文帳に追加

試料液を点着する際、試料供給部の開口部を覆う位置に充分試料が覆い被さり、開口部を経由してフィルタの一次側端部に浸透する試料液の量が充分になり、その結果、迅速にフィルタに試料液が浸透する。 - 特許庁

The lancet is movable between the retracted position and an extended position and adapted to draw the body fluid sample from the skin at a puncture site in the extended position.例文帳に追加

ランセットは、引き込み位置と展開位置との間で動くことができ、展開位置で穿刺部位の皮膚から体液試料を抜き取るように適合されている。 - 特許庁

The distant position Pr is a position which deviates laterally from a line locus L0, extending from the measurement position Ps to the outside of the sample temperature control device 8.例文帳に追加

離隔位置Ｐｒは測定位置Ｐｓから試料温度制御装置８の外部へ延びる直線軌跡Ｌ０から横方向へ外れた位置にある。 - 特許庁

The movable stage is operated based on a position signal outputted from the position sensor, so that the sample is made to meet the reference position of the electronic optical system.例文帳に追加

位置センサーから出力される位置信号に基き可動ステージが作動され試料が電子光学系の基準位置に所定精度で一致される。 - 特許庁

Based on the coordinates of the extracted analysis position, a robot arm 12 is controlled by the personal computer 14 to position the sample and to analyze the analysis position.例文帳に追加

抽出した分析位置の座標に基づいてロボットアーム１２をパーソナルコンピュータ１４により制御して試料の位置決めを行ない、分析位置を分析する。 - 特許庁

The sample piece Gs in the cylindrical hole 5A is sucked by a vacuum pad 7, and is conveyed to a sample transfer position provided in a sample measuring means.例文帳に追加

又打抜きカッタ５直下のサンプル受取り位置Ｐ１で、前記筒孔５Ａ内のサンプル片Ｇｓを、バキュームパッド７で吸着し、かつサンプル測定手段に設けたサンプル受渡し位置まで搬送する。 - 特許庁

Because the groove 17 has the V-shaped cross section, a sample support bar 11 for the linear sample 18 or a capillary tube 15 for the linear sample 38 can be always positioned in a defined position.例文帳に追加

溝１７は、断面Ｖ字形状であるので、線状試料物１８の試料支持棒１１や線状試料物３８のキャピラリチューブ１５を常に一定の位置に位置決めできる。 - 特許庁

The invention relates to the apparatus and the method for automatically detecting the failure position on even long wiring line using an image of an absorbed current absorbed by a sample by irradiating the sample with an electron beam in a state wherein a probe is applied to the sample.例文帳に追加

試料にプローブと電子線を当て試料に吸収された吸収電流の像を利用して、長い配線でも不良位置を自動で検出する装置とその方法。 - 特許庁

Furthermore, a changeover valve 12 which selects and introduces the sample gas or air to the sample gas inflow port A can be provided at a position upstream of the sample gas inflow port A of the gas-to-air replacement part 1.例文帳に追加

また、ガス空気置換部１の試料ガス流入口Ａの上流に、試料ガス又は空気を選択して試料ガス流入口Ａへ導く切換バルブ１２を設けることができる。 - 特許庁

To provide a biosensor in which the introduction of a sample into a sample space can be visually confirmed and a position of an aperture for introducing the sample can be visually confirmed.例文帳に追加

試料空間に試料が導入される様子が目視により確認可能であり、かつ、試料を導入するための開口の位置を目視により確認可能なバイオセンサの提供。 - 特許庁

To approximate a pigment amount distribution of a stained sample image to a pigment amount distribution of a standard sample image, and to correct a pigment amount in each image position of the stained sample image.例文帳に追加

染色標本画像の色素量分布を標準標本画像の色素量分布に近似させ、染色標本画像の各画像位置における色素量を適切に補正すること。 - 特許庁

First, the first paraffine block including the specimen tissue is sliced, and a lamina slice sample is acquired from the sliced sample, and the lamina slice sample is arranged on a desired position on a preparation.例文帳に追加

検体組織を含む最初のパラフィンブロックをまず薄切し、薄切した試料から薄片切片試料を得、プレパラート上の所望の位置に薄片切片試料を配置することによる。 - 特許庁

When an audio start position is a loop start position, the encoding is carried out by using a sample of audio data (e.g. audio data right before a loop end) which is musically related to audio data at the audio start position as a sample before an audio start position.例文帳に追加

