「size test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DYNAMIC RESPONSE LOAD TEST APPARATUS FOR ACTUAL SIZE DAMPER FOR DAMPING例文帳に追加

制振用実大ダンパーの動的応答載荷試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH SCAN TEST CIRCUIT FOR REDUCING CHIP SIZE, AND ITS TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

チップサイズを縮小させるスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁

TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

The test piece is adjusted to the area size required for performing tests on the plurality of test items.例文帳に追加

試験片は複数の試験項目の実施に必要な面積サイズに調製したものを使用する。 - 特許庁

To provide a test circuit which performs a test of an amplifier part and a test of a leak current between light receiving elements, of which the chip size is small.例文帳に追加

増幅部のテストおよび受光素子間のリーク電流のテストを行う、チップサイズの小さいテスト回路を提供する。 - 特許庁

PORE SIZE MEASURING METHOD AND INTEGRITY TEST METHOD FOR POROUS SEPARATION MEMBRANE例文帳に追加

多孔性分離膜の孔径測定法及び完全性試験方法 - 特許庁

In a test pattern measuring process (ST12), the size of a test pattern transferred onto a wafer is measured.例文帳に追加

テストパターン測定工程ＳＴ１２において、ウェハ上に転写されたテストパターンの寸法を測定する。 - 特許庁

Thus, even if there are a large number of test signals, the size of the test signal output circuit 120 for outputting the test signals does not become large.例文帳に追加

よって、試験信号が多数あっても、試験信号を出力する試験信号出力回路１２０のサイズは大きくならない。 - 特許庁

A test substance is added to a test solution containing a liposome, and the irritant properties of the test substance are evaluated on the basis of changes in size of the liposome.例文帳に追加

リポソームを含む試験溶液に被験物質を加え、リポソームの大きさの変化に基づいて、被験物質の刺激性を評価する。 - 特許庁

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

The average particle size, which agrees with the relation of the density at each test piece operated from the test result is obtained by supposing that the average particle size with water droplet impingement ratio.例文帳に追加

その結果から平均粒子径を仮定して演算した各供試体毎の濃度と水滴衝突率との関係が一致する平均粒子径を求める。 - 特許庁

To allow a semiconductor device requiring a wafer test to be reduced in size.例文帳に追加

ウェハテストを必要とする半導体装置を縮小化を可能にすること。 - 特許庁

To structure a piled raft test object, a spread foundation test board having a predetermined size and being in contact with the peripheral ground is formed on a pile head part of the test pile protruding from the ground, in a manner that the test board is structurally integrated with the test pile.例文帳に追加

地盤から突き出した試験杭の杭頭部に、周辺地盤と接する一定大きさの直接基礎試験盤を前記試験杭と構造的に一体化して形成し、パイルド・ラフト試験体を構成する。 - 特許庁

To provide a material testing machine preventing collision of a crosshead to a test piece or the like for a next test even when there is a remaining test piece after a test or a change in size or the like of a next test piece.例文帳に追加

試験終了後の試験片の残存や、次回試験片の大きさの変化等があっても、次回試験のためのクロスヘッドがこれら試験片等に衝突することがない材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of reducing the size of an integrated circuit that includes the same.例文帳に追加

テスト回路を含む集積回路を小型化できるテスト回路を提供する。 - 特許庁

To locally and freely adjust a cycle time in an arbitrary test cycle and reduce a chip size and a test cost.例文帳に追加

任意のテストサイクルにおけるサイクル時間を局所的に自由に調整するとともにチップサイズ、テストコストを削減する。 - 特許庁

The container body part has an opening with size that a swab to which a test body adheres enters to hold a test body extraction reagent.例文帳に追加

容器本体部は検体が付着した綿棒が入る大きさの開口部を有し検体抽出試薬を保持する。 - 特許庁

A text candidate assuming means 3 assumes a test candidate from the assumed text size and a size of each circumscribing rectangle.例文帳に追加

