「sample post」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The post card 140 is packaged with the sample 86 affixed to the delivery bag 150 as a mark to be shipped.例文帳に追加

ポストカード140 の包装は、納品袋150 に貼り付けられた見本86を目印として行われ、出荷される。 - 特許庁

The sample plate 42 is arranged while being separated from the bottom surface by a support post 44 to easily unload the reagent creeping to the reverse side of the sample plate 42.例文帳に追加

試料プレート４２は支持柱４４により底面から離して配置され、試料プレート４２裏面に回り込む試薬の排出を容易とする。 - 特許庁

The transmission-side measured sample holding plate 11 and the reflection-side measured sample holding plate 21 are supported by a support post 6, separated from the housing apparatus 1 and disposed outside the housing apparatus 1.例文帳に追加

透過測定試料保持板１１と反射測定試料保持板２１は、いずれも筺体装置１の外側で筐体装置１とは分離して設けられている支柱６で支持されている。 - 特許庁

This TEM FIB sample of a solid material is made very thin by irradiation of a sample surface alternately on its both sides with an ion beam in a step of a post-treatment, without being contaminated and destructed.例文帳に追加

固体材料のＴＥＭ ＦＩＢ試料は、汚染および破壊されることなく、後続処理のステップのイオンビームを用いた試料表面の交互の側での打込みによって、非常に薄くされる。 - 特許庁

On the other hand, a finishing sample 86 of the post card is printed by a printer 112 connected to the order receiving server 102, to be affixed to a delivery bag 150.例文帳に追加

その一方、ポストカードの仕上がり見本86が、注文受信サーバ102 に接続されたプリンタ112 から印刷され、納品袋150 に貼り付けられる。 - 特許庁

To provide a laser ablation method in which the amount of a sample irradiated with a laser beam which is introduced into a post stage is large and stable and which is capable of suppressing contamination of a sample chamber, and to provide a sample analysis method, an analytic binder and a manufacturing method of a powder processed material.例文帳に追加

レーザ照射した試料の後段への導入量が多く且つ安定しているとともに、試料室の汚染を抑制することができるレーザーアブレーション方法、試料分析方法、分析用バインダ、及び粉末加工物の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Amplifier circuits 51, 52 for feedback of a capacitor and a sample-and-hold circuit 44 are connected in cascade to a post-stage of an amplifier 42 for detecting the electric charge.例文帳に追加

電荷検出増幅器４２の後段には、コンデンサ帰還の増幅回路５１・５２およびサンプルホールド回路４４が縦続に接続されている。 - 特許庁

In a post-analysis process, the hazardous material content is analyzed by the fluorescence X-ray analysis method using a solid component after the liquid-solid separation as the sample.例文帳に追加

後分析工程として、固液分離されたうちの固体成分を試料として蛍光Ｘ線分析法により有害物質の含有量を分析する。 - 特許庁

A subtracter 34 removes the influence of background radiation by calculating (NBG-NS) and determines a counting value attributed to the radioactive reagent contained in the post-dose sample.例文帳に追加

減算器３４は（Ｎ_S−Ｎ_BG）を計算してバックグラウンド放射能の影響を除去し、投与後サンプルに含まれる放射性試薬に起因する計数値を求める。 - 特許庁

Processing circuits 561-564 each tests the digital sample stored in a post capturing operation mode, and designates the range of a storing position of the memory including the data regarding a predetermined event.例文帳に追加

処理回路561-564は、ポスト取込み動作モードにて蓄積されたデジタル・サンプルを試験し、所定イベントに関するデータを含んだメモリ記憶位置の範囲を指示する。 - 特許庁

An order receiving server 102 in the laboratory 100 reads a template 20 as a sample of a post card which has previously been recorded based on the received order file 70 to correct it, and further a customer image 17 is synthesized to produce post card data 21.例文帳に追加

ラボ100 内の注文受信サーバ102 は、受信した注文ファイル70に基づき、予め記録していたポストカードの見本であるテンプレート20を読み出して修正し、さらに顧客画像17を合成してポストカードデータ21を作成する。 - 特許庁

