「Pattern Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検出装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パタ—ン欠陥修正装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT ANALYSIS EQUIPMENT, PATTERN DEFECT ANALYSIS METHOD, AND PATTERN DEFECT ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加

パターン欠陥解析装置、パターン欠陥解析方法およびパターン欠陥解析プログラム - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検出方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING METHOD AND PATTERN DEFECT DETECTOR例文帳に追加

パターン欠陥検出方法およびパターン欠陥検出装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD AND PATTERN DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTING METHOD FOR PATTERN例文帳に追加

パターンの欠陥修正方法 - 特許庁

WIRING PATTERN DEFECT CONFIRMING APPARATUS例文帳に追加

配線パターン欠陥確認装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR RESIST PATTERN例文帳に追加

レジストパターンの欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT APPARATUS AND PATTERN DEFECT ANALYSIS SUPPORT PROGRAM例文帳に追加

パターン欠陥解析支援装置およびパターン欠陥解析支援プログラム - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検出方法と装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置および方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD OF CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

回路パターンの欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTING METHOD FOR PATTERN AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターンの欠陥検出方法と装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTION DEVICE THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN EXTRACTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置、及びパターン抽出方法 - 特許庁

REPEAT PATTERN ERASING METHOD AND PATTERN DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

繰り返しパターン消去方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN GRAY TONE PATTERN FILM例文帳に追加

グレートーンのパターン膜欠陥修正方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

UNEVENNESS DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE OF PATTERN例文帳に追加

パターンのムラ欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及び検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターンの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD FOR PATTERN AND ITS DEVICE例文帳に追加

パターンの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

INSPECTING METHOD OF PATTERN DEFECT AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND METHOD OF PATTERN DEFECT例文帳に追加

パターン欠陥の検査装置及び検査方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING PATTERN DEFECT例文帳に追加

パターン欠陥検出方法およびその装置 - 特許庁

METHOD OF INSPECTING PATTERN DEFECT, AND APPARATUS OF THE SAME例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

INK FOR CORRECTING MINUTE DEFECT IN COLORED PATTERN AND METHOD FOR CORRECTING MINUTE DEFECT IN COLORED PATTERN例文帳に追加

微小着色パターン欠陥修正用インキ、及び微小着色パターン欠陥修正方法 - 特許庁

LASER-ASSISTED CVD SYSTEM, LASER-ASSISTED CVD METHOD, PATTERN DEFECT CORRECTING SYSTEM, AND PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD例文帳に追加

レーザＣＶＤ装置、レーザＣＶＤ法、パターン欠陥修正装置及びパターン欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE FOR PATTERN SUBSTRATE, DEFECT CORRECTION METHOD THEREFOR, AND METHOD OF MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

パターン基板の欠陥修正装置及び欠陥修正方法並びにパターン基板製造方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT DETECTING DEVICE AND CORRECTING DEVICE例文帳に追加

パタ—ン欠陥検出装置および修正装置 - 特許庁

FINE PATTERN CORRECTION DEVICE AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF FINE PATTERN例文帳に追加

微細パターン修正装置および微細パターンの欠陥修正方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTING TEST PATTERN BOARD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PHOTO MASK MANUFACTURING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING DISPLAY DEVICE SUBSTRATE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法、パターン欠陥検査用テストパターン基板、及びパターン欠陥検査装置、並びにフォトマスクの製造方法、及び表示デバイス用基板の製造方法 - 特許庁