yield varianceとは 意味・読み方・使い方

To achieve a high production yield and to compensate variance for the threshold voltages of MOS transistors of a CMOS-SRAM.例文帳に追加

高い製造歩留を可能とすると伴に、ＣＭＯＳ・ＳＲＡＭのＭＯＳトランジスタのしきい値電圧のバラツキを補償すること。 - 特許庁

To provide a laminated dielectric resonator whose characteristics variance due to misalignment is reduced and whose yield improvement is enabled.例文帳に追加

位置ズレによる特性のばらつきを軽減し、歩留まり向上を可能とした積層型誘電体共振器を提供する。 - 特許庁

To provide a gas variance plate which has high corrosion resistance to plasma, and can prevent a generation of particle from gas hole, and contribute to yield improvement at semiconductor device manufacturing time.例文帳に追加

プラズマに対して高い耐食性を有し、かつ、ガス孔からのパーティクルの発生を防ぐことができ、半導体素子製造時の歩留向上に寄与できるガス分散プレートを提供する。 - 特許庁

By using the corrected reticle for exposure, variance in the pattern dimension in the exposure field can be suppressed to the minimum, which improves the yield of semiconductor chips.例文帳に追加

補正が加えられたレチクルを用いて、露光することにより、露光フィールド内のパターン寸法のばらつきを最小限に抑えることができ、半導体チップの歩留まりを向上することができるようになる。 - 特許庁

To solve such a problem that appropriate control of dimensional variance of a photomask of which the occupancy area can be reduced is difficult while keeping or improving the basic performance and yield of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの基本性能や歩留まりの維持または向上を図りながら、その占有面積の縮小が可能な、適切なフォトマスクの寸法ばらつき管理が困難である。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor storage device capable of realizing high yield and high reliability by suppressing failures caused by size variance on the end of a memory cell array.例文帳に追加

メモリセルアレイ端部での寸法バラツキに起因する不良を抑制し、高歩留りおよび高信頼性を実現できる不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and its manufacturing method by which a variance of characteristic of a bipolar transistor due to boron contamination can be suppressed and high realiability and production yield be realized.例文帳に追加

本発明は、ボロン汚染によるバイポーラトランジスタの特性変動を抑制し、高い信頼性及び製造歩留りが実現される半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Then measurement results of respective monitors are fed back to an edging controller to control the circuit-dependent variance in the design stage, and the manufacturing yield of the semiconductor device is improved.例文帳に追加

そして、各モニタの測定結果をエッジング制御装置にフィードバックすることで設計段階での回路依存のバラツキを制御し、半導体装置の製造歩留を向上させる。 - 特許庁