At=fを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 9件
Both focuses are substantially coincident at F.例文帳に追加
両焦点はＦで略一致する。 - 特許庁
Since this function is adapted even to various test pieces in the same way, √At=f(hr) is determined even if a plurality of test pieces are used.例文帳に追加
この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁
Since the function is applied similarly to various test pieces, determination by √At=f(hr) is applicable even when a plurality of test pieces are used.例文帳に追加
この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁
An increase quantity of the inside EGR is reduced more than F/C time under high rotation at F/C time under low rotation, and a throttle quantity of the throttle opening TA is reduced.例文帳に追加
低回転下でのF/C時は高回転下でのF/C時に比して内部EGRの増量分を少なくすると共に、スロットル開度TAの絞り量を小さくする。 - 特許庁
When executing the instrumented indentation test, √At (At is a contact area) shown by the formula 1 is determined as √At=f(hr) in the whole test load area, as a single-continuous function of hr which an intersection point with a displacement axis h of a tangent line on an unloading curve of the maximum test load Fmax.例文帳に追加
インストルメンテッドインデンテーション試験を実施した場合、(数１)に示す√At（Atは接触面積）を、最大試験荷重Fmaxにおける除荷曲線での接線が、変位軸hと交わる点であるhrの単独・連続関数として、全試験荷重範囲で√At = f(hr)のように定め得る。 - 特許庁
The graph is displayed on a display means and an operator firstly identifies that the maximum ion beam current I_max is obtained at f_a of the gas flow rate F from the graph.例文帳に追加
このグラフは表示手段上に表示され、まずオペレータは、最大のイオンビーム電流値Ｉ_ｍａｘが得られるガス流量Ｆはｆ_ａであることをそのグラフから確認する。 - 特許庁
To provide a control device timely performing the control of an intake air quantity for reducing pumping loss of an engine at F/C (fuel cut) in as short a duration time as possible.例文帳に追加
Ｆ／Ｃでのエンジンのポンピングロスを低減するための吸入空気量の制御をタイミングよく、かつ可及的に短い継続時間で実行できる制御装置を提供する。 - 特許庁
Light/pressure-sensitive printing paper 1 is wound into a roll 20 with one end 21 fixed to a roll shaft 15 and the other rendered deliverable in a direction indicated at F, and is provided with trailing edge information 25 near the one end 21.例文帳に追加
感光感圧型プリント用紙１は、一端２１がロール軸１５に固定されると共に他端からＦ方向に繰出可能なロール２０の形態に巻かれ、一端２１の近傍に終端情報２５を有する。 - 特許庁
The position detecting data of the first reference mark 11 and the second reference mark 12 in a prescribed symmetrical shape formed with prescribed position relation at ' f overlapping and forming the circuit pattern or the like on a semiconductor substrate 1, and the dimension detection data of the first reference mark 11 or the second reference mark 12 are detected by detection means 36x and 36y.例文帳に追加
半導体基板上１に回路パターンなどを重ね合わせて形成する際に所定の位置関係をもって形成される所定の対称形状の第１基準マーク１１および第２基準マーク１２の位置検出データと、該第１基準マーク１１または該第２基準マーク１２の寸法検出データとを検出手段３６ｘ，３６ｙによって検出する。 - 特許庁
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