テキスト候補推定手段３は上記推定されたテキストサイズと各外接矩形の大きさからテキスト候補を推定する。 - 特許庁

To provide a method for measuring the inner size of a test object, capable of accurately measuring the size of a measurement object, even if the measurement object inside the test object is large.例文帳に追加

被検体内部における測定対象が大きくても精度良く測定対象の寸法を測定することを可能な被検体の内部寸法測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a large-size tested object test device capable of measuring a maximum surface temperature of a large-size tested object, in an environment temperature test of an optical module.例文帳に追加

光モジュールの環境温度試験において、大型の被試験物の最高表面温度を測定できることができる大型の被試験物試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test structure of a semiconductor element for detecting a defect size.例文帳に追加

欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造を提供する。 - 特許庁

To provide a system in package, which facilitates a test without increasing a size and a cost.例文帳に追加

サイズやコストを増大させることなく、テスト容易なシステムインパッケージを実現する。 - 特許庁

To allow a test case for a system including a plurality of components to be generated in small size.例文帳に追加

複数の部品を含むシステムに対するテストケースを小さいサイズで生成する。 - 特許庁

To reduce the size of a test pattern almost without lowering a failure detection rate.例文帳に追加

故障検出率を殆ど下げることなく、テストパターンのサイズを大幅に削減する。 - 特許庁

When photographing a pattern of a photomask to measure the pattern size, a pattern size conversion formula for converting the number of pixels of a pattern image into a pattern size is obtained from a size measuring value of a test pattern and the number of pixels of a test pattern, and the number of pixels of the pattern image is converted into a pattern size by the pattern size conversion formula so as to measure the pattern size of the photomask.例文帳に追加

フォトマスクのパターンを撮像してパターン寸法を測定する際に、パターン画像の画素数をパターン寸法に変換するパターン寸法変換式をテストパターンの寸法計測値とテストパターン画像の画素数とから求めておき、パターン画像の画素数をパターン寸法変換式によりパターン寸法に変換してフォトマスクのパターン寸法を測定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device equipped with a scan test circuit, satisfying the overall fault coverage and reduced in a chip size by simplifying the scan test circuit, and to provide a test method of the same.例文帳に追加

スキャンテスト回路の単純化でチップサイズが低減し、全体フォールトカバレージも満足するスキャンテスト回路を備えた半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test data acquisition unit 132 acquires test data which has a size that can be finished by the time when next data is input, and outputs the test data to the decoding processing unit 11.例文帳に追加

テストデータ取得部１３２は、次の通信データが入力されるまでにテストが終了するサイズのテストデータを取得し、復号処理部１１に出力する。 - 特許庁

To prevent increase in chip size and in cost, and to improve the degree of freedom in the contents of a test.例文帳に追加

チップサイズ及びコスト増加を抑制し、またテストの内容の自由度を向上させる。 - 特許庁

Next, a size of a resist pattern is measured and an optimal focal position is detected for every test pattern based on measured value of a size.例文帳に追加

次に、レジストパターンの寸法を測定し、寸法の測定値に基づいてテストパターン毎に最適なフォーカス位置を検出する。 - 特許庁

To realize a system-in package which facilitates a test without increasing a size and costs and to use the system-in package as a test board.例文帳に追加

サイズやコストを増大させることなく、テスト容易なシステムインパッケージを実現するとともに、そのシステムインパッケージをテストボードとして活用する。 - 特許庁

Preferably, the crushed activated carbon as the carrier has a particle size that remains on a test sieve of 500 μm opening and passes through a test sieve of 5.60 mm opening.例文帳に追加

担体である破砕状活性炭は試験用ふるいの目開きで、５００μｍ〜５．６０ｍｍの粒度を有するものが好ましい。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device and its test method improving reliability of the operation test while suppressing the increase of a chip size.例文帳に追加

チップサイズの増加を抑制しつつ動作テストの信頼性を向上出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To execute the evaluation test of a polarization property and the fatigue test in a ferroelectric capacitor and also to reduce the chip size.例文帳に追加

