「"test function"」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an instant shutdown type circuit-breaker which shares many parts installed at a circuit-breaker main body of a standard product as much as possible and which has no overload/open-phase trip function while retaining a trip test function by changing only a small part of the parts.例文帳に追加

標準品のしゃ断器本体に装備した部品をできるだけ共用し、僅かな部品一部を取り替えるだけでトリップテスト機能を残したまま過負荷／欠相引外し機能が無い瞬時しゃ断方式の回路しゃ断器を提供する。 - 特許庁

A successive approximation type A/D converter mounted on an LSI chip 10a is allowed to have a self-test function, and the conversion test of the successive approximation type A/D converter circuit 18a can be made with voltage generated from a built-in DAC circuit 22 as an analog input voltage AIN.例文帳に追加

LSI チップ10a に搭載された逐次比較型A/D コンバータ回路18a にセルフテスト機能を持たせ、内蔵DAC 回路22から生成した電圧をアナログ入力電圧AIN として逐次比較型A/D コンバータ回路の変換テストを行なうことを可能とした。 - 特許庁

To provide a controller with a memory test function and a computer mounted with the controller for normally maintaining picture display on the display monitor of the computer, and for easily and precisely performing memory tests in all the regions of a main memory mounted on the computer.例文帳に追加

本発明は、メモリ試験機能付きコントローラおよび該コントローラが搭載されたコンピュータに関し、コンピュータの表示モニタへの画面表示を正常に維持して、コンピュータに実装された状態のメインメモリの全領域を容易且つ詳細にメモリ試験することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function, capable of precisely evaluating the operation of each internal circuit, even if two or more internal circuits differed in function are mounted on a single chip, and the operating voltage varies with the internal circuits.例文帳に追加

１チップ上に機能の異なる複数の内部回路が搭載され、かつ、内部回路によって動作電圧が異なる場合においても、各内部回路の動作を正確に評価することが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having a test function for surely detecting a defective memory cell, of which the capacity value of a capacitor in a memory cell is lower for a standard range, since the possibility of causing a defective cell becomes high, as increase in the capacity proceeds in the future.例文帳に追加

今後大容量化が進むに連れて不良セルを生む可能性も高くなるため、メモリセルにおけるコンデンサの容量値が規格範囲に対して低い不良メモリセルを確実に検出するテスト機能を有する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a combination of a basic power amplifier measuring function and a measuring system self-test function into one RF circuit to improve reliability and reproducibility, to reduce the costs and to improve the accuracy without cutting a high power RF switch or DUT.例文帳に追加

大電力ＲＦスイッチまたはＤＵＴの切断を必要とすることなく、高信頼性、高再現性、低コスト、及び、高正確度をもたらす、基本的な電力増幅器測定機能及び測定システム自己テスト機能の、１つのＲＦ回路への組み合わせを提供する。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

The one chip microcomputer 10 has a starting register 18 starting a test operation and a built-in self test starting pattern generator 19 setting initial values in test control circuits (a pseudo random number generator 14, a logic circuit inspection compressor 15, a pattern generator 16 and a memory inspection compressor 17) for a built-in self test function.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

To provide a reliable network having no non-test section, where related to a CLAD test system, a test function interlocked with a CLAD part is realized, which is combined with conventional STM and ATM transfer methods, in a device and network having an STM-ATM conversion function.例文帳に追加

本発明はＣＬＡＤ試験システムに関し、ＳＴＭ−ＡＴＭ変換機能を持つ装置及びネットワークにおいて、ＣＬＡＤ部と連動した試験機能を実現し、従来からのＳＴＭ及びＡＴＭ転送方式と組み合わせることによって無試験区間の無い信頼性の高いネットワークを実現することを特徴としている。 - 特許庁

A base station apparatus 10, having function parts 1A, 1B, 1C for performing general communication treatment has a test function part 11 for testing states of the function parts 1A, 1B, 1C, by receiving a request for inquiry about the state of the base station apparatus 10, and the function part 11 conducts testing of the function parts 10A, 10B, 10C.例文帳に追加

一般の通話処理を行う機能部１Ａ、１Ｂ、１Ｃを持つ基地局装置１０が、基地局装置１０の状態問い合わせ要求を受けてその機能部の状態について試験する試験機能部を備えて、試験機能部１１により前記機能部１０Ａ、１０Ｂ、１０Ｃの試験を行う。 - 特許庁

To add a function setting monitor function, a fail-safe function for always monitoring the operating condition of the functions so as to safely operate them, a remote setting function for setting the functions in relation to plural track circuits with the remote control, and a test function for confirmation to an automatic train control system.例文帳に追加

本発明の課題は、機能設定の監視機能と、機能の動作状態を常時監視して安全側に動作させるフェールセーフ機能と、複数の軌道回路に対して機能をリモート設定するリモート設定機能と、機能確認のための試験を行う試験機能とを自動列車制御システムに付加することである。 - 特許庁

To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.例文帳に追加

本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the information processor 101 provided with an FPGA 102, a CPU 103, etc., first configuration data for setting a logical circuit required for displaying a normal function of the information processor 101 to the FPGA 102 and second configuration data for setting a test function for testing another integrated circuit of the CPU 103 or the like to the FPGA 102 are prepared.例文帳に追加

ＦＰＧＡ１０２とＣＰＵ１０３等とを備えた情報処理装置１０１において、ＦＰＧＡ１０２に対して情報処理装置１０１の通常の機能を発揮させる際に必要な論理回路を設定する第１のコンフィグレーションデータ、およびＦＰＧＡ１０２に対してＣＰＵ１０３等の他の集積回路のテストを行うためのテスト機能を設定する第２のコンフィグレーションデータを用意する。 - 特許庁

The virtual ALPG transmission type semiconductor test device has virtual ALPG function and real ALPG memory test function, in which a virtual ALPG operated on a hardware simulator and a real ALPG attained on hardware have the function of generating pattern at the same time by interpreting a test program although the real time is differed from each other and generate test patterns for a DUT designated by the program with a designated content at a designated speed.例文帳に追加

仮想ＡＬＰＧ機能と実ＡＬＰＧメモリテスト機能を具備し、ハードウェアシミュレータ上で動作する仮想ＡＬＰＧとハードウェアで実現する実ＡＬＰＧが、実時間は異なるが、テストプログラムを解釈し、プログラムの指定するＤＵＴに対するテストパターンを指定された内容で、指定された速度で発生して、仮想ＡＬＰＧと実ＡＬＰＧが同タイミングでパターンを発生する機能を有する仮想ＡＬＰＧ透過型半導体テスト装置とする。 - 特許庁