「"近接場顕微鏡"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

誘電体共振器を利用した近接場顕微鏡例文帳に追加

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING DIELECTRIC RESONATOR - 特許庁

散乱型近接場顕微鏡およびその測定方法例文帳に追加

SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁

散乱型近接場顕微鏡用プローブの製造方法例文帳に追加

MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCATTERING TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE - 特許庁

プローブ及びそれを用いた近接場顕微鏡例文帳に追加

PROBE AND NEAR FIELD MICROSCOPE USING IT - 特許庁

多方位同時検出光集光器および走査型近接場顕微鏡例文帳に追加

MULTIPLE-AZIMUTH SIMULTANEOUS DETECTION CONDENSING EQUIPMENT AND SCANNING TYPE PROXIMITY FIELD MICROSCOPE - 特許庁

散乱型近接場顕微鏡および散乱型近接場分光システム例文帳に追加

SCATTERING-TYPE NEAR-FIELD MICROSCOPE AND SCATTERING-TYPE NEAR-FIELD SPECTROSCOPIC SYSTEM - 特許庁

導波管共振器を利用した近接場顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a near-field microscope which utilizes a waveguide rosonator. - 特許庁

自己発光型光プローブおよびその製造方法と走査型近接場顕微鏡例文帳に追加

SELF LIGHT EMITTING TYPE OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE AND SCAN TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE - 特許庁

近接場プローブ及びその製造方法、並びに、該近接場プロープを用いた近接場顕微鏡例文帳に追加

NEAR FIELD PROBE, MANUFACTURING METHOD OF NEAR FIELD PROBE AND NEAR FIELD MICROSCOPE USING NEAR FIELD PROBE - 特許庁

位置決め装置、並びにそれを用いた近接場顕微鏡及び近接場分光装置。例文帳に追加

POSITIONING APPARATUS, NEAR-FIELD MICROSCOPE USING THE APPARATUS AND NEAR-FIELD SPECTROSCOPE - 特許庁

走査型近接場顕微鏡におけるイルミネーション反射モードの測定方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING ILLUMINATION REFLECTION MODE IN SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE - 特許庁

微小点発光発生装置および距離制御方法と走査型近接場顕微鏡例文帳に追加

MICROSPOT EMISSION GENERATING DEVICE, DISTANCE CONTROLLING METHOD AND SCANNING PROXIMITY MICROSCOPE - 特許庁

比較的簡単な構成を有するプローブ及び近接場顕微鏡を提供することである。例文帳に追加

To provide a probe with a comparatively simple structure and a near-field microscope. - 特許庁

近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡例文帳に追加

PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE - 特許庁

高いＳ／Ｎ比で試料を高分解能に測定することが可能な走査型近接場顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning type proximity field microscope measuring a specimen at a high S/N ratio and a high resolution. - 特許庁

ＷＤが長く、ノイズの少ない光学系及びそれを用いた近接場顕微鏡等の光学装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical system of a reduced noise having a long WD, and an optical apparatus such as a near-field microscope using the same. - 特許庁

散乱型近接場顕微鏡用のプローブ作製において、表面増強ラマン散乱を効率良く誘起する均一な金属粒子を、再現性よくコーティングする方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for coating uniform metal particles, which highly efficiently induce surface-enhanced Raman scattering, with satisfactory reproducibility in the manufacture of a probe for scattering-type near-field microscopes. - 特許庁

本発明は、ナノ構造体基板に限らず、原子間力顕微鏡用プローブ，近接場顕微鏡用プローブなど、増強度を利用するナノ構造体に対しても用いることができる。例文帳に追加

The measuring method is used for a nanostructure substrate, and also a nanostructure such as an atomic force microscope-use probe, a near-field optical microscope-use probe or the like which uses the enhancing effect. - 特許庁

誘電体共振器に探針を結合して温度や外部環境の影響を最小化し、感度と分解能が向上したマイクロ波の近接場顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microwave near-field optical microscope for improving the sensitivity and resolution, by connecting a probe to a dielectric resonator and minimizing the influence of the temperature and the external environment. - 特許庁

小型で高精度な制御ができる、探針を用いた近接場顕微鏡を発展させた近接場光リソグラフィーとして構成した近接場光によるパターン形成方法およびその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device for forming a pattern with proximity field light arranged as a proximity field light lithography developed from a proximity field microscope employing a probe in which highly accurate control can be ensured while reducing the size. - 特許庁

信号光検出の検出効率を向上させるとともに、信号光をバックグラウンド光成分から分離して検出することにより、信号対雑音比が高く、面内分解能の優れたプローブを具備した走査型近接場顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning type near field optical device provided with a probe enhanced in detection efficiency for signal light detection, having a high ratio of a signal to a noise by separating signal light from a background light component to be detected, and excellent in an in-plane resolution. - 特許庁

走査型近接場顕微鏡に用いる光集光系において、複数の光導波路または光検出器を搭載できる多方位同時検出光集光器を使う事で、得られる光情報の中から、これまで不可能であった、凹凸、材質などに依存した成分を分離する事が可能にする。例文帳に追加

To separate a constituent that depends on recess and projection, material quality, and the like from obtained light information by using multiple- azimuth simultaneous detection condensing equipment for mounting a plurality of optical waveguides or photo detectors in a condensing system used for a scanning type proximity field microscope. - 特許庁