| 例文 |
"test function"を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 120件
INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST FUNCTION例文帳に追加
テスト機能付き集積回路 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT WITH FREQUENCY DIVISION TEST FUNCTION例文帳に追加
分周テスト機能付集積回路 - 特許庁
MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION DEVICE, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION SYSTEM, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING MULTIVARIABLE TEST FUNCTION例文帳に追加
多変数テスト関数生成装置、多変数テスト関数生成システム、多変数テスト関数生成方法および多変数テスト関数を生成するためのプログラム - 特許庁
MEMORY CIRCUIT HAVING COMPRESSION TEST FUNCTION例文帳に追加
圧縮テスト機能を有するメモリ回路 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION例文帳に追加
セルフテスト機能を有する半導体装置 - 特許庁
Set-up and tear-down functions can also optionally bewrapped.Given the following test function: 例文帳に追加
以下のテストコードがあった場合: - Python
TRANSMISSION APPARATUS INCLUDING LINE TEST FUNCTION例文帳に追加
回線試験機能を有する伝送装置 - 特許庁
REAL TIME OS WITH WORST CASE TEST FUNCTION例文帳に追加
ワーストケース試験機能付きリアルタイムOS - 特許庁
CONTROLLER WITH MEMORY TEST FUNCTION AND COMPUTER例文帳に追加
メモリ試験機能付きコントローラ及びコンピュータ - 特許庁
LED DISPLAY DEVICE HAVING SCREEN TEST FUNCTION例文帳に追加
スクリーンテスト機能付きLED表示装置 - 特許庁
TRANSMISSION SYSTEM HAVING PULSE MASK TEST FUNCTION例文帳に追加
パルスマスク試験機能を備えた伝送システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH SELF-TEST FUNCTION例文帳に追加
自己テスト機能付きの半導体集積回路 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE WITH TEST FUNCTION例文帳に追加
テスト機能を有する半導体集積回路装置 - 特許庁
INTERNAL OPERATION CLOCK GENERATION CIRCUIT PROVIDED WITH TEST FUNCTION例文帳に追加
テスト機能を備えた内部動作クロック生成回路 - 特許庁
AUTOMATIC NETWORK ANALYZER WITH NOISE/NPR TEST FUNCTION例文帳に追加
雑音/NPR試験機能を有する自動ネットワークアナライザ - 特許庁
MATCHING CIRCUIT DEVICE WITH CELL TEST FUNCTION FOR PREVENTING STATIC DISCHARGE例文帳に追加
セルテスト機能を具えた静電放電防護整合回路装置 - 特許庁
TELEVISION DEVICE WITH VISUAL ACUITY TEST FUNCTION, AND VIDEO DISPLAY DEVICE例文帳に追加
視力検査機能付きテレビジョン装置および映像表示装置 - 特許庁
ELECTRONIC DICTIONARY PROVIDED WITH CONFIRMATION TEST FUNCTION AND ITS CONTROLLING METHOD例文帳に追加
確認テスト機能を備えた電子辞書及びその制御方法 - 特許庁
REPEATER WITH REMOTE TEST FUNCTION AND AUTOMATIC FIRE ALARM SYSTEM例文帳に追加
遠隔試験機能付き中継器及び自動火災報知システム - 特許庁
INTERCOM WITH REMOTE TEST FUNCTION FOR MULTIPLE DWELLING HOUSE AND CAMERA INTERCOM例文帳に追加
集合住宅用遠隔試験機能付ドアホン及びカメラドアホン - 特許庁
MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加
セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING TEST FUNCTION AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
テスト機能を有する半導体集積回路および製造方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE EQUIPPED WITH RADIO CONTROL TEST FUNCTION例文帳に追加
無線制御テスト機能を備えた半導体集積回路装置 - 特許庁
LEARNING SYSTEM UTILIZING DVD VIDEO WHICH PROVIDES LEARNING TEST FUNCTION例文帳に追加
学習テスト機能を提供するDVDビデオによる学習システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATED WITH SELF-TEST FUNCTION AND SYSTEM COMPRISING IT例文帳に追加
自己テスト機能内蔵半導体集積回路およびそれを備えたシステム - 特許庁
DATA DISASSEMBLING/ASSEMBLING DEVICE WITH TEST FUNCTION AND DATA TRANSFER SYSTEM PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加
試験機能付きデータ分割組立装置及びそれを備えたデータ転送システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁
