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意味・対訳 繊度検査

JST科学技術用語日英対訳辞書での「size test」の意味

size test


「size test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 277



例文

8 Maurer's Universal Statistical Test (for block size=8 bits)発音を聞く 例文帳に追加

8. Maurer's Universal Statistical Test(ブロックサイズ = 8 ビット) - FreeBSD

SIZE EXCLUSION CHROMATOGRAPHY TEST APPARATUS例文帳に追加

サイズ排除クロマトグラフィ試験装置 - 特許庁

To obviate the need of a delay test controller or a plurality of DELAY TEST MODE signal lines to reduce a size of a circuit.例文帳に追加

ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。 - 特許庁

After the burn-in test, the wafer is divided into chip size packages.例文帳に追加

バーンイン後、ウェハはチップサイズパッケージに分割される。 - 特許庁

To provide a test device not depending on a size of a test sensor package provided with a test sensor, and to provide a method of loading the test sensor package in the test device.例文帳に追加

試験センサが配置された試験センサパッケージのサイズに依存しない試験装置及び試験装置に装填する方法を提供する。 - 特許庁

DYNAMIC RESPONSE LOAD TEST APPARATUS FOR ACTUAL SIZE DAMPER FOR DAMPING例文帳に追加

制振用実大ダンパーの動的応答載荷試験装置 - 特許庁

例文

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH SCAN TEST CIRCUIT FOR REDUCING CHIP SIZE, AND ITS TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

チップサイズを縮小させるスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「size test」の意味

size test


「size test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 277



例文

TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

The test piece is adjusted to the area size required for performing tests on the plurality of test items.例文帳に追加

試験片は複数の試験項目の実施に必要な面積サイズに調製したものを使用する。 - 特許庁

To provide a test circuit which performs a test of an amplifier part and a test of a leak current between light receiving elements, of which the chip size is small.例文帳に追加

増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。 - 特許庁

PORE SIZE MEASURING METHOD AND INTEGRITY TEST METHOD FOR POROUS SEPARATION MEMBRANE例文帳に追加

多孔性分離膜の孔径測定法及び完全性試験方法 - 特許庁

In a test pattern measuring process (ST12), the size of a test pattern transferred onto a wafer is measured.例文帳に追加

テストパターン測定工程ST12において、ウェハ上に転写されたテストパターンの寸法を測定する。 - 特許庁

Thus, even if there are a large number of test signals, the size of the test signal output circuit 120 for outputting the test signals does not become large.例文帳に追加

よって、試験信号が多数あっても、試験信号を出力する試験信号出力回路120のサイズは大きくならない。 - 特許庁

A test substance is added to a test solution containing a liposome, and the irritant properties of the test substance are evaluated on the basis of changes in size of the liposome.例文帳に追加

リポソームを含む試験溶液に被験物質を加え、リポソームの大きさの変化に基づいて、被験物質の刺激性を評価する。 - 特許庁

例文

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

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