To perform sampling frequency conversion without incurring an interpolation arithmetic error even if a sampling frequency requested by a post-stage device becomes equal to or higher than a sampling frequency of an input sample.例文帳に追加

後段の装置が要求するサンプリング周波数が入力サンプルのサンプリング周波数以上になっても、補間演算のエラーを発生させずにサンプリング周波数変換を行う。 - 特許庁

Because each ensemble is time aligned, further processing (e.g., coherent averaging) may occur without post-processing to time-shift each sample to achieve the time alignment.例文帳に追加

各集合が時間整列しているので、さらなる処理（例えば、コヒーレントな平均化）を、各サンプルを時間シフトして時間整列を実現するための後処理を行うことなく、実施することができる。 - 特許庁

According to this constitution, specifications of the sample piece 3a are not discriminated wrongly, and the occurrence of troubles where the sheet-like rubber, according to the specifications, is not fed to a post-process by wrong determination can be prevented effectively.例文帳に追加

これにより、試料片３ａの仕様が誤判定されることがなく、誤判定によって仕様通りのゴムが後工程に送られないという不具合の発生を効果的に防止することができる。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which allows the inspection of a sample at various wavelengths and (or) in wavelength ranges and does not require the post adjustment of wavelength intrinsic component elements in an optical path at this time.例文帳に追加

種々の波長および（または）波長範囲で試料の検査を可能にし、その際波長固有の構成要素の後調整を光路内で行なう必要のない走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A more improved catalytic performance is obtained as compared to treat a corresponding sample using an inert gas at the same high temperature, if the MMO1 catalyst on which Te is vapor deposited is post-treated with oxygen at a high temperature.例文帳に追加

Ｔｅを蒸着したＭＭＯ１触媒を、高温において酸素で後処理すると、同じ高温において不活性ガスを使用して対応する試料を処理した場合と比較して、改善された触媒性能が得られた。 - 特許庁

A desolvation pipe 23 which communicates an atomization chamber for atomizing a sample liquid under an atmospheric pressure and an intermediate vacuum chamber in the post-stage is formed by arranging a first and second metal pipes 231 and 232 having different inner diameters in contact side by side.例文帳に追加

試料液を大気圧下で噴霧する霧化室とその後段の中間真空室との間を連通する脱溶媒管２３は、内径が相違する第１、第２金属管２３１、２３２を接触状態で並設したものとする。 - 特許庁

To provide a simple test method for the degree of decomposition in highly organic soil, instead of a phon post method, capable of more quantitatively accurately determining the degree of decomposition in the high organic soil in a sampling site of a sample by reducing the occurrence of large variations and errors in determination results.例文帳に追加

判定結果に大きなバラツキや誤差が生じるのを軽減して、試料の採取現場において、より定量的に精度良く高有機質土の分解度を判定することのできる、フォンポスト法に代わる高有機質土の簡易分解度試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a metal contaminated sample that reflects an actual heavy metal contaminated state in an actual post-process of a semiconductor device to grasp with high reliability the gettering performance of a silicon wafer accompanying heavy metal contaminated in the manufacturing process of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造プロセスにおける重金属汚染に伴うシリコンウェーハのゲッタリング能を高い信頼性で把握することを可能にするため、現実のデバイス後工程における重金属汚染の状態を反映した金属汚染試料を作製することができる方法を提供する。 - 特許庁

By control by a bias control circuit BCC, a preamplifier AMP of a comparator COP of the post stage performs amplification with a large amplification rate when differential voltage of differential input signals Vsig and Vref supplied from outputs of the sample/hold circuit SHC of the first stage is small, and performs amplification at a small amplification rate when the differential voltage is sufficiently large.例文帳に追加

バイアス制御回路ＢＣＣによる制御により後段のコンパレータＣＯＰのプリアンプＡＭＰは初段のサンプル／ホールド回路ＳＨＣの出力から供給される差動入力信号Ｖｓｉｇ、Ｖｒｅｆの差電圧が小さい場合に大きな増幅率で増幅して、差電圧が十分大きくなると小さな増幅率で増幅する。 - 特許庁