「Pattern Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR INSPECTING DEFECT OF CIRCUIT PATTERN AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

回路パターンの欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD FOR METAL FOIL PATTERN ETCHING PRODUCT例文帳に追加

金属箔パターンエッチング製品の欠陥検査方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT IN CYCLIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT OF MICRO PATTERN例文帳に追加

微細パタ−ンの欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

To remove a defect derived from a correction pattern in a defect inspection of a photomask having the correction pattern.例文帳に追加

補正パターンを有するフォトマスクの欠陥検査において、補正パターンに由来する欠陥を除外すること。 - 特許庁

To inspect a defect in a mask pattern with high accuracy and to prevent a defect in an exposure pattern on a wafer.例文帳に追加

マスクパターンの欠陥検査を精度良く行い、ウェハ上の露光パターンに欠陥が生じないようにする。 - 特許庁

REFERENCE DATA GENERATION METHOD, PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE, PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD, AND REFERENCE DATA GENERATION PROGRAM例文帳に追加

参照データ生成方法、パターン欠陥検査装置、パターン欠陥検査方法、及び参照データ生成プログラム - 特許庁

The defect detection sensitivity is inspected by using a mask for defect inspection having a photomask pattern which includes a basic pattern and a pattern defect comprising a resist pattern at a specified position of the basic pattern.例文帳に追加

基本パターンと、基本パターンの所定の位置に、レジストパターンにより形成されたパターン欠陥とを含むフォトマスクパターンを有する欠陥検査用マスクを用いて、欠陥検出感度検査を行う。 - 特許庁

To provide a pattern defect inspecting device capable of simultaneously inspecting both of a chrome pattern and a phase shift pattern without detecting pseudo defect in a photomask in which the chrome pattern and the phase shift pattern coexist.例文帳に追加

クロムパターンと位相シフトパターンの混在フォトマスクにおいて、擬似欠陥を検出すること無く、両パターンを同時に検査できるパターン欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The detection sensitivity for a mask defect is inspected by using a mask for inspection of defect detection sensitivity having a basic pattern region where a pattern is formed based on the design data of a basic pattern and a defect pattern region where a pattern is formed based on the design data of a defect pattern prepared by adding a specified defect to the basic pattern.例文帳に追加

基本パターンの設計データを基づきパターンが形成された基本パターン領域と、基本パターンに、所定の欠陥を加えた欠陥パターンの設計データを元にパターンが形成された欠陥パターン領域とを備える欠陥検出感度検査用マスクを用いて、マスク欠陥検出感度の検査を行う。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR PATTERN DEFECT INSPECTION例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びパターン欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁

WIRING PATTERN DEFECT REMEDYING METHOD, AND SYSTEM THEREFOR例文帳に追加

配線パターンの欠陥修正方法及びその装置 - 特許庁

To fast and correctly detect the defect of a pattern.例文帳に追加

パターンの欠陥を高速に、かつ正しく検出する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PATTERN POSITION DEVIATION AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

パターン位置ずれ補正方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT DETECTING UNIT, DEFECT DETECTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥検出装置及び欠陥検出方法並びにパターン基板の製造方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE AND DEFECT CORRECTION METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING PATTERN SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥修正装置及び欠陥修正方法、並びにパターン基板製造方法 - 特許庁

To accurately evaluate the defect detection sensitivity of an inspection apparatus for a defect in a mask pattern by suppressing influences of the shift of a pattern defect created in a basic pattern from a design value.例文帳に追加

基本パターンに作り込んだパターン欠陥の、設計値からのズレによる影響を抑えて、正確にマスクパターンの欠陥検査装置の欠陥検出感度を評価する。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTION OF DEFECT OF PATTERN例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁

TEST PATTERN, AND METHOD OF MONITORING DEFECT USING THE SAME例文帳に追加

テストパターン及びこれを用いる欠陥モニタリングの方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND IMAGE SENSOR CALIBRATION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びイメージセンサの校正方法 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTING METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