The operations of the respective test functions are controlled by describing a command, which designates the communication protocol in the communication test function, in the test program described using a command for designating the operations of the in-circuit test function and the function test function.例文帳に追加
そしてインサーキットテスト機能およびファンクションテスト機能の動作をそれぞれ指定するコマンドを用いて記述されるテストプログラム中に、通信テスト機能における通信プロトコルを指定するコマンドを記述することで、前記各テスト機能の作動をそれぞれ制御する。 - 特許庁
Examples of these applications include built-in test function for test equipment and integrated circuit.例文帳に追加
アプリケーションの例にはテスト機器および集積回路用の組込み自己テスト機能が含まれる。 - 特許庁
The test function, in most cases, simply executes the stored photoflo for a specified number of repetitions.例文帳に追加
テスト関数はほとんどの場合、格納された photoplo を単に指定された回数だけ実行する。 - XFree86
Whether advancing a Z-test function above the shader engine for early Z-testing is possible or whether the Z-test function should be deferred until after shading operation for late Z-testing, is determined.例文帳に追加
アーリーZテストのためにシェーダエンジンよりZテスト機能を先行させることが可能であるか、又は、レイトZテストのためにシェーディングオペレーション後まで延期されるべきであるかを決定する。 - 特許庁
A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加
インサーキットテスト機能11と、ファンクションテスト機能12と、通信テスト機能13とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段14とを備える。 - 特許庁
COMMUNICATION TEST DEVICE, NETWORK WITH COMMUNICATION TEST FUNCTION, COMMUNICATION TEST METHOD AND COMMUNICATION TEST PROGRAM例文帳に追加
通信試験装置、通信試験機能を有するネットワーク、接続試験方法および接続試験プログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING SCAN TEST FUNCTION, AND SCAN TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加
スキャンテスト機能を有する半導体集積回路及び半導体集積回路のスキャンテスト方法 - 特許庁
To provide a technique for optimizing a program by reusing an execution result of a subclass test function.例文帳に追加
サブクラステスト関数の実行結果を再利用してプログラムを最適化する技術を提供する。 - 特許庁
DATA TRANSMISSION METHOD AND APPARATUS BETWEEN TIMING CONTROLLER AND SOURCE DRIVER WITH ADDITIONAL BIT ERROR RATE TEST FUNCTION例文帳に追加
ビットエラー率テスト機能が追加されたタイミングコントローラとソースドライバの間のデータ伝送方法及び装置 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device having both of a self-test function and a self-redundancy function with simple constitution.例文帳に追加
自己テスト機能と自己冗長機能とを併せ持つ半導体記憶装置を簡単な構成で提供する。 - 特許庁
To provide more information to individuals of participants by improving lecture support by a questionnaire/test function.例文帳に追加
アンケート/テスト機能による講義支援を向上させ、参加者個々に対してより多くの情報を提供する。 - 特許庁
To provide an alarm with test function convenient for users, capable of arbitrarily setting the time of a periodic test.例文帳に追加
定期試験の時刻を任意に設定でき、ユーザの使い勝手が良い、試験機能付きの警報器を提供する。 - 特許庁
To provide an inexpensive and small WDM type optical fiber gyro with self-test function.例文帳に追加
低価格、小型で、しかもセルフテスト機能を有するセルフテスト機能付きWDM方式光ファイバジャイロを提供する。 - 特許庁
To improve the efficiency of debug by expanding a test function for a system test and accelerate the simulation execution time.例文帳に追加
システムテストのためのテスト機能を拡大しデバッグの効率を向上すると共に、シミュレーション実行時間を高速化する。 - 特許庁
To provide an A/D converter having a simplified test function capable of judging whether an incorporated comparator is defective or not.例文帳に追加
内蔵コンパレータの不良判定を行うことができる簡易なテスト機能を有するA/Dコンバータを提供する。 - 特許庁
| 例文 |
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