音声スタート位置がループスタート位置の場合は、音声スタート位置前のサンプルとして、音声スタート位置の音声データと楽曲上つながりのある音声データ（例えば、ループエンドの直前の音声データ）のサンプルを用いてエンコードを行う。 - 特許庁

This conveyer 41 includes a single position detecting sensor 44 for noncontactly detecting the stepping position of the sample rack, and a controller for controlling the conveyer 41 to make the sample rack 10 step in the desired pitch, based on a position signal from the position detecting sensor.例文帳に追加

サンプルラックの歩進位置を非接触で検知する単一の位置検知センサ４４と、位置検知センサからの位置信号に基づいて、サンプルラックが所望ピッチ毎に歩進するように搬送装置４１を制御する制御装置とを備えている。 - 特許庁

The first passage switching valve 14 can switch a passage between a position for connecting the first sample loop 16 between the online sample introduction passage 2b and the first pump 8 and a position for connecting the first sample loop 16 between the second pump 18 and a sample carrying passage 4b.例文帳に追加

第１流路切換バルブ１４は、第１サンプルループ１６をオンライン試料導入流路２ｂと第１ポンプ８との間に接続するポジションと、第１サンプルループ１６を第２ポンプ１８と試料搬送流路４ｂとの間に接続するポジションとの間で切り換えることができる。 - 特許庁

When the control circuit 26 recognizes the opening of the gate valve 6, a goniometer drive circuit 25 is controlled to a tilt angle of the sample toward a direction of a position X from among sample exchanging positions X, Y, Z memorized and sets the sample holder 2 at the tip of the goniometer on the sample exchanging position.例文帳に追加

制御回路２６は、仕切弁６が開いたことを認識したら、記憶している試料交換位置Ｘ，Ｙ，Ｚ方向の位置、Ｘ方向への試料の傾斜角にゴニオメータ駆動回路２５を制御してゴニオメータ先端の試料ホルダ２を試料交換位置にセットする。 - 特許庁

When a sample cross section S2 is obtained for a sample S by cutting at the plane AA extending through the center of the broken-line surrounding site Z necessary to observe existing inside the sample, a masking shield 43 is position-adjusted so that the edge of the masking shield comes to the position of the plane AA on the sample S.例文帳に追加

試料Ｓについて、試料内部に存在する波線で囲まれた要観察部位Ｚの中央を通る平面ＡＡで切断し試料断面Ｓ２を得たい場合、遮蔽板４３のエッジが試料Ｓ上で平面ＡＡの位置に来るように遮蔽板を位置合わせする。 - 特許庁

Further, the monitoring means is to be installed at an opposite side of the sample to the ion source, and a scale plate with a scale of a transparent material is installed for accurately adjusting a sample position, so that it is possible to visually observe a sample surface structure and a sample position by the camera.例文帳に追加

また、監視手段は、試料に関してイオン源とは反対側に設置するようにし、さらに、試料位置が正確に調整するためのスケール付き透明な素材のスケール板を設置して、カメラによって可視的に試料表面構造及び試料位置が目視することが可能となるようにしている。 - 特許庁

Meanwhile, a pair of sample discrimination information and time position information are acquired in accordance with a performance sound waveform to be reproduced, and sample data are acquired from a database by sample discrimination information and are arranged on the time base in accordance with time position information, and a waveform is generated on the basis of arranged sample data.例文帳に追加

一方、再生すべき演奏音波形に応じて、サンプル識別情報と時刻位置情報の組を取得し、サンプル識別情報によりデータベースからサンプルデータを取得し、時刻位置情報に従って該サンプルデータを時間軸上に配置し、配置されたサンプルデータに基づいて波形を生成する。 - 特許庁

A true symbol discrimination point selecting means 7 selects the sample position number having the largest total frequency to determine the sample position number of the true symbol discrimination point.例文帳に追加

この集計した度数の最も大きいサンプル位置番号を、真のシンボル識別点選択手段７が選択することにより、真のシンボル識別点のサンプル位置番号を決定する。 - 特許庁

In the sample producing apparatus, a position adjusting process of an optical microscope 15 and a position adjusting process of a shield 12 using the optical microscope 15 are carried out before working the sample.例文帳に追加

図１の試料作製装置においては、試料加工前に、光学顕微鏡１５の位置調整と、その光学顕微鏡１５を用いた遮蔽材１２の位置調整が行われる。 - 特許庁

The video camera provides an image of a sample position with respect to the viewing port of the integrating sphere as a reference, enabling visual observation and evaluation of the sample position before using the spectrophotometer.例文帳に追加

ビデオカメラは、積分球のビューイングポートを基準にしたサンプルの位置の画像を提供して、分光光度計の使用に先だってサンプル位置の目視観察および評価を可能にする。 - 特許庁

After the position of the sample has been adjusted such that the range of the sample to be photographed should be on an optical axis, the operator orders a position for a control such as focusing and the like of the electron beam.例文帳に追加

撮影すべき試料領域が光軸上に位置するように試料位置を調整した後、電子ビームの焦点合わせ等の調整を行う位置の指定を行う。 - 特許庁

To provide a sample stand movable relative to a rotary stand on the rotary stand operating in vacuum, for the purpose of sample exchange or sample position change, enabling the rotary stand and sample stand to be mechanically drivable independently.例文帳に追加

真空中で動作する回転台の上に、試料交換あるいは試料位置変更のため、回転台に対し相対的に移動可能な試料台を積載し、真空外から回転台と試料台とを機械的に独立駆動可能とする。 - 特許庁

When the sample plate 2 is inclined before or after dispensation of sample solution 8 and the sample solution 8 is dried under that state, crystallization takes place from the inclining lower part and a large quantity of sample is crystallized at the lower position.例文帳に追加

サンプル溶液８の分注前又は分注後にサンプルプレート２を傾斜させ、その状態でサンプル溶液８を乾燥させると、傾斜した低部から結晶化が始まり、低位置で多くのサンプルが結晶化するようになる。 - 特許庁

To provide a small sample board suppressing damages and position drift of a sample and changing a tilting angle of a sample easily even in a charged particle beam application device having no mechanism to change the tilting angle of the sample.例文帳に追加

試料の傾斜角度を変更する機構を有しない荷電粒子線応用装置においても，試料の損傷や位置ずれを抑え，取扱容易に試料の傾斜角度を変更できる小型の試料台を提供する。 - 特許庁

Sample holding means (14) is provided so as to be located selectively at a laser beam receiving position and a transmittance measuring position.例文帳に追加

レーザ光線受光位置と透過率測定位置とに選択的に位置せしめられる試料保持手段（１４）が配設されている。 - 特許庁

An adjusting sample 18 is mounted on an exchanger 7 of a primary X-ray filter 6 and is located simply near the position of sample surface at analysis.例文帳に追加

調整試料１８を１次Ｘ線フィルター６の交換機７に取り付け、簡単に分析時の試料表面位置の近傍に位置させる。 - 特許庁

In order to calculate the position measurement, the processor has the first mode in which it can operate to process the sample when the sample is created.例文帳に追加

このプロセッサは、位置測定を計算するために、サンプルが生成されるときにサンプルを処理するように動作可能である第１モードを有する。 - 特許庁

When the sample is exchanged, posture of the sample 3 or the like is corrected so as to reproduce the reference position, while observing responses of the light receiver 7.例文帳に追加

試料交換を行った際は、受光器７の応答を観察しながら基準位置を再現するように試料３等の姿勢を補正する。 - 特許庁

To provide an optical microscope capable securely positioning observation position of a sample without being affected by the size or weight of the sample.例文帳に追加

標本の大きさや重さに影響されることなく標本の観察位置合わせを確実に行うことができる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To measure secular changes of a singular phenomenon caused at a specific position of a sample with good time precision irrelevantly to a scanning image of the sample.例文帳に追加

標本の特定部位へ発現させる特異現象の経時的変化を、標本の走査画像に関係なく時間的に精度良く測定する。 - 特許庁

To provide a sample creating device capable of creating a cross section with position-adjusting at a site necessary to observe the sample inside unobservable from surface.例文帳に追加

表面からは見ることのできない試料内部の要観察部位に位置を合わせて断面を作成できる試料作製装置を提供する。 - 特許庁

The lowest lowered position of the needle is calculated, with respect to the sample bottle at another position, based on the three set lowest lowered positions (three-dimensional coordinate positions) and the arrangement coordinates of the sample bottles on the sample bottle tray 4, and an operation of the needle is controlled, according to the calculated lowest lowered position.例文帳に追加

設定された三点の最下降位置（３次元座標位置）と、試料びんトレイ４の試料びん配置座標とから、他の位置における試料びんに対するニードルの最下降位置が算出され、算出された最下降位置に従って、ニードルの動作が制御される。 - 特許庁

A device corrects variations of the measured values which depend on a position of the measuring head, by providing respective steps for determining a sample-free blank value, a measured value of a standard sample and a measured value of a measurement target sample and correction values thereof with respect to reference position and measuring position of a measuring head.例文帳に追加

