sample postとは 意味・読み方・使い方

The transmission-side measured sample holding plate 11 and the reflection-side measured sample holding plate 21 are supported by a support post 6, separated from the housing apparatus 1 and disposed outside the housing apparatus 1.例文帳に追加

透過測定試料保持板１１と反射測定試料保持板２１は、いずれも筺体装置１の外側で筐体装置１とは分離して設けられている支柱６で支持されている。 - 特許庁

This TEM FIB sample of a solid material is made very thin by irradiation of a sample surface alternately on its both sides with an ion beam in a step of a post-treatment, without being contaminated and destructed.例文帳に追加

固体材料のＴＥＭ ＦＩＢ試料は、汚染および破壊されることなく、後続処理のステップのイオンビームを用いた試料表面の交互の側での打込みによって、非常に薄くされる。 - 特許庁

On the other hand, a finishing sample 86 of the post card is printed by a printer 112 connected to the order receiving server 102, to be affixed to a delivery bag 150.例文帳に追加

その一方、ポストカードの仕上がり見本86が、注文受信サーバ102 に接続されたプリンタ112 から印刷され、納品袋150 に貼り付けられる。 - 特許庁

To provide a laser ablation method in which the amount of a sample irradiated with a laser beam which is introduced into a post stage is large and stable and which is capable of suppressing contamination of a sample chamber, and to provide a sample analysis method, an analytic binder and a manufacturing method of a powder processed material.例文帳に追加

レーザ照射した試料の後段への導入量が多く且つ安定しているとともに、試料室の汚染を抑制することができるレーザーアブレーション方法、試料分析方法、分析用バインダ、及び粉末加工物の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Amplifier circuits 51, 52 for feedback of a capacitor and a sample-and-hold circuit 44 are connected in cascade to a post-stage of an amplifier 42 for detecting the electric charge.例文帳に追加

電荷検出増幅器４２の後段には、コンデンサ帰還の増幅回路５１・５２およびサンプルホールド回路４４が縦続に接続されている。 - 特許庁

In a post-analysis process, the hazardous material content is analyzed by the fluorescence X-ray analysis method using a solid component after the liquid-solid separation as the sample.例文帳に追加

後分析工程として、固液分離されたうちの固体成分を試料として蛍光Ｘ線分析法により有害物質の含有量を分析する。 - 特許庁

A subtracter 34 removes the influence of background radiation by calculating (NBG-NS) and determines a counting value attributed to the radioactive reagent contained in the post-dose sample.例文帳に追加

減算器３４は（Ｎ_S−Ｎ_BG）を計算してバックグラウンド放射能の影響を除去し、投与後サンプルに含まれる放射性試薬に起因する計数値を求める。 - 特許庁

Processing circuits 561-564 each tests the digital sample stored in a post capturing operation mode, and designates the range of a storing position of the memory including the data regarding a predetermined event.例文帳に追加

処理回路561-564は、ポスト取込み動作モードにて蓄積されたデジタル・サンプルを試験し、所定イベントに関するデータを含んだメモリ記憶位置の範囲を指示する。 - 特許庁