強誘電体キャパシタの分極特性の評価試験および疲労試験を実行することができかつチップサイズを縮小化する。 - 特許庁

TEST CHART FOR PRINTING AREA SIZE MEASUREMENT, DEVICE AND METHOD FOR GENERATION THEREOF, QUALITY CONTROL METHOD FOR PRINTING AREA OUTPUT DEVICE, AND GENERATING PROGRAM FOR THE TEST CHART FOR PRINTING AREA SIZE MEASUREMENT例文帳に追加

画線寸法測定用テストチャート及びその作成方法並びにその作成装置、画線出力装置の品質管理方法、並びに画線寸法測定用テストチャートの作成プログラム - 特許庁

A test pattern 34A is inputted in maximum paper size that can be processed by the image forming device 16.例文帳に追加

テストパターン３４Ａは画像形成装置１６が処理可能な最大用紙サイズに入力する。 - 特許庁

To perform aseismatic test of a large scale sample utilizing the size of a vibration table sufficiently.例文帳に追加

振動台の大きさを十分に活用した大型の供試体による耐震試験を可能にする。 - 特許庁

To provide an interface circuit for a device under test which can suppress increase in size of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の大型化を抑制できる被検査装置用インタフェース回路を提供する。 - 特許庁

To provide a high throughput test system having a small size, with saving cost, being not so complicated and more suitable for sample test companies of a small-to-medium scale.例文帳に追加

小型で、費用がかからず、あまり複雑でなく、中小規模の試料試験企業により適した、高スループット試験システムの提供。 - 特許庁

To provide a test print that enables a cost reduction due to a reduced size and consumption, and a test print colorimeter.例文帳に追加

テストプリントのサイズを小さくして消費量を少なくしコストを削減することが可能なテストプリント及びテストプリント測色装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the size of a burn-in system used for performing a burn-in test on a semiconductor wafer, and to shorten the time required for the test.例文帳に追加

半導体のウエハにバーンインを実施するための半導体装置において、バーンイン装置の小型化、実施時間の短縮を目的とする。 - 特許庁

Also, when the control section generates the screen data, it enlarges or reduces the test pattern to change the size so that the size of the test pattern to be displayed on each the changeover screen has a ratio of 10% to the size of the display screen and sets the driving level of a background region to make the background region of the test pattern have the intensity level corresponding to the test pattern.例文帳に追加

また、画面データを生成する際には、各切替画面において表示するテストパターンのサイズが表示画面のサイズに対して１０％の比率となるように、テストパターンを拡大又は縮小してサイズ変更するとともに、テストパターンの背景領域がそのテストパターンに対応する輝度レベルとなるように背景領域の駆動レベルを設定する。 - 特許庁

Accordingly, when the test for finding the optimum size and the position of the throttling hole 14 is performed, the test can be performed by easily changing the size and the position of the throttling hole 14, and the optimum size and the position of the throttling hole can be easily found.例文帳に追加

従って、絞り穴１４の最適な大きさや位置を見つける試験を行う際に、簡単に絞り穴１４の大きさや位置を変更して試験を行うことができ、最適な絞り穴の大きさや位置を容易に見つけることができる。 - 特許庁

To generate a possible small-size set, at a high speed, that includes many test cases matching with a set of existing test cases given as an input.例文帳に追加

入力として与えられた既存のテスト・ケースの集合と一致するものを多く含み、なるべく小さいサイズの集合を、高速に生成する。 - 特許庁

One test pattern is divided into a plurality of blocks and deployed, optimal block layout is performed in accordance with a size of a recording medium, and the test pattern is deployed.例文帳に追加

１つのテストパターンを複数ブロックに分割して展開し、記録媒体のサイズに応じて最適なブロックレイアウトを行い、テストパターンを展開する - 特許庁

After a water-soluble film 15 is formed on the surface of the test resist pattern 14A, the size of the test resist pattern 14A is measured by using electron beams 16.例文帳に追加

テスト用レジストパターン１４Ａの表面に水溶性膜１５を形成した後、テスト用レジストパターン１４Ａのサイズを電子線１６を用いて測定する。 - 特許庁