パターン欠陥検査方法およびパターン欠陥検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT CORRECTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥修正方法およびパターン欠陥修正装置 - 特許庁

To prevent wrong detection for a pattern defect on a board.例文帳に追加

基板上のパターンの欠陥の誤検出を防止する。 - 特許庁

The pattern correcting mechanism 2 automatically corrects a pattern defect of a glass substrate.例文帳に追加

パターン修正機構２は、ガラス基板のパターン欠陥を自動的に修正する。 - 特許庁

HARD DISK DRIVE, METHOD FOR DETECTING DEFECT PATTERN ON DISK AND METHOD FOR DETECTING DEFECT例文帳に追加

ハードディスクドライブ，ディスク上の欠陥類型検出方法および欠陥検出方法 - 特許庁

IMAGING CONDITION DETERMINATION METHOD FOR PERIODIC PATTERN, DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTING DEVICE例文帳に追加

周期性パターンの撮像条件決定方法、欠陥検査方法、および欠陥検査装置 - 特許庁

COLORING COMPOSITION FOR CORRECTING COLOR PATTERN DEFECT AND METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER例文帳に追加

着色パターン欠陥修正用着色組成物およびカラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION MANAGEMENT SYSTEM AND DEFECT INSPECTION SYSTEM AND APPARATUS OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN例文帳に追加

電子回路パターンの欠陥検査管理システム，電子回路パターンの欠陥検査システム及び装置 - 特許庁

COLORANT COMPOSITION FOR CORRECTING COLOR PATTERN DEFECT AND METHOD FOR CORRECTING COLOR FILTER DEFECT例文帳に追加

着色パターン欠陥修正用着色組成物およびカラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁

PHOTORESIST PATTERN FORMING METHOD WHICH SUPPRESSES OCCURRENCE OF DEFECT AND DEVELOPING SOLUTION FOR DIMINISHING DEFECT例文帳に追加

ディフェクトの発生を抑えたホトレジストパターンの形成方法およびディフェクト低減用現像液 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING DEFECT OF FINE CONVEX-CONCAVE PATTERN AND METHOD FOR DETERMINING DEFECT OF PATTERNED MEDIA例文帳に追加

微細凹凸パターンの欠陥判定方法、および、パターンドメディアの欠陥判定方法 - 特許庁

To provide a pattern defect classifying and detecting method which can accurately detect a pattern defect and can classify the type of the defect and detect it.例文帳に追加

パターン欠陥を正確に検出できるとともに、その欠陥の種類を分別して検出することができるパターン欠陥分別検出方法を提供する。 - 特許庁

COMMON DEFECT PROCESSING METHOD IN COLOR-FILTER PATTERN INSPECTION MACHINE例文帳に追加

カラーフィルタパターン検査機における共通欠陥処理方法 - 特許庁

REPETITIVE PATTERN ERASING METHOD, DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

繰り返しパターン消去方法、欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECT OF RESIST PATTERN例文帳に追加

レジストパターンの欠陥検査方法及びその欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT PATTERN, AND DEVICE FOR SAME例文帳に追加

集積回路パターンの欠陥検査方法、及びその装置 - 特許庁

CORRECTION DEVICE, AND ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

修正装置及び電子回路のパターン欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECT OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTING METHOD OF ELECTRONIC CIRCUIT PATTERN, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

電子回路パターンの欠陥修正方法およびその装置 - 特許庁

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN TEST DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT TEST METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

IMAGE CORRECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION DEVICE, IMAGE CORRECTION METHOD, AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法 - 特許庁

PHOTOMASK, METHOD FOR DETECTING PATTERN DEFECT AND METHOD FOR FORMING PATTERN BY USING THE SAME例文帳に追加

フォトマスク、そのパターン欠陥検出方法及びそれを用いたパターン形成方法 - 特許庁