本発明は、測定ヘッドの基準位置と測定位置に対して、試料のない状態のブランク値と標準試料の測定値と測定対象試料の測定値およびそれらの補正値を求める各ステップを設けて、測定ヘッドの位置に依存する測定値のバラツキを補正するものである。 - 特許庁

A piezoelectric element scanner 2 scans the position where electron beams are applied to the sample 3 by varying the relative position of the electron optical lens barrels 1 and the sample 3, and adjusts the convergence position of the electron beams with respect to the sample by vertically moving the electron lens-barrels 1.例文帳に追加

ピエゾ素子スキャナ２は、前記電子光学鏡筒１と試料３との相対位置を変化させて、試料３に対する電子線の照射位置を走査し、かつ電子光学鏡筒１を上下方向に移動させて試料に対する電子線の収束位置を調整する。 - 特許庁

The sample imaging apparatus A for imaging the expanded sample image obtained by the microscope includes: the microscope that expands the sample image; and an autofocus mechanism that adjusts the relative position of the sample and the objective lens 3 of the microscope, so as to align the focus of the microscope with the sample.例文帳に追加

標本の像を拡大する顕微鏡と、前記標本と顕微鏡の対物レンズ３との相対位置を調整して、当該顕微鏡の焦点を標本に合わせるオートフォーカス機構とを備えており、前記顕微鏡により得られる標本の拡大像を撮像する標本撮像装置Ａ。 - 特許庁

The X-ray analyzer also has a sample chamber R0 capable of setting the sample S inside, a sample support device 48 for supporting the sample S on the measuring position, and an atmosphere generation device for setting the sample chamber R0 in the atmosphere different from vacuum atmosphere in the vacuum path 17.例文帳に追加

このＸ線分析装置は、試料Ｓを内部にセットすることができる試料室Ｒ０と、試料Ｓを測定位置に支持する試料支持装置４８と、試料室Ｒ０を真空路１７内の真空雰囲気と異なる雰囲気にするための雰囲気生成装置とを有する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for preparing a thin piece sample which accurately position a desired observation region in a sample substrate, without finely separating the sample substrate, and easily prepare a planar sample with regard to a region, at an arbitrary depth from the surface of the sample substrate.例文帳に追加

試料基板内の所望観察領域を試料基板を細かく分離せずに正確に位置出しして試料基板表面から任意の深さの領域についての平面試料を容易に作製することのできる薄片状試料の作製方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

There is provided the automatic analyzer which can suck a sample by a sample dispensation probe 16 at the single sampling position by delivering and moving a sample rack 18 which holds the sample container 17 from a first sampler 60 to a second sampler 80, and moving the sample rack 18 in horizontal and vertical directions of the rack at the fixed position.例文帳に追加

試料容器１７を保持する試料ラック１８を第１のサンプラ６０から第２のサンプラ８０に受け渡し移動して、固定された位置で試料ラック１８をラックの水平方向及び上下方向に移動させることで、単一のサンプリング位置におけるサンプル分注プローブ１６による試料吸引ができる自動分析装置。 - 特許庁

This raster scan method for raster-scanning a sample storage part of the chip with a laser includes at least a matrix in the sample storage part, and determines an irradiation frequency in each laser irradiation position of the sample storage part of the chip, based on the signal intensity in each irradiation position in the sample storage part obtained by the laser irradiation onto the sample storage part.例文帳に追加

レーザーでチップの試料収容部をラスタースキャンするラスタースキャン方法であって、試料収容部には少なくともマトリクスが入っており、試料収容部へのレーザー照射によって得られた試料収容部における照射位置ごとの信号強度に基づいて、チップの試料収容部のレーザー照射位置ごとの照射回数を決定する。 - 特許庁

A sample container wherein RFID 12 is embedded or added is set on a prescribed installation position.例文帳に追加

ＲＦＩＤ１２が埋込み又は付加された試料容器は所定の設置位置にセットされる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SPECIFYING OBSERVATION OR PROCESSING POSITION, AND METHOD AND DEVICE FOR PROCESSING SAMPLE例文帳に追加

観察または加工位置特定方法および装置ならびに試料加工方法および装置 - 特許庁

To exactly adjust an automatic document feeding position without any human intervention and without frequently using sample output.例文帳に追加

人手をかけず、サンプル出力も多用せずに、自動給紙位置の調整を正確に行う。 